完整版单板硬件调试报告.docx

完整版单板硬件调试报告.docx

《完整版单板硬件调试报告.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《完整版单板硬件调试报告.docx（19页珍藏版）》请在冰点文库上搜索。

完整版单板硬件调试报告

xxx有限公司

文档中心

产品版本

密级

产品名称：

共15页

XX单板硬件调试和单元测试报告

（仅供内部使用）

拟制:

日期：

yyyy-mm-dd

审核:

日期：

yyyy-mm-dd

审核:

日期：

yyyy-mm-dd

批准:

日期：

yyyy-mm-dd

日期

版本

描述

作者

2001-06-08

1.00

初稿完成

作者名

yyyy-mm-dd

1.01

修改XXX

作者名

yyyy-mm-dd

1.02

修改XXX

作者名

……

……

……

……

yyyy-mm-dd

2.00

修改XXX

作者名

1概述

6

1.1基本情况介绍

6

1.2单板模块划分

6

1.3调试测试组网图

6

1.4调试时间、地点及人员

6

2调试测试用例记录

6

2.1功能部分调试

6

2.1.1模块1

6

2.1.1.1调试用例1

6

2.1.1.2调试用例2

6

2.1.2模块2

6

2.1.3问题列表

7

2.2信号质量测试用例

7

2.2.1电源

8

2.2.1.1测试数据

8

2.2.1.2测试波形及分析

8

2.2.1.3问题列表

8

2.2.2逻辑信号

9

2.2.2.1测试结果

9

2.2.2.2测试波形及分析

9

2.2.2.3问题列表

9

2.2.3时钟信号

10

2.2.3.1测试结果

10

2.2.3.2实测波形及分析

10

2.2.3.3问题列表

10

2.3时序测试用例

10

2.3.1CPU接口部分时序

11

2.3.1.1测试结果

11

2.3.1.2测试时序及分析

11

2.3.2业务接口部分时序

11

2.3.2.1测试结果

11

2.3.2.2测试时序及分析

12

2.3.3问题列表

12

2.4失效器件原因分析

12

3调试测试总结

12

3.1调试测试结果

12

3.2遗留问题报告

13

3.3调试测试经验总结

14

4其他

14

5评审报告

14

表目录

表1有问题信号记录表格

9

表2有问题信号记录表格

10

表3有问题信号记录表格

10

表4时序测试遗留问题

12

表5调试测试结果统计一

12

表6调试测试结果统计二

12

表7调试测试问题列表

13

表8信号质量遗留问题统计表

13

表9时序遗留问题统计表

13

表10功能遗留问题统计表

13

图目录

图1XX图

6

文档名称

关键词：

调试测试、计划、其它关键词

摘要：

缩略语清单：

对本文所用缩略语进行说明，要求提供每个缩略语的英文全名和中文解释。

概述

（本章节内容在计划模板中都有体现，在确保内容没有改变的情况下，可以直接拷贝）

1.1基本情况介绍

简单介绍产品，并说明单板正式名称和PCB版本号。

1.2单板模块划分

从调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况，以及各个模块的功能和相互关系。

1.3调试测试组网图

简单描述调试测试的组网图。

可以配以插图进行说明。

1.4调试时间、地点及人员

描述本次调试的时间，地点和开发调试人员。

2调试测试用例记录

2.1功能部分调试

2.1.1模块1

2.1.1.1调试用例1

调试用例编号：

AAA-UT-CCC-NNN

调试项目：

可以用模块名或者调试大项命名

调试子项目：

具体的调试描述

检查点、应达到的要求、指标和预期结果：

执行中的其他说明：

调试人员：

时间：

实测结果：

差异说明：

说明以下差异及每个差异的原因：

被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间的任何差异；

实际调试活动与调试计划之间的任何差异。

调试测试是否通过：

（OK,POK,NG，NT）

1.1.1.1调试用例2

.....

1.1.2模块2

...........

1.1.3问题列表

1.2信号质量测试用例

信号质量测试要保证全面性，即单板上的每个信号都要保证测试到，为了保证测试不遗漏，可以先将单板按照功能模块划分，并列举出每个功能模块中的器件，每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类，要列出每类信号的的判断标准，随后给出测试记录的表格。

功能模块的划分可以为：

电源模块、时钟模块、交叉模块、业务处理模块、接口模块、CPU控制模块、主备倒换模块等等，或者参照前面“2.单板硬件功能模块划分”。

对于不同的模块，包含或涉及到不同类型的信号，芯片对不同信号的质量要求是不一样的，例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等；对时钟信号的质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频率、抖动等；对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲等；对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。

信号质量的测试点要选在信号的终端。

在表格中结果判断一栏中，注明OK、POK、NG、NT，其中：

OK：

测试结果全部正确

POK：

测试结果大部分正确

NG：

测试结果不通过

NT：

由于各种原因本次无法测试

以下的测试结果记录中，对测试通过的信号，只要求提供其列表；测试不通过的信号，要求提供测试波形记录、原因分析、解决措施和解决计划。

以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准，可作为信号质量判断的标准，同时需要参考器件手册；以下给出的标准与芯片要求不符的，以芯片要求为准，并要求在芯片的测试实测记录前，列出其特殊要求。

