最新硬件测试标准最全可靠性测试.docx

最新硬件测试标准最全可靠性测试.docx

《最新硬件测试标准最全可靠性测试.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《最新硬件测试标准最全可靠性测试.docx（21页珍藏版）》请在冰点文库上搜索。

最新硬件测试标准最全可靠性测试

1.目的

此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计，制造中的潜在性问题，在正式生产之前寻找改善方法并解决上述问题点，为正式生产的产品在质量上做必要的保证；并检测产品是否具备设计上的成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。

2.围

此指引适用于所有诺亚信高科技集团生产的移动产品。

3.定义

3.1技术员:

设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果.解决检测过程中的问题;并向工程师反馈检测方法的缺陷和不足。

3.2工程师:

判断测试结果是否可接受；跟进问题的解决情况；改善检测方法。

4.抽样方案

4.1以具体的实验项目要求为准。

5.检验容

5.1环境可靠性试验

5.1.1高温运行试验

试验目的：

验证手机在高温环境的适应性。

试验样品：

2sets

试验容：

55℃，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达55℃温度始算起.试验后在箱检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.2低温运行试验

试验目的:

验证手机在低温环境下的适应性。

试验样品:

2sets

试验容:

-20℃，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达-20℃温度始算起.试验后在箱检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

特别注意：

俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能（电池电压是否会升高）。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.3高温贮存试验

试验目的:

应力释放和加速材料的老化。

试验样品：

2sets

试验容:

80℃，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达80℃开始算起.在进行存储到24小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.4低温贮存试验

试验目的：

加速材料的脆化。

试验样品：

2sets

试验容：

-40℃，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达-40℃开始算起.在进行存储到16小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.5高温高湿试验

试验目的：

验证手机在高温高湿环境下的适应性，诱发临界状态的问题暴露出来。

试验样品：

2sets

试验容：

60℃，95H%，配齐SIM卡/T卡.手机电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达45℃，95H%温度开始算起.受测前样机胶塞必须安装归位.试验后在箱检查，要求产品的功能、外观正常，射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.6灰尘试验

试验目的：

验证手机结构密闭性。

试验样品：

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配电池，正常位置安装在适合的灰尘砂粒（灰尘量2千克每立方米）试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底部面积不超过有效水平面积的1/2，试验样机之间及与试验箱壁距离应不小于100mm.试验时，试验箱温度为（15-35℃），相对湿度45%-75%，试验箱的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上，使最大风速不得超过2m/s，试验样机在该试验条件下保持8小时.停止吹风后，待粉尘完全沉降，才能取出试验样品.备注：

测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

6.检查LCD窗口和CAM窗口是否进灰。

7.检查按键手感，按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。

8.检查所有I/O口的功能，尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。

5.1.7盐雾试验

试验目的:

验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。

试验样品:

2sets

试验容:

将试验样机装上所配电池，不包装状态下放入盐雾箱，在35℃下，用PH值为6.5～7.2（酸性），浓度为（5±1）％的氯化钠（NaCl）盐溶液连续对试验样机喷雾2小时，喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时，储存条件为温度（40±2）℃，相对湿度为90％～95％.按上述规定喷雾并储存，构成一个循环，进行三个循环试验。

备注：

测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.8随机振动试验

试验目的:

试验样机抗振动性能

试验样品:

2sets

试验容:

将试验样机装上所配电池，不包装.牢固地水平固定在振动台上；在对试验样机进行振动测试时，采用以下频率/幅度：

频率5～20Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3；频率20～500Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3（20Hz），其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、Y、Z轴上振动，每个轴振动10分钟.在振动过程中，试验样机连接综测设备，对试验样机进行射频性能测试。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.9温度冲击测试

试验目的：

验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，低温-40℃±2℃/1H，高温80℃±2℃/1H，转换时间≤5min，循环12次,共计24小时。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.2机械可靠性试验

5.2.1自由跌落试验

试验目的：

验证手机的结构以及主板器件的可靠性，整机抗多次跌落的能力。

试验样品:

