原子吸收原理.docx

1、原子吸收原理测汞时，可将经酸处理的样品注入反应管内，再加入定量 70%的氯化亚锡，将溶液搅拌 90秒钟，然后导入氮或氩气，将汞蒸汽携带至石英吸收池内。在分析过程中，火焰不可熄灭。对 于可形成氢化物的元素，在将样品注入反应池后，需连续导入惰性气体以驱除空气。待其基 线稳定后，投入一小粒硼氢化钠（或以0.5%氢氧化钠液制备的2.5%硼氢化钠溶液）。将形成 的氢化物载至吸收池，加热吸收池，以保证该氢化物分解。单色器3、光学系统：单色器单色器：将复合光分解成单色光或有一定宽度的谱带， 单色器由 入射狭缝和出射狭缝、准直镜、色散元件（光栅）和聚焦装置（透 镜或凹面反射镜）组成 采用窄谱带和单色光用作分析

2、原因：1） 可将彼此非常接近的吸收带分开2） 采用窄带才可能在最大吸收波长处测量3） 贝尔-兰贝特定律的要求1）光栅：一系列相距很近、等距、等宽、平行排列的狭缝阵列 光栅公式：m =d（s in a-s inB）m:光谱级:波长d:光栅刻线间距离，光栅常数a:入射角 B:反射角光栅的色散率：不同波长的光分散的能力R=mNm:光谱级次 N:光栅总可刻线数焦距越大（光谱级数），色散率越大光谱常数d越小，每毫米刻线数越多，色散率越大高质量的分光光度计单色器采用全息光栅代替机械刻制和复制光栅，其制造原理是利用激光 束射出的两相关光束，照射到涂有抗蚀层的毛坯片上，使干涉条纹成像在抗光蚀层上，再用 适当的

3、化学试剂蚀掉被照射的部分（显影），从而在蚀层产生一定空间的干涉条纹-衍射光栅。 光栅质量高，从而使仪器可向小型化发展。还消除了刻制光栅由于机械变动和环境条件产生 的误差。具消相差、杂散光低特点2）.入射和出射狭缝当入射狭缝被单色光照射时，则在出射狭缝表面形成单色谱线的像，单色器对两条相邻谱线 分开的能力，不仅与光栅的色散率有关，而且与成像大小有关.入射狭缝可限制进入色散元 件的光能量，起着光栏作用，入射狭缝形状的变化也使谱线形状发生改变。因此，设计单色 器时，对狭缝机构有严格的技术要求。单色器的狭缝通常由两个具有锐刀口的金属片精密制 作而成，两刀口的平行性很好，并处于同一平面.大多数分光光度计

4、的单色器装有狭缝调节 机构，通过调节狭缝宽度改变谱带的有效带宽。狭缝过大，谱带单色性变差，不利于定性分 析，也影响定量分析的工作曲线线性范围；狭缝过小，光通量减弱，降低了信噪比，影响测 量精密度.狭缝宽度一般有两种表示法：一种是以狭缝两刀口间的实际宽度表示；另一种以 谱带的有效带宽表示.前者表示的单位为毫米 （mm），后者单位为纳米（nm）。通常，在定量分析时，为了达到足够的测量信号，应采用较大的狭缝。在定性分析时则采用 较小的狭缝，这样可以提高分辨率。当出射狭缝和入射狭缝的宽度相等时，狭缝宽度引起的 误差最小。对原子吸收光谱来说，由于吸收线的数目比发射线少得多，谱线重叠的几率小， 因此常采用

5、大的狭缝，以得到较大的光强。当然，如果背景发射太强，贝U要适当减小狭缝宽 度。一般原则是，在不引起吸光度减小的情况下，采用尽可能大的狭缝宽度。我们注意到，由于在一般状态下，光谱线的宽度小于 0.001 nm,故狭缝宽度减半时，光通量也相应减半（即相应呈线性关系），而在连续辐射过程中，谱带宽度要受狭缝宽度控制。 因而在狭缝宽度减半时，能量衰减系数为4。在有强烈的宽谱带发射光抵达光电倍增管时 （例 如，对钡元素进行火焰分析或从石墨炉发出的炽热光）。减少狭缝宽度可使发射量减少4倍, 而光谱能量减半。原子吸收光谱仪中最常用的狭缝大小是： 0.2、0.5和1.0nm,现有些高级仪器狭缝宽度0.2-2.0

