测试指导类USB接口指标测试指导书.docx
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测试指导类USB接口指标测试指导书
USB接口指标测试指导书
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(企业业务BG—企业数通产品线一企业数通研发管理部一企业数通硬件开发
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USB接口指标:
USB眼图测试;Chirp测试;Droop测试。
1、USB接口指标描述
为了顺应市场的要求,目前的产品大部分都出的是USB2.0的接口,而且我们产品都是作为HOST端,USB2.0一共提供3种速率,如下表。
数据速率
上升时间
LowSpeed
1.5Mbps
75~300ns
FullSpeed
12Mbps
4-20ns
HighSpeed
480Mbps
>500ps
当我们的设备是作为HOST端是,数拯方向是DownStream,其关注的指标有:
1、信号质量
1)眼图测试(Eye-Diagramtesting)
2)信号速率(SignalRate)
3)包结尾宽度(EndofPacketWidth)
4)JK抖动(JKjitter)
5)KJ抖动(KJjitter)
6)连续抖动(Consecutivejitter)
7)单i周性测试(Monotonictest(forHS))
8)上升与下降时间(RiseandFalltimes)
2、Droop(电压跌落)
3、Chirp(ShakeHands)
2、USB接口指标测试方法
(1)信号质量测试
由于我们的设备都是作为HOST端,在这里只介绍HOST端的接口指标测试方法。
1)USBHighSpeed信号质量测试方法
a)
连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器,具体的连接示意图如图1所示。
图1HighSpeed信号质量测试连接示意图
b)
DUT上电,启动USB测试包,发送测试命令,使USB端口能够发送岀测试码
流.具体的码流波形如图2所示。
c)运行示波器上的USB测试软件,在Analyze菜单中选择USB2.0Test启动后的
界而如图3所示。
在软件的Measurements菜单中选择Select,然后选择HighSpeed,选择测试项,在这里可以点击SelectAll.将信号质量的测试项全部选上。
在这个界而上还有一个选项Config,该选项是用来初始化Monotonic
Property>选择后的界而如图4所示,是用来初始化边沿的单调性是从高低电平的多少百分比开始Checko
图4HighSpeed信号质量测试初始化界而
d)选择眼图的模板。
在USB2.0的标准协议中,一共有4种模板。
其测试模板的
选择和端口的数摇方向和测试点的选择有关。
协议中肚义个测试点的选择及
对应的模板选择。
如图5和图6所示。
HubCircuitBoardDeviceCircuitBoard
Figure7-11.MeasurementPlanes
图5USB2.0标准中的测试模型
Template1:
TransmitwaveformrequirementsforhubmeasuredatTP2.andfordevice(withoutacaptivecable)measuredatTP3
Template2:
Transmitwavefonnrequirementsiordevice(withacaptivecable)measuredatTP2
Template3:
Receiversensitivityrequirementsfordevice(withacaptivecable)whensignalisappliedatTP2
Template4:
Receiversensitivityrcquircmentsfordevice(withoutacaptivecable)whensignalisappliedatTP3・andforhubwhensignalisappliedalTP2
Templates5and6arerecommendedguidelinesfordesigners:
Template5:
TransmitwaveformrequirementsforhubtransceivermeasuredalTP1.andfordevicetransceivermeasuredalTP4
Template6:
ReceiversensitivityrequirementsfordevicetransceiverwhensignalisappliedatTP4.andforhubtransceiveratwhensignalisappliedatTPI
图6USB2.0标准中关于模板选择的描述
不同的模板对应的眼髙和眼宽要求不一样,如果我们的设备是作为HOST端,数掳流向是DownStream,测试点可以选择TP2和TP3,如果设备对外宣传是标准的USB2.0接口,就说明我们设备的USB端口上是可以再加USB延长线的,即USBCable。
当然测试点的选择就是在TP2了,测试的模板就是Template1,英对应在示波器上九应该选择DownStream+NearEnd,对应示波器的选择如下图所示。
如果设备内部已经经过了连接器和排线,对外宣称只支持USB2.0的设备,那如果我们在设备的岀端口测试,模板就选择Template2,其对应在示波器上应该选择DownStreain+FarEnd。
其Template1和Template2两个模板对应的大小和参数如图7和图8所示。
总结如下,在测试时,根据不同的测试场景,选择不同的测试模板。
Host
测试点
模板
示波器设置
TP2
Template1
DownStream+NearEnd
TP3
Template2
DownStream+FarEnd
Tetnplalct
Figure?
