建筑上岗证无损检测培训考核习题集及答案概要.docx
《建筑上岗证无损检测培训考核习题集及答案概要.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《建筑上岗证无损检测培训考核习题集及答案概要.docx（56页珍藏版）》请在冰点文库上搜索。
建筑上岗证无损检测培训考核习题集及答案概要
第一部分射线检测
问答题
1什么是影响射线照相影象质量的三要素?
答：
影响射线质量的三个要素是：
对比度、清晰度、颗粒度。
射线照相对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度差。
射线照相清晰度定义为胶片影像中不同梯度区域分界线的宽度。
用来定量描述清晰度的是“不清晰度”,射线照相清晰度对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度。
2.写出裂纹的6个自身特征参数，并说明哪几个是射线照相的关键参数？
答：
裂纹的自身特征参数有：
（1）长度L;
（2）走向X;（3）裂纹平面相对于射线束的倾角θ；（4）裂纹埋深h；（5）裂纹自身高度d；（6）裂纹开口宽度w。
对射线照相来说，影响裂纹检出灵敏度的关键参数是h、d、w。
3.为什么说象质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？
答:
象质计灵敏度是评价射线照相技术质量的一种手段。
一般说来，象质计灵敏度越高，发现缺陷的能力越强，但象质计灵敏度和缺陷探测灵敏度之间不能划等号，后者的情况要复杂得多，是缺陷白身几何形状、吸收系数、位置及取向角度的复合函数。
.虽然人们设计了各种型式的象质计，但到目前为止，还没有一种完美的象质计，能恰当反映出射线照相技术对各种白然缺陷的探测能力。
4.在底片黑度，象质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检？
答：
（1）小缺陷。
如果小缺陷的影象尺寸小于不清晰度尺寸，影象对比度小于最小可见对比度，便不能识别。
因此对一定的透照条件，存在着一个可检出缺陷临界尺寸，小于临界尺寸的缺陷便不能检出。
例如小气孔、夹渣、微裂纹、白点等。
（2）与照射方向不平行的平面型缺陷。
平面型缺陷具有方向性，当缺陷平面与射线之间夹角过人，会使对比度降低，甚至在底片上不产生影象，从而造成漏检。
例如坡口及层间未熔合，钢板分层的漏检以及透照工艺不当，
角过大造成横向裂纹漏检均属此类情况。
（3）闭合紧密的缺陷。
对某些紧闭缺陷即使透照角度在允许范围内，仍不能产生足够的透照厚度差，从而造成漏检。
例如紧闭的裂纹，未熔合，锻件中的折迭等。
5焊缝余高对X射线照相质量有什么影响？
答：
大多数焊缝在射线照相时都保留着焊缝余高，由于余高的存在，透过母材部分的射线要比透过焊缝部分的射线强得多，而且照射母材部分的X射线产生的散射要比照射焊缝部分的X射线产生的散射线强得多，这样，来自母材部分的散射线会与透过焊缝部分的X射线所产生的散射线叠加在一起，使照相质量降低。
散射比与余高的变化关系是:
余高宽度越窄，高度越大，散射比越大。
6透照有余高焊缝应注意哪些事项？
答:
（1）由于焊缝余高的存在，底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2，照相时应注意保证Dl、D2均在标准允许的黑度范围内。
（2）由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大，而识别界限对比度△D
也随黑度D的增加而增大，因此透照有余高焊缝时，通过控制适当的焊缝部位黑度Dl和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为余高焊缝透照的最佳黑度。
（3）底片对比度随射线有效能量的降低而增人，但另一方面，射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I
与母材部位的透射线I
的比值大大减小，从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重，其结果是降低了对比度，因此透照有余高焊缝时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大，而是在某一线质时，焊缝部位的底片对比度达到最大值。
此线质称为余高焊缝透照的最佳线质。
7透照余高磨平的焊缝怎样提高底片灵敏度？
答:
对余高磨平的焊缝透照，提高灵敏度的要点是尽量提高底片对比度和控制底片黑度。
提高对比度的途径包括:
（l）选用
值更高的胶片:
（2）选用较低能量的射线:
（3）采用反差更高的显影配方;（4）进一步减小散射线;（5）选择最佳黑度。
底片黑度同时影响底片对比度和最小可见对比度。
试验证明，当黑度约为2.5时可识别的透度计线径最小，称为余高磨平焊缝透照的最佳黑度。
因此，对余高磨平的焊缝最好选择黑度约为2.5的曝光参数。
8常用控制散射线的方法有哪些。
答：
（1）使用铅箔增感屏，吸收部分前散射线和背散射线。
（2）暗盒后衬铅板，进一步减少背散射。
（3）使用铅罩和铅光阑，限制照射范围，减少散射源。
（4）采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘，减少“边蚀”效应。
（5）用流质吸收剂或金属粉末对形状不规则及厚度差较大的试件进行厚度补偿，以减少较薄部分散射线对较厚部分的影响。
（6）采用滤板去除射线中线质较软的部分，减少边蚀效应。
（7）减小或去除焊缝余高，降低焊缝部位散射比。
9指出小口径管对接焊缝射线照相对缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。
答：
小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点：
（1）双壁双影透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径，故射线源尺寸的影响较大，使几何不清晰度增加，小缺陷对比度降低，为减小射线源尺寸对几何不清晰度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小射线源，适当增大焦距。
（2）透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不同部位的黑度差，易适当提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺。
（3）由于管子直径较小，散射线引起的“边蚀”效应比较严重。
相应的措施是在射线机窗口处加滤板。
或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。
（4）双壁双影透照时焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影象会发生畸变。
为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间距一般为3—10mm，最大不超过15mm.。
10选择透照焦距时应考虑哪些因素?
