整理射线班考试模拟题改.docx
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整理射线班考试模拟题改
甘肃省200X年下半年特种设备RT-Ⅰ级（取证）理论模拟考试试卷
一．是非题（对着画O，错着画X，每题2分，20题，共40分）
1．《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》中指出，Ⅰ级人员可在Ⅱ级、Ⅲ级人员指导下进行无损检测工作。
（O）
2．额定蒸汽压力小于或等于0.1MPa的锅炉,每条焊缝应进行10%射线探伤（焊缝交叉部位不包括在内）。
（X）
3．相对原子质量等于质子数加中子数之和。
（O）
4．X射线本身带电，所以受电场和磁场的影响。
（X）
5．管电流越大，表明单位时间撞击靶的电子数越多，产生的射线强度也越大。
（O）
6．γ射线的能量是由放射性同位素的种类所决定的。
（O）
7．相干散射是指散射线与入射线具有不同的波长，从而能够发生干涉的散射过程。
（X）
8．多色射线穿透物质过程中，透射射线的平均能量将高于初始射线的平均能量；这种过程称为线质硬化现象。
（O）
9．连续X射线的有效能量随穿透厚度的增大而增大。
（O）
10．周向X射线机能产生的X射线束向3600方向辐射，可以用于环焊缝的全景曝光。
（O）
11．采取一定的措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。
（X）
12．焦点小，有利于散热，可承受较大的管电流；焦点大，照相清晰度好，底片灵敏度高。
（X）
13．潜影形成后，要尽快冲洗，否则时间长了会发生潜影衰退的现象。
（O）
14．铅薄增感屏表面被划伤，会使底片上出现类似裂纹的细黑线。
（O）
15．像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量和缺陷的工具。
（X）
16．对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。
（O）
17．对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。
（X）
18．散射主要是由康普顿效应造成的。
（O）
19．溴化剂除了抑制灰雾的作用外，还有增大反差的作用。
（X）
20．暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。
（X）
二、选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）
1．一般把含碳量为（C）的称为钢。
A．C≥0.02%--2%；B．C＞0.02%--2%；
C．C≤0.02%--2%；D．C＜0.02%--2%。
2．不稳定的核素会自发蜕变，变成另一种核素，同时放出各种射线，这种现象称为（B）。
A．γ射线；B．放射性衰变；
C．Ir192源；D．G60源。
3．当施加于X射线管两端的管电压不变，管电流增加时，则（C）。
A．产生的X射线波长不变，强度不变；
B．产生的X射线波长不变，强度减小；
C．产生的X射线波长不变，强度增加；
D．产生的X射线波长增加，强度不变。
4．连续谱中最大强度对应的波长λIM与最短波长λmax的关系大致为（A）。
A．1.5倍；B．2.0倍；
C．2.5倍；D．4.0倍。
5．以下关于X射线和γ射线性质的叙述，哪些是错误的（B）。
A．在真空中以光速直线传播；
B．本身带电，受电场和磁场的影响；
C．不可见，能够穿透可见光不能穿透的物质；
D．可以发生干涉和衍射现象，但只能在非常小的情况下。
6．下列四种放射性元素中，半衰期最短的是（B）。
A．CO60；B．Ir192；
C．CS137；D．Tm170。
7．决定X射线管靶材适用性的两个因素是（D）。
A．拉伸强度和屈服强度；B．硬度和磁导率；
C．电阻和抗氧化性能；D．原子序数和熔点。
