10kv电力电缆及附件抽检作业指导书.docx

1、10kv电力电缆及附件抽检作业指导书1、额定电压 10kV 交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检检验标准要求检验器检验方法检测结果备注项目具( 照片或相关文件 )电缆绝缘最薄点厚度标称值（ 1）环境温度：，相对湿度：%绝缘投影仪、试验选用仪器：90%-0.1mm，偏心度 8%试样制备：厚度测 量 显（ 2）绝缘最薄点厚度：mmGB/T 12706.2 2008 ： 17.5.21.从样品切取一试验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；测量微镜偏心度：%或依据业主技术协议要求。2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直的平面切取薄片一个；测试步骤：结论：符合 不符合1、非铠装和护套不直接包覆铠1.每

2、一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；非金装、金属屏蔽或同心导体上的电2.找出试片厚度的最薄点作为第一个测量点；（ 1）环境温度：，相对湿度：%缆，护套最薄点测量值标称值3.每个试片测量 6 点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6 点。属护投影仪、试验选用仪器：的 85%-0.1mm；2、直接包覆在铠试验结果的计算：套厚装、金属屏蔽或同心导体上的护测 量 显在电缆离端头 25cm取 1 个试件测得 6 个数值的平均值（用 mm表示），应计（ 2）护套最薄点厚度：mm度测套，其最小测量值应标称值的微镜算到小数点后 2 位，取该值为厚度的平均值；隔离套最薄点厚度：mmGB/T 295

3、1.11-2008量80%-0.2mm.隔离套最薄点厚度结论：符合 不符合应标称值的 80%-0.2mmGB/T 12706.2 2008：17.5.3电缆结构检查（导体检查、铠装金属丝和金属带的测量、外径测量）局部放电导体根数不少于规定值。 铠装金属带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于标称尺寸的量值分别应不超过 10%、 5%、8%。外径尺寸不考核。铠装钢带包带间隙应不大于钢带宽度的 50%。铜带屏蔽搭盖率最小 5%，铜带最小厚度应不小于标称值的 90%。GB/T 12706.2 2008：17.5 ，17.7在 1.73U0 下无超过声明灵敏度（ 5pC或更优）的可测放电千分尺、游 标 卡尺局

4、部 放电 检 测1. 导体检查应采用适当的检验及测量方法来检查导体结构是否符合GB/T 3956要求。（ 1）环境温度：2. 导体结构2.1截面积为 800 2 以下的导体采用符合 GB/T 3956的第 2种紧压绞合圆相对湿度：%形结构。800 2 的导体可以采试验选用仪器：2.2截面积为 800 2 以上的导体采用分割导体结构；仪器编号：用紧压绞合圆形结构，也可以采用分割导体结构。（ 2）2.3铜分割导体中的单线应不少于170 根。2.4各种绞合导体不允许整芯或整股焊接。绞合导体中的单线允许焊接，但在导体根数：根同一层内 , 相邻两个接头之间的距离应不小于 300 。铠装层：3 导体表面应

5、光洁、无油污、无损伤屏蔽及绝缘的毛刺、锐边以及凸起或断裂层数：层的单线。厚度：mm4 铜丝屏蔽应由同心疏绕的软铜线组成，铜丝屏蔽层的表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，相邻屏蔽铜丝的平均间隙G应不大于 4 。G 由下式定义： G= 包带间隙 / 钢带宽度：%（D+d）-nd/n 式中：D铜丝屏蔽下的缆芯直径， ； d 铜丝的直径，铜带屏蔽：； n 铜丝的根数。 铜丝屏蔽的截面积应能满足短路容量的要求。适搭盖率：%用时，铜丝屏蔽的电阻测量值应符合GB/T 3956 规定；或者不大于制造厂标称厚度：mm值( 当铜丝屏蔽的 ) 截面积与 GB/T 3956 推荐的系列截面积不同时 ) 。5 金属套屏蔽 电

6、缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏蔽。如铅套或铝套结论：符合 不符合的厚度不能满足用户对短路容量的要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽的措施。 GB/T 12706.2 20081 试样制备（ 1）环境温度：1.1应按产品标准规定取短电缆试样。相对湿度：%第1页共29页试验 GB/T 12706.2 2008：18.1.4. 仪、串联谐 振 试验系统1.2 应仔细制作试验用电缆终端，以避免因终端产生的局部放电。2试验程序 2.1 短电缆试验2.1.1 条件短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上的限制取决于所采用的试验回路，其实际数值可从 GB/T 3048.12 中附录 B 的双