-BtheirarwmitwnvcfcwwrequiranentsforahubmeasuredatTP2,andforndevice(uiihoaaC4«i*cciWc)measureiialTP3
VoltageLevel((H■D«)
Time(%ofUnHInterval)
Le-rtjl1
525mVinUlatransition.
475mVinallathors
N>A
L"2
•525mVinUlfdknwngatransOcn.
-475Inailoihan
N>A
Point1
OV
7-5%Ul
Point2
ov
92.5%Ul
Point3
300mV
37.5%Ul
Point4
300mV
62.5%Ul
Points
-300mV
1
37.5%Ul
Point6
•300mV
I
625%Ul
图7USB2.0标准Template1模板的要求
VoltageLevel(D+-D-)
Time(%ofUnitInterval)
Level1
525mVinUlfoiiosMngatransRion.
475mVmalloEgrs
N/A
Level2
•525mVinmfollowingatransition.-47SInallothers
NZA
Point1
OV
12.5%Ul
Point2
OV
87.5%Ul
Point3
176mV
35%m
Point4
176mV
65%Ul
Point5
-175mV
35%m
Point6
-175mV
65%m
Figurv7-14showstnnwnitavetaimrvquirvmenl5twudevice(withacaptivecable)measuredatTP2
♦40EVDifferential
OVoUDifferontial
-400mV
Differential
选择完模板后,在图9中还有Tier选项需要选择,为了能够支持Hub级联,我们选择Tie6具体
的解释可以参考USB2.0协议中4.1.1o在图10中还有•个Configure选项,需要初始化使用的通道和选择的探头类型。
如图10所示。
|嘗Fitebfeasgrrm•饴Resuts
LUloesHelp
“♦“ur・MnuConhgurt
S^rulOuiMyCMck-
TDSUSB2
CtrrtguregSource
Uve»R«f
OUnerenz
.SingleEfMsU
auar/C俗"R
Coniguretne&20
D*[Cm~「
rre^.retrenn$)anaPr«&
D-|Ch2~
CW3■
RlfOccn
•r-iUHirir
1-1
图10HighSpeed信号质量测试中Configure的选择
e)示波器设置好后,就可以点击示波器软件上的RUN开始测试。
测试完后,会
生成一个测试报告,保存测试报告在Utilitcs选项中,选择ReportGenerator,
如图11所示。
File*M^asufGUtilities:
ReportGenerator
LtillllASHelp
irectory:
ReportFormat
CUekApplications^dsusbZfeparn.
Brow$e
TDSUSB2
oTewronwSpectfk:
・Rug-FestSpecific
•CSVFormat
G«n«rdtion
Reportfigname:
MJXH•咏rnm|
SeecitneReportFormalandPressGenetate
AulcmatJC
Msnual
Generate
Ready
图11生成HighSpeed信号质量测试报告
英中报告中截图如图12所示,苴信号质咼的测试数据全部都在报告中体现
了,每个测试项是否满足要求,都能在报告中找到答案。
ResultsbasedonUSBTF/WaiverLinits:
MensiuementName
MimnuimMaximiunMeanpk-pk
StandardDeviation
RMS
PopulationStatus
EyeDiagramTest
.・・・
-
-
-
Pass
SignalRate
475.0343Mbps486.7341Mbps479.9877Mbps0.0000bps
2.031543Mbps
480.1825Mbps
509
Pass
EOPWidth
・•16.52536ns
-
-
1
Pass
EOPWidth(Bits)
・・7.931970
-
-
1
Pass
FailingEdgeRate
860.5459V/us1.040339W//US959.1054V/us179.7928V/\js
44.3190SV/us
^□0.1193V/us
而—
Pass
RisingE^eRate
887.8400V/us1.073947k^/us33.9355V/us186.1072V/\js
41.27582V/us
9^4.7842V/us
108
Pass
AdditionalInfoi-nation:
CctweonWcJlxtcrrange;-27.Olpsto19.6TpgRVSJitter9.584ps
UPairedJitterrarge:
-18.4Ct)sto20.5(^>sBISJitter8.
