绝缘栅双极型晶体管IGBT测试方案.docx

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绝缘栅双极型晶体管IGBT测试方案

编号:

绝缘栅双极型晶体管测试方案

编制:

刘敏涛

审核:

批准:

发布日期:

修订记录

序号文件版本号修订(+/-)内容及说明修订人修订日期批准人

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

1概述.........................................................................................................................................2....

1.1编写目的...................................................................................................................................................2

1.2测试依据及标准.......................................................................................................................................2

2产品描述.................................................................................................................................2....

2.1基本参数....................................................................................................................................................2

3测试项目.................................................................................................................................3....

4测试方案.................................................................................................................................4....

4.1栅极-发射极阈值电压...............................................................................................................................4

4.2栅极-发射极漏电流...................................................................................................................................4

4.3集电极-发射极截止电流...........................................................................................................................5

4.4集电极-发射极饱和电压...........................................................................................................................6

4.5开通时间、开通延时时间、上升时间.....................................................................................................7

4.6关断时间、关断延时时间、下降时间.....................................................................................................8

4.7输入电容...................................................................................................................................................10

4.8输出电容..................................................................................................................................................10

4.9反相传输电容...........................................................................................................................................11

4.10关断耗散能量和关断耗散功率.............................................................................................................12

4.11结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗.............................................................................................................13

4.12栅极-发射极短路时集电极-发射极电压.............................................................................................15

4.13集电极-发射极短路时删极-发射极电压.............................................................................................15

5参考文件...............................................................................................................................1..6..

附录1........................................................................................................................................1..6..

附录2........................................................................................................................................1..6..

1

1概述

1.3编写目的

为了保证能正确地验证绝缘栅双极型晶体管IGBT的使用性能,特编制本方案。

1.4测试依据及标准

本方案主要遵循的国家标准为:

GBT17007-1997绝缘栅双极型晶体管测试方法。

2产品描述

2.2基本参数

序号名称参数

1集电极-发射极电压

2连续集电极直流电流

3集电极重复峰值电流

4总损耗

5栅极-发射极峰值电压

6集电极-发射极饱和电压

7栅极阈值电压

8栅极电荷

9内部栅极电阻

10输入电容

11反向传输电容

12集电极-发射极截止电流

13栅极-发射极漏电流

14开通延时时间

15上升时间

16关断延时时间

17下降时间

18开通损耗

19关断损耗

20短路数据

21结-壳热阻

22壳-散热器热阻

23

24

25

26

27

28

2

3测试项目

根据国标中的要求,电容器的测试应满足下表中的要求,有特殊定制时应特别说明。

序号测试项目出厂试验型式试验厂内可测试项第三方测试项

1栅极-发射极阈值电压√

2栅极-发射极漏电流√

3集电极-发射极截止电流√

4集电极-发射极饱和电压√

5

开通时间、开通延时时间、上升

时间

6

关断时间、关断延时时间、下降

时间

7输入电容√

8输出电容√

9反相传输电容√

10关断损耗√

11结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗√

12

栅极-发射极短路时集电极-发射

极电压

13

集电极-发射极短路时删极-发射

极电压

14

15

16

17

18

3

4测试方案

1.5栅极-发射极阈值电压

试验目的:

验证栅极-发射极阈值电压。

试验方法:

1)按下图搭建试验测试平台

G1、G2-可调直流源;V1、V2-直流电压表;A-直流电流表;

2)调节电压源G2至规定的集电极-发射极电压;调节电压源G1,从0开始逐渐增加栅极-发射极

间的电压,使电流表A显示出规定的集电极电流值时,电压表V1的显示值即为被测元器件的栅极-

发射极阈值电压。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

备注:

1.6栅极-发射极漏电流

试验目的:

在规定条件下,测量器件在集电极-发射极短路条件下的栅极-发射极漏电流。

试验方法:

1)按下图搭建试验平台。

4

G-可调直流电压源;V1,V2-直流电压表;R-测量电阻器。

2)调节电压源,使栅极-发射极电压V1达到规定值。

从V2读出V,则栅极-发射极漏电流为

V2/R。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

备注:

4.3集电极-发射极截止电流

试验目的:

在规定条件下,测量器件在栅极-发射极短路时的集电极-发射极截止电流。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

5

G-可调电压源;V-高阻抗直流电压表;A-直流电流表;R-限流电阻器。

2)调节电压源G,从零开始逐渐增加集电极-发射极间的电压到电压表V显示出规定值,即可

从电流表A读取集电极-发射极截止电流。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

4.4集电极-发射极饱和电压

试验目的:

在规定条件下,用脉冲法测量器件的集电极-发射极饱和电压。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

G1-栅极可调脉冲电压源;G2-可调直流电压源;M1-测量栅极-发射极峰值电压示波器;M2-指示

被测器件导通器件电压的示波器;M3-集电极电流测量示波器;R3-取样电阻器;R1-栅极回路电

阻器;R2-集电极负载电阻器。

2)调节栅极脉冲电压源G1,使M1电压指示为规定值。

调节集电极电流为规定值,指示,从

示波器M2稳定波形平坦部分读取集电极-发射极饱和电压值。

6

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

备注:

4.5开通时间、开通延时时间、上升时间

试验目的:

在规定条件和阻性负载条件下,测量器件的开通时间、开通延时时间、上升时间。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

G1-低内阻矩形脉冲发生器;G2-可调直流电压源;R1-栅极无感电阻器;RL-负载无感电阻器;

M-双踪示波器。

2)调节G1、G2使栅极脉冲电压幅值和集电极电流幅值分别达到规定值,从示波器M显示的

栅极-发射极电压Vge和集电极电流Ic的波形上,读出各个时间。

7

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

备注:

4.6关断时间、关断延时时间、下降时间

试验目的:

在规定条件和阻性负载条件下,测量器件的关断时间、关断延时时间、下降时间。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

8

G1-低内阻矩形脉冲发生器;G2-可调直流电压源;R1-栅极无感电阻器;RL-负载无感电阻器;

M-双踪示波器。

2)施加规定的栅极电压Vge1,逐渐增加集电极电源G2的电压,是集电极峰值电流Icm达到

规定值。

然后施加反向栅极电压Vge2。

在示波器是读取时间。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

9

测试地点:

备注:

4.7输入电容

试验目的:

在规定条件下,测量器件的输入电容。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台。

CB-电容测量仪器;G-直流可调电压源;R1、R2、R3-直流偏置电阻;C1-隔直电容;C2-交流短路

电容

2)把G的电压和测试频率设为规定值,在电容测量仪CB读出电容测量值Cx,则输入电容

-1

Cies=(1/Cx-1/C1)

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

2.38输出电容

试验目的:

在规定条件下,测量器件的输出电容。

试验方法:

1)按下图搭建试验平台

10

CB-电容测量仪;G-可调直流电压源;R1、R2-直流偏置电阻;C-隔直电容

2)把G的电压和测试频率设为规定值,在电容测量仪CB读出电容测量值Cx,则输入电容

-1

Coes=(1/Cx-1/C)。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

4.9反相传输电容

试验目的:

在规定条件下,测量器件的反向传输电容。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

CB-电容测量仪;G-可调直流电压源;R1、R2、R3-直流偏置电阻;C-隔直电容

2)把G的电压和测试频率设为规定值,在电容测量仪CB读出电容测量值Cx,则输入电容

-1。

Cres=(1/Cx-1/C)

11

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

备注:

1.7关断耗散能量和关断耗散功率

试验目的:

在感性负载下,确定器件单脉冲关断耗散能量和关断耗散功率。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

G1-低内阻矩形脉冲发生器;G2-可调直流源;D-钳位二极管;L-负载电抗器;R1-栅极电阻

器;R2-电流测量电阻器;M-双踪示波器。

2)调节G1和G2使集电极-发射极电源电压Vcce和输入直流脉冲幅值Vggm为规定值。

双踪

示波器M上显示出集电极电流Ic,集电极-发射极电压Vce的波形。

12

3)则单脉冲关断耗散能量为Ic与Vce乘积与时间的积分。

4)任意重复频率下的关断耗散功率等于该频率与关断耗散能量的乘积。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

4.11结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗

试验目的:

用器件栅极-发射极阈值电压作为热敏参数测量其结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

13

G1/G2-可调直流电流源;S-电子功率开关;D1、D2、D3-隔离二极管;V1、V2-直流电压表;

R-电流测量电阻器。

2)在较小测量电流Ic1时确定集电极-发射极阈值电压的温度系数Ct,将器件放入烘箱中,依

次加热至温度T1和T2(T2>T1)。

在热平衡的条件下,从电压表V1读取相应的栅极-发射

极电压Vge1和Vge2,则温度系数Ct=(Vge1-Vge2)/(T2-T1)。

3)用器件对内部耗散功率阶跃变化的响应测量结-壳热阻Rjc。

将器件固定在散热体上,测量管

壳温度Tc1,测量小电流Ic1下的栅极-发射极电压Vge3。

接通电子开关S,调节G2,在Ic1

上叠加接近器件额定集电极电流Ic2。

达到热平衡后,测量集电极-发射极电压Vce。

且保持

管壳温度Tc=Tc2=常数。

然后切断Ic2,立即测量在同一Ic1时的栅极-发射极电压Vge4。

热阻Rjc=(Tvj-Tc)/(Vce*Ic2);瞬时器件的等效结温Tvj=Tc1+(Vge3-Vge4)/Ct。

4)用上述测量热阻的方法,在器件流过Ic2且达到热平衡后,测量集电极-发射极电压Vge和

管壳温度Tc2。

然后用S切断Ic2,再测量在Ic1条件下的栅极-发射极电压不同时刻的Vge4(t)

和对应的管壳温度Tc(t),计算得出Zjc(t)的值。

Tvj(t)=Tc1+(Vge3-Vge4(t))/Ct。

Zjc(t)=((Tvj(0)-Tc(0))-(Tvj(t)-Tc(t))/(Vce*Ic2)。

合格标准:

测量值符合厂家所提供的技术规格书。

测试地点:

14

1.8

栅极-发射极短路时集电极-发射极电压

试验目的:

在规定条件下,检验器件在栅极-发射极短路时集电极-发射极电压Vces。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

G-直流可调电压源;R-限流电阻器;A-直流电流表;V-直流电压表。

2)使器件达到规定的壳温。

调节电压源G1,使器件的集电极-发射极电压达到规定值,

合格标准:

集电极电流小于或等于规格书所标称值。

测试地点:

备注:

1.9集电极-发射极短路时删极-发射极电压

试验目的:

在规定条件下,检验器件在集电极-发射极短路时删极-发射极电压Vges。

试验方法:

1)按下图搭建测试平台

15

G-直流可调电压源;R-限流电阻器;A-直流电流表;V-直流电压表。

2)使器件达到规定的壳温。

调节电压源G1,观察电压表V的读书,使栅极-发射极电压达到规

定值。

合格标准:

栅极漏电流小于或等于规格书所标称值。

测试地点:

备注:

5参考文件

可写相关的参考文件、依据文件等。

附录1

正文

附录2

正文

16

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