ICT33C+测试仪操作指南.docx

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ICT33C+测试仪操作指南

操作指南

目录

一、操作指南

1．开箱验机

2．操作部件介绍

3．测试电压选择

4．基本操作

5．编程操作

6．缓冲区编辑

7．微机通讯操作

8．其它操作

9．查看软件版本编号

10．操作注意事项

11．运放测试使用说明

12．锁紧插座板功能介绍

二、产品介绍

1．工作原理

2．系统主要构成

3．主要参数

4．功能综述

5．适用范围

6．测试容量

7．软件升级

三、维护保养

四、售后服务

五、测试容量清单

重要提示：

1．本机使用220V±15%、50HZ交流电源。

2．当用本机对EEPROM、串行EEPROM、FLASHROM、单片机片内ROM器件进行好坏判别或写入时，将会改变被测器件内部的数据，因此对正在使用中的这类器件进行好坏判别前，最好能先备份；而对这类器件进行数据显示或读入、比较时则不会改变数据。

3．EEPROM、FLASHROM、串行EEPROM、运算放大器、三端稳压器等器件不能进行型号识别。

4．当按下“好坏判别”键时，若显示“1—2”或“OU--数字”或“VCC—数字”时，按要求放好被测器件后，须再次按下“好坏判别”键。

光耦合器件测试时会显示“1—2”，请参阅第7页的说明。

5．在进行各项测试之前，首先要确认测试电压与被测器件是否匹配，否则有可能损坏被测

器件。

选择的原则是9.0V及15V测试电压仅CMOS40、CMOS45、数码管、光耦系列

可选，其它系列只能选3.3V及5.0V测试电压。

仪器开机时黙认测试电压为5.0V。

运放和三端稳压器的测试电压是自动控制的。

6．用户收到仪器后，应尽快将光盘中的文件复制到微机中。

7．本机仅在作为编程器使用时才可能与计算机相连，其它测试时无须连接。

一、操作指南

1．开箱验机

请你小心取出ICT33C+主机，将包装箱内的物品与装箱清单核对，若有短缺请及时与制造商联系。

ICT33C+装箱清单

a．ICT33C+主机----------一台

b．产品说明书------------一本

c．特殊器件测试板------一块

d．产品保修单------------一份

e．连接插针---------------两根

g.光盘------------------------一张

h.通讯电缆------------------一根

I．电源线---------------------一根

将电源线接于仪器后部插座内，打开仪器的电源开关，此时仪器应有以下反应：

1.液晶显示屏显示“CHECP—”并伴有一声高音提示。

2.PASS指示灯﹑锁紧插座板上“数字电路”﹑“测试中”指示灯亮。

仪器进入自检状态：

A.自检正常，有两声低音提示，显示屏显示“PLEASE”，可进行正常测试操作。

B.自检失败，有两声低音提示，显示“1—”数值。

自检失效时，不能进行各项操作，此时请确认以下内容：

a.锁紧插座上无集成电路，各种外接测试卡未连接在主机上。

b.锁紧插座任意两脚之间无短路线。

c.电源电压在规定范围内。

如果以上各点均正常，即表明仪器损坏，请及时与厂商联系。

2、产品操作部件介绍

（1）产品操作部件名称请见图一图二，锁紧插座板的功能请见11页。

测试电压指示灯

PASS指示灯

FAIL指示灯

锁紧插座板

图一

键盘

主机

测试指示灯

保险管

微机通讯接口

220V电源插座

测试电源正极

散热孔

电源开关

图二

（2）操作键功能

1．“0—9”键为数字键，用于输入被测器件型号、引脚数目。

2．“好坏判别/查空”键为多功能键。

若输入的型号为EPROM、单片机（8031除外）器件，则它使仪器对被测器件进行查空操作；在其它型号时，它使仪器对被测器件进行好坏判别。

若第一次按下了数字键，则至少要在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受；若在没有输入型号数字的时候输入该键，则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。

此功能用于测试多只相同的器件。

3．“型号判别”键为功能键，用于判别被测器件的型号，在未输入任何数字的前提下才是有效。

4．“代换查询”键为功能键，用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件，至少

在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受。

5．“老化/比较”键为多功能键，用于对被测器件进行连续老化测试，至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。

当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASHROM、单片机器件（8031除外）时，它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。

6．“读入”键为功能键，当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASHROM、单片机器件时才有效，它将被测器件内部的数据读入到机内RAM中并保存。