信号标准特性

信号类型

VCC

VOH

VIH

VT

VIL

VOL

TTL、ABT

5

2.4

2

1.5

0.8

0.4

LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV

3.3

2.4

2

1.5

0.8

0.4

CMOS

5

4.44

3.5

2.5

1.5

0.5

PECL

5

4.19

3.87

3.7

3.52

3.05

LVPECL

3.3

2.42

2.06

2

1.94

1.58

GTL

——

1.2

0.86

0.8

0.75

0.4

GTL+

——

1.5

1.05

1

0.95

0.4

ETL

5

2.4

1.6

1.5

1.4

0.4

BTL（低电平为1V）

——

2.1

1.62

1.55

1.47

1.1

通用信号规范

信号类型

正向过冲

负向过冲

正向回冲

负向回冲

正向毛刺

负向毛刺

边沿特性①

实测VIH要求

实测VIL要求

PECL

<0.2V

<0.2V

>3.87V

<3.52V

<3.52V

>3.87V

必须单调

>3.87

<3.52

TTL

<1V

<1V

>2.4V

<0.8V

<0.8V

>2.4V

必须单调

>3V

<0.6V

TTL（3V）

<0.6V

<0.6V

>2.4V

<0.8V

<0.8V

>2.4V

必须单调

>2.8V

<0.6V

CMOS

<1V

<1V

>3.5V

<1.5V

<1.5V

>3.5V

必须单调

>3.5V

<1.0V

GTL+

<0.4V

<0.4V

>1.2V

<0.3V

<0.3V

>1.2V

必须单调

>1.4V

<0.4V

GTL

<0.3V

<0.3V

>0.95V

<0.25V

<0.25V

>0.95V

必须单调

>1.15V

<0.3V

①边沿特性：

对通用信号中的控制信号一般要求边沿必须单调；对数据、地址等信号可结合时序的测试结果来作相应的要求。

通用时钟信号规范*

信号类型

占空比

上升单调性

上升时间

下降单调性

下降时间

抖动特性

PECL

40%-60%

必须单调

必须单调

待定。

建议：

对于存在指标规定的信号，应满足指标；无指标规定或无法明确界定的情况下，应满足可靠性要求。

TTL

40%-60%

必须单调

必须单调

TTL（3V）

40%-60%

必须单调

必须单调

CMOS

40%-60%

必须单调

必须单调

GTL+

40%-60%

必须单调

必须单调

*：

通用时钟信号规范描述了时钟信号要特殊关注的特性，测试中要注意，时钟信号必须同时满足信号标准特性和通用信号规范。

1.1.1电源

1.1.1.1测试数据

幅度允许变化范围

VCC1推荐电源电压*

纹波

地线噪声（VP-P）

幅度允许变化范围

VCC2推荐电压*

纹波

地线噪声（VP-P）

要求指标

±5%

±5%

±12%

±5%

±5%

±12%

实测值

*：

单电源工作的不分VCC1、VCC2等

1.1.1.1测试波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形，实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见图XX。

参考表格如下：

±í1有问题信号记录表格

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1.1逻辑信号

1.1.1.1测试结果

1.接口模块

U1：

信号名/网络名

测试点（管脚）

结果判断

备注

如：

CLK

U1－1

OK

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

U2：

信号名/网络名

测试点（管脚）

结果判断

备注

如：

CLK

U1－1

OK

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

U3：

。

。

。

。

。

。

2.业务处理模块

3.XXX模块

1.1.1.1测试波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见图XX。

参考表格如下：

±í1有问题信号记录表格

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1.1时钟信号

1.1.1.1测试结果

信号名/网络名

测试点（管脚）

结果判断

备注

如：

CLK

U1－1

OK

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

1.1.1.1实测波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见图XX。

参考表格如下：

±í1有问题信号记录表格

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1时序测试用例

时序测试包括了CPU的读写时序、存储器的操作时序、业务处理器件的数据输入输出时序等。

具体应按单板实际设计进行划分。

在时序测试之前要列出涉及到时序要求的器件,如U3，U4……；然后可按照器件分别来记录时序测试结果，在记录每个器件的测试结果之前，与信号质量测试类似，也要先列出器件对时序的要求。