答：
（1）焦距的选择应满足几何不清晰度的要求。
（2）焦距的选择还应保证在满足透照厚度比K的条件下，有足够大的一次透照长度L3。
（3）为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质量的影响，焦距取大一些为好。
（4）由于射线强度与距离平方成反比，焦距的增加必然使曝光时间大大延长，因此，焦距也不能过大。
第二部分超声波检测
问答题
1什么是弹性介质？
同样作为传声介质，固体和液体、气体有哪些不同？
答：
在介质内部，各质点间以弹性力联系在一起，这样的介质称为弹性介质。
一般固体、液体、气体都可视为弹性介质。
但前者与后者存在区别，固体内部可以存在拉、压应力和剪切应力，而液体或气体内部不存在拉应力或剪切应力，只可以传递压应力。
纵波是靠拉、压应力传播的，所以在固体、液体、气体中都可以传播，而横波或表面波的传播需要剪切应力，所以它们只能在固体中传播，而不能在液体和气体中传播。
2什么是波动频率、波速和波长？
三者有何关系？
答：
波动过程中，任一给定点在1秒钟内所通过的完整波的个数，称为波动频率。
波动频率在数值上同振动频率，用f表示，单位为赫兹（Hz）。
波动中，波在单位时间内所传播的距离称为波速，用C表示。
常用单位为米/秒（m/s）
或千米/秒（km/s）。
同一波线上相邻两振动相位相同的质点间的距离，称为波长，用
表示。
波源或介质中任意一质点完成一次全振动，波正好前进一个波长的距离。
波长的常用单位为毫米（mm）、米（m）。
由波速，波长和频率的定义得：
C=
由上式可知，波长与波速成正比，与频率成反比。
当频率一定时，波速愈大，波长就愈长；当波速一定时，频率愈低，波长就愈长。
3什么是超声波？
工业探伤应用的频率范围是多少？
在超声波探伤中应用了哪些超声波的哪些主要性质？
答：
频率高于20000Hz的机械波称为超声波，工业探伤所用的频率一般在0.5～10MHz之间，对钢等金属材料的检验，常用的频率为1～5MHz之间。
超声波的主要特点是频率高，波长短，能量密度大，在工业探伤中主要利用了超声波的以下特性：
（1）超声波良好的指向性。
在超声波探伤中声源的尺寸一般均大于波长数倍以上，在此条件下，超声波能形成扩散角较小的声束。
沿特定方向上传播。
从而可按光学原理判定缺陷位置。
（2）超声波在异质界面上将产生反射，折射，利用这些特性，可以接收到从缺陷或其他异质界面反射回来的声波，获取需要的信息。
（3）超声波在异质界面上能产生波型转换，利用这一特性，可以从界面上获得不同型式的超声波从而满足探伤需要。
（4）超声波频率高，因为声强与频率成正比，所以超声波的能量比声波能量大得多，使用超声波探伤可以发射较大的能量，接收到较强的回波信号。
4简述影响超声波在介质中传播速度的影响有哪些？
答：
（1）超声波在介质中的传播速度与介质的弹性模量和介质的密度有关。
对一定的介质，弹性模量和密度为常数，故声速也是常数，不同介质，声速不同。
（2）超声波波型不同时，声速也不一样。
同一介质，传播不同类型声波时，声速也不相同。
（3）介质尺寸大小及介质温度对声速也有一定影响。
5什么叫端角反射？
它有何特点？
超声波检测单面焊根部未焊透缺陷时，探头K值应怎样选择?