7．“写入”键为功能键，与“读入”键相似，它将机内RAM中的数据写入到被测器件中并自动校验。

8．“编辑/退出”键为多功能键，它可对机内RAM中的数据进行编辑（填充、复制、查找、修改）；当对单片机及具有数据软件保护功能的FLASHROM器件进行写入时，该键也是加密功能键；当在进行老化测试时，按该键可退出老化测试；当对运算放大器进行测试时，该键可设定测试参数。

9．“F1/上”键为多功能键，当开机后或测试完成后，该键可选择测试电压；而在RAM

数据编辑时，该键使地址减1。

10．“F2/下”键为多功能键，当开机后或测试完成后，按该键进入与微机通讯状态；而在RAM数据编辑时，该键使地址加1。

11．“清除”键为功能键，用于结束错误操作，或清除已输入的型号。

（3）锁紧插座操作方法：

当操作杆竖立时为松开状态，可放上或取下被测器件；当操作杆平放时为锁紧状态，可对被测器件进行测试。

（4）特殊器件测试板使用方法：

当测试8255，6821，Z80PIO等器件时，将被测器件放上特殊器件板相应插座（1或2），再将特殊器件板插入锁紧插座（注意器件缺口向左），再次按下“好坏判别”或“老化/比较”键即可。

3.测试电压选择

开机后或测试完成后，按下“F1/上”键即进入测试电压循环选择，每按一次就换一挡电压，确定后按“F1/上”键以外的其它任意键即退出。

4．基本操作（以74LS00为例）

（1）器件好坏判别：

a．输入7400，显示“7400”，锁紧插座板上“数字电路”指示灯亮。

b．将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧，如图三所示。

c．按下“好坏判别”键。

*若显示“PASS”，同时伴有高音提示，表示器件逻辑功能完好，黄色LED灯点亮。

*若显示“FAIL”，同时伴有低音提示，表示器件逻辑功能失效，红色LED灯点亮。

d．若要测试多只相同器件，再次按下“好坏判别”键即可。

e．

存储器的测试时间较长，测试过程中仪器不接受任何命令输入。

图三

（2）器件老化测试：

a．输入7400，显示“7400”。

b．将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧。

c．按下“老化”键，仪器即对被测器件进行连续老化测试，若用户想退出老化测试状态，只要按下“编辑/退出”键即可。

d．对多只相同型号的器件进行老化测试时，每换一只器件都要重新输入型号。

（3）器件型号判别：

a．将被测器件放上锁紧插座并锁紧，按“型号判别”键，显示“P”，锁紧插座板上“数字电路：

指示灯亮，提示用户输入被测器件引脚数目，如有14只引脚，即输入14，显示“P14”；8只引脚输入08。

b．再次按下“型号判别”键。

*若被测器件逻辑功能完好，并且其型号在本仪器测试容量以内，仪器将直接显示被

测器件的型号，例如7400。

*若被测器件逻辑功能失效，或其型号不在本仪器测试容量以内，仪器将显示FAIL。

c．进行型号判别时，输入的器件引脚数目必须是两位数，如8只引脚输入08。

d．由于本仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号，因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时，仪器显示的被测器件型号可能与实际型号不一致，这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。

出现这类情况时，说明仪器显示的型号与被测器件具有相同的逻辑功能。

e．当型号被判别出后，该型号仅供显示用，并未存入仪器内部，要判别器件的好坏，仍须输入一次型号。

（4）器件代换查询：

a．先输入原器件的型号，如7400，再按“代换查询”键。

*若在各系列存在可代换的型号，则仪器将依次显示这些型号，如7403，每按一次“代换查询”键，就换一种型号显示，直到显示“NODEVICE”。

*若不存在可代换的型号，则直接显示“NODEVICE”。

b．仪器认为那些逻辑功能一致且引脚排列一致的器件为可互换的器件，并未考虑器件的其它参数，此功能请用户参考使用。

（5）EPROM查空操作

a．输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。

b．按“好坏判别/查空”键，仪器将对被测器件进行全空检查（是否全为FF）。

若是全空，显示“EPY”；否则显示地址、数据，再显示“NOEPY”。

5．编程操作

编程操作是将仪器内部RAM缓冲区的数据写入（烧写）到被测ROM器件中（写入操作）；或将被测ROM器件中的数据读入到仪器内部RAM缓冲区（读入操作）。

目前本机可读写128K以内EPROM、串并行EEPROM、FLASHROM、单片机片内ROM等器件，并可不断升级。

（1）全片读入：

将被测器件的全部数据读入到仪器内部。

a．输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧，按“读入”键；

b．此时仪器进入读/存状态，读入完成后显示“END”。

（2）部分读入：

将被测器件的部分数据读入到仪器内部（单片机及串行EEPROM无此操作）。

a．输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。

b．按“F1/上”键，显示“F1——”，输入被测器件的五位起始地址；按“F2/下”键，显示“F2——”，输入被测器件的五位结束地址；再按“F1/上”键，显示“F1——”，输入存放于机内RAM缓冲区的起始地址，再按“读入”键。