8．所谓的阻光率是指（C）。
A．照射光强和透射光强之积；
B．照射光强和透射光强之差；
C．照射光强和透射光强的比值；
D．照射光强和透射光强之和。
9．在胶片一定、线质一定、暗室处理条件一定时，得到同一黑度底片，不用增感屏的曝光量E0与使用增感屏时的曝光量E之间的比值称为（B）。
A．增感因子；B．增感系数；
C．二次电子；D．二次射线。
10．射线照相中，使用像质计的主要目的是（C）。
A．测定底片清晰度；B．测定底片对比度；
C．评价底片灵敏度；D．测量缺陷大小。
11．影响射线照相灵敏度的因素有（D）。
A．底片成像颗粒度；B．底片上缺陷图象不清晰度；
C．底片上缺陷图象对比度；D．以上都是。
12．几何不清晰度也可以称为（B）。
A．几何放大；B．半影；
C．固有不清晰度；D．照相失真度。
13．X射线机透照某工件所用曝光量为20mAmin，焦距为600mm，先将焦距变为900mm，其他条件不变，现在的曝光量为（C）mAmin。
A．9mAmin；B．30mAmin；
C．45mAmin；D．60mAmin。
14．我国现行的JB／T4730-2005标准中，B级透照纵缝对透照厚度比K值有（B）规定。
A．K≤1.03；B．K≤1.01；
C．K≤1.06；D．K≤1.1。
15．在同一暗盒中装有两张不同感光速度的胶片进行曝光的主要目的是（D）。
A．为了防止探伤工艺选择不当而造成废片；
B．为了防止暗室处理不当而造成废片；
C．为了防止底片上造成伪缺陷而造成废片；
D．用于厚度差较大工件的射线探伤，这样在厚度不同的部位得到黑度合适的底片。
16．以下哪种材料不适宜作盛放洗片液的容器（C）。
A．塑料；B．不锈钢；
C．铝；D．搪瓷。
17．底片上出现宽度不一，有许多断续分枝的锯齿形黑线，它可能是（D）。
A．未熔合；B．未焊透；
C．咬边；D．裂纹。
18．一旦发生放射事故，首先必须采取的正确步骤是（D）。
A．报告卫生防护部门；B．测定现场辐射强度；
C．制定事故处理方案；D．通知所有人员离开现场。
19．直线加速器中，电子以何种方式加速（B）。
A．加速磁铁；B．高频电波；
C．中子轰击；D．改变交流电磁铁磁场。
20．底片上出现的白点影象，它可能是（C）。
A．气孔；B．氢白点；
C．飞溅；D．以上都是。
三、问答题（每题4分，5题，共20分）
1．什么是热处理？
答：
热处理就是将固态金属及合金按预定的要求进行加热、保温和冷却，以改变其内部组织，从而获得所要求性能的一种工艺过程。
2．简述г射线探伤设备的主要优点
答：
a．探测厚度大，穿透能力强；
b．体积小，重量轻，不用电，不用水，特别适用于野外作业和在用设备的检测；
c．效率高，对环缝和球罐可进行周向曝光和全景曝光；
d．可以连续运行，且不受温度、压力、磁场等外界条件影响；
e．设备故障率低，无易损部件；
f．与同等穿透力的X射线机相比，价格低。
3．依据JB／T4730-2005标准规定，像质计选用依据有哪4个？
答：
1）透照厚度；
2）透照方式；
3）像质计放置位置（源侧或胶片侧）；
4）射线照相技术等级。
4．决定射线照相影像质量的三个因素是什么？
答：
对比度、不清晰度、颗粒度。
5．简述环缝中心透照周向曝光法的优点。
答：
环缝中心透照周向曝光法在各种环焊缝的各种透照方法中为最佳。
该方法透照厚度均一，横裂检出角为“00”，底片黑度、灵敏度俱佳，缺陷检出率高，且一次透照整条环缝。
工作效率高，应尽可能选用。
甘肃省200X年下半年特种设备RT-Ⅱ级（取证）理论模拟考试试卷
一、是非题（对着画O，错着画X，每题1.5分，20题，共30分）
1．《容规》中对拼接封头的规定：
拼接封头应在成形后进行100%射线或超声检测，若成形前进行了100%射线或超声检测，则成形后应在圆弧过度区再做100%射线或超声检测。
（O）
2．X射线的连续谱存在着一个最短波长λmin，其数值只依赖外加电压而与靶材料无关。
（O）
3．X射线管的焦点是X射线管重要技术指标之一，其数值大小直接影响照相灵敏度。
