距离波幅曲线的主要用处是Word文档格式.docx
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）60°
横波入射到端角时超声波能量反射最低，故应
避免使用。
203.（0
）探测根部未焊透缺陷时一般不宜选
用折射角为60°
的斜探头。
204.（0
）采用双探头串列法扫查焊缝时，位于焊缝深度方向
任何部位的缺陷，其反射波均出现在荧光屏上同一位置。
205.（X
）采用大K值探头时，在焊缝一侧即可扫查到整个焊缝截面，因此没有必要从焊缝另一侧检测。
206.（0
）超声检测时基扫描速度的显示方法可分为声程显示调整法、水平距离显示调整法、深度显示调整法。
207.（0
）在显示屏上调整距离－波幅曲线时,在检测范围内不低于显示屏满刻度的20%
。
208.（X
）在焊接接头超声检测中，可以用降低检测面光洁度要求，而用提高耦合补偿量的方法来达到检测目的。
209.（0
）在焊接接头超声检测中，探头前端部可能堆积耦合剂而引起回波，
若抹掉探头前端部耦合剂则此波消失。
210.（0
）在焊接接头超声检测中，为了确认焊角干扰回波,可用手指沾上耦合剂敲打焊角位置。
211.（X）端点6dB
法适用于测长过程中缺陷波中只有一个高点的情况。
212.（X
）在焊缝超声检测中，波幅在判废线或判废线以上的缺陷予以判废和返修，因此无需测长。
213.（0
）焊缝横波检测在满足灵敏度要求的情况下，应尽可能选用K值较大的探头。
214.（0
）探头环绕扫查时，回波高度几乎不变化，则可判定为点状缺陷。
（0）
215.（0
）由于管座角焊缝中危害最大的是未熔合和裂纹等纵向缺陷，因此一般以纵波直探头探测为主。
216.（0
）焊缝横波检测时，裂纹等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包络较宽。
217.（0
）超声波检测焊缝时,对所发现的缺陷必须测量其指示长度是为了便于评价与返修。
218.（0
）根据焊缝的实际情况，有时采用斜探头进行超声检测，有时则应当采用直探头进行超声检测。
219.（X
）焊缝超声检测中，裂纹的回波比较尖锐，探头转动时，波很快消失。
220.（X
）小径管通常采用V型坡口，未熔合多出现在坡口面上，一般一次波超声检测容易检出，位置位于探头一侧。
221.（X
）在役部件超声波检测主要是探测疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹。
222.（X
）钢锻件的超声检测原则上安排在热处理前进行。
223.（0
）灵敏度余量、盲区、分辨力是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标。
224.（X
）所有超声波检测，只需要用一次回波就能调节好时基线。
225.（0
）超声波检测作业中,完成时基扫描线校正（
俗称定标"
）后,始波前沿应落在水平刻度零点的左边。
226.（X
俗称"
定标"
）后,始波前沿应恰好落在水平刻度零点上。
227.（0
）CSK-IA试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定斜探头的分辨力。
228.（X
）CSK-IA试块可以用于测试纵波直探头的分辨力，不能用于测试横波斜探头的分辨力。
229.（0
）超声波检测仪的动态范围应是回波幅度从100%下降至刚能辨认之最小值，一般不小于26dB。
230.（0
）利用CSK-IA试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。
231.（O
）JB/T4730-2005标准适用于制造和安装承压设备的无损检测。
232.（X
）JB/T4730-2005标准不适用于在用承压设备的无损检测。
233.（X
）超声对比试块是指用于超声仪器系统性能校准的试块。
234.（O
）扫查灵敏度主要是指实际检测灵敏度。
235.（X
）基准灵敏度主要是指实际检测灵敏度。
236.（O
）缺陷自身高度是指缺陷在壁厚方向的尺寸。
237.（X
）超声检测主要用于承压设备表面和内部缺陷的检测。
238.（O
）当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位检测时，应按各自的方法评定级别。
239.（O
）当采用同种检测方法按不同工艺进行检测时，如果
检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。
240.（X
）超声检测通常能确定缺陷的位置和性质。
241.（O
）进行承压设备无损检测的机构，
均应制定符合要求的无损检测工艺规程。
242.（X