JKPairedJitterrarise:
-21.8ft»sto55.52t»sMSJitter8.977ps
BlslngEdgeRate:
$93.$3557/us(LialvalcnxRiseTIdc=W3.$0ps)
Tallin®BfeeRote:
$5^.L064V/us®.29ps)
图12HighSpeed信号质量测试报告的具体内容
2)USBFullSpeed信号质量测试方法
和HighSpeed信号质量测试不同的地方在于测试组网的方式不一样,具体的测试组网如图13所示。
有几个需要注意的地方是USB夹具需要5V供电,需要一个将夹具设置到Initial状态,Initial指示灯点亮。
在测试HostFullSpeed信号质量时,需要一个FullSpeed的从设备,该供设备需要是USB协会认证的设备。
在这里不在用差分探头了,需要用两个单端探头,注意D+,D・的对应连接的示波器通道。
图13FullSpeed信号质量测试组网示意图
测试组网连接好后,不用发送测试命令,示波器上就应该能抓到所需要的测试波
形,如图14所示。
图14FullSpeed信号质量测试波形
示波器苴他的测试和HighSpeed一样,不同的地方是测试项的选择,需要选择Full
Speed,其测试项还是选择SelectAIL
3)USBLowSpeed信号质虽:
测试方法
LowSpeed的测试组网方式和FullSpeed测试组网方式一样,不一样的地方是这次用的是LowSpeed从设备,可以使用鼠标等从设备。
测试时选择LowSpeed,测试
项选择SelectAIU示波器上就应该能抓到所需要的测试波形,如图15所示。
与FullSpeed测试方法不同的是,测试LowSpeed时需要使用Cross,具体的设置在
File菜单中,选择Preferences,会弹出一个设置窗口,在此窗口中需要将图中所示
的选项选中,选择后就可以用Cross来指示有效的LowSpeed信号,具体的设置方
法如图16所示。
图16LowSpeed信号质量测试设置方法
(2)Droop测试
这里的Droop测试就和电源中的USB插拔冲击电流和Drop测试内容是一致
的,但是我们通常通过直接插拔U盘来测试VBUS上的电压跌落情况,貝实这种测试方法是不正确的,因为根据USB2.0的标准泄义是当端口上有100mA的负载变化时,VBUS上的电压跌落要求小于330mV,这里为什么需要关注VBUS的电压跌落,主要担心USB端口负载的变化影响VBUS电源上苴他器件和USB端口的正常工作。
测试组网如下图所示,需要将测试夹具连接到被测端口,用USB端口给夹具
供电。
需要使用2个探头来来进行测试,一个探头用于Triger,点在负载端口上的
VBUS信号上,另一个探头点在总线的VBUS信号线上。
测试组网如图17所示。
具体的示波器设置,选择Analyze菜单>USB2.0TsetPackage>Measurements>
选择HighSpeed菜单中Droop测试项。
测试时,需要根据实际的应用进行Config设置,如图
18所示。
1)需要选择Port,对应测试夹具上实际使用的Port:
2)Hub菜单选择,一般我们测试的都是Host,所以选择BusPowered:
3)SelectSource选择,需要选择Live/Ref,英中的VBus需要对应上实际使用的探头对应的通道,Trigger选择点在被测端口的通道上。
设置完后,按下RUN,此时需要将测试夹具上的选择开关从无负载拨到有负载的情况,以便能让示波器抓到电压Droop信号。
图18Droop测试时示波器设置测试到的波形如图19所示,最后软件会测试到实际的电压Droop。
图19Droop测试波形
(3)Chirp测试
USB全速外设备和低速外设是通过在D+或D-数据线上上拉1.5K的电阻予以区别,D+上拉为全速外设,D-上拉为低速外设。
高速外设的识别则比较复杂,需要通过主机与高速外设握手才能识別。
本篇对髙速USB握手进行说明。
高速外设最初以全速外设的形式出现,即:
高速外设在插入USBHUB/HOST时D+数据线上拉1.5K的电阻:
