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磁阻效应及磁阻传感器的特性研究 5Word文档下载推荐.docx

1、 通常以电阻率的相对改变量来表示磁阻的大小,即用/(0)表示。其中(0)为零磁场时的电阻率,设磁电阻电阻值在磁感受应强度为B的磁场的电阻率为(B),则=(B)(0)。由于磁阻传感器电阻的相对变化率R/ R(0)正比于/(0),这里R=R(B)R(0)。因此也可以用磁阻传感器电阻的相对改变量R/ R(0)来表示磁阻效应的大小。测量磁电阻电阻值R与磁感应强度B的关系实验装置及线路如图2所示。尽管不同的磁阻装置有不同的灵敏度,但其电阻的相对变化率R/ R(0)与外磁场的关系都是相似的。实验证明,磁阻效应对外加磁场的极性不灵敏,就是正负磁场的相应相同。一般情况下外加磁场较弱时,电阻相对变化率R/ R(

2、0)正比于磁感应强度B的二次方;随磁场的加强,R/ R(0)与磁感应强度B呈线性函数关系;当外加磁场超过特定值时,R/ R(0)与磁感应强度B的响应会趋于饱和。另外,R/ R(0)对总磁场的方向很灵敏,总磁场为外磁场与内磁场之和,而内磁场与磁阻薄膜的性质和几何形状有关。图1 磁阻效应 图2 测量磁电阻实验装置【实验仪器】实验采用DH4510磁阻效应实验仪,研究锑化铟(InSb)磁阻传感器的磁阻特性,图3为该仪器示意图图3(a) 磁阻效应信号号源面板图DH4510磁阻实验仪由信号源和测试架两部分组成。实验仪包括双路可调直流恒流源、电流表、数字式磁场强度计(毫特计)和磁阻电压转换测量表(毫伏表)、

3、控制电源等。测试架包括励磁线圈(含电磁铁)、锑化铟(InSb)磁阻传感器、GaAs霍尔传感器、转换继电器及导线等组成。仪器连接如图4所示。【实验内容】1、在锑化铟磁阻传感器工作电流保持不变的条件下,测量锑化铟磁阻传感器的电阻与磁感应强度的关系。作R/ R(0)与B的关系曲线,并进行曲线拟合。(实验步骤由学生自己拟定,实验时注意GaAs和InSb传感器工作电流应调至1mA)。2、用磁阻传感器测量一个未知的磁场强度,与毫特计测得的磁场强度相比较,估算测量误差。图3(b)磁阻效应测试架图【实验步骤】仪器开机前须将IM调节电位器、Is电流调节电位器逆时针方向旋到底。1、信号源的“IM直流源”端用导线接

4、至测试架的“励磁电流”输入端,红导线与红接线柱相连,黑导线与黑接线柱相连,如图4所示。调节“IM电流调节”电位器可改变输入励磁线圈电流的大小,从而改变电磁铁间隙中磁感应强度的大小。2、将实验仪信号源背部的二芯话筒通过专用的二芯话筒线接至测试架的工作电压输入端,这是一路提供继电器工作的12V直流控制电源,作为继电器的控制电压。红的香蕉插接红接线柱,黑的香蕉插接黑接线柱。3、信号源上“Is直流恒流源”输出用导线接至工作电流切换继电器K1接线柱的中间两端,红导线与红接线柱相连,黑导线与黑接线柱相连。如图4所示。4、信号源的“信号输入”两端用导线接至输出信号切换继电器K2接线柱的中间两端,红导线与红接

5、线柱相连,黑导线与黑接线柱相连。5、将继电器K1接线柱的下面两端与继电器K2接线柱的下面两端相连,红导线与红接线柱相连,黑导线与黑接线柱相连。6、将锑化铟(InSb)磁阻传感器(蓝、绿引出线)的两端与工作电流切换继电器K1接线柱的下面两端相连,红的香蕉插接红接线柱,黑的香蕉插接黑接线柱。即蓝引出线接至红接线柱,绿引出线接至黑接线柱。图4 磁阻效应接线图7、砷化镓(GaAs)霍尔传感器的的四引出线按线的长短已分成两组,红、棕为一组(为工作电流输入端),黄、橙为一组(为霍尔电压输出端),红、棕这一组线接至工作电流切换继电器K1接线柱的上面两端,黄、橙这一组线接至输出信号切换继电器K2接线柱的上面两