越大灵敏度就越高。
（X）
4．在操作γ射线源设备时，如果选择环不能转到‘锁紧’位置，说明源未完全收回，应及时检查原因。
（O）
5．对铅箔增感屏来说，散射线消除率是铅箔厚的大，而增感系数是铅箔厚的小。
（O）
6．射线照相中几何不清晰度只受焦距的影响。
（X）
7．选用平面靶周向X射线机对环焊缝进行内透中心法倾斜全周向曝光时，必须考虑射线倾斜角度对焊缝中纵向面状缺陷的检出影响。
（O）
8．平方反比定律是物理光学的一条基本定律，有I1／I2＝（F2／F1）2的关系式。
（O）
9．所谓一次透照长度L3就是焊缝射线照相一次透照的有效检验长度。
（O）
10．曝光曲线必须通过试验制作，且每台X射线机的曝光曲线都相同，可以通用。
（X）
11．曝光曲线必须通过试验制作，且每台X射线机的曝光曲线都不相同，不可以通用。
（O）
12．JB／T4730.2-2005标准中规定，当底片评定范围内的黑度D≥2．5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd／m2。
（X）
13．射线底片上的影像是由许多微小的白色金属银微粒所组成，底片上还原白色的银越多，黑度就越大。
（X）
14．所谓增感系数是指胶片一定、线质一定、暗室处理条件一定时，得到不同黑度底片，不用增感屏的曝光量E0与使用增感屏的曝光量E之间的比值。
（X）
15．射线的质不仅影响颗粒度、固有不清晰度，还影响到几何不清晰度Ug值。
（X）
16．构成射线照相不清晰度主要是两方面因素，几何不清晰度和固有不清晰度统称为被放大的模糊影象。
（X）
17．在减小Ug值这一点上，选择较小的射线源尺寸df,可得到与增大焦距F相同的效果，因此在实际透照中选择焦距时，焦点尺寸是同时考虑的因素。
（O）
18．在评定底片黑度检查时，最大黑度一般在底片中部焊接接头热影响区位置，只有当有效评定区内各点的黑度均在规定的范围内，底片黑度才符合要求。
（O）
19．照射量这个概念，不能用于所有的射线，它只适用于光子能量大约在几千伏到3MV之间的X射线或γ射线。
（O）
20．工作场所辐射监测包括透照室内的辐射场测定和周围环境的剂量场分布测定两部分。
（O）
二、选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）
1．下列哪一种缺陷危害最大（D）
A．圆形气孔；B．未焊透；
C．未熔合；D．裂纹。
2．在射线检验中采用的能量范围（约为100KeV-10MeV）射线穿过钢铁强度衰减的最主要原因是：
（C）
A．光电效应；B．汤姆逊效应；
C．康普顿效应；D．电子对效应。
3．Co60γ射线源的平均能量是1.25MeV，半衰期是（C）。
A．74天；B．120天；
C．5．3年；D．33年。
4．潜影形成后，如相隔时间很长才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像要淡，此现象称为（A）。
A．潜影衰退；B．曝光过长；
C．曝光过短；D．漏光现象。
5．主因对比度受（D）因素影响。
A．射线的质和透照方向；B．缺陷的自身高度和散射比；C．胶片类型和显影条件；D．以上A和B。
6．只要与容器直径有关的焦距能满足几何不清晰度要求，环行焊缝的透照应尽量选用（A）作内透中心法垂直全周向曝光，以提高工效和影像质量。
A．圆锥靶周向X射线机；B．平面靶周向X射线机；
C．定向X射线机；D．特殊X射线机。
7．当使用不同类型胶片进行透照而需达到与原胶片一样的黑度时，可利用这两种胶片的（C）按达到同一黑度时的曝光量之比来修正原曝光量。
A．颗粒度；B．灰雾度；
C．特性曲线；D．黑度。
8．通常一次透照检验长度在底片上的投影长度是指（C）。
A．搭接长度；B．一次透照长度；
C．有效评定长度；D．工件表面到胶片的距离。
9．按散射的方向对散射线分类，可将来自试件周围的射线向试件背后的胶片散射称为（A）。
A．边蚀散射；B．背散射；
C．前散射；D．侧散射。
10．搅动对显影的影响是：