6、连续可调，可极好地优化测量条件。如需分辨两紧挨的谱线，如在测定钒元素时，可 使用更窄的狭缝。3）准直和聚焦装置 ：多采用消色差特性、聚焦性能好的抛物面反光镜4、检测器（光电倍增管）在原子吸收光谱仪中，几乎都是采用光电倍增管作为检测器的。最常用的则是峰响应在 185-900nm范围的广域光电倍增管。 检测器象空心阴极灯一样可以 看见”由火焰发射作用引 起的成分。空心阴极灯的发光是调制编码的，使电子流与该过程同步，以保证只能检测具有 同样频率的光。光电倍增管是在普通光电管中引入具有二次 电于发射特性的倍增电极打拿极组合而成， 倍增电极间的电位逐增高，相邻两倍增电极的电 位约为90V，当辐射照射光阴

7、极时，产生的电子 受第一级倍增电极正电位作用，加速并撞击到该 电极上，产生二次电子发射，这些二次发射电子在第二级倍增电极作用又被加速并撞击到该电极上，产生二次电子发射，这样继续下去，经 多级放大的电子最后收集到阳极上产生的电流再进行放大和测量，由于光电流逐级倍增， 光电倍增管具有很高的灵敏度，特别适合于弱辐射能的检加一般光电倍增管的倍增电极可 达 1114 级，每个光子可产生 106107 个电子IV 原子吸收光谱仪干扰效应及其消除方法：一、干扰效应 干扰效应按其性质和产生的原因，可以分为 4 类：化学干扰、电离干扰、物理干扰和光谱干 扰。1、化学干扰 化学干扰与被测元素本身的性质和在火焰中引

8、起的化学反应有关。产生化学干扰的主要原 因是由于被测元素不能全部由它的化合物中解离出来，从而使参与锐线吸收的基态原子数目 减少，而影响测定结果的准确性。由于产生化学干扰的因素多种多样，消除干扰的方法要是 具体情况而不同，常用以下方法：1）改变火焰温度 对于生成难熔、 难解离化合物的干扰， 可以通过改变火焰的种类、 提高火焰的温度来消 除。如在空气-乙炔火焰的PO43-对该的测定有干扰，当改用氧化二氮-乙炔火焰后，提高 火焰温度，可消除此类干扰。2）加入释放剂： 向试样中加入一种试剂，使干扰元素与之生成更稳定、更难解离的化合物，而将待测元素 从其与干扰元素生成的化合物中释放出来。如测 Mg2+时

9、铝盐会与镁生成 MgAl2O4难熔晶体，使镁难于原子化而干扰测定。若在试液中加入释放剂SrCI2,可与铝结合成稳定的SrAl2O4 而将镁释放出来。磷酸根会与钙生成难解离化合物而干扰钙的测定，若加入释放剂 LaCl3,则由于生成更难离解的LaPO4而将该释放出来。3） 加入保护络合剂： 保护络合剂可与待测元素生成稳定的络合物，而是待测元素不再与干扰元素生成难解离的 化合物而消除干扰。如PO43-干扰钙的测定，当加入络合剂EDTA后，钙与EDTA生成稳定 的鳌合物，而消除PO43-的干扰。4） 加入缓冲剂 加入缓冲剂即向试样中加入过量的干扰成分，使干扰趋于稳定状态，此含干扰成分的试剂 称为缓冲剂