c．此时仪器进入读/存状态，读入完成后显示“END”。

d．例如将EPROM器件27010中地址02789H至1ABFEH的数据读入到仪器内部0365AH开始的RAM单元中，操作顺序为：

27010》F1》02789》F2》1ABFE》F1》0365A》读入。

（3）全片写入：

将被测器件的全部空间写完。

a．测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。

b．按“写入”键，显示“UP1——L1”，表示编程电压UP为一档（12.5V），编程速度L为一档（高速）。

c．若用户对这两个参数不作修改，再次按下“写入”键即进入写入状态，显示器显示写入的进程。

d．若用户对编程电压和编程速度要作修改，在显示“UP1——L1”时按“F1/上”键，显示“UP——”，表示修改编程电压，此时输入新的编程电压档数即可（1，2有效，2表示编程电压为21V）；按“F2/下”键，显示“L1H9L”，表示修改编程速度，此时输入新的编程速度即可（1至9有效，数字越大速度越低）。

修改完成后再次按下“写入”键，即进入写入状态。

e．写入完成后，仪器自动进行校验，若完全正确，显示“PASS”；若不正确，显示出错的地址、数据，再显示“FAIL”。

f．仅EPROM器件写入时可修改编程电压及速度，其它如EEPROM、FLASH　ＲＯＭ、单片机片内ＲＯＭ器件编程电压及速度均是固定的。

（4）部分写入：

将被测器件的部分空间写入。

a．输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。

b．按“Ｆ１／上”键，显示“Ｆ１——”，输入被测器件要写入的五位起始地址；按“Ｆ２／下”键，显示“Ｆ２——”，输入五位结束地址；再按“Ｆ１／上”键，显示“Ｆ１——”，输入五位机内ＲＡＭ缓冲区的起始地址，再按“写入”键，请参阅“全片写入”。

c．操作过程中若地址输入有误，请用“编辑/退出”键来结束操作。

（5）人工比较：

将被测器件的数据与机内RAM缓冲区的数据进行比较。

a．输入被测器件的型号并将其放上锁紧插座锁紧。

b．按“老化/比较”键（全片比较）或“F1/上”键（部分比较，按前述输入首末地址再按“老化/比较”键），仪器即开始进行比较，若全部相同，显示“PASS”；若不相同，显示出错的地址，数据，再显示“FAIL”。

（6）单片机ROM加密：

对单片机及FLASHROM器件进行写入时，当写入完成后，显示“LOC1——2”，提示是否需要加密（FLASHROM器件为数据保护）。

若要加密，按“编辑/退出”键即可；若不加密，按“编辑/退出”键以外的任意键即可。

6．缓冲区编辑

本机提供了强大的缓冲区编辑功能，用户可方便地对缓冲区进行填充（将指定范围的数据填充为指定的数据），复制（将指定范围的数据复制到指定的地址），查找（在指定的范围查找指定的字符），显示修改指定地址的数据。

本机RAM缓冲区的有效地址范围为00000H——1FFFFH共128K，输入地址时必须输入五位（如00235H）。

（1）开机后或测试完成后，按“编辑/退出”键，显示“PE——1，2，3，4，5”，其中1代表填充，2代表复制，3代表查找，4代表显示修改，5代表运放测试参数修改。

（2）按1（填充）：

显示“F1——”，输入五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2——”，输入五位结束地址，显示“FULL——”，输入两位填充的数据，仪器即开始进行填充，完成后回到显示“PE——1，2，3，4，5”。

（3）按2（复制）：

显示“F1——”，输入要复制的五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2——”，输入五位结束地址，再按“F1/上”键，显示“F1——”，输入五位目标地址，仪器即开始把指定首末地址的数据复制到目标地址开始的单元中。

（4）按3（查找）：

显示“F1——”，输入要查找范围的五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2——”，输入五位结束地址，显示“FIND——”，输入要查找的两位关键字符，仪器即开始进行查找，若找到，显示地址及数据，若要继续查找，按“F2/下”键即继续查找；若要退出，按“F2/下”键以外的任意键即可；若找不到或超出指定范围，显示“PE——1，2，3，4，5”。