（D）
A．可以使乳剂膜表面不断地与新鲜药液接触并发生作用；
B．加快显影速度，还保证了显影作用均匀；
C．搅拌的结果加速了感光多的部分的显影速度，从而降低了反差；
D．以上A和B。
11．现场进行γ射线检测时，应按照GB18465的规定划定控制区和管理区、设置（A）。
检测工作人员应佩带个人剂量仪，并携带剂量报警仪。
A．警告标志；B．透照计划；
C．设备信号；D．入进区。
12．若散射线忽略不计，当透照厚度的增加量相当于1／2半价层时，则胶片接受的照射量将减少（D）。
A．25%；B．70%；
C．41%；D．30%。
13．大厚度比试件的透照的特殊技术措施是（D）。
A．提高管电压技术；B．双胶片技术；
C．补偿技术；D．以上都是。
14．在新的胶片分类标准中，用“胶片系统”取代“胶片”进行分类，所谓“胶片系统”包括了（D）。
A．胶片；B．增感屏；
C．冲洗条件；D．以上都是。
15．评片人员对观察到的影象应能做出正确的分析和判断，这取决于评片人员的（C）。
A．知识和经验；B．技术水平和责任心；C．以上A和B；D．主要是眼睛。
16．在GB18771-2002防护标准对职业照射剂量限值中，对任何一年中的有效剂量控制在（B）以下。
A．20mSV;B．50mSV;
C．150mSV;D．500mSV。
17．加速器照相一般选择较大的焦距，其目的是（A）。
A．为保证有足够大的辐射照场；B．减小几何不清晰度；
C．减小固有不清晰度；D．以上都不是。
18．JB／T4730.2-2005标准中对单壁透照规定像质计放置在源侧，无法放置时可以放置在胶片侧，但必须（A），并放置“F”铅字做标记。
A．进行对比试验；B．多看一根钢丝；
C．无所谓；D．以上都对。
19．在实际评片中发现了圆形缺陷为Ⅲ级，条形缺陷为Ⅳ级，按JB／T4730.2-2005标准中综合评级规定，该缺陷组应综合评级为（D）。
A．Ⅵ级；B．Ⅱ级；
C．Ⅲ级；D．Ⅳ级
20．用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至：
（C）
A．2.0；B．2.5;
C．1.5;D．4.0
三、问答题（每题3分，6题，共18分）
1．简述连续X射线和标识X射线在射线探伤中各起什么作用？
答：
连续X射线具有混合波长，能谱为连续谱，最短波长取决于管电压；而标识X射线波长为特定值，能谱为线状谱，波长与靶材料元素有关而与管电压无关。
标识X射线波长较长，光子能量小，线质软，在探伤中基本不起作用。
在探伤中，穿透试件，使胶片感光主要依靠连续X射线。
2．用图说明射线透照的各种方法。
答：
答案参考JB／T4730.2-2005附录C。
3．产生X射线需要哪些条件？
答：
产生X射线应具备五个条件：
1）发射电子；
2）电子聚焦；
3）加速电子；
4）高真空度；
5）高速电子被突然遏止。
4．简述г射线探伤设备的主要优点
答：
a．探测厚度大，穿透能力强；
b．体积小，重量轻，不用电，不用水，特别适用于野外作业和在用设备的检测；
c．效率高，对环缝和球罐可进行周向曝光和全景曝光；
d．可以连续运行，且不受温度、压力、磁场等外界条件影响；
e．设备故障率低，无易损部件；
f．与同等穿透力的X射线机相比，价格低。
5．依据JB／T4730.2-2005标准规定，像质计选用依据有哪4个？
答：
1）透照厚度；
2）透照方式；
3）像质计放置位置（源侧或胶片侧）；
4）射线照相技术等级。
6．简述环缝中心透照周向曝光法的优点。
答：
环缝中心透照周向曝光法在各种环焊缝的各种透照方法中为最佳。
该方法透照厚度均一，横裂检出角为“00”，底片黑度、灵敏度俱佳，缺陷检出率高，且一次透照整条环缝,工作效率高，应尽可能选用。
四、计算题（每题4分，3题，共12分）
1．采用双壁双投影的形式，透照φ38×3mm管子焊缝，已知焊缝宽度为8mm，选用焦点尺寸为φ3mm的X射线机，要求Ug≤0.2mm，试计算最小焦距和透照偏移距离？
（椭圆开口间距取5mm，△h=2mm；）
已知：
