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对于AMDIS有的网友可能比较熟悉,特别是农残,环境,毒品,有害物,香精香料等领域的朋友可能属于高级使用者。

本人以初学者的身份初步介绍一下AMDIS。

如有不妥,请批评指正。

未经许可,不得转载,请谅解。

一般来说,目标化合物的分析要求检测目标离子和确认离子的比例。

然而,对于高基体背景的样品,大峰后面的痕量组分或流出时间很接近的成分,离子比例会受到基体的影响很难符合要求。

为了确保分析结果可靠,一般采用背景扣除及手动积分。

因此,对于复杂基体的样品数据处理,需要耗费大量的时间。

为了提高分析效率,谱图可以利用一种称为“解卷积”的数学计算来将目标化合物从背景中分离出来。

美国国家标准和技术院(NIST)开发了功能强大的解卷积软件,即自动质谱解卷积和鉴定系统(AMDIS)。

下面简单介绍一下AMDIS:

AMDIS软件由美国国家标准技术研究院(NIST)(NationalInstituteofStandardsandTechnology)提供。

TheAutomaticMassSpectralDeconvolutionandIdentificationSystem(AMDIS)

自动质谱图解卷积和鉴定系统软件(AMDIS)让您从GC/MS数据文件自动找到目标化合物。

软件先对GC/MS数据文件解卷积寻找所有分离组分。

每一组分与目标化合物的谱库进行对比。

如果以上的用户设定值,然后报告出目标图谱和解卷了组分的图谱的匹配因子。

什么是解卷积(Deconvolution)?

NISTAMDIS的定义:

“这里所用的术语在广义上是指从一个复杂的混合物中提取信号。

解卷积的过程包括处理噪音、校正漂移、从紧密相邻的共洗脱峰中提取出单个峰等。

”(简单讲就是去复杂化)

用下面的简图可以解释解卷积过程:

在GC/MS中,Deconvolution是一种数学技术,它可以将重叠的质谱图“分开”成为“清晰”的单个组分的谱图。

图1是这个过程的简单示意图。

这里分别是总离子流色谱图(TIC)和质谱图。

与常见的情况一样,这个色谱峰包含了多个重叠在一起的组分,而最高点质谱图实际上也是这些组分的组合图。

质谱谱库检索只可能给出一个较差的匹配,而且不能识别所有构成这种组合谱图的单个化合物组分。

左边是TIC上某一峰的质谱图。

右边是经过解卷积处理后,让目标化合物从基质和干扰物分离出来。

得到3张质谱图。

很明显,这样干净而纯的质谱图非常有利于PBM质谱谱库检索或其它谱图检索解析工具。

这样对共流出的度组分,大峰中小成分,基质掩盖的痕量组分分析度很有利。

另外,AMDIS可以进行保留指数校正。

如果能够将AMDIS和保留指数校正等方法结合起来,就可以得到更为准确或更多的检索信息。

并能提高检索效率。

[Lasteditbydickwang2008]

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