答：
（1）超声波在工件（或试样）的两个互相垂直的平面构成的直角内的反射，称为端角反射。
（2）端角反射中，同类型的反射波和入射波总是相互平行方向相反。
（3）端角反射中，产生波型转换，不同类型的反射波和入射波互相不平行。
（4）纵波入射时，端角反射率在很大范围内很低。
（5）横波入射时，入射角在
附近，断交反射率最低。
（6）入射角在
时，断交反射率最高。
（7）探测根部未焊透时为取得高的端角反射率，应选择K=0.7~1.43的探头，避免选择K
1.5的探头
6什么叫超声波的衰减？
简述衰减的种类和原因？
答：
超声波在介质中传播时，随着传播距离的增加，超声波的能量逐渐减弱的现象称为超声波的衰减。
衰减的种类和原因：
1）扩散衰减：
由于声束的扩散，随着传播距离的增加，波束截面越来越大，从而使单位面积上的能量逐渐减小。
这种衰减叫扩散衰减。
扩散衰减主要取决于波阵面的几何形状，与传播介质的性质无关。
2）散射衰减：
超声波在传播过程中，遇到由不同声阻抗介质组成的界面时，发生散射（反射、折射或波型转换），使声波原传播方向上的能量减少。
这种衰减称为散射衰减。
材料中晶粒粗大（和波长相比）是引起散射衰减的主要因素。
3）吸收衰减：
超声波在介质中传播时，由于介质质点间的内摩擦（粘滞性）和热传导等因素，使声能转换成其它能量（热量）。
这种衰减称为吸收衰减，又称粘滞衰减。
散射衰减，吸收衰减与介质的性质有关，因此统称为材质衰减。
7何谓主声束？
何谓指向性？
指向性与哪些因素有关？
答：
（1）声源正前方声能集中的锥形区域称为主声束。
（2）声源辐射的超声波方向，集中辐射的性质称为声束指向性。
（3）指向性的优劣常用指向角表示，指向角即为主声束的半扩散角，通常用过第一零辐射角表示，即声压为零主声束边缘线与声束轴线间的夹角。
（4）指向角
与波长和晶片直径的比值（
）有关，D愈大，
愈短，
愈小，声束指向性愈好。
8聚焦探头在应用上有哪些优点与不足？
答：
聚焦探头的以下应用体现出其优越性
（1）聚焦探头声束细，产生散乱反射的几率小，用于铸钢件及奥氏钢晶粒粗大、衰减严重的材料探伤，可降低草状回波，提高信噪比的灵敏度，有利于缺陷的检出。
（2）使用聚焦探头有利于提高定量精度。
近年来采用聚焦探头利用端点峰值回波法来测定裂纹的高度。
精度明显提高，使用聚焦探头利用多重分贝法（如6dB，12dB等）来测定缺陷面积或指示长度要比常规探头精确很多。
聚焦探头也有不足，最大缺点是声束细，每次扫查范围小，探测效率低。
另外，探头的通用性差，每只探头仅适用于探测某一深度范围内的缺陷。
9什么是缺陷的当量尺寸？
在超声波探伤中为什么要引进当量的概念？
答：
目前工业超声波探伤应用最普遍的是A型显示脉冲反射法。
反射法是根据缺陷反射回波声压的高低来评价缺陷的大小。
然而工件中的缺陷形状性质各不相同，目前的探伤技术还难以确定缺陷的真实大小和形状。
回波声压相同的缺陷的实际大小可能相差很大，为此特引用当量法。
当量法是指在同样的探测条件下，当自然缺陷回波与某人工规则反射波回波等高时，则该人工规则反射体的尺寸就是此自然缺陷的当量尺寸。
自然缺陷的实际尺寸往往大于当量尺寸。
10探头保护膜的作用是什么？
对它有哪些要求？
答：
（1）保护膜加于探头压电晶片的前面，作用是保护压电晶片和电极，防止其磨损和碰坏。
（2）对保护膜的要求是：
耐磨性好，强度高，材质衰减小，声透性好，厚度合适。
11超声波探伤仪主要性能指标有哪些？
答：
探伤仪性能是指仅与仪器有关的性能，主要有水平线性，垂直线性和动态范围等。
（1）水平线性：
也称时基线性或扫描线性，是指探伤仪扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。
水平线性的好坏以水平线性误差表示。
（2）垂直线性：