10、。如用氧化二氮 -乙炔测定钛时，铝有干扰，难以获准结果，向试样中加入铝盐 使铝的浓度达到 200ug/ml 时，铝对钛的干扰就不再随溶液中铝含量的变化而改变，从而可 以准确测定钛。但这种方法不很理想，它会大大降低测定灵敏度。2、电离干扰 是指待测元素在火焰中吸收能量后，除进行原子化外，还是部分原子电离，从而降低了火焰 中基态原子的浓度 ,使待测元素的吸光度降低，造成结果偏低。火焰温度愈高，电离干扰越显 著。当分析电离电位较低的元素（如 Be、Sr、Ba、Al ）,为抑制电离干扰，出采用降低火焰温 度的方法外，还可以向试液中加入消电离剂，如 1%CsCI（或 KCI、RbCI）溶液，因CsCI在

11、火焰中极易电离产生高的电子云密度，此高电子云密度可以只待测元素的电离而除去干扰。3、物理干扰 物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化的过程中，由于物理的特性（如粘度、表面张力、 密度等）的变化引起吸收强度下降的效应。采用可调式雾化器通过改变进样量的大小、采用 标准加入法（配置与被测样品相似组成的标准样品）或稀释来消除物理干扰。4、光谱干扰 光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散 射等。当采用锐性光源和交流调制技术时，前三种因素一般可以不予考虑，主要考虑分子吸 收和光散射，它们是形成光谱背景干扰的主要因素：分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射的吸收，

12、分子吸收是带状光谱，会在 一定波长范围内形成干扰。光散射是在原子化过程中产生的微小固体颗粒使光产生散射，造成透光度减小，吸收 度增加二、背景干扰的校正技术：1背景干扰的产生背景干扰是一种光谱干扰，形成光谱背景的主要因素是分子吸收与光散射。表现为增加 表观吸光度，使测定结果偏高。2.背景校正的方法1） 连续光源背景校正法（氘灯校正）连续光源采用氘灯在紫外区；碘钨灯在可见光区背景校正。切光器可使锐线光源与氘灯 连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为原子吸收与背景吸收的总吸光度。 连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总 人射光强度是可以忽略不计的

13、。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度 值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中， 采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想， 但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场 分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。氘灯校正法的缺点采用两种不同的光源，需较高技术调整光路平衡。2） 塞曼效应背景校正当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应是指光通过 加在石墨炉上的强磁场时，

14、引起光谱线发生分裂的现象。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼 效应：a正常塞曼效应背景校正光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，原子吸收线分裂为n和S+组分：n平行于 磁场方向，波长不变；S +组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之 间的主要差别是n分量只能吸收与磁场平行的偏振光， 而S +分量只能吸收与磁场垂直的偏振 光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即 S +组分为背景吸收，n组分为原子吸收。在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让 垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收

15、 线不发生分裂，测得的是被测元素的原子吸收与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为 背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损 失了一半，大大降低了检测的灵敏度。b、反常塞曼效应背景校正光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制 了 n组分（原子吸收）的产生，只产生 S +组分（背景吸收）。在不通电无磁场存在下，空心 阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产 生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的 S

16、+组分通过石墨炉，其不被基态原子吸收，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振 器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通 过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、 光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰 中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。3）自吸收校正法（SR法）当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态原子吸收， 是发射的锐线光

17、谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首 先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。 然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减, 就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正 常的1/3,现这种方式已基本不被采用。4）邻近非共振线校正背景：用分析线测量原子吸收和背景吸收的总吸光度，因非共振线不产生原子吸收，用它来测量背 景吸收的吸光度，两次测量值相减即得到背景之后的原子吸收的吸光度。背景吸收随波长而改变，因此，非共振线校正背景法的准确度较差。这种方法只适用

18、于分析 线附近背景分布比较均匀的场合。V最佳实验条件的选择原子吸收光谱分析中影响测量条件的可变因素多，在测量同种样品的各种测量条件不同时， 对测定结果的准确度和灵敏度影响很大。选择最适的工作条件，能有效地消除干扰因素，可 得到最好的测量结果和灵敏度。测量条件的选择1、吸收波长（分析线）的选择：通常选用共振吸收线为分析线，测量高含量元素时，可选用灵敏度较低的非共振线为分 析线。如测Zn时常选用最灵敏的213.9nm波长，但当Zn的含量高时，为保证工作曲线的线 性范围，可改用次灵敏线307.5nm波长进行测量。As,Se等共振吸收线位于200nm以下的远 紫外区，火焰组分对其明显吸收，故用火焰原子