φ=38mm；T=3mm；b=8mm；df=3mm;Ug≤0.2mm;q=5mm；求：
Fmin=？
L0=？
解：
Fmin=（L2×df／Ug）＋L2∵L2=φ+2×△h=42mm；
＝42×3／0.2＋42
＝672mm；
L0＝（F－L2`）×（b＋q）／L2`∵L2`=φ+△h=40mm；
＝（672—40）×（5＋8）／40
＝205mm。
答：
Fmin=672mm；透照偏移距离L0＝205mm。
2.用Ir192γ射线源透照直径1m的环焊缝，曝光时间为24min，得到的底片黑度恰好满足要求，60天后仍用该γ射线源透照同样厚度的直径为1.2m的环焊缝，问曝光时间应为多少？
解：
已知t1=24minF1=500mmF2=600mm求t2=？
Ir192γ射线的半衰期为75天则60天后A2／A1=（1／2）nn=60／75=0.8A2／A1=0.574
A1×t1／F22=A2×t2／F12
t2=1/0.574×600×600／500×500=60.2min
答：
曝光时间应为60.2min
3.已知辐射场中的某点的剂量率为50μsv/h，在不超过剂量限值的情况下，问工作人员每周可从事工作多少时间（放射性工作人员年剂量限值为50msv，一年按50周计算）？
解：
已知放射性工作人员每周的剂量限值为50msv／50=1msv=1000μsv
剂量=剂量率×时间则1000=50×tt=1000／50=20（h）
答：
工作人员每周可从事工作20小时。
一、是非题（对着画O，错着画X，每题1.5分，20题，共30分）
1．《容规》中对拼接封头的规定：
拼接封头（不含先成形后组焊的拼接封头）的对接接头必须进行100%射线或超声检测。
（O）
2．在操作γ射线源设备时，如果选择环不能转到‘锁紧’位置，说明源未完全收回，应及时检查原因。
（O）
3．X射线和γ射线都是电磁波，只是产生的方法不同，而波长相同。
（X）
4．与Se75相比，Ir192放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小些。
（X）
5．X射线机产生X射线的时候，主要的能量形式转换是热能而非X射线的能量。
（O）
6．X射线机中的焦点尺寸应尽量做大一点，可以防止靶面过热和增加发射的X射线的能量。
（X）
7．X射线机上的阳极罩主要用于吸收二次电子和散乱射线。
（O）
8．γ射线机中的屏蔽容器一般用贫化铀材料制作而成，比铅屏蔽体的体积、质量小许多。
（O）
9．曝光曲线必须通过试验制作，且每台X射线机的曝光曲线都不相同，不可以通用。
（O）
10．射线胶片的宽容度大，其的胶片梯度必然就小。
（O）
11．对同一种г射线源，放射性活度大的源在单位时间内将辐射更多的г射线源。
（O）
12．只有│△Dd│≥│△Dmin│时，才能发现最小线经尺寸，也就是△Dmin越大越好。
（X）
13．一般说来，颗粒度随胶片粒度和感光速度的增大而减小，随射线能量的增大而增大，随曝光量和底片黑度的增大而减小。
（X）
14．当使用荧光屏，会产生一个附加不清晰度。
（O）
15．KV值≤200时，散射比随有效能量的降低而增大，而余高越高，散射比增大的越显著。
（O）
16．随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，有效能量增大，线质变硬，在物质中的衰减系数变小，穿透力减小。
（X）
17．采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不小于输送源往返所需时间的10倍。
（O）
18．工艺卡适用对象可能是某一具体产品，或产品上的某一部件，或部件上的某一具体结构。
（O）
19．环缝双壁单影照相，搭接标记应放在射源侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。
（X）
20．冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片就不会出现灰雾。