）无损检测工艺规程包括工艺规程和工艺卡。
243.（O
）超声检测记录和报告等保存期不得少于7年。
7年
后，若用户需要可转交用户保管。
244.（
）JB/T4730-2005标准规定，超声检测仪器应每年检定一次。
245.（O
）超声检测的记录应准确、完整，并经相应责任人员签字认可。
246.（
）JB/T4730.3-2005标准规定，从事超声检测的人员应每年检查一次视力，不得有色盲。
247.（O
）与承压设备有关的支撑件和结构件的超声检测，也可参JB/T4730.3-2005标准。
248.（
0）JB/T4730.3-2005标准不适用于TOFD超声检测。
249.（X
）JB/T4730.3-2005
标准适用于非金属材料制承压设备的超声检测。
250.（O
）用于承压设备超声检测的单斜探头，
主声束垂直方向不应有明显的双峰。
251.（O
）超声检测所确定的检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。
252.（O
）扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。
253.（O
）耦合剂除了透声性好外，还应不损伤被检工件的表面。
254.（X
）耦合补偿是指由于材质衰减引起的检测灵敏度下降而进行的补偿。
255.（O
）仪器调试时，应使探头主声束垂直对准反射体的反射面。
256.（X
）应每隔半年至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定。
257.（X
）新购探头若有性能参数说明书，使用前不用测定前沿距离。
258.（
O
）斜探头每次使用前，均应测定前沿距离和K值。
259.（O
）检测人员怀疑扫查灵敏度有变化时，应对仪器和探头系统灵敏度进行复核。
260.（X
）连续工作2小时以上时，应对仪器和探头系统灵敏度进行复核。
261.（O
）检测工作结束时，应对仪器和探头系统灵敏度进行复核。
262.（O
）对仪器进行校准时，抑制功能应处于关闭状态。
263.（
0）JB/T4730.3-2005标准规定，检测板厚6～20mm的钢板，应采用双晶直探头。
264.（O
）在检测钢板过程中，对缺陷有疑问或合同双方协议中有规定时，可采用横波检测。
265.（
0）JB/T4730.3-2005标准规定，钢制全熔化焊焊接接头的超声检测技术等级由低到高为A级、B级、C级。
266.（X
）采用一次反射法检测时，探头移动区应不小于2KT。
267.（
X）JB/T4730.3-2005标准规定，焊接接头若采用B级检测必须磨平余高。
268.（
0）JB/730.3-2005标准规定，检测焊接接头时，荧光屏上的距离波幅曲线在检测范围内不低于荧光屏满刻度的20%。
269.（0）JB/T4730.3-2005标准规定，检测焊接接头时，扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。
270.（X
）JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，为了防止缺陷漏检，检测焊缝中纵、横向缺陷必须采用相同
的扫查灵敏度。
二
.单选题
1.
下列叙述中错误的是（B
）。
A.超声波能量高。
B.人耳能听到超声波。
C.超声波方向性好。
D.超声波穿透能力强。
2.下列关于A型脉冲反射法超声波检测的叙述中错误的是（A
A.荧光屏上看到的是透过缺陷后的声波。
B.从荧光屏上可以读出缺陷的埋藏深度。
C.从荧光屏上看不到缺陷的形状。
D.从荧光屏上不能测出缺陷的实际尺寸。
3.关于超声检测叙述中错误的是（A
A.不适用于非金属材料。
B.对人体无害。
C.可以马上出结果，速度快。
D.对平行于检测面的缺陷检出率高。
4.下列叙述中错误的是（C
A.超声检测对具有复杂形状的工件较困难。
B.缺陷在工件中的取向影响检测结果。
C.缺陷在工件中的位置不影响检测结果。
D.工件的晶粒度对检测结果有较大影响。
5.在对金属材料的超声波检测中，使用最多的频率范围是：
（A
）
A.0.5～5MHz。
B.1～1000KHz。
C.10～25
MHz
D.大于20000MHz。
6.下列不同类型的超声波中，能够在固体、液体、
气体中传播的是（B
A.横波。
B.纵波。
C.板波。
D.表面波。
7.当横波在工件中传播时，与波速无关的是：
（D
A.工件的弹性。
B.工件的密度。
C.超声波的波型。
D.超声波的频率。
8.要在工件中得到纯横波，探头入射角必须（C
A.大于第二临界角。
B.大于第一临界角。
C.在第一、第二临界角之间。
D.小于第二临界角。
9.超声波声速c、波长λ与频率f之间的关系为（D
）
A.