19、吸收法测定这些元素时，不宜选用共振吸收 线为分析线。测Hg时由于共振线184.9nm会被空气强烈吸收，只能改用此灵敏线 253.7nm 测定。2、光路准直 在分析之前， 必须调整空心阴极灯光的发射与检测器的接受位置为最佳状态， 保证提供最 大的测量能量。3、狭缝宽度的选择 狭缝宽度影响光谱通带宽度与检测器接受的能量。调节不同的狭缝宽度，测定吸光度随狭缝 宽度而变化，当有其它谱线或非吸收光进入光谱通带时，吸光度将立即减少。不引起吸光度 减少的最大狭缝宽度，即为应选取得适合狭缝宽度。对于谱线简单的元素，如碱金属、碱土 金属可采用较宽的狭缝以减少灯电流和光电倍增管高压来提高信噪比，增加稳定性。对谱线

20、 复杂的元素如铁、钴、镍等，需选择较小的狭缝，防止非吸收线进入检测器，来提高灵敏度， 改善标准曲线的线性关系。4、燃烧器的高度及与光轴的角度 锐线光源的光束通过火焰的不同部位时对测定的灵敏度和稳定性有一定影响，为保证测定的 灵敏度高应使光源发出的锐线光通过火焰中基态原子密度最大的 “中间薄层区”。这个区的火 焰比较稳定，干扰也少，约位于燃烧器狭缝口上方 20mm-30mm 附近。通过实验来选择适当 的燃烧器高度，方法是用一固定浓度的溶液喷雾，再缓缓上下移动燃烧器直到吸光度达最大 值，此时的位置即为最佳燃烧器高度。此外燃烧器也可以转动，当其缝口与光轴一致时（ 0）由最高灵敏度。当欲测试样浓度高时

21、，可转动燃烧器至适当角度以减少吸收的长度来降低灵 敏度。5、空心阴极灯工作条件的选择a、预热时间：灯点燃后， 由于阴极受热蒸发产生原子蒸汽， 其辐射的锐线光经过灯内原子蒸汽再由石 英窗射出。使用时为使发射的共振线稳定，必须对灯进行预热，以使灯内原子蒸汽层的分布 及蒸汽厚度恒定，这样会使灯内原子蒸汽产生的自吸收和发射的共振线的强度稳定。通常对 于单光束仪器，灯预热时间应在 30 分钟以上，才能达到辐射的锐性光稳定。对双光束仪器， 由于参比光束和测量光束的强度同时变化，其比值恒定，能使基线很快稳定。空心阴极灯使 用前，若在施加1/3工作电流的情况下预热0.5-1.0h,并定期活化，可增加使用寿命。

22、B、工作电流：元素灯本身质量好坏直接影响测量的灵敏度，及标准曲线的线性。有的灯背景过大而不 能正常使用。灯在使用过程中会在灯管中释放出微量氢气，而氢气发射的光是连续光谱，称 之为灯的背景发射。当关闭光闸调零，然后打开光闸，改变波长，使之离开发射的波长，在 没有发射线的地方， 如仍有读数这就是背景连续光谱。 背景读数不应大于 5%，较好的灯， 此 值应小于 1%。所以选择灯电流前应检查一下灯的质量。灯工作电流的大小直接影响灯放电的稳定性和锐性光的输出强度。灯电流小，使能辐射 的锐性光谱线窄、使测量灵敏度高，但灯电流太小时使透过光太弱，需提高光电倍增管灵敏 度的增益，此时会增加噪音、降低信噪比；若