4sets

试验容：

注意点：

A.普通屏，研发阶段1.2米，石地面。

B.2.4—2.8（含2.8）研发阶段1米，石地面。

C.2.8及以上屏，研发阶段0.8米，石地面。

D.3.5--4.5屏,跌落高度为0.6米标准，石地面。

E.4.5屏以及以上,跌落高度为0.5米标准，石地面。

1、进行测试前，先检查手机功能正常；确认结构方面的初始状态（便于跌落后进行比对）。

2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡，6面/4角，每个部位连续跌2次，总计20次，跌落顺序：

上顶面→下底面→左侧面→右侧面→左上角→右上角→左下角→右下角→B面→A面（屏面）。

3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，先跌开盖状态，每个面跌落1次，再在合盖状态下每个面跌1次，四个角每个角各2次。

判定标准：

1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。

2.手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。

3.功能是否正常。

4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流≤1mA，待机的电流≤3mA）。

5.拍照后，照片的保存以及删除。

6.FM收台/使用；MP3耳机/外放效果。

7.充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。

8.触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出2条。

9.测试完成后，无机械损伤和功能失效。

试验样机部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。

跌落过程中，允许有3次以下掉电及重启

5.2.2微跌落试验

试验目的：

验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，插入T卡及SIM卡。

开机播放T卡MP3状态下，跌落高度为10cm，跌落面为PVC垫面，试验样机跌落方位顺序为：

A面—B面—左面—右面—上顶面—下底面，进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次，且完成6000次测试时记录测试结果。

跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能，并进行电性能测试。

判定标准：

1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。

2.手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。

3.功能是否正常。

4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流≤1mA，待机底电流≤3mA）。

5.拍照后，照片的保存以及删除。

6.FM收台/使用；MP3耳机/外放效果。

7.充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。

8.触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出2条。

9.测试完成后，无机械损伤和功能失效.试验样机部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。

10.测试过程中不允许出现手机可装配部件脱落，掉SIM卡现象。

11、允许出现掉电≤3次、掉T卡≤2次（表现为音乐停止）。

12、允许出现重起现象≤2次。

5.2.3挤压试验

试验目的：

检查手机抗挤压能力。

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机锁住键盘正面朝上，机身与固定支架的轴向垂直地放在帆布上并用布带将试验样机紧固.长度为12cm的硅橡胶挤压头以（250±10）N的力，每分钟30次垂直作用于试验样机中部的翻盖正面或键盘面。

1次为2秒，包括1秒施力和1秒松开，一共1000次，,每200次做一次检查。

试验环境为常温.试验过程中试验样机保持开机状态.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应在合盖状态下进行试验。

判定标准：

测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常，镜片/LCD无损坏，黑屏，花屏等显示异常。

5.2.4ESD试验

试验目的：

检验手机在使用中抵抗自然静电的能力。

试验样品:

2sets

试验容：

温度15℃～35℃，相对湿度30%～60%RH，气压86～106kPa.试验样机处于充电状态下，通话状态或进入照相模式进行测试，对每个选取点放电10次，每秒1次.（接触放电）放电电压设置为±6KV，选取点：

试验样机在操作过程中正常被人体接触的导体部分，测试部位至少包括：

充电接口、金属天线等、及金属装饰件等.（空气放电）放电电压设置为：

±10KV，选取点，试验样机在操作过程中正常被人体接触的非导体部分，例如：

前后壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O口及其它所有的露孔接缝处。

判定标准：

ESD测试时应能继续保持工作状态，出现的异常现象，如屏幕显示不正常、通话音杂等，应该在试验完毕后能恢复；试验完毕后试验样机通话、充电等功能应正常，试验样机中存储数据应不会产生丢失。

试验后各项功能正常。

5.2.5扭曲试验

试验目的：

检查手机抗扭曲能力

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下固定扭曲试验机上，两端各挟持15mm，以2N·m扭矩，顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行，频率为15～30/次，共扭曲1000次.试验环境为常温.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应在合盖状态下进行试验。