c=λf²
B.f=λc。
C.λ=cf。
D.
c=λf。
10.钢中纵波声速为5900m/s若频率为2.5MHz，则其波长为：
（
C
A.5.9mm
B.4.23mm
C.2.36mm
D.1.39mm
11.
脉冲反射法超声波检测主要利用超声波传播过程中的（B
A.散射特性。
B.反射特性。
C.透射特性。
D.扩散特性。
12.材料的声阻抗影响超声波（D
A.在传播时的材质衰减
B.扩散角大小。
C.在传播时的散射
D.在异质界面的反射和透射。
13.当超声纵波由钢垂直向水中入射时，其声压反射率小于0，这意味着：
（
B
A.透射波能量大于入射波能量。
B.反射波与入射波相位相反。
C.超声波无法入射到水中。
D.以上都不对。
14.超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生（
A.只绕射，无反射。
B.既反射，又绕射。
C.只反射，无绕射。
15.超声波倾斜入射到异质界面时，其传播方向的改变主要取决于（D
A.操作者施加于探头的压力大小。
B.超声波的频率。
C.界面两侧介质的衰减系数。
D.界面两侧介质的声速。
16.一般的说，如果频率相同，则在粗晶材料中穿透能力最强的波型为（B
A.表面波。
C.横波。
D.三种波型的穿透力相同。
17.一般均要求斜探头楔块材料的纵波速度小于被检材料的纵波声速，因为只有这样才有可能（A
A.在工件中得到纯横波。
B.得到良好的声束指向性。
C.实现声速聚焦
D.减少近场区的影响。
18.超声波（活塞波）在工件中传播，引起声能衰减的原因是（D
A.工件对超声波的吸收。
B.工件对超声波的散射。
C.声束扩散。
D.以上全部。
19.斜探头直接接触法探测焊接接头时，其横波（B
A.在有机玻璃斜楔块中产生。
B.
在耦合层与焊接接头界面上产生。
C.在有机玻璃与耦合层界面上产生。
从晶片上直接产生。
20.
2.5P20Z直探头在钢中（纵波声速为5900mm）近场区长度为（
A.27.6mm。
B.21.2mm。
C.42.4mm。
D.以上都不对。
21.利用计算法确定缺陷的当量尺寸，前提条件是（
A
A.声程≥3倍近场区长度。
B.声程≥近场区长度。
C.声程≥2倍近场区长度。
D.声程≥未扩散区长度。
22.远场范围的超声波可视为（C
A.平面波。
B.柱面波。
C.球面波。
23.在探测条件相同的情况下，直径比为2的两个平底孔，其回波相差（
D
A.3dB。
B.9dB。
C.6dB。
D.12dB。
24.下列关于同距离处大平底与平底孔的叙述中，正确的是（A
A.在检测条件相同的情况下，大平底的回波高于平底孔的回波。
B.在检测条件相同的情况下，大平底的回波不一定高于平底孔的回波。
C.在检测条件相同的情况下，大平底的回波低于平底孔的回波。
D.在检测条件相同的情况下，大平底的回波与平底孔的回波等高。
25.对比试块是指用于（C
）的试块。
A.探头性能校准
B.仪器性能校准。
C.检测校准。
D.仪器和探头综合性能校准。
26.对缺陷定位、定量都有影响的因素是（D
A.仪器的影响。
B.探头的影响。
C.工件的影响。
D.以上全部。
27.横波斜探头杂波的产生与（A
）有关。
A.吸收块和斜楔设计。
B.压电晶片。
C.外壳形状。
D.电缆线长度。
28.斜探头横波检测缺陷的评定包括（D
A.缺陷水平位置的确定。
B.缺陷深度的确定。
C.缺陷尺寸的评定。
D.