（X）
二、选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）
1．电渣焊焊缝进行超声波探伤应在（D）
A．焊接36小时后；B．焊接24小时后；
C．消除应力热处理后；D．正火处理后。
2．JB／T4730中所规定的射线照相技术适用下面（A）
A．对接接头对接焊缝；B．T形接头对接焊缝；
C．角接接头角接焊缝；D．T形接头角焊缝。
3．依据JB／T4730.2-2005标准中规定，射线检测技术级别为B级，底片评定范围内的黑度D应符合下列（C）规定。
A.1.5≤D≤4.0；B.2.0≤D≤4.0;
C.2.3≤D≤4.0;D.1.5≤D≤2.0。
4．依据JB／T4730.2-2005标准中规定，当底片评定范围内的黑度D≥2．5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于（A）。
A.10cd／m2；B.20cd／m2；
C.30cd／m2；D.40cd／m2。
5．依据JB／T4730.2-2005标准中规定，底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧（C）宽的区域。
A.15mm;B.20mm;
C.5mm;D.10mm。
6．依据JB／T4730.2-2005标准中规定，用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至为（D）。
A.2.0≤D≤4.0；B.2.3≤D≤4.0；
C.2.0；D.1.5。
7．当使用不同类型胶片进行透照而需达到与原胶片一样的黑度时，可利用这两种胶片的（C）按达到同一黑度时的曝光量之比来修正原曝光量。
A．颗粒度；B．灰雾度；
C．特性曲线；D．黑度。
8．通常一次透照检验长度在底片上的投影长度是指（C）。
A．搭接长度；B．一次透照长度；
C．有效评定长度；D．工件表面到胶片的距离。
9．按散射的方向对散射线分类，可将来自试件周围的射线向试件背后的胶片散射称为（A）。
A．边蚀散射；B．背散射；
C．前散射；D．侧散射。
10．搅动对显影的影响是：
（A）
A．可以使乳剂膜表面不断地与新鲜药液接触并发生作用；
B．减慢了显影速度，还保证了显影作用均匀；
C．搅拌的结果加速了感光多的部分的显影速度，从而降低了反差；
D．以上都是。
11．现场进行X射线检测时，应按照（A）的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。
检测工作人员应佩带个人剂量仪，并携带剂量报警仪。
A．GB16357；B．GB18465；
C．GB3323；D．GB150。
12．若散射线忽略不计，当透照厚度的增加量相当于1／2半价层时，则胶片接受的照射量将减少（D）。
A．25%；B．70%；
C．41%；D．30%。
13．大厚度比试件的透照的特殊技术措施是（D）。
A．提高管电压技术；B．双胶片技术；
C．补偿技术；D．以上都是。
14．在新的胶片分类标准中，用“胶片系统”取代“胶片”进行分类，所谓“胶片系统”包括了（D）。
A．胶片；B．增感屏；
C．冲洗条件；D．以上都是。
15．评片人员对观察到的影象应能做出正确的分析和判断，这取决于评片人员的（C）。
A．知识和经验；B．技术水平和责任心；C．以上A和B；D．主要是眼睛。
16．在GB18771-2002防护标准对职业照射剂量限值中，对任何一年中的有效剂量控制在（B）以下。
A．20mSV;B．50mSV;
C．150mSV;D．500mSV。
17．加速器照相一般选择较大的焦距，其目的是（A）。
A．为保证有足够大的辐射照场；B．减小几何不清晰度；
C．减小固有不清晰度；D．以上都不是。
18．JB／T4730.2-2005标准中对单壁透照规
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