23、灯电流过大，会使辐射的光谱产生热变宽和碰 撞变宽，灯内自吸收增大，使辐射锐线光的强度下降，背景增大，使灵敏度下降，还会加快 灯内惰性气体的消耗，缩短灯的使用寿命。空心阴极灯上都标有最大使用电流（额定电流， 约为5-10mA）,对大多数元素，日常分析的工作电流应保持额定电流的 40%-60%较为合适， 可保证稳定、合适的锐线光强输出。通常对于高熔点的镍、钴、钛、锆等的空心阴极灯使用 电流可大些，对于低熔点易溅射的铋、钾、钠、铷、锗、镓等的空心阴极灯，使用电流以小 为宜。6、 测器光电倍增管工作条件的选择：日常分析中光电倍增管的工作电压一定选择在最大工作电压的 1/3-2/3范围内。增加付高压能提

24、高灵敏度，噪音增大，稳定性差；降低负高压，会使灵敏度降低，提高信噪比，改 善测定的稳定性，并能延长光电倍增管的使用寿命。7、 火焰燃烧器操作条件的选择：1） 进样量：选择可调进样量雾化器，可根据样品的黏度选择进样量，提高测量的灵敏度。进样量小，吸 收信号弱，不便于测量；进样量过大，在火焰原子化法中，对火焰产生冷却效应，在石墨炉 原子化法中，会增加除残的困难。在实际工作中，应测定吸光度随进样量的变化，达到最满 意的吸光度的进样量，即为应选择的进样量。2） 原子化条件的选择a、 火焰原子化法在火焰原子化法中，火焰类型和性质是影响原子化效率的主要因素。火焰类型的选择原贝U： 电离、易挥发），如碱金属

25、和部分碱土金属及易于硫化合的元素（如Cu、Ag、Pb、Cd、Zn、Sn、Se等）可使用低温火焰。如空气-乙炔火焰对高温元素（难挥发和易生成氧化物的元素）如 Al、Si、V、Ti、W、B等，使用氧化二 氮-乙炔高温火焰。对分析线位于短波区（200nm以下），使用空气-氢火焰对其余多数元素，多采用空气-乙炔火焰（背景干扰低）火焰性质的选择调节燃气和助燃气的比例，可获得所需性质的火焰。对于确定类型的火焰，一般来说呈还原性火焰（燃气量大于化学及量）是有利的。对氧化物不十分稳定的元素如 Cu、Mg、Fe、Co、Ni等用化学计量火焰（燃气与助燃气 比例与它们之间化学反应计量相近）或氧化性火焰（燃气量小于化

26、学计量）b、 石墨炉原子化法：在石墨炉原子化法中，合理选择干燥、灰化、原子化及除残温度与时间是十分重要的。干燥 应在稍低于溶剂沸点的温度下进行，以防止试剂飞溅。灰化的目的是除去基体和局外组分， 在保证被测元素没有损失的前提下尽可能使用较高的灰化温度。原子化温度的选择原则是， 选用达到最大吸收信号的最低温度作为原子化温度。原子化时间的选择，应以保证完全原子 化为准。在原子化阶段停止通保护气，以延长自由原子在石墨炉中的停留时间。除残的目的 是为了消除残留物产生的记忆效应，除残温度应高于原子化温度 惰性气体原子化时常采用氩气和氮气作为保护气，氩气比氮气更好。氩气作为载气通入石墨管中，一 方面将已气化

27、的样品带走，另一方面可保护石墨管不致因高温灼烧被氧化。通常仪器都采用 石墨管内、外单独供气，管外供气连续的且流量大，管内供气小并可在原子化期间中断。最佳灰化温度和最佳原子化时间干燥时间常选择100C,时间为60S。灰化阶段为除去基体组分，以减少共存元素的干扰，通 过绘制吸光度A与灰化温度t的关系来确定最佳灰化温度。在低温下吸光度 A保持不变，当 吸光度A下降时对应的较高温度即为最佳灰化温度，灰化时间约为 30s。原子化阶段的最佳 温度也可通过绘制吸光度 A与原子化温度t的关系来确定，对多数元素来讲，当曲线上升至平顶形时，与最大A值对应的温度就是最佳原子化温度。在每个样品测定结束后，可在短时 间

