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现代仪器分析复习题.docx

1.热分析方法(热重、差热、差示扫描量热)要求对具体的谱图的分析,从中得出结论。

热重法TG

分析原理:

在控温环境中,样品重量随温度或时间变化

谱图的表示方法:

样品的重量分数随温度或时间的变化曲线

提供的信息:

曲线陡降处为样品失重区,平台区为样品的热稳定区

差热分析DTA

分析原理:

样品与参比物处于同一控温环境中,由于二者导热系数不同产生温差,记录温度随环境温度或时间的变化

谱图的表示方法:

温差随环境温度或时间的变化曲线

提供的信息:

提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息

差示扫描量热分析DSC

分析原理:

样品与参比物处于同一控温环境中,记录维持温差为零时,所需能量随环境温度或时间的变化

谱图的表示方法:

热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线

提供的信息:

提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息

2.扫描电子显微镜SEM,透射电子显微分析TEM,原子力显微镜AFM。

(三者表征方法可以得到哪些信息,其成像的特点以及对样品有何要求)

扫描电镜(SEM):

用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象

要求样品:

1)尽可能保持活体时的形貌和结构;2)样品干燥、表面洁净,在真空和电子束轰击下不挥发和变形;3)具有表面良好的导电性,对不导电或导电性不好的样品,需根据实际情况进行喷金镀膜处理。

得到信息:

可用于观察样品断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构;配合X射线可得到物质本体化学成分信息,如微区元素分析与定量元素分析等。

透射电镜(TEM):

高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出的二维图象。

样品要求:

1)样品干燥,不含水分或挥发性物质;2)制备很薄以利于电子穿过;3)样品在适当溶液中具有良好的分散;4)特殊样品需特殊处理,如切片等。

得到信息:

用于观察物质的超微形貌结构,微粒、微孔的形状结构和大小;配合X射线衍射装置可得电子衍射花样图象,进行微观的物相分析、结构分析;配合X射线能谱仪可进行微区成分分析。

原子力显微镜(AFM):

得到样品表面原子级三维立体形貌图像

样品要求:

样品表面尽量平整,与基片的结合尽可能牢固,必要时可采用化学键合;生理状态的各种物质,在大气或溶液中都能进行。

得到信息:

用于研究材料的各种表面结构,测试其硬度、弹性、塑性等力学性能及表面摩擦性质。

3.X射线粉末衍射法XRD的基本原理,适用于什么样的样品?

进行样品的物相分析过程如何及其应当注意哪些问题。

衍射原理:

Bragg方程2dhklsinθ=nλ,对于每一套指标为hkl、间隔为d的晶格平面,其衍射角和衍射级数n直接对应。

适用样品:

多晶、粉末、混合物、固溶体

物相分析:

根据X射线照射到晶体上所产生的衍射图样特征来鉴定晶体物相的方法。

具体是指确定材料由哪些相组成(物相定性分析)和含量(物相定量分析)。

物相分析基本原理:

物质的X射线衍射花样特征是分析物质相组成的“指纹脚印”。

制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,这就是物相定性分析的基本原理与方法。

物相分析过程:

认识仪器—制样(磨细制成片)—设定参数—测定X射线衍射图—寻峰、平滑、打印谱图—利用Fink和Hanawalt索引对所测样品进行物相分析(检索PDF卡片)—解析谱图(核对标准卡片与物相判定)

定性阶段:

制备样品,一般可制成粉末、薄膜、块状或片状;用照相法、粉末衍射法获取被测试样物相的衍射花样;从衍射图样获得2θ、d和I/I1值,要求进行高精度的测量计算;使用检索手册,查PDF卡片或计算机检索,从而确定其物相。

定量阶段:

选择标准物相(内标法或外标法);进行内标曲线的测定;测定内标物衍射强度和试样衍射强度;计算物相质量分数。

注意的问题:

1、对试样分析前应尽可能了解试样的来源、化学成分、工艺状况、仔细观察其外形、颜色;2、多相物质定性分析时,为避免衍射线的重叠,提高粉末照相和衍射仪的分辨率3、尽可能根据样品的性能,在样品分析前将其分离成单一的物质;4、制样时要确保样品研细均匀,制好的样品要求表面平整光滑;5、在定性分析过程中以d值为主要依据,而相对强度仅作为参考依据;6、分别测量小角和广角,因为低角区的衍射清晰,重叠的几率较小;7、注意与其他方法的联用;8、XRD只能确定某相的存在,而不能确定某相的不存在;9、看图谱时,要注意所用的靶材料,如果与参比的图谱所用的靶材料不一样,要进行转换,否则会有位移;10、在物相位三相以上时,一般在电脑上直接检索,或引用参考文献;11、任何一种晶体材料的点阵常数与它所处的状态有关,即T、P以及化学成分。

X射线衍射即XRD

X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。

晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。

由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

满足衍射条件,可应用布拉格公式:

2dsinθ=λ

应用已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

4.程序升温技术TPAT包含哪些?

每种技术测量参数是什么?

操作的主要参数是什么?

对得到的具体曲线会分析。

程序升温技术的种类:

程序升温脱附(TPD)、程序升温还原(TPR)、程序升温氧化(TPO)、程序升温硫化(TPS)、程序升温表面反应(TPSR)、程序升温分解、程序升温碳化、热重分析(TG)、差热分析(DTA)、差示扫描量热法(DSC)。

每种分析技术的主要参数:

载气流速、升温速率,其中:

TPD的6个参数:

1、载气流速(或抽气速率);2、反应气体/载气的比例(TPR);3、升温速率;4、催化剂颗粒大小;5、吸附(反应)管体积和几何形状;6、催化剂“体积/质量”比

TPD操作参数:

惰性载气的流速一般控制在30-100ml/min,升温速率为10-15K/min。

TPR、TPO:

载气流速、升温速率、催化剂重量

曲线获得的信息:

表面吸附中心类型、密度和能量分布;吸附分子和吸附中心的键合能和键合态;催化剂活性中心类型、密度和能量分布;反应分子的动力学行为和反应机理;活性组分和载体、活性组分之间、活性组分和助催化剂、助催化剂和载体之间的相互作用;各种催化效应、助催化效应、协同效应、载体效应、溢流效应、合金化效应;催化剂失活和再生等。

5.固体表面酸性的测定方法有哪些?

每种方法有什么特点?

测定方法:

1、吸附指示剂正丁胺滴定法:

此法操作简单,可表征酸量和酸强度,但这个方法从理论依据到试验操作都有不少缺陷,如到达吸附平衡耗时长等。

2、程序升温热脱附法:

该技术最普遍,如碱性气体吸附—脱附法(TPD技术),常用的有NH3-TPD和吡啶吸附,其中NH3-TPD可用于测量酸量和酸强度,最适合表征多相催化剂的表面酸度分布。

3、探针分子吸附红外光谱法:

利用红外光谱可以研究固体表面的酸性,可判断出表面酸性的部位是L酸还是B酸,L酸的特征吸收峰1450cm-1;B酸的特征吸收峰为1540cm-1,常用的吸附碱介质为NH3、吡啶、三甲基胺等碱性吸附质,但对同一固体表面上酸强度的变化的研究还比较缺乏。

4、吸附微量热法(能定量的测得表面算的酸量和强度,但不能直接区分B酸和L酸,实验耗时长,仪器贵,吸附热产生的来源比较复杂)。

5、热分析方法(TG、DTA、DSC)

6、核磁共振谱(1H、27Al)等

测定B酸和L酸:

碱性分子在B酸中心吸附形成离子键;在L酸中心吸附形成配位键。

吸附吡啶时,L酸位、B酸位的特征吸收峰分别为1450cm-1、1540cm-1,但对同一固体表面上酸强度的变化的研究还比较缺乏。

吸附氨时,L酸部位和B酸部位的伸缩振动分别在3330cm-1和3230cm-1,变形振动分别在1610cm-1和1430cm-1处。

测定L酸和B