7、脉冲曲线图确定，并定义为 l k 。当电缆两端连接在一起时，长度直至2lk 也属于短电缆。2.1.2 灵敏度检验校准器应并联于试样远离测试仪器的一端，由注入校准电量 qcal和对应测出的偏转值 a ，可计算出刻度系数 k(pC/mm)(k=q/a2) 和灵敏度 q(pC) 。222calminqmin =2k2hn式中：hn背景干扰偏转值，单位为毫米（ mm）2.1.3 试验步骤只需在试样的一端进行测量， 用测得的偏转值 A（ mm）计算出放电量 q（pC ），即：q=k2A3注意事项3.1 电缆终端的局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时， 可采用任何合适方法加以消除。3.2 测量前试样应

8、先经过工频交流耐受电压试验 （在试样上施加试验时所需的最高测试电压有效值，试样不应有任何异常现象） ，以免在进行局部放电试验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪。3.3 为了获取理想的双脉冲图，应选用具有 a 响应宽频带的局部放点检测仪。4试验记录 4.1 试验类型；4.2 试样编号、试样型号、规格、长度；4.3 试验日期、大气条件、试验时试样的温度；4.4 试验回路、测试仪器信号、测试时的相关技术参数；4.5 回路灵敏度校验和背景干扰值；4.6 施加的试验电压的数值和局部放电量；4.7 试验中的异常现象、处理和判断；4.8 必要时的双脉冲图；4.9 试验设备及其校准有效期；GB/T 3048.

9、12 -2007试验选用仪器：仪器编号：（ 2）试验电压： kV背景噪声： pC局部放电量：A 相 pCB 相 pCC相 pC结论：符合 不符合第2页共29页（ 5pC或更优）的可测放电 GB/T 12706.2 2008：18.1.4.（1.73U0 下）不超过 声明灵敏度曲三次，随后的局部放电试验放电量电压试验弯曲试验及随后的局部放电试验在 3.5U0 下，持续 5min高 压 测不击穿试系统GB/T 12706.2 2008：18.1.8.局部放电检测 弯曲直径： 15 （ D+d ） 5% 正反弯 仪、串联谐振试验系统、电缆弯曲试验机1试样制备1.1 试样的数量和长度应符合产品标准规定

10、；1.2 试样终端部分的长度和终端头的制备方法应能保证在规定的实验电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。2试验程序2.1 试验方式，试样耐压试验的试验电压值和耐受电压时间按产品标准规定。2.2 试验电压应施加在导体和金属屏蔽 / 金属套间逐渐地升到规定值。2.3 试验要求2.3.1 除非产品标准另有规定，试验应在（ 20 15）温度下进行。试验时，试样的温度与周围环境温度之差应不超过 3。2.3.2 对试样施加电压时， 应当从足够低的数值 （不应超过产品标准所规定试验电压值的 40%）开始，以防止操作瞬变过程而引起的过电压影响；然后应缓慢地升高电压，以便能在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，

11、以免造成在接近试验电压时耐压时间过长。2.3.3 保持试验电压至规定时间后， 降低电压至试验电压值的 40%，然后再切断电源。”3试验结果及评定3.1 试样在施加所规定的试验电压和持续时间内无任何击穿现象， 则可认为该试样通过耐受工频电压试验。3.2 试验中如发生异常现象， 应判断是否属于 “假击穿”。假击穿现象应予排除，并重新试验。只有当试样不可能再次耐受相同电压值的试验时，则应认为试样已击穿。3.3 如果在试验过程， 试样的试验终端发生沿其表面闪络放电或内部击穿， 允许另做试验终端，并重复进行试验。GB/T 3048.8 -20071弯曲试验电缆试样应在环境温度下围绕试验用圆柱体 ( 例如

12、电缆盘的筒体 ) 弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环。这样的弯曲循环共应进行三次 试验用圆柱体直径应不大于 36(+D)+5%,平铝套电缆； 25(+D)+5%,铅、铅合金、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆； 20(+D)+5%, 其他电缆， 这里 导体标称直径， mm； D电缆标称直径， mm。2、弯曲试验结束后，电缆应立即进行局部放电试验并应符合 GB/T12706.2-2008:18.1.4 要求，试验方法参考第 3 页局放试验方法。GB/T 3048.8 ，122007（ 1）环境温度： 相对湿度： %试验选用仪器：仪器编号：（ 2）试验电压： kV试验时

13、间： hA相试验是否通过：B相试验是否通过：C相试验是否通过：不通过时，记录异常情况结论：符合 不符合（ 1）环境温度： ，相对湿度： %试验选用仪器：仪器编号：（ 2）弯曲直径： mm ，正反弯曲次数： 次（ 3）试验电压： kV ，背景噪声： pC局部放电量： A 相 pC ，B 相 pCC相 pC结论：符合 不符合第3页共29页导体电阻tg测量测量值应按 GB/T 3956 给出的公式和系数校正到温度为 20，长度为 1km的数值，所得计算值应不超过 GB/T 3956 规定的相应的最大值GB/T 12706.2 2008：16.2将导体加热达到 95至 100之间的一个稳定温度，在 2