也称放大线性或幅度线性，是指探伤仪荧光屏上反射波高度与接收信号电压成正比的程度。
垂直线性的好坏以垂直线性误差表示。
（3）动态范围：
是探伤仪荧光屏上反射波高从满幅（垂直刻度100%）降至消失时（最小可辨认值）仪器衰减器的变化范围。
以仪器的衰减器调节量（dB数）表示。
12简述超声探伤系统主要性能指标有哪些？
答：
系统性能是仪器，电缆、探头特性的综合反映，即探伤仪和探头的组合性能，主要有信噪比，灵敏度余量，始波宽度，盲区和分辨力。
（1）信噪比：
是探伤仪荧光屏上界面反射波幅与最大杂波幅度之比。
以dB数表示。
（2）灵敏度余量：
也称综合灵敏度。
是指探测一定深度和尺寸的反射体，当其反射波高调到荧光屏指定高度时，探伤仪剩余的放大能力。
以此时衰减器的读数（dB值表示）。
（3）始波宽度：
也称始波占宽，它是指发射脉冲的持续时间，通常以一定灵敏度条件下，荧光屏水平“0”刻度至始波后沿与垂直刻度20%线交点间的距离所相当的声波在材料中传播距离来表示。
（4）盲区：
是探测面附近不能弹出缺陷的区域。
以探测面到能够探出缺陷的最小距离表示。
（5）分辨力：
是在探伤仪荧光屏上能够把两个相邻缺陷作为两个反射信号区别出来的能力。
分辨力可分为纵向分辨力和横向分辨力。
通常所说的分辨力是指纵向分辨力。
一般以相距6mm或9mm的两个反射面反射波幅相等时，波峰与波谷比值的dB数表示。
13什么是试块？
试块的主要作用是什么？
答:
按一定用途设计制作的具有简单几何形状人工反射体的试样，通常称为试块，试块和仪器、探头一样，是超声波探伤中的重要工具。
其主要作用是：
1.确定探伤灵敏度，在超声探伤前常用试块的某一特定的人工反射体来调整探伤灵敏度。
2.测试仪器和探头的性能，超声波探伤仪和探头一些重要性能，如放大线性、水平线性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头的入射点、K值等都是利用试块来测试的。
3.调整扫描速度，利用试块可以调整仪器示波屏上水平刻度值与实际声程之间的比例关系即扫描速度，以便对缺陷进行定位。
4.评定缺陷的大小，利用某些试块绘出的距离—波幅—当量曲线（即实用AVG）来对缺陷定量，是目前常用的定量方法之一。
14试块有哪几种分类方法？
我国常用的试块有哪几种？
答：
（1）按试块的来历分：
（a）标准试块。
是由权威机构制定的试块，试块的材质、形状、尺寸及表面状态都有权威部门统一规定。
如国际焊接学会IIW试块和IIW2试块。
（b）参考试块。
是由各部门按某些具体探伤对象制定的试块，如CS—1，CSK—IIA试块等。
（2）按试块上人工反射体分：
（a）平底孔试块，一般平底孔试块上加工有底面为平面的平底孔，如CS—1、CS—2试块。
（b）横孔试块。
横孔试块上加工有与探测面平行的长横孔或短横孔，焊缝探伤中CSK—IIA（长横孔）和CSK—IIIA（短横孔）试块。
（c）槽形试块。
槽形试块上加工有三角尖槽或矩形槽，如无缝钢管探伤中所有的试块，内、外圆表面就加工有三角尖槽。
我国常有的试块有：
a机械部颁布的平底孔标准试块，CS—1和CS—2试块。
b压力容器无损检测JB4730—94规定的试块，CSK—IA、CSK—IIA、CSK—IIIA、阶梯形试块等。
15试块应满足哪些基本要求？
使用试块时应注意什么？
答：
试块材质要均匀，内部杂质少，无影响使用的缺陷。
加工容易，不易变形和腐蚀，具有良好的声学性能。
试块的平行度、垂直度、光洁度和尺寸精度都要符合一定的要求。
使用试块时要注意：
（1）试块要在适当部位编号，以防混淆。
（2）试块在使用和搬运过程中应注意保护，防止碰伤或擦伤。
（3）使用试块时应注意清除反射体内的有无和锈蚀。
（4）注意防止试块锈蚀。
注意防止试块变形。
平板试块尽可能立放，防止重压。
16超声波探伤仪和探头的主要性能指标有哪些？
答：
