光缆测试报告精编版.docx

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光缆测试报告精编版

MQSsystemofficeroom【MQS16H-TTMS2A-MQSS8Q8-MQSH16898】

光缆测试报告精编版

MLC项目通信传输系统

光缆测试报告

北京建谊建筑工程有限公司

2010年7月21日

一、光缆测试说明

1、通信系统说明

MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。

MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。

2、光纤使用说明

1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；

2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；

3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；

4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；

5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；

6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。

（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；

此次测试针对以上6部分进行。

3、测试仪器

采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。

4、相关图纸

《MLC项目通信系统光纤传输路由图》

二、

光缆测试内容

光缆测试包括以下内容：

光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；

3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；

具体说明如下：

光缆熔接损耗：

西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；

3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：

西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；

三、测试目的

序号

测试内容

测试目的

合格标准

备注

1

光缆熔接损耗

检查光纤熔接质量

每个熔接点损耗＜

光纤熔接规范

2

西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减

检查光纤链路质量

＜25dB

通信设备对光衰减的要求

3

西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

检查光纤链路质量

＜25dB

通信设备对光衰减的要求

4

京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

检查光纤链路质量

＜15dB

通信设备对光衰减的要求

四、光缆测试记录

1、西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录

在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

8层MLC机房

测试地点：

7层通信配线间

双向测试取平均值

是否合格

8层熔接点损耗

7层熔接点损耗

8层熔接点损耗

7层熔接点损耗

8层熔接点损耗

7层熔接点损耗

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

2、

京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

1层MLC机房

测试地点：

B1层通信配线间

双向测试取平均值

是否合格

1层熔接点损耗

B1层熔接点损耗

1层熔接点损耗

B1层熔接点损耗

1层熔接点损耗

B1层熔接点损耗

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

1层MLC机房

测试地点：

3层通信配线间

双向测试取平均值

是否合格

1层熔接点损耗

3层熔接点损耗

1层熔接点损耗

3层熔接点损耗

1层熔接点损耗

3层熔接点损耗

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

1层MLC机房

测试地点：

7层通信配线间

双向测试取平均值

是否合格

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

多模光缆2测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

1层MLC机房

测试地点：

7层通信配线间

双向测试取平均值

是否合格

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

1层熔接点损耗

7层熔接点损耗

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

每个熔接点损耗＜

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

4、西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减

在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

西直门8层MLC机房

测试地点：

京投大厦西辅楼1层

双向测试取平均值

是否合格

链路损耗

链路损耗

链路损耗

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

5、西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

西直门8层MLC机房

测试地点：

京投大厦东辅楼3层

双向测试取平均值

是否合格

链路损耗

链路损耗

链路损耗

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

链路损耗＜25dB

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：

6、京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

光纤芯数

合格标准

（双向测试平均值）

测试地点：

京投大厦西辅楼1层MLC机房

测试地点：

京投大厦东辅楼3层

双向测试取平均值

是否合格

链路损耗

链路损耗

链路损耗

链路损耗＜15dB

是□否□

链路损耗＜15dB

是□否□

链路损耗＜15dB

是□否□

链路损耗＜15dB

是□否□

测试结论：

通过□不通过□

施工单位（签字）：

监理单位（签字）：

日期：

日期：