（5）按4（显示修改）：

显示“PE——”，输入五位欲显示修改的地址，仪器即显示该地址的数据，若要修改，直接输入两位新的数据即可，此时可用“F1/上”和“F2/下”键来使地址减1或加1，用“编辑/退出”键来重新输入地址。

例如：

设RAM缓冲区00367H、00368H、1ABCDH单元的数据分别是1AH、29H、9FH，现要改为78H、9BH、4DH，操作顺序为：

按“编辑/退出”键，显示“PE——1，2，3，4，5”；按“4”，显示“PE——”；输入00367，显示“00367——1A”；输入78，显示“00367——78”；按“F2/下”，显示“00368——29”；输入9B，显示“00368——9B”；按“编辑/退出”，显示“PE——”，输入1ABCD，显示“1ABCD——9F”；输入4D，显示“1ABCD——4D”，完成。

（6）若要退出编辑状态，连按两次“编辑/退出”键即可。

7．微机通讯操作

本机可通过串行口与微机相连，将机内RAM缓冲区的数据传送到微机（SEND），或接收来自微机的数据供编程（RECEIVE）。

传送波特率固定为9600KB，最大传送量为128K，

串口可选择COM1或COM2。

仅在本机作为编程器使用时才可能与微机相连。

（1）软件的安装：

将随机提供的光盘内的文件（说明书除外）全部拷贝到微机内即可（最好先建一子目录）。

光盘内包含有通讯软件PORTEXPERT（端口专家，茅煦鹏先生作品，E-MAIL：

XPMAO＠START.COM.NET），MCS51汇编软件ASM51，Z80汇编软件ASMZ80，OBJ文件转换为二进制文件ABS51，缓冲区编辑软件EMP.EXE，使用说明书等。

通讯软件要求运行于WIN95以上环境。

（2）传送前的准备：

用通讯电缆将ICT33C+主机与微机串口相连（COM1或COM2，由通讯软件设置），再开启微机和ICT33C+主机电源。

（3）微机向ICT33C+传送文件：

a．在ICT33C+主机上按“F2/下”键，显示“1RE2SEN”（1。

接收；2。

发送），再按“1”，显示“1REV。

。

。

”，即进入接收待机状态；在微机上运行PORTEXPERT文件（注意端口设置及波特率是否为9600），点“文件”菜单下的“发送文件”，再输入欲发送文件的路径及文件名，点“打开”即开始传送文件。

b．传送完成后，ICT33C+显示“1REVEND”，表示传送成功。

（4）ICT33C+向微机传送文件：

a．在微机上运行PORTEXPERT文件，打开接收开关（点“接收”即可）。

b．在ICT33C+主机上按“F2/下”键，显示“1RE2SEN”，再按“2”，显示“F1——”，输入要传送缓冲区的五位起始地址；再按“F2/下”键，显示“F2——”，输入五位结束地址，显示“2SEND。

。

。

”，即开始进行数据传送，在微机上可看到接收到的数据。

传送完成后显示“PLEASE”。

c．传送结束后，在微机上点“文件”菜单下的“保存为文件”，输入后缀为.HEX的文件名，即可将接收到的数据保存为指定的文件，供反汇编或其它用。

（5）MCS51汇编软件ASM51的运行格式为ASM51+源文件名，运行结束后自动生成后缀为.LST的列表文件和.OBJ的目标文件，若要供编程用，还必须用ABS51+目标文件（不输OBJ）进行转换，生成后缀为.BIN的文件才行。

例如要汇编源文件TY.ASM，先运行ASM51TY.ASM，再运行ABS51TY即可。

Z80的运行方式相同。

若用户觉得在ICT33C+上编辑RAM缓冲区不太直观，也可在微机上运行EMP.EXE来编辑，完成后再传送到ICT33C+上进行写入。

8．其它操作

在进行好坏判别和老化测试时，第一次按下“好坏判别”或“老化/比较”键后，有可能出现下面三种情况：

（1）

显示“1——2”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座，如图四所示：

图四

锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化/比较”键。

主要是光耦和数码管器件有这种情况。

（2）显示“VCC—数字”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座，再用随仪器提供的连结插针将锁紧插座的第40脚与被测器件的某一脚连通（该脚数即是显示的数字），如图五所示：

图五

锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化/比较”键。

主要是TTL74系列的少量器件有这种情况。

（3）

被测器件

显示“OU--数字”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件放上特殊器件测试板上某一插座（即显示的数字），再将特殊器件测试板插入锁紧插座，如图六所示，锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化/比较”键。

