ENVI下的统计分析功能.docx

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ENVI下的统计分析功能

ENVI下的统计分析功能

（2011-05-1114:

15:

13）

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标签：

envi

统计功能

感兴趣区统计

背景

it

分类：

ENVI

ENVI下的统计分析功能

图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。

ENVI的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计，统计结果以数字报表或文件形式给出。

1.图像像素统计

统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等

1）直接统计

（1）快速统计

快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。

在AvailableBandList下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击QuickStatics即可弹出统计界面。

基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。

选择绘图函数

左键的曲线信息查看

中键（滚轮）按下拉框放大

右键弹出图像绘制参数设置功能菜单

可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。

设置绘图显示参数

查看统计报表

（2）完整统计

选择菜单[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics]，选择文件后弹出统计界面。

统计类型包括

BasicStats（基本统计：

最大值、最小值、均值和标准差）

Histograms：

直方图；

Covariance：

协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量；

CovarianceImage：

生成协方差、相关系数和本征向量文件；

OutputtoaStatisticsFile：

生成.sta文件，可通过主菜单[Basic]-[Statics]-[ViewStaticsFile]查看；

OutputtoaTextReportFile：

统计结果输出为文本文件；

ReportPrecision：

设置统计精度（浮点数小数点个数）；

2）去除背景值

很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。

（1）感兴趣区统计

ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的[Overlay]-[RegionOfInterest]。

对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具上的Statics按钮。

需要注意，点击[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics]功能选择文件时，若选择ROI，则统计的是ROI的最小外包矩形范围内的图像。

（2）掩膜统计

统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。

掩膜创建方式：

[BasicTools]-[Masking]-[BuildMask]，选择显示窗体后弹出掩膜定义界面。

掩膜创建可选择菜单[Options]下的选项，可以选择数据范围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。

点击[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics]功能选择文件时，选择掩膜文件即可。

3）统计扩展补丁

 如需要单独忽略特定值的统计，可以使用统计扩展补丁。

4）多波段统计

多波段影像的波段间统计可以点击主菜单[BasicTools]-[Statistics]-[SumDataBands]，弹出操作界面。

可选择波段间的计算函数，有Sum（求和）、Sum^2（平方和）、Mean（波段平均值）、StandardDeviation（标准差）、Variance（方差）、Skewness（偏斜度）、Kurtosis（峰度）和MeanAbsoluteDeviation（平均绝对偏差）。