14、KV下， tg 测量值应不大于 0.0080 GB/T 12706.2 2008：18.1.2测试要点：1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位的导体表面，去除附着物、污垢，连接处表面的氧化层应尽除尽；双 臂 直 2、在试验环境中放置足够长时间最好在密封性好的房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计。两温度计离夹具和试样不超过 0.5 米，且两者基本在流电桥、同一高度；通 用 导 3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；2体 电 阻 4、施加电流应不大于 1.0A/mm，正反各测量一次。夹具 试验环境要求：1、在试验环境中放置足够长时间；2、最好在密封性好的房

15、间，温度： 15-35 ，湿度不大于 85%；3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体的温升） 。GB/T 3048.4 -20071试样制备1.1 应按产品标准规定选取试样的长度，但不得小于 4m。1.2 试样终端部分的长度和终端的制备方法，应能保证在规定的最高测试电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。1.3 被测试样的端部切开保护环，并将保护环接地。1.4 试样测量极对地应具有一定电阻值。1.5 交联聚乙烯绝缘电力电缆可采用脱离子水终。这时终端制备（包括开保护环）应按其技术说明书的规定进行。2试验程序2.1 除产品标准中另有规定外，应按下列方式接线：高 压 电 2.1.1

16、单芯电缆，应将导体接高压端，金属套、屏蔽或附加电极接测量极；桥、串联 2.1.2 分相铅套电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并与金谐 振 试 属套、屏蔽一起接至测量极；验系统、 2.1.3 多芯电缆，应依次将每一线芯接高压端， 其他线芯相互连接并接至测量极；或每一线芯接高压极，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极。标 准 电 2.2 除产品标准另有规定外，试验一般均应在（ 2015）的环境温度下进行。容器 试样的温度与周围环境温度之差应不超过 3。2.3 按产品标准要求在规定的试验温度下测量 tan 值时，可采用各种方法测量试样温度，但测量值与标准规定之差不超过 3。2

17、.4 测量时应从较低值 （不应超过产品所规定的测试电压值的 40%）开始将电压缓慢平稳地升至规定的试验电压（电压偏差应不超过规定值的 3%），然后进行电桥平衡（检流计灵敏度应从最低值开始） 。测量结束后，将检流计灵敏度调至最低值，并应迅速降压至低于所规定的试验电压的 40%，然后在切断电源。3试验结果及计算3.1 按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的 tan 值。3.2 按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的电容值。GB/T 3048.11 -2007（ 1）环境温度： 相对湿度： %试验选用仪器：仪器编号：（ 2）导体直流电阻 (20 ) ：A 相 /kmB 相 /km

18、C相 /km结论：符合 不符合（ 1）环境温度： 相对湿度： %试验选用仪器：仪器编号：（ 2）导体温度： 试验电压： kVtan ：A 相B 相C相结论：符合 不符合第4页共29页（ 1）环境温度：，相对湿度：%热循局 部 放试验选用仪器：环试电 检 测1、热循环试验U 形。 试样应加热至导体达到 95至仪器编号：验及加热循环 20 次后，随后的局部仪、串联应按 11.3.4 规定的弯曲直径将试样变成（ 2）热循环试验：导体温度：100之间的一个稳定温度。加热应至少8。在每个加热期内 , 导体温度应保随后放电试验： 1.73U0 下，无超过声谐 振 试循环次数：次持在限定的温度范围内至少2。

19、随后应自然冷却至少 3h，使导体温度不超过明试验灵敏度（ 5pC 或更优）的的局验系统、环境温度 10K。加热和冷却循环应进行 20 次。（ 3）局部放电试验：试验电压：kV可检测到的放电。部放热 循 环2、热循环试验结束后，电缆应立即进行局部放电试验，试验方法参考第3 页局背景噪声：pCGB/T 12706.22008：18.1.4放试验方法。局部放电量： A 相pC ，B 相pC电试试 验 系GB/T 3048.12 -2007验统C相pC结论：符合 不符合冲击电压试验及随后的工频电压试验1 试样制备2 试验程序2.1 接线方式， 对电力电缆绝缘型护套和电缆附件试样进行试验时，试样的所有线