以上三项。
29.横波斜探头检测缺陷指示长度通常采用的扫查方式是（C
A.转动扫查。
B.环绕扫查。
C.左右扫D.前后扫查。
30.斜探头的入射点和折射角在使用中是（A
A.随便用而变化。
B.固定不变。
C.使用方法正确就不变。
D.K值变入射点不变。
31.用半波高度对缺陷进行测量适用于（A
A.缺陷波又有一个高点。
B.缺陷波有多个高点。
C.缺陷长度较大D.缺陷长度较小。
32.采用绝对灵敏度测量法，操作时应注意（A
A.仪器的灵敏度不变。
B.仪器的灵敏度提高6dB。
C.缺陷最高波降到50%
D.探头必须平行移动。
33.分别采用端6dB法和端点峰值法测同一个缺陷的长度，那么（A
A.采用端点6dB法测的长度大。
B.采用端点峰值法测的长度大。
C.长度一样大D.不一定哪个长度大曲线。
34.缺陷当量的评定方法有（D
A.试块对比法。
B.当量计算法。
C.AVG曲线法。
D.以上三项。
35.采用底面回波高度法中F/B法表示缺陷大小，那么（A
A.F大缺陷大。
B.F大缺陷小。
C.B大缺陷大。
D.B小缺陷小。
36.半扩散角大的探头对缺陷定位（B
A.有利。
B.误差大。
C.误差小。
D.无影响。
37.超声检测时，探头扫查速度（A
A.不能太快。
B、不能慢。
C、快、慢都不影响检测结果。
D、要与生产进度相匹配。
38.A型扫描显示中，从荧屏上可直接获取的信息是（C
A.缺陷的性质和大小。
B.缺陷的形状和方向。
C.缺陷回波的大小和传播时间。
D.缺陷的高度。
39.A型扫描显示，盲区是指（C
A.近场区。
B.声束扩散角以外区域。
C.始脉冲高度和仪器阻塞时间。
D.无缺陷区域。
40.A型扫描显示中，水平时基线代表（B
A.超声回波的幅度大小。
B.声波传播时间。
C.缺陷当量大小。
D.缺陷指示长度。
41.发射电路输出的电脉冲，其电压可达（C
A.几伏。
B.几十伏。
C.百伏到上千伏。
D.上万伏。
42.发射脉冲的持续时间叫B
A.脉冲周期。
B.始脉冲宽度。
C.脉冲振幅。
D.仪器阻塞时间。
43.探头上标的2.5MHz是指（B）
A.重复频率。
B.探头工作频率
C.仪器频宽。
D.探头频宽。
44.仪器垂直线性好坏影响（A
A.缺陷当量的比较。
B.缺陷位置的判定。
C.缺陷性质的判定。
D.缺陷高度的测定。
45.仪器“抑制”功能会影响超声检测仪的（D
A.垂直线性。
B.动态范围。
C.波高比。
46.单晶直探头UT与探测面十分接近的缺陷波高不稳定，这是因为（
A.盲区影响。
B.近场干扰。
C.超声的波型转换。
D.材料衰减大。
47.表示超声检测仪与探头组合性的指标有（B
A.水平线性垂直直线型，衰减器精度。
B.灵敏度余量、盲区、远场分辨力。
C.入射点前沿距离。
D.声束偏斜角、K值。
48.探头晶片背面的阻尼块会导致（B
A.灵敏度提高B.分辨力提高。
C.分辨力降低。
D.盲区增大。
49.超声检测系统的灵敏度（A
A.取决于探头、高频、脉冲发生器和放大器。
B.取决于显示系统。
C.取决于压电晶片厚。
D.取决于仪器电路设计。
50.在毛面或曲面工件上作直探头超声检测时，应使用（B
A.硬保护膜直探头。
B.软保护膜直探头。
C.大晶片直探头。
D.大晶片高频探头。
51.双晶探头最主要用途是（A
A.探测近表面缺陷。
B.精确测量。
C.测量缺陷高度。
D.测量表面缺陷。
52.对超声检测试块的基本要求是（D
A.声学性能与被超声检测工件基本一致。
B.无>
φ2mm平底孔当量缺陷。
C.材质均匀。
53.超声检测选用大晶片尺寸的探头，优点是（C
A.曲面超声检测耦合损失小。
B.近场区小。
C.辐射声能大且能量集中。
D.扩散角大。
54.超声检测采用较高的探测频率，有利于（D
A.发现较小缺陷。