28、内使石墨炉的温度上升至最高，空烧一次石墨管，燃尽残留样品，以实现高温净化。最佳灰化温度最佳原子化时间VI.定量分析方法应用原子吸收光谱分析进行定量测定时主要使用工作曲线法，标准加入法（一）标准溶液的配制火焰原子吸收测定中常用标准溶液浓度单位为 ug/mL。无火焰原子吸收测定中标准溶液浓度为ug/l。选用高纯金属（99.99% ）或被测元素的盐类溶解后配成 1mg/ mL的贮备溶液 （可购买专用储备液），当测定时再将储备液稀释配制标准溶液系列。配制标准溶液应使用去离子水，保证玻璃器皿纯净，防止玷污。溶解高纯金属使用的硝 酸、盐酸应为优级纯。贮备液要保持一定酸度防止金属离子水解，存放在玻璃或聚乙烯

29、试剂 瓶中，有些元素（如金、银）的贮备液应存放在棕色试剂瓶中。在配置标准溶液时，一般避免 使用磷酸或硫酸。（二）工作曲线法原子吸收光谱分析的工作曲线法和分光光度法相似。根据样品的实际情况配制一组浓度适宜 的标准溶液，在选定的操作条件下，将标准溶液由低浓度到高浓度依次喷入火掐中，分别测 出个溶液的吸光度，以待测元素的浓度 c作横坐标，以吸光度A作纵坐标，绘制A-C标准工 作曲线。然后在相同的实验条件下，喷入待测试液，测其吸光度，再从标准工作曲线上查出 该吸光度所对应的浓度，即为试液中待测元素的浓度，通过计算可求出试样中待测元素的含 量。若标准溶液与试样溶液基本成分（基体）差别较大，则在测定中引入

30、误差。因而标准溶 液于试样溶液所加的试剂应一致。在测定过程中要吸喷去离子水或空白溶液， 以校正基线（零 点）的漂移。由于燃气流量的变化或空气流量变化所引起的吸喷速率变化，会引起测定过程 中标准曲线斜率发生变化。因而在测定过程中，要用标准溶液检查测试条件有没有发生变化， 以保证在测定过程中标准溶液及试样溶液测试条件完全一致。在实际分析中，当待测元素浓度较高时，常看到工作曲线向浓度坐标弯曲，这是由于待 测元素含量较高时，吸收线产生热变宽和压力变宽，使锐线光源辐射的共振线的中心波长与 共振吸收线的中心波长错位，使吸光度减小而造成的。此外化学干扰和物理干扰的存在也会 导致工作曲线弯曲。工作曲线法适用于

31、样品组成简单或共存元素无于扰的情况，可用于同类大批量样品的分 析。为保证测定的准确度，应尽量使标准溶液的组成与待测试液的基体组成相一致，以减少 因基体组成的差异而产生的测定误差。（三）标准加人法 此法是一种用于消除基体干扰的测定方法， 适用于少量样品的分析。 其具体操作方法 是：取 45 份相同体积的被测元素试液， 从第二份起再分别加入同一浓度不同体积的被测元 素的标准溶液，用溶剂稀释至相同体积，于相同实验条件下依次测量各个试液的吸光度，绘 制出标准加入法曲线。将此曲线向左外延至与横坐标交点 Cx 即为待测元素的浓度。将试液 的标准加入法曲线斜率和待测元素标准工作曲线斜率比较，可说明基体效应是否存在。见下 图，其中图（a）中两条曲线斜率相同，表示试液不存在基体干扰；图（b）中“2”的斜率小于“ 1”, 表明存在基体抑制效应，使灵敏度下降；图（c）中“2”斜率大于“ 1”表明存在基体增敏效率， 使灵敏度增加。本法的不足之处是不能消除背景干扰，因此只有扣除背景之后，才能得到待 测元素的真实含量，否则将使测定结果偏高。