超声波探伤仪的主要性能指标有：
（1）垂直线性：
是指仪器示波屏上波高与探头接受信号之间成正比的程度，垂直线性的好坏影响缺陷定量精度。
（2）水平线性：
是指仪器示波屏上时基线显示的水平刻度值与实际声程之间成正比的程度，或者说是示波屏上多次底波等距离的程度，水平线性的好坏以水平线性误差来表示。
（3）动态范围：
是指示波屏容纳信号大小的能力，将满幅度100%某波高用[衰减器]衰减到刚能识别的最小值所需要衰减的分贝值就是仪器的动态范围，以仪器的dB数来表示。
探头的主要性能指标有：
（1）斜探头的入射点，是指其主声束轴线与探测面的交点，入射点至探头前沿的距离称为探头前沿长度，测定入射点和前沿长度是为了便于对缺陷定位和测定探头的K值。
（2）斜探头K值和折射角
：
斜探头K值是指被探工件中横波折射角
的正切值，K=
。
探头主声束偏离：
是指探头实际主声束与其理论几何中心轴线的偏离程度，常用偏离角来表示。
17何谓耦合剂？
简述影响耦合的因素有哪些？
答：
在探头与工作表面之间施加的一层透明介质，称为耦合剂。
影响声耦合的主要因素有：
（1）耦合层厚度：
厚度为
的奇数倍时，透声效果差。
厚度为
的整数倍或很薄时，透声效果好。
（2）表面粗糙度：
一般要求表面粗糙度不大于6.3
。
表面粗糙耦合效果差，表面光洁耦合效果好。
（3）耦合剂声阻抗：
耦合剂声阻抗大，耦合效果好。
（4）工作表面形状：
平面耦合效果最好，凸曲面最差。
不同曲率半径耦合效果也不相同，曲率半径大，耦合效果好。
18什么叫探伤灵敏度？
常用的调节探伤灵敏度的方法有几种？
答：
探伤灵敏度是指在确定的探测范围的最大声程处发现规定大小缺陷的能力。
有时也称为起始灵敏度或评定灵敏度。
通常以标准反射体的当量尺寸表示。
实际探伤中，常常将灵敏度适当提高，后者则称为扫查灵敏度或探测灵敏度。
调节探伤灵敏度常用的方法有试块调节法和工件底波调节法。
试块调节法包括以石块上人工标准反射体调节和以试块底波调节两种方式。
工件底波调节法包括计算法，AVG曲线法，底面回波法高度法等多种方式。
19何谓缺陷定量？
简述缺陷定量方法有几种？
答：
超声波探伤中，确定工件中缺陷大小和数量，称为缺陷定量。
缺陷的大小包括缺陷的面积和长度。
缺陷的定量方法很多，常用的有当量法，底波高度法和测长法。
20什么是当量尺寸？
缺陷的当量定量法有几种？
答:
将工件中自然缺陷的回波与同声程的某种标准反射体的回波进行比较。
两者的回波等高时，标准反射体的尺寸就是该自然缺陷的当量尺寸。
当量仅表示反射体对声波的反射能力相当，并非尺寸相等。
当量法包括：
（1）试块比较法：
将缺陷回波与试块上人工缺陷回波作比较对缺陷定量的方法。
（2）计算法：
利用规则反射体放人理论回波声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸的定量方法。
（3）AVG曲线法：
利用通用AVG或实用AVG曲线确定缺陷当量尺寸的方法.
21什么是缺陷的指示长度？
测定缺陷指示长度的方法分为哪两大类？
答：
按规定的灵敏度基准，根据探头移动距离测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。
测定缺陷长度的方法分为相对灵敏度法和绝对灵敏度法两大类。
（1）相对灵敏度法：
是以缺陷最高回波为相对基准，沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅降低一定的dB值的探头位置作为缺陷边界来测定缺陷长度的方法。
（2）绝对灵敏度法：
是沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅降到规定的测长灵敏度的探头位置作为缺陷边界来测定长度的方法。
22超声波探伤的分辨力与哪些因素有关?