6、端。红的香蕉插接红接线柱,黑的香蕉插接黑接线柱,如图4所示。8、确认接线正确完成后,打开交流电源,将信号源及测试架的切换开关都处于按上状态,这时将测试架上取出的霍尔电压信号输入到信号源,经内部处理转换成磁场强度由表头显示。9、调节Is调节电位器让Is表头显示为1.00mA,然后调节IM,使磁场强度显示为10mT,记下励磁电流值的大小。10、按下信号源及测试架上的切换开关,测量并记录该磁场强度下对应的磁阻电压。注意:这时的Is表头显示应为1.00mA。11、将信号源及测试架上的切换开关弹起,再调节IM调节电位器,使磁场强度显示为20mT,记下该磁场强度及对应的励磁电流值。测量并记录该磁场强度下对

7、应的磁阻电压。12、参考表1所列的磁场强度,重复以上1011步骤。13、根据表1数据列出表2,在B0.12T时对R/ R(0)作曲线拟合,求出R与B的关系。15、调节IM电流,使电磁铁产生一个未知的磁场强度。测量磁阻传感器的磁阻电压,根据求得的R/ R(0)与B的关系曲线,求得磁场强度。16、用仪器所配的毫特计测量该磁场强度,将测得的磁场强度作为准确值与磁阻传感器测得的磁场强度值与相比较,估算测量误差。【数据处理】1. B0.06T 原始数据为 电流Is=1mA电磁铁InSbBR/R(0)对应关系IM/mAUR/mVB/mTR/R/R(0)5223.920224.7100.0035733522

8、5.80.00848651228.4300.02009866231.9400.0357381236.3500.05538296241.5600.078607R/R(0)iBiR/R(0)i(R/R(0)i)2Bi21.28E-051000.169727.2E-054000.602940.0004049001.42920.00127716002.76910.00306725004.716420.0061793600可得到:以R/R(0)为纵坐标,其余四项分别为横坐标做曲线拟合有:R/R(0)- R/R(0)iR/R(0)- BiR/R(0)- Bi2R/R(0)- (R/R(0)i)2请分别给出

9、每张图的图示名称,以便能明了每张图都代表什么可知由上面拟合可知在B0.06T时磁阻变化率R/ R(0)与磁感应强度B大概成二次函数关系:R/R(0)=0.0005+0.00002 Bi2而以y=a+b*xc拟合有R/ R(0)=0.00033+0.00002B1.95726由上面拟合可知在B0.06T时磁阻变化率R/ R(0)与磁感应强度B大概成二次函数关系;2. 0.06T B0.12T 202298.51300.333184217309.31400.38142232320.61500.431889247332.41600.484591262344.71700.539527277357.41

10、800.59624834.5690.0829871440043.313920.1110121690053.39880.1454811960064.783350.1865282250077.534560.2348282560091.719590.29108928900107.32460.35551232400可得到由上面拟合可知在B0.12T时磁阻变化率R/ R(0)与磁感应强度B大概成一次线性函数关系R/ R(0)=0.00514B-0.33521而以y=a+b*xc拟合有R/ R(0)=-0.03226+0.00011B1.664524、验证(1)B 由此得实际值 而又由R/ R(0)=0.

11、00033+0.00002B1.95726 算得R/ R(0)=0.012994295 相对误差为38.5%(2)0.06T 而又由R/ R(0)=0.00514B-0.33521 算得 相对误差为1.6%【总 结】本次实验探究了磁阻效应和磁阻传感器的特性,实验结果与理论相对吻合,但还存在一定误差,经过分析,认为误差主要来自以下几点:1.客观误差:如仪器本身的误差,以及周围电磁场的影响等另外,对同一电流值,仪器产生的磁场并非恒定,随时间推移,磁感应强度会缓慢减少,导致偏差。(尤其是在做检验的时候,将磁场调为零时,电压值要多出近2mV,这是导致在0到60mT段误差很大的原因)2.主管误差:主要是读数误差。【思考题】1、磁阻效应是怎样产生的?磁阻效应和霍尔效应有何内部联系?答:当半导体处于磁场中时,导体或半导体的载流子将受洛仑兹力的作用,发生偏转,在两端产生积聚电荷并产生霍尔电场。如果霍尔电场作用和某一速度的载流子的洛仑兹力作用刚好抵消,则小于此速度的电子将沿霍尔电场作用的方向偏转,而大于此速度的电子则沿相反方向偏转,因而沿外加电场方向运动的载流子数量将减少,即沿电场方向的电流密度减小,电阻增大。3、不同的磁场强度时,磁阻传感器的电阻值与磁感应强度关系有何变化?。4、磁阻传感器的电阻值与磁场的极性和方向有何关系?

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