8255，6821，Z80PIO有这种情况。

图六

9．查看软件版本编号

软件版本编号表示测试软件的新旧程度，用户可查看本机的软件版本号与本厂网站上最新的软件版本号比较，决定是否需要进行升级：

在开机后或测试完成后，输入９９５３３，再按“READ”键，此时显示的BBH+5位数字即是软件版本编号。

10．操作注意事项

（1）仪器操作时请参阅“维护保养”一节的内容。

（2）输入器件型号时，应省去字母及其它标记，只输入数字。

由于种种原因，少部分器件输入的型号与实际型号不一致，主要有：

a．8032，8051，8052，8751H，87C51，87C52，89C51，89C52在进行好坏判别时统一输入8031；进行ROM读写比较时，8751H（编程电压21V）输入8753，其余按实际型号输入。

b．Z80PIO输入801，Z80CTC输入802。

c．MC1413：

2003MC1416：

2004MC14160：

40160MC14161：

40161

MC14162：

40162MC14163：

401632902：

324。

d．89c2051：

205189c1051：

1051。

e．运放测试时输入7001，7002，7004，其它请参阅附录。

（3）进行键盘操作时，若仪器以高音回答，说明操作有效；若以低音回答，说明是误操作。

但任何误操作均不会损坏仪器。

（4）安放被测器件时，一定要注意其缺口方向和安放位置。

（5）仪器关机后，必须等五秒以上才能再次开机，否则有可能不能复位。

11．运放、三端稳压器测试使用说明

运算放大器﹑三端稳压器件测试时，需在锁紧插座板上的两个14脚锁紧插上进行。

（1）运算放大器测试前的设定：

本机可测试运算放大器的开环放大倍数﹑静态功耗﹑失调电压﹑失调电流等基本参数，以及同相﹑反相放大功能，其中开环放大倍数和失调电压可由用户设定，其余为定值测试（静态功耗ICC：

0—10ma，失调电流：

200na）。

开环放大倍数为60db﹑80db﹑100db，失调电压为2mv﹑4mv﹑8mv﹑12mv。

开机时默认的开环放大倍数为80db，失调电压为8mv。

当需改变参数时，按“编辑/退出”键，显示“PE-1，2，3，4，5”，按“5”键，显示“AVD-1，2，3”，表示选择开环放大倍数1档：

60db，2档：

80db，3档：

100db，直接输入1，2，3即可，输入完后显示“VIO-1，2，3，4”，表示选择失调电压1档：

2mv，2档：

4mv，3档：

8mv，4档：

12mv，输入完后再按“编辑/退出”键即可，此时显示“PLEASE”。

（2）三端稳压器的测试：

将被测器件按图示方向（器件上的标记正对测试人员）插入锁紧插座并锁紧，输入型号如7805，7915，317，337等，按“好坏判别”键即可测试。

78XX

317

输出

输入

调整

NC

输出

地

输入

输出

输入

调整

NC

输出

输入

地

锁紧

插座

337

79XX

NC：

未连接

常用三端稳压器的引脚排列：

（正视图）

输入地输出地输入输出调整输出输入调整输入输出

78XX79XX317337

（3）运算放大器的测试：

将被测器件按缺口向左的方向插入锁紧插座并锁紧（8脚器件紧靠左边），输入其型号，按“好坏判别”键或者“老化/比较”键（连续测试，按“编辑/退出”键终止）即可。

输入型号时按以下原则：

单运放输入“7001”，双运放输入“7002”，四运放输入“7004”；具体的型号输入方法请参考“测试容量清单”，若被测器件的型号不在清单里，只要它是如下标准排列的运放，均可按照单运放7001、双运放7002、四运放7004的原则进行输入。

单运放双运放四运放

+VOUT+VOUTIN-IN+OUTIN-IN+-VIN+IN-OUT

IN-IN+-VOUTIN-IN+-VOUTIN-IN++VIN+IN-OUT

（4）测试运放时，当按下“好坏判别”键或“老化/比较”键后，若显示“LDFAIL”，表示失调电压不合格，若用户认为不影响使用，再按“F2”键即可进行下一步的测试，按其它键终止测试。

（5）运放和三端稳压器件均不能进行型号识别，测试时仪器自动选择9V测试电压进行测试，测试完成后自动回到5V测试电压，对运放的测试电压为±12V，三端稳压器测试PASS时各器件的输出电压范围（负载电阻：

100欧）分别是：

（a）7805，7905：

4.75—5.25V

（b）7806，7906：

5.70—6.30V