统计过程控制SPC.doc

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统计过程控制（SPC）案例分析

统计过程控制（SPC）案例分析

一．用途

1.分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。

2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。

3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。

4．为评定产品质量提供依据。

二．控制图的基本格式1．标题部分

X-R控制图数据表

产品名称

工作指令编号

收集数

据期间

质量特性

车间

观察方法

规定日产量

设备编号

规格界限（或要求）

Tu

抽

样

间隔

操作

人员

Tl

数量

作业指导书编号

仪器编号

检验人员

生产过程

质量要求

日期

时间

样本号

测定值

均值

极差R

备注

X1

X2

X3

X4

X5

计算：

图：

CL=R图：

CL=

UCL=+UCL=

LCL=-LCL=

CL

LCL

UCL

样本号

2．控制图部分

质

量

特

性

在方格纸上作出控制图：

控制图

图

R图

说明

操作人

班组长

质量工程师

横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性。

图上有三条平行线：

实线CL：

中心线

虚线UCL：

上控制界限线

LCL：

下控制界限线。

三．控制图的设计原理

1．正态性假设：

绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。

2．3准则：

99。

73%。

3．小概率事件原理：

小概率事件一般是不会发生的。

4．反证法思想。

四．控制图的种类

1．按产品质量的特性分

（1）计量值（）

（2）计数值（p，pn，u，c图）。

2．按控制图的用途分：

（1）分析用控制图；

（2）控制用控制图。

五．控制图的判断规则

1．分析用控制图：

规则1判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内（3种情况）；

规则2判异准则-----排列无下述现象（8种情况）。

2．控制用控制图：

规则1每一个点子均落在控制界限内。

规则2控制界限内点子的排列无异常现象。

[案例1]p控制图

某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表

（2）（3）栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率,作控制图对其进行控制.

数据与p图计算表

组号

（1）

样本量

（2）

不合格品数D（3）

不合格品率p（4）

P图的UCL（5）

1

85

2

0.024

0.102

2

83

5

0.060

0.103

3

63

1

0.016

0.112

4

60

3

0.050

0.114

5

90

2

0.022

0.100

6

80

1

0.013

0.104

7

97

3

0.031

0.098

8

91

1

0.011

0.100

9

94

2

0.021

0.099

10

85

1

0.012

0.102

11

55

0

0

0.117

12

92

1

0.011

0.099

13

94

0

0

0.099

14

95

3

0.032

0.098

15

81

0

0

0.103

16

82

7

0.085

0.103

17

75

3

0.040

0.106

18

57

1

0.018

0.116

19

91

6

0.066

0.100

20

67

2

0.030

0.110

21

86

3

0.035

0.101

22

99

8

0.080

0.097

23

76

1

0.013

0.105

34

93

8

0.086

0.099

25

72

5

0.069

0.107

26

97

9

0.093

0.098

27

99

10

0.100

0.097

28

76

2

0.026

0.105

小计

2315

90

[解]

步骤一:

预备数据的取得,如上边表所示.

步骤二:

计算样本不合格品率

步骤三:

计算p图的控制线

由于本例中各个样本大小不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对第一个样本n1=85,有

UCL=0.102CL=0.0389LCL=-0.024

此处LCL为负值,取为零.作出它的SPC图形.