判定标准：

测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常。

5.2.6容：

弹簧锤撞击试验

目的:

检查手机触摸屏抗撞击能力。

试验要求:

撞击能量为0.2J，用弹簧锤撞击锤对触摸屏中心位置和四角各进行一次测试。

判定标准:

触摸屏表面不能有破裂，各项电性能符合要求。

数量:

2sets

5.3部件机械可靠性试验

5.3.1触摸屏点击试验

试验目的：

屏的手写寿命

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套的电池，关机状态下，用0.8R尼龙笔，力量250g，频率3次/秒，点击次数10万，每1W次做一次检查。

打点位置：

动作区围的中央部位.

判定标准：

触摸屏表面不能有破裂，各项功能正常。

5.3.2触摸屏划线试验

试验目的：

屏的手写寿命。

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，用0.8R尼龙笔，力量250g，划一三角形，触控屏右侧和底部预留5mm，速度150mm/sec，重复测试10万次.直线划动位置：

动作区围的中央部位。

判定标准：

触摸屏表面不能有划痕可接受，不能有破裂，各项功能正常。

5.3.3翻/滑盖寿命试验

试验目的：

验证手机壳体材质，滑轨，FPC的寿命.以及滑盖组件结构的配合寿命。

试验样品:

2set

试验容:

翻盖寿命试验将试验样机不包装，装上所配电池，开机装态下，把试验样机滑（旋）盖打开再合上为一次开合，操作频率要求35次开合/分，共需要开合10万次.试验结束后，拆机检查FPC不能有明显划痕和刮伤。

滑盖寿命试验A类要求：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下，把试验样机滑盖打开再合上为一次开合，操作频率要求45次开合/分，共需要开合10万次。

B类要求：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，把试验样机滑（旋）盖打开再合上为一次开合，操作频率要求35次开合/分，共需要开合10万次。

判定标准：

5000，1万，2万，3万，4万，5万，8万，10万次各检查手感良好，滑盖/翻盖可以平稳开合，滑轨无明显松动，变紧，滑动/转动时无明显异音等，以及与测试前状态不一致的结构问题，电气功能正常，打开手机后观察FPC没有明显磨损，转轴的外观结构及灵敏度、LCD显示的情况、按键音是否正常、能否正常呼叫、其它地方的外观是否完好。

5.3.4按键寿命（含侧键）试验

试验目的：

验证手机按键的使用寿命及长期按键对周围器件的影响

试验样品:

2sets

试验容：

开机状态下测试，导航键和确认取消键：

10万次.侧键：

5万次，10N的力度，速度60-100次/分，打在DOME中央。

判定标准：

dome不能失效.按键手感不能明显变差。

5.3.5数据线接口插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔充电器，耳机，数据线对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验容：

开机状态下，将试验样机的数据线和数据线的插头进行反复插拔，插拔频率为

20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

试验后数据线I/O口无任何的变形、损伤，数据线功能正常。

5.3.6耳机口插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔耳机对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验容：

开机状态下，将试验样机的耳机座和耳机的插头进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

试验后耳机座无任何的变形、损伤，数据线功能正常。

5.3.7充电器插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔充电器对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验容：

充电器不接电源，开机状态下，将试验样机的I/O口和充电器的插头进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

试验后I/O口无任何的变形、损伤，试验机充电功能正常。

5.3.8储存卡插拔试验

试验目的：

验证手机长期插拔储存卡对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验容：

开机状态下，将T卡插入拔出进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行1000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

T卡镀金部位是否有被明显磨损和功能正常，结构稳固。

5.3.9SIM卡插拔试验

试验目的：

验证手机长期插拔SIM卡对相关器件的影响

试验样品:

2sets

试验容：

将SIM卡和试验样机SIM卡座进行反复装拆，插拔频率为20次/分，连续进行1000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

检查SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，SIM卡镀金部分是否会被明显磨损和功能正常，结构稳固，手机读卡功能使用正常，开机必须能够辨识SIM卡。

