统计过程控制(SPC)及反应计划.doc

1、深圳亚翔塑胶五金厂ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ文件/指引名称统计过程控制（SPC）及反应计划文件/指引编号TS-QW-EG-04页 数1/8文件/指引版本A生效日期2006-06-01编写人吴永东部门主管审批李承俊管理者代表确认金东奎生效日期版本修 改 履 历2006-06-01A首次发行亚翔受控编号1A2A3A4A5A6A7A8A接收部门总经办营业部采购部工程部成型部品质部装配部仓务部接收人受控编号9A10A11A接收部门行政部财务部信息技术部接收人文件控制印章如印章之颜色不是红色则是非受控副本请参阅受控制副本文件。深圳亚翔塑胶五金厂ATLA

2、S PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ文件/指引名称统计过程控制（SPC）及反应计划文件/指引编号TS-QW-EG-04页 数8/8文件/指引版本A生效日期2006-06-011. 目的通过应用控制图方法，对产品制造过程关键工序的主要质量特性/重要特性进行控制，及时发现异常因素并加以消除，确保工序处于稳定的受控的状态。2. 范围适用于公司生产过程各关键工序主要质量特性/重要特性的控制。3. 术语及定义3.1术语 标准偏差 CL中心线LCL 控制下限 LSL规格下限UCL 控制上限 USL规格上限SPC 统计过程控制 PP过程实绩CP 能力指数 CPk 稳定过程的

3、能力指数3.2定义计量型数据：可以连续不间断取值的数据。计数型数据：不可以连续不间断取值的数据。稳定性：不存在变差的特殊原因处于统计控制的状态。规格限：本公司或由供应商或客户对相关过程或产品特性所定的控制界限。变差：过程的单个输出之间不可避免的差别，原因可分成两类：普通和特殊原因。4.职责4.1技术部4.1.1 在制定控制计划中确定关键的工序参数或控制特性；4.1.2 选取合适的控制图类型（如：X-R，np图），确定取样数量及测试频率；4.1.3 计算持续的中心线和控制界限，包括对控制界限进行修订；4.1.4 检查完成的控制图，分析其趋势/异常情形；4.1.5 工序能力的研究。4.2现场检验员

4、和操作人员4.2.1 按规范选取和检测样本并记录检测结果；4.2.2 所测量取得的数据处于稳定状态下计算该管理项目的CPk值，判断其过程能力是否达到基本要求。4.2.3 如CPk达到要求将其要求控制界限的控制图交与生产现场进行过程控制；如CPk达不到要求时，要求调整后再重新抽样作分析用控制图。4.2.4 知会生产部或开发部失控情况。4.3品质统计人员4.3.1 根据开发部给定的上下控制界限的过程用控制图进行打点绘图。4.3.2 当控制图反映出该管理项目达不到稳定状态时，及时报告生产部应和开发部一起判断缺陷或采取适当的纠正和预防措施使工序恢复控制，并跟进整改效果。4.4品质部负责对统计过程控制作

5、业进行指导、检查、跟踪及验证。5. 工作程序5.1均值和极差控制图( X- R图 )(附件二)5.1.1 控制图的准备5.1.1.1 建立适用于实施的工作环境5.1.1.2 定义过程5.1.1.3 确定作图的特性A.顾客的要求；B.当前的潜在问题区域；C.特性之间的相互关系；D.定义测量系统；E.使不必要的变差最小化。5.1.2均值和极差图绘制步骤( X-R图 )5.1.2.1 收集数据A.选择子组大小、频率和数据；B.建立控制图及记录原始数据；C.计算每个子组的均值(X)和极差(R)； X=X1+X2+Xn (X1、X2为子组内每个测量值，n为子组的样本容量,n 通常取n=5)R= Xmax

6、-XminD.选择控制图的刻度；E.将均值和极差画在控制图上。5.1.2.2 计算控制界限A.计算平均极差（R- ）及过程平均值（X= ）；K为子组的数量，R1和X1即为第一个子组的极差和均值，R2和X2为第二个子组的极差和均值，等等R-R = R1+R2+Rk kX= = X- 1+X- 2+X- k KB.计算控制界限；UCLR = D4R- LCLR = D3R- UCL X = X= + A2 R- LCL X = X= - A2 R- 式中：D4、D3、A2为常数，它们随样 本容量的不同而不同，详情见下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.