B.改善声束指向性。
C.区分相邻缺陷。
55.工件表面形状不同，耦合效果那种说法正确的是（A
A.平面效果最好。
B.凹曲面效果居中。
C.凸曲面效果最差。
D.以上全对。
56.频率一定，材料相同，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是（D
A.与横波质点振动方向有关。
B.横波检测杂波少。
C.横波指向性好。
D.横波波长短。
57.对圆柱形、筒体工件探测时，缺陷定位应（B
A.按平板对接焊缝方法。
B.作曲面定位修正。
C.使用特殊探头。
D.脉冲高20%处。
58.为了检测出垂直于焊缝表面的面积型缺陷，应选用（A
A.大K值探头。
B.小K值探头。
C.高频探头。
D.软保护膜探头。
59.当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸
越大，其反射回波越（B
A.高。
B.低。
C.不一定。
60.直探头纵波超声检测工件上，下表面不平行，会产生（A
A.底面回波降低或消失。
B.底面回波正常。
C.底面回波变宽.D.底面回波变窄。
61,影响耦合的主要因素有（D
）：
A.耦合剂的声阻抗。
B.工件粗糙度。
C.工件几何的形状。
D.以上都是。
62.考虑灵敏度补偿的原因是（D
A.被检工件厚度太大。
B.工件上、下表面不平行。
C.耦合剂声能损耗大。
D.工件与试块材质、表面光洁度有差异。
63.探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用（C
A.声阻抗小，粘度大的耦合剂。
B.声阻抗小，粘度小的耦合剂。
C.声阻抗大，粘度大的耦合剂。
D.声阻抗大，粘度小的耦合剂。
64.锻件超声检测中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（B
A.工件中有大面积倾斜缺陷。
B.工件材料晶粒粗大。
C.工件中有密集缺陷。
D.仪器本身固有波。
65.缺陷反射波声压的大小取决于（D
A.缺陷反射面大小。
B.缺陷性质。
C.缺陷取向。
66.选择探头K值时，应考虑（D
A.使声束能扫查到整个焊缝截面。
B.使声束中心线尽量与主要危险性缺陷垂直。
C.保证有足够的超声检测灵敏度。
67.I级无损检测人员可以（B
A.签发检测报告。
B.记录检测数据。
C.编制工艺卡。
D.评定检测结果。
68.下列关于焊缝超声检测的叙述中不符合JB/T4730.3-2005标准的是（D
A.焊缝表面应经外观检测合格。
B.所有影响超声波检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除。
C.焊缝表面粗糙度应符合要求。
D.母材表面粗糙度Ra≤12.5μm
69.根据JB/T4730.3-2005标准的有关规定，制造、安装的承压设备对接焊接接头超声波检测，缺陷定量主要包括（A
A.缺陷指示长度。
B.缺陷自身高度。
C.缺陷面积。
D.缺陷性质。
70.超声波检测对接接头时，按JB/T4730.3-2005标准规定，若
将绘制好的距离-波幅曲线用于检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高（C
A.3dB
B.8dB
C.6dB
D.12dB
71.根据JB/T4730.3-2005标准规定，超声波检测缺陷类型识别分为（B
A.裂纹、未熔合和未焊透。
B.点状缺陷、线性缺陷、体积状缺陷、平面状缺陷和多重缺陷。
C.缩孔、疏松和裂纹。
D.白点、折叠和夹杂。
72.JB/T473
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