表中标识符应与器件手册对应。

在表格中结果判断一栏中，注明OK、POK、NG、NT，其中：

OK：

测试结果全部正确

POK：

测试结果大部分正确

NG：

测试结果有较大的错误

NT：

由于各种原因本次无法测试

1.1.1CPU接口部分时序

1.1.1.1测试结果

（下面表形式供参考使用，也可直接分别给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划）

参数

标识符

最小值要求（ns）

最大值要求（ns）

实测值（ns）

结论

改进措施

修改计划

命令（/CS，/RAS，/CAS，/WE，DQM）的建立时间

tCS

修改计划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完成日期。

命令（/CS，/RAS，/CAS，/WE，DQM）的保持时间

tCH

地址建立时间

tAS

地址保持时间

tAH

数据数据建立时间

tDS

数据数据保持时间

tDH

……

1.1.1.1测试时序及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.2业务接口部分时序

1.1.2.1测试结果

（下面表形式供参考使用，也可分别直接给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划）

参数

标识符

最小值要求（ns）

最大值要求（ns）

实测值（ns）

结论

改进措施

修改计划

时钟周期

tCK

修改计划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完成日期。

数据数据建立时间

tDS

数据数据保持时间

tDH

帧建立时间

帧保持时间

……

1.1.1.1测试时序及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.2问题列表

将有问题的信号列举出来，如果完全满足情况，填写“无”。

±í1时序测试遗留问题

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1失效器件原因分析

描述对关键器件的失效分析结果和可靠性改进和预防措施。

2调试测试总结

2.1调试测试结果

对本次调试的项目进行总结，包括完成总项数，通过多少项，失败多少项，部分通过多少项及百分比等，详细的调试项目通过情况清单应放在附件部分，并在此处说明该附件的位置。

此处的总结一般用以下表格进行表现：

±í1调试测试结果统计一

计划测试项

新增测试项

实际测试项

计划花费时间

（人时）

实际花费时间

（人时）

±í1调试测试结果统计二

总项目数

OK项

POK项

NG项

NT项

数目

百分比

其中：

OK：

测试结果全部正确

POK：

测试结果大部分正确

NG：

测试结果有较大的错误

NT：

由于各种原因本次无法测试

总结调试的结果，确定所有已解决了的问题，并对解决结果进行总结，确定未解决的问题。

为每个被测对象给出总结性的评价，包括其局限性，评价必须基于调试结果和被测对象的通过/失败准则。

对失败风险的估计应包括在内。

总结主要的调试活动和事件。

总结资源消耗数据，如总人员、总机时，每个主要调试活动花费的时间。

1.1遗留问题报告

遗留问题是指调试过程中发生的并且在调试报告时仍没有得到解决需要投下一版PCB回归测试验证的问题。

建立遗留问题统计表格，可对遗留问题数和级别进行统计，包括问题总数，致命，严重，一般和提示问题的数目及百分比等，遗留问题统计一般可用以下表格描述，其中的字段可根据实际情况进行设计和裁剪。

±í1调试测试问题列表

总共发现问题总数

致命问题

严重问题

一般问题

提示问题

问题分四个级别来定义，各级别含义如下：

致命：

引起系统死机或系统崩溃的问题

严重：

引起系统某一功能失效且不能简单恢复（如插拔单板）的问题

一般：

引起系统某一功能失效但可简单恢复或较难重现的问题

提示：

从操作或维护的角度发现的问题或建议

±í1信号质量遗留问题统计表

问题总数

致命问题

严重问题

一般问题

提示问题

其他统计项

数目

百分比

±í1时序遗留问题统计表

问题总数

致命问题

严重问题

一般问题

提示问题

其他统计项

数目

百分比

±í1功能遗留问题统计表

问题总数

致命问题

严重问题

一般问题

提示问题

其他统计项

数目

百分比

问题分四个级别来定义，各级别含义如下：

致命：

引起系统死机或系统崩溃的问题

严重：

引起系统某一功能失效且不能简单恢复（如插拔单板）的问题

一般：

引起系统某一功能失效但可简单恢复或较难重现的问题

提示：

从操作或维护的角度发现的问题或建议

1.1调试测试经验总结

2其他

对于模拟和射频部分以及其它关键内容，由于其要求不一，根据实际设计的要求，根据模拟、射频部分的测试用例，要求粘贴测试记录，分析测试结果，总结测试问题。

3评审报告

开发组长应及时组织对单板硬件调试与单元测试报告的评审，按照单板硬件调试与单元测试过程的CHECKLIST文档，进行审核。

并将评审报告记录在这里。

参考资料清单：

请罗列本文档所参考的有关参考文献和相关文档，格式如下：

作者＋书名（或杂志、文献、文档）＋出版社（或期号、卷号、公司文档编号）＋出版日期+起止页码

例如：

[1]D.B.Leeson,“ASimpleModelofFeedbackOscillatorNoiseSpectrum,”Proc.IEEE,pp329-330,February1966（英文文章格式）

[2]D.Wolaver,Phase-LockedLoopCircuitDesign,PrenticeHall,NewJersey,1991（英文书籍格式）

[3]王阳元，奚雪梅等，“薄膜SOI/CMOSSPICE电路模拟”，电子学报，vol.22，No.5，1994（中文文章格式）

[4]郑筠，《MOS存储系统及技术》，科学出版社，1990（中文书籍格式）

[5]XXX，SDXXX用户手册V1.1，基础部文档室，2001/4/26