答：
超声波探伤分辨力可分为近场分辨力（盲区），远场分辨力，纵向分辨力，横向分辨力。
近场分辨力主要取决于始脉冲占宽和仪器阻塞效应。
纵向分辨力主要取决于脉冲宽度及探测灵敏度。
横向分辨力主要取决于声束扩散角、探测灵敏度、测试方法等。
23怎样选择超声波探伤的频率？
答:
超声频率在很大程度上决定了超声波探伤的检测能力。
频率高、波长短、声束窄、扩散角小，能量集中，因而发现小缺陷的能力强，分辨力高，缺陷定位准确，但缺点是在材料中衰减大，穿透能力差，对细晶粒材料，如锻件、焊缝等，常用频率为2.5～5MHz，只有在对很薄工件探伤，并对小缺陷检出要求很高时，才使用10MHz频率。
对粗晶材料，为减少晶界反射，避免林状回波，增大穿透能力，常使用低频。
另外，当试件表面粗糙度较大时，选择低频有助减少耦合时的侧向散射。
一般对铸钢，奥氏体不锈钢焊缝，可采用0.5～1MHZ的频率，对铸铁、非金属材料，甚至使用几十千HZ的低频。
24超声波探伤时，缺陷状况对回波高度有哪些影响？
答：
缺陷回波高度受缺陷的形状、方位、大小、性质等因素的影响。
（1）形状的影响：
工作中实际缺陷的形状是各种各样的，通常可简化为圆片形，球形，圆柱形三种，回波高度H是缺陷直径（
），缺陷到声源的距离X，波长
的函数：
（2）方位的影响：
声波垂直缺陷表面时，反射波最高，当声波与缺陷表面不垂直时，回波随倾角的增大而急剧下降。
例如，对光滑反射面，倾角
时，波高降至垂直入射的1/10;倾角为
时，波高降为1/1000缺陷已不能检出。
（3）表面粗糙度的影响：
缺陷表面凹凸＜1/3λ时，可认为缺陷是光滑平面，当表面凹凸度＞1/3λ时，是粗糙平面，垂直入射时，声束被散乱反射，产生干涉，回波高度随粗糙度增大而下降；倾斜入射时，缺陷回波随粗糙度增大而增高；当凹凸度接近波长时，即使倾角较大，也能接收到一定高度的回波；
（4）缺陷回波指向性的影响：
当缺陷直径为波长的2～3倍时，反射波具有较好的指向性，随缺陷直径的减小，指向性变差。
当缺陷直径小于1/2λ时，反射波能量呈球形分布，强度降低，此时垂直入射和倾斜入射的反射特性大致相同。
当缺陷直径大于3λ时，可视为镜面反射，当入射倾角大时就不易接收到缺陷回波。
缺陷性质的影响：
通常含气体的缺陷，如钢中的白点，气孔，裂纹，未焊透等，其界面声阻抗差很大，可近似认为声波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金属夹杂物的缺陷，界面声阻抗差异小，透过部分声能，反射回波相应降低。
25怎样选择超声波探伤的探头？
答：
超声波探头种类很多，性能各异，应根据检测对象，合理选择探头。
a）频率选择：
对大厚工件，粗晶材料，或探测表面粗糙的工件，应选择低频率；对薄工件，细晶粒材料，或对小缺陷检出要求高时，应选择较高频率。
应注意的是：
裂纹等表面状缺陷，有显著的反射指向性，如果超声波不是近于垂直入射，在探头方向就不会产生足够大的回波，频率越高，这种现象越显著，所以应避免使用不必要的高频。
一般来说，频率上限由衰减和草状回波信噪比决定，下限由检出灵敏度，脉冲宽度，和指向性决定。
b）晶片尺寸选择：
晶片尺寸大，发射能量大，扩散角远距离探测灵敏度高，适用于大型工件探伤，晶片尺寸小，近距离范围声束窄，有利于缺陷定位，对凹凸度大曲率半径小的工件，宜采用尺寸较小的探头。
c）探头角度选择：
角度选择原则是，尽量使声束相对于缺陷垂直入射。
钢板，锻件内缺陷多平行于表面，常选用直探头。
焊缝中危险性缺陷多垂直于表面，常选用斜探头。
d）特殊探头选择：
a）探测平行于探测面的近表面缺陷用双晶直探头。
b）探测薄壁管焊缝根部缺陷用双晶斜探头。
c）探测管材、棒材用水浸聚焦探头。
d）探测薄
升级会员 