7、861.821.78D3/0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31C.在控制图上作出平均值和极差值控制线。5.1.2.3 过程控制解释A.分析极差图上的数据点；-超出控制界限的点； -连续7点位于平均值的一侧；-连续7点上升或下降； -其它明显的非随机图形。B.识别并标注特殊原因（极差图）；C.重新计算控制界限（极差图）；D.分析均值图上的数据点；-超出控制界限的点 -连续7点位于平均值的一侧-连续7点上升或下降 -其它明显的非随机图形E.识别并标注特殊原因（均值图）；F.重新计算控制界限（均值图）。5.1.2.4过程能力解释

8、A、计算过程的标准偏差； = R d2式中：R为子组极差的均值（在极差受控时），d2为随样本容量变化的常数。见表：n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08B.计算过程能力；USL -LSL6 Cp= （双侧规格下）USL -X3Cp= （只有上限要求时）X-LSL3 Cp= （只有下限要求时）T-2 CPk （双侧规格下）6 USL + LSL2 其中:M= ；=|X-M| ；T=USL-LSLC.过程能力理解。CPk 1.67 该过程能满足顾客的要求，批准后，开始生产并按照已批准的控制计划进行。1.33 CPk1.67 该过程可能不满

9、足顾客要求，生产件批准后，开始生产就对质量/重要特性加以重视，直到实际的CPk 1.67为止。CPk 1.33 过程没有达到满足顾客要求的标准，必须优先进行过程改进并形成纠正措施计划文件。5.2不合格品数的nP图5.2.1收集数据5.2.1.1选择子组的容量、频率及数量（子组容量必须相等）5.2.1.2选择控制图的坐标刻度5.2.1.3将不合格品率描绘在控制图上5.2.2计算控制界限5.2.2.1计算过程平均不合格品数 （nP） nP = np1+np2+npkK 式中：np1，np2为K个子组中的不合格数。5.2.2.2计算上、下控制界限UCLnP = np+ 3 np （1- p）, P

10、= np n1+n2+.+nk LCLnP = nP3 np （1-p） 5.2.2.3 画线并标注5.3过程控制解释5.3.1分析数据点，找出不稳定的证据。a.超出控制限的点；b.连续7点位于平均值的一侧；c.连续7点上升或下降；d.其它明显的非随机图形；e.重新计算控制限。5.4过程能力解释5.4.1 计算过程能力5.4.1.1对于nP图，过程能力是通过过程平均不合格品率来表示,应使用历史数据,但应剔除特殊与原因有关的数据点。5.4.1.2当正式研究过程能力时,应使用新的数据,最好是25个或更多子组,且所有的点都受统计控制。5.4.2 绘制并分析修改后的过程控制图。5.5统计要求5.5.1

11、 作分析用控制图，其抽样组数应取20组数据，样本大小一般为5。5.5.2 分析过程非稳定状态应及时采取纠正措施，再重新抽样分析，过程稳定状态才计算CPK值。5.5.3 关键工序作业人员只需按给定的上、下控界限进行描点，控制生产过程稳定状况。5.5.4 产品特殊特性项出现改变（含设备、工艺等）时，需再次进行作分析控制图，作业人员再次按给定的上、下控制界限进行描点，控制生产过程稳定状况。5.5.5 新产品型号上马调试应对重要管理项目进行计算CPk。6. 相关文件无7. 相关记录7.1 工序能力调查表 7.2 均值与极差图(X-R图) 7.3 np控制图 文件控制印章如印章之颜色不是红色则是非受控副本请参阅受控制副本文件。