南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数Word文档格式.docx

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吸收现象经常用于实验种获得单色X射线。

如果在光路中放置一种物质(称为滤光片或单色器),这种物质的吸收限波长正好出于特征X射线Ka和仆波长之间,从而能将绝大部分小线滤去,而透过的Ka线强度损失很小,得到基本上是单色的Ka辐射。

我们实验中的阳极选用CU靶,CU靶产生的特征Ka线的波长仁1.5418?

小线的波长入=1.3922?

因此可以选用Ni(其吸收限波长入=1.4880?

)作滤波片滤去Cu靶中产生的小辐射,得到单色Ka线。

3、X射线衍射仪的构造

这部分不作要求,同学们只要简单知道是由X射线发生器、测角仪、记录仪这三大部分组成。

想要详细了解可以参看《现代仪器分析》、《固体表面分析》等相关参考书。

三.X射线粉末衍射法测定晶胞常数1、晶体与晶胞的概念首先需要明确

晶体是由具有一定结构的原子、原子团(或离子团)按一定的周期在三维空间重复排列而成的。

反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称为晶胞。

晶胞的

形状及大小可通过夹角、、的三个边长a、b、c来描述,因此、、

和a、b、c称为晶胞常数。

2、粉末法

当某一波长的单式X射线以一定的方向投射到晶体上时,晶体内的晶面(同一面上的结构单元构成的平面点阵)像镜面一样反射入射线。

但不是任何的反射都是衍射。

只有那些面间距为d,与入射的X射线的夹角为9,且两相邻晶面反射的光程差为波长的整数倍n的晶面簇在反射方向的散射波,才会相互叠加而产生衍射,如图1所示。

光程差&

AB+BC=dsin什dsin

0=2dsin0,即有Bragg方程2dsin0=n入,其

中n称为衍射级数。

稍作变换,dhk尸d/n=》2sin0,

图2衍射线方向和入射线方向的夹角

dhki就是XRD图谱中所说的d值,也是PDF

图2说明了衍射角的大小,即如果样品与入射线夹角为9,晶体内某一簇晶

面符合Bragg方程,那么其衍射线方向与入射线方向的夹角为29,称为衍射角。

而8为半衍射角。

图3半顶角为28的衍射圆锥

如图3所示,多品样品中与入射X射线夹角为8面间距为d的晶簇面晶体不止一个,而是无穷多个,且分布在半顶角为28的圆锥面上。

粉末法就是我们所测样品为多晶粉末(很细,20-30。

,因而存在着各种可能的晶面取向。

当单色(标识)X射线照射到多晶试样表面时,不同取向的晶面都会对X射线发生反射,只有与X射线夹角为9,满足Bragg方程的晶面才会发生衍射。

实际测定时,我们将粉末样品压成片放到测角仪的样品架上,当X射线的计数管和样品绕试样中心转动时(试样转动9,计数管同步转动29),利用X射线衍射仪记录下不同角度时所产生的衍射线的强度,就得到了XRD图谱,这叫衍射仪法。

衍射峰白^位置28与晶面间距(晶胞大小和形状)有关,而衍射线的强度(即峰高)与该晶胞内原子、离子或分子的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。

由于任何两种晶体,具晶胞形状、大小和内含物总存在着差异,所以,XRD图谱上衍射峰的位置28和相对强度I/I0可以作为物相分析的基础。

3、指标化与晶胞常数的测定

对于立方品系,比较简单,其晶胞参数a=b=c,=芹产900o

由几何结晶学的知识可以推出:

1h*2k*2l*2

d\a2

式中h*、k*、l*为密勒(Miller)指数,即晶面符号,密勒指数不带有公约数

将等式两边同乘衍射级数n,

nh2k2l2

da2

此处,h、k、l为衍射指数,它们与密勒指数的关系是h=nh*,k=nk*,l=nl*0

根据Bragg方程n/d=2sin/入,入值已知,每个衍射峰的8值由衍射图谱中

读出,这样每个衍射峰都有一个确定的

2

.2sin

),以其中最小的

对于立方品系,指标化最简单,由于h、k、l为整数,所以各衍射峰的-(或d

n

d

2.

3.

4.