5.3.10触摸笔拉拔试验

试验目的：

验证触摸笔的使用寿命

试验样品:

2sets

试验容：

将触摸笔和试验样机进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行5000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。

判定标准：

触摸笔不能明显松动，甩动手机，触摸笔不能脱落。

5.3.11电池/电池后盖拆装耐久性试验

试验目的：

验证手机在正常使用中，电池及后盖频繁拆装后，对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验容：

将电池、电池盖和试验样机进行反复装拆，插拔频率为20次/分，电池连续进行1000次循环，电池盖连续进行1000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。

判定标准：

电池盖无变形，卡勾无破裂，电池盖无松动。

以20cm微跌掉电池盖的次数小于等于2次做为是否通过插拔测试通过的依据。

5.3.12吊绳孔拉力试验

试验目的：

验证吊绳孔的可靠性.

试验样品:

2sets

试验容：

将试验样机以坚直方向固定住（固定住机身的下半部），用拉力计施加50N的

力（逐渐增大），从水平方向拉吊绳孔，当拉力达到50N时立即释放。

判定标准：

当拉力小于25N时，不允许前后壳嘴，当拉力在25N～50N围时，允许前后壳嘴，但当拉力释放后前后壳之间要能自动合拢。

5.3.13扬声器寿命试验

试验目的：

验证样机扬声器寿命性能。

试验样品:

2sets

试验容：

连续播放96小时，要求SPK无异常，同时记录下此时SPK的THD失真，要求不大于5%.否则认为此SPK测试Fail。

判定标准：

扬声器能正常发音且应无破音，手机各项功能正常。

导入新物料时，必测此项.

如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

5.3.14振动器寿命试验

试验目的：

验证样机马达寿命性能。

试验样品:

2sets

试验容：

进入菜单选择马达启动，保持连续震动72小时。

判定标准：

马达能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常。

5.3.15听筒寿命试验

试验目的：

验证听筒寿命。

试验样品:

2sets

试验容：

调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10%以上（在拨打彩铃或用力吹气时，峰峰值不超过2.8v）.进入菜单选择听筒开启，保持连续受话96小时。

判定标准：

听筒能正常工作且应无明显受话强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

5.3.16麦克风寿命试验

试验目的：

验证样机麦克风寿命性能。

试验样品:

2sets

试验容：

调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10%以上（在拨打彩铃或用力吹气时，峰峰值不超过2.8v）.进入菜单选择麦克风开启，保持连续送话48小时。

判定标准：

麦克风能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

5.3.17触摸屏（假纯屏）可靠性试验

试验目的：

验证屏的强度。

试验样品:

2sets

试验容：

屏的压力测试.测试最靠近边缘的9个点及中间一个点，要求承受压力要大于4.5Kg，使用直径为10mm的圆柱形压头，在测头与屏接触面垫泡棉，压边缘屏的位置，但不要压边框。

判定标准：

屏不能破裂,失效。

5.3.18LCDLens硬度试验

试验目的：

验证LCD镜片的耐磨性。

试验样品:

2sets

试验容：

用三菱试验铅笔芯，以1kgf压力。

笔尖要磨平的，要放在砂纸上以90度角磨平的。

需按照屏镜片具体材质,具体制定.PET:

1H、普通喷漆:

2H、胶类使用Level3。

判定标准：

测试部位不应出现的明显划痕。

5.3.19插孔保护塞拉拔力测试

试验目的：

验证胶塞的牢固程度

试验样品:

2sets

试验容：

0.8kgf的拉力，保持10秒，共进行2次。

判定标准：

塞子不能拉脱/拉断,测试结束后能收缩回原始状态。

5.3.20插孔保护塞反复拆装试验

试验目的：

验证胶塞多次拆装后,是否配合良好。

试验样品:

2sets

试验容：

1000次

判定标准：

测试结束后,与原始状态一致。

5.3.21Lens（透镜/镜片）静态按压试验

试验目的：

检查Lens（透镜/镜片）在机壳上的牢固性。

试验样品:

2sets