髙速握手成功之后,外设与主机进入高速模式。
如果握手不成功,则返回全速模式:
在髙速握手过程中,USBHUB/HOST要判立与其相连的外设是否支持高速模式,外设也要判立USBHUB/HOST是否支持高速模式。
下而将具体说明髙速设备的握手过程,其整个过程如图20所示。
2)USBHUB/HOST检测到插入的外设为全速外设后,复位总线。
即:
向总线发送SE
0。
此SE0的持续时间不得小于2.5微秒。
本例的SE0持续时间为3.63微秒:
3)髙速外设检测到总线上SE0的持续时间不小于2.5微秒后,向总线发送ChirpK信
号。
此ChirpK信号的持续时间不小于1亳秒且不大于7亳秒。
本例的ChirpK信号持续时间为2亳秒;
4)高速外设发送ChirpK信号结束后,总线回复到SE0状态。
如果USBHUB/HOST支持
高速模式,则必须在ChirpK信号结束后100微秒内做出响应。
本例中USBHUB/HOST在ChirpK信号结朿后58.23微秒时做出了响应;
5)HUB/HOST在ChirpK信号结朿后100微秒内做出了响应,向总线发送连续的ChirpK
/J对,每个ChirpK信号或ChirpJ信号的宽度不小于40微秒且不大于60微秒(本例为50-60微秒之间),每2个相邻的ChirpK和ChirpJ信号之间的间隔不应大于2.5微秒。
6)高速外设在检测到连续的最少3对ChirpK/J对后,在500微秒内必须断开D+上的上
拉电阻,并连接D+和D-上对地的髙速端接电阻,完成高速握手,进入髙速传输模式。
在USB标准组织中,对EL_33,EL_34,EL_35这三个参数有要求,EL_33是指Chirp
ResponseTime,指髙速Device做出Chirp
K信号响应结朿后,至IJHOST做出响应的时间,标准要求小于100us:
EL_34是指Chirp-K&J
Duration,指HOST和Device连续发送每个ChirpK信号或ChirpJ信号的宽度,标准要求在
40us和60us之间;EL_35是指从HOST发送Chirp-
J/K结束到HOST发送SOF信号开始的时间,标准要求在lOOus和500us之
间。
目前TEK示波器软件只能测试EL_33,
EL_34这两个参数,EL_35需要手动测量。
实际用TEK示波器测试Chirp的结果如图
21所示。
Chirp-TestResultsinTekformat
Ocvioe?
bViSperdzHee*8.33且.34T^rgzDunmyO\Ue.
DatRFdMr3DM:
27:
29GMT2012
CWTestResult:
P--
6讣孜““"陀
Ti険<-iroaxCM5
bdrp■畑Dugs
的力323SS25D.4183X6
ooxcq^stoajxxraxs
图21USBChirp测试结果
4、结论、解决方案及效果
本文主要介绍了USB2.0作为HOST时的接口指标测试。
在实际测试的过程中,有三个地方需要关注:
1)在测试USB眼图时,要注意眼图模板的选择,不同的测试场景,模板都不一样;2)USB电压Droop测试,之前一直都是遍历已有编码的U盘和USB接口设备,但是也未能遍历市场上,形形色色的USB接口设备,其实USB标准组织是对USB设备的容性负载做了限制的,我们只需要用标准左义的负载去测试,就能保证我们设备的USB接口能对接标准的USB接口设备;3)之前在测试USB接口指标是,很少有人会关注Chirp测试项,该测试项在USB标准组织中也是需要测试,而且目前的TEK示波器并不能把所有的参数测试完全,需要自己手动去测量一个参数。
4、经验总结、预防措施和规范建议
在测试标准的接口指标时,我们一立要研究接口的规范及各种立义,需要了解行业在做这个接口认证时,需要测试哪些项,认证组织有测试的项,我们的设备也必须要测试,这样在去做认证时,心里才会有底气。
5、备注
参考文献:
(1)USB-IFUSB20ElectricalTestSpecO81OO5.pdf
(2)Host_HS_test_procedure_Rev14.pdf
(3)UniversalSerialBusSpecification.pdf