5

2:

1

2n

n值除之,所得32:

dn2

di

・2・2・2,2・2

)的数

2sin1sin2sin3sin4sin5

<

••](或一1:

—产:

一产:

一2-^:

sin1sin1sin1sin1sin1

列应为一整数列,即是每个衍射峰的衍射指标平方和h2+k2+l2之比。

对于立方晶系,如果是素晶胞(P),该比值为123:

4:

5:

6:

8:

…(缺7,15,23等);

如果是体心晶胞(I),该比值为2:

8:

10:

12:

…(偶数之比);

而如果是面心晶胞(F),该比值为3:

11:

16:

…(两密一疏)。

因为系统消光的缘故,一些h2+k2+l2值可能不出现。

素晶胞中,衍射指标无系统消光;

体心晶胞中,h+k+l=奇数时发生系统消光;

而面心晶胞中,h、k、l奇偶混杂时发生系统消光。

由此,我们可以判断立方品系晶胞的点阵型式,再根据教材P127表II-29-1

立方点阵衍射指标规律,确定各个衍射峰所对应的衍射指数。

dhkl

d

n2sin

222

,hkl

CuKa线的波长入=1.5405?

8由衍射图谱上读出,每个衍射峰的h2+k2+l2也已经求得,这样对每个衍射峰,我们都可以求出对应的a值,最后实验测得的晶胞参数a,是对这些a值取平均。

知道了晶胞常数,就知道晶胞体积,在立方品系中,每个晶胞中的内含物(原子,或离子,或分子)的个数n,可按下式求得

3

a

n

M/N0

式中M为欲测样品的摩尔质量;

No为阿佛加得罗常数;

为该样品的晶体

密度。

四.实验仪器和用品

日本岛津ShimadzuXD-3AX射线衍射仪1台(Cu靶),ShimadzuVG-108R测角仪1台,样品aNaCl(化学纯),样品bNH4cl(化学纯),研钵和研钵棒1套,骨勺1个,装样品的玻片2片,金属刮刀1把,玻璃板1块,卷纸1卷,PDF卡片1盒,PDF卡片索引2本。

五.实验步骤

具体步骤和PDF卡片的使用,至IXRD实验室具体操作时讲解。

1、用水和酒精或者丙酮洗净研钵后,将样品a或b置于研钵内研磨几分钟至粉末状,研细的样品小心倒入玻片上用于装样品的圆型凹槽,至稍有堆起。

用金

属刮刀将粉末样品压于圆型凹槽中,厚薄均一,不能出现空隙。

然后,可将玻片放到样品架上,注意玻片上的缝隙与样品台上的缝隙对齐,盖上盖子。

2、开启ShimadzuX射线衍射仪进行实验。

具体步骤如下:

打开冷却水,调节使水压为2.452X105Pa(本实验中,电闸打开的同时冷却水即打开,水压已预设好)。

然后打开主控面板上Supply电源总开关。

按下Power按钮,等10秒左右,按下Reset键,此时四盏指示灯应该全灭,否则仪器工作不正常,需报修。

然后可以打开X-RayON,调节管压至35kv,管流至15mA。

检查HV-3增益和Interlock开关朝上,仪器参数已预设好[角度测试范围100°

〜25,扫描速度4度/min,量程CPS为5K,时间常数为1.0X1,Width为5,Gain为5,记录仪走纸速度20mm/min。

实验过程中要确保走纸机纸墨都够用并调好基线。

待测样品放入样品架后,关紧铅玻璃门,开始调零。

具体方法是将Mode开关打到CAL档,此时测角仪将迅速自动调零。

接下来调节角度测量范围,将Mode开关打到MAN档,用ManSpeed旋钮控制速度,使计数管转到所需的高角度(本实验要求的角度范围是100。

〜25。

,而仪器程序是从高角扫到低角)时,旋动Mode开关打到STOP档。

测量前,按下右边光栅OPEN开关(有咔的一声轻响帮助判断),然后迅速将Mode开关旋至AUTO档。

走纸机的记录笔会自动落下开始记录衍射图谱。

实验过程中,参照角度示数,适当用笔记下衍射峰

峰顶处对应的衍射角28值。

如果没来得及记下也不要紧,可以根据已经记下的角度值,利用每小格0.40推算出。

待扫描至低角25时,将Mode开关旋至STOP,此时走纸机停止,记录笔也会自动弹起。

要先按下右边的光栅OFF按钮才能取

出样品,否则有被辐射的危险,一定要提醒同学们注意。

下面重复上述步骤测试样品。

3、实验完毕后,按开机的反顺序关闭X射线衍射仪。

先缓缓将管流降至0,再将缓缓管压降至0,接下来按X-RayOFF按钮,HV-3增益和Interlock拨至朝下,关闭Supply电源开关。

稍等几分钟后关闭冷却水和电闸。

六.PDF卡片的使用

详见P261-265

要查阅所需的PDF卡片,我们必须先查阅卡片索引Index。

卡片索引又分为数字索引和字母索引。

1、字母索引

如NaCl为SodiumChloride,NH4Cl为AmmoniumChloride,本次实验所用试样已知,因此这种方法变得非常简单而实用。

2、数字索引(d值索引)

分为Hanawalt索引和Fink索引,同学们需要学会Fink索引的使用,即由d值查询未知物,这种方法比较常用。

[练习:

4.05x,2.492,2.841,3.14i,1.87i,2.47i,2.12i,1.93i—〉SiO211-695]

七.数据处理

1、数据记录表格示例

Item

28(。

dhkl(?

.2sini

.2sin1

Ii

100Ii

Imax

h2+k2+l2

a(?

a⑺

4

6

7

8

9

10

对数据记录表格的一些说明:

根据X射线粉末衍射图中各衍射峰的28值及峰高值,由28值求出其n值(或

sinOi)和面间距dhki值,并以最高的衍射峰为100(Imax),算出各衍射峰的相对衍

射强度(Ii/Imax),由前面讲的指标化的具体方法求出每个衍射峰的

sin2i

~~2~

sin1

和衍

射指标平方和h2+k2+l2,通过查阅(PowderDiffractionfile)卡片集(过去习惯上又称ASTM卡片)确定样品a和样品b分别为何物(a为NaCl,b为NH4Cl),通过P127表II-29-1立方点阵衍射指标规律判断NaCl和NH4Cl分别属于什么品胞类型(NaCl为面心立方F,NH4Cl为简单立方P)。

a是把每个衍射峰求算出的晶胞参数a值求取平均。

2、把a代入公式n-a-求晶胞内含物的个数(单位要统一,pNaC=2.164,M/N0

PNH4cl=1.527),NaCl中内含物的个数为4,NH4Cl为1。

八.思考题

1、多晶体衍射能否用含有多种波长的多色X射线?

为什么?

[前面提问问题,已讨论并作提示]

答:

不能。

只有单色X射线才有确定的人值,进而代入Bragg方程进行计算。

如果入不定即X射线为多色光,对某一特定的晶面如(110),不会得到一组对称清晰的谱线,而会得到多组甚至是连续的相互干涉的衍射图谱。

从这种图谱上无法得到确定的衍射角28值和d值,也就无法进行精确的物相组成分析。

2、如若NaCl晶体中有少量Na+位置被K+所替代,其衍射图有何变化?

又若NaCl晶体中混有KCl晶体,具衍射图又如何?

衍射图的变化包括两个方面,衍射峰的位置28值和相对强度I/I°

由于衍

射峰的位置28与晶面间距(晶胞大小和形状)有关,而衍射峰的强度与该晶胞内原子、离子或分子的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。

若NaCl晶体中有少量Na+位置被K+所替代,只是离子种类发生了变化,晶面间距d值并没有发生改变,故峰位置28不变,但峰强度发生变化。

若NaCl晶体中混有KCl晶体,相当于是两种晶体的混合物做物相分析,很显然,衍射峰的位置和强度都发生变,化,但考虑到检出限、峰的叠加以及晶体外延生产等因素,比例太小时XRD亦

有可能鉴别不出(衍射图变化不大)。

3.试计算在所给晶体(NaCl或KCl,NH4CI)中,正离子和负离子的接触半径及其半径比R+/R-O

一般离子晶体中的离子都可看作球状。

按照鲍林划分离子半径的方法,离子的大小取决于核外电子分布。

对于相同电子层的离子,其半径与有效核电荷城反

C比,即r-C」。

Z

对于KCl晶体:

由于K+,Cl-均具有稀有气体原子Ar的电子结构,因此可以使用上面的公式,用屏蔽系数方法来计算,即山马——,对于Ar型11.25,rClZk

例rk1711.25

故———0.742

电1911.25

而对于NaCl和NH4Cl,Na+与NH4+为等电子体,且都是Ne的电子结构,这样①值就与Cl-不同,而且Cn值也不尽相同,所以不能简单采用屏蔽系数方法计算阴阳离子半径比。

而应基于以下两点假设:

(1)负离子密堆积;

(2)正负离子相互接触,在晶胞层面上利用几何知识进行计算。

对NaCl晶体,可看作Cl-离子密堆积的结构,Na+离子占据其八面体间隙,

0.414

常温下的NH4C1晶体可视为CsCl型,即简单的立方结构,由几何关系

—11

(,3—2)—a

2r,32rr

0.732

22

1-a

九.实验注意事项

1、由于X射线具有很强的辐射能力。

取放样品前,一定要检查一下光栅是否处于CLOSE状态,防止辐射伤害。

2、实验完毕后,在记录本上进行登记。

3、注意计算过程中有效数字和实验精度。

4、如有两人同组实验,衍射图谱可以共用,但数据必须单独处理,并注明同组实验人。

5、报告讨论,尽量不要一味抄书,最好讨论一下对本实验的理解、改进建议和实验中出现的问题和解决办法,也欢迎对实验教学提出意见和建议。

十.讨论

1、因为是大型仪器操作,实验中人干涉的过程比较少,所以压片的好坏变成影响实验结果好坏最直接的因素。

用于测定的粉末样品,一定要磨细,一来便于压片,二来保证品面取向随机分布。

压片时一定要厚薄均一,毋要出现空隙。

有些难以压片的样品,可适当掺杂一定水,但可能对衍射峰强度造成影响。

在样品架上取放样品时,注意尽量不要污染样品架,出现洒落应立即用毛笔扫净样品架。

2、晶体衍射所用单色X射线一般选用范围为0.5-2.5?

是因为:

(1)该波长范围与晶体点阵面间距大致相当。

(2)随着波长的增加,样品和空气对X射线的吸收越来越大,因此波长大于2.5?

的X射线对晶体衍射一般不使用。

(3)波长太短,衍射峰过分集中在低角度区,一些相隔较近的衍射峰不易辨认,因此波长小于0.5?

的X射线一般也不采用。

3、XRD物相分析的优点:

分析比较直接,样品用量少,不破坏样品,一般可回收(本次实验中a样品NaCl实验后变黄,因此均未回收)。

其局限性:

PDF卡片有限(现在可用数据库检索,如PhilipsX'

PertPro),混合物分析有检出限问题。

XRD是一种物相分析手段,但不是唯一最佳的手段,所以一般不直接用来进行混合物鉴定,需要其它化学分析手段配合,如光电子能谱XPS,扫描电镜SEM,

电感耦合等离子发射光谱ICP等化学分析和光谱分析手段。

4、X射线是高能粒子,随着实验的进行,样品温度会发生变化,而晶胞体积与温度正相关,因此当精确测定晶胞常数时还应当注明测试温度和可能有的温度偏

5、关于实验误差分析

要得到精确的d值和晶胞参数a,必须借助8值的精确测量。

一种办法是适当加快走纸机的走纸速度,另外就是尽量采用高角度的衍射峰。

由Bragg方程可以得到:

——cot,在8趋向90°

时,结果误差较ad

小,所以高角度的d值和a值比较可靠。

6、目前用X射线衍射进行结构分析可分为单晶法和多晶粉末法。

单晶法是全面提供晶体立体结构信息最有效的方法,适用面广。

无论晶体对称性高低,都可以进行处理和解释,且晶胞参数比较容易获得。

但单晶法的缺陷是制备单晶样品比较困难,现成的又非常贵。

而多晶粉末样品制备就相对容易多了,具缺陷在于一般粉末法衍射线比较拥挤,且衍射图指标化比较繁琐。

因此,多晶粉末法,主要应用在结构比较简单,制备单晶比较困难的样品。

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