20、芯都应与金属套（屏蔽）和铠装（若有）相连接并与冲击电压发生器输出端，而附加特殊电极（如水槽或石墨涂层）接地。冲击电压试验（ 95 100 ,2.2 冲击电压发生器的校准。 通常对每个试样都要校核冲击波形。但是具有相同设计和相同尺寸的电缆试样，在同一条件下作试验，只需校核一次。依据电缆电压等级确定施加电冲 击 电2.3 耐受水平冲击电压试验。压 , 正负极性各 10 次）不击穿、 压 发 生2.3.1 在试样处于相应产品标准规定的试验压力和温度条件下，连续施加10 次随后工频电压试验（依据电缆电器 成 套正极性相应规定的耐受冲击电压值。压等级确定施加电压 ,15min,室2.3.2 在施加 10

21、 次正极性相应规定值的耐受冲击电压后，立即按2.2规定进行温）不击穿。设备负极性冲击电压值和波形的校准，然后在试样上连续施加10 次负极性相同规定GB/T 12706.22008：18.1.7值的耐受冲击电压值。2.3.3 在连续施加正和负极性相应规定的耐受冲击电压值时，至少应分别摄录第 1 次和第 10 次冲击电压示波图。3 试验结果及评定最后一次冲击电压波形图无畸变或未呈现截波，通过试验。GB/T 3048.13 -2007 ；GB/T 3048.8 -2007（ 1）环境温度： ，相对湿度： %试验选用仪器：仪器编号：（ 2）冲击电压试验：导体温度： 试验电压： kV ，试验波形：A相试

22、验是否通过：B相试验是否通过：B相试验是否通过：（ 3）工频电压试验：导体温度： 试验电压： kV ，试验时间： hA相试验是否通过：B相试验是否通过：B相试验是否通过：结论：符合 不符合半导（ 902）下，老化前和老化电 缆 半1 试样制备（ 1）环境温度：后的电阻率应不超过：导体屏导 电 屏每个试样应从一段 150 长的成品电缆试样上制备。应将电缆绝缘芯样品沿相对湿度：%电屏蔽， 1000 m，绝缘屏蔽， 500蔽电蔽 层 电纵向对半切开，将导体以及隔离层 ( 如果有 ) 除去即制成导体屏蔽试样。应将电试验选用仪器： m阻 测 试缆绝缘芯外所有包覆层除去即制成绝缘屏蔽试样。阻率仪器编号：G

23、B/T 12706.2 2008：18.1.9仪、电热2 试验步骤 应将四只涂银电极，和置于半导电层表面。两个电位电第5页共29页鼓 风 干极和应间距 50 , 而两个电流电极 , 应分别放在电位电极外侧间隔（ 2）燥箱至少 25 。应采用合适的夹子连接电极。在连接导体屏蔽电极时，应确保夹老化前：子与试样表面的绝缘屏蔽层相互绝缘。连接好的试样应放入已预热到规定温度导体屏蔽电阻率： m的烘箱中，在至少 30 in 后测量电极间电阻，测试线路的功率应不超过 100 。测量电阻后，应在环境温度下，测量图B1b 所示试样导体屏蔽和绝缘的外绝缘屏蔽电阻率： m径及导体屏蔽层和绝缘屏蔽层的厚度。每项测量6

24、 个数值，然后取其平均值。老化后：B3 试验结构的计算导体屏蔽电阻率： mB3.1 导体屏蔽电阻率应按下式计算：绝缘屏蔽电阻率： m结论：符合 不符合式中： c体积电阻率，； Rc 电阻测量值，； Lc电位电极间距离，； Dc 导体屏蔽的外径，； Tc 导体屏蔽层平均厚度，。B3.2 绝缘屏蔽电阻率应按下式计算：绝缘老化前后机械性能试验式中： i 体积电阻率，； Ri 电阻测量值，； Li 电位电极间距离，； Di 导体屏蔽的外径，； Ti 导体屏蔽层平均厚度，GB/T 11017.1 2002 附录 B老化前，按要求进行各种老化用的试样各至少5 个，试样应在一段样品连续取，先取前再取后，并标上记号，试样不能有机械损伤。 （尽可能使用哑铃试件，试拉 力 试件厚度为不小于 0.8mm，不大于 2.0mm，如不能获得 0.8mm 的厚度，允许最小老化前抗张强度不小于 12.5验机、指厚度为 0.6mm，宽度为 4mm。只有当绝缘线芯尺寸不能制备哑铃试件时才使用2针 式 测管状试件，所有试件要除去隔离层）在测量截面积前，所有的试样应避免阳光N/mm，老化前断裂伸长率不小于200%，老化前后抗张强度及断裂厚仪、自的直射，并在 235温度下存放至少 3h，但热塑性绝缘材料试样的存放温度伸长率的变化率均不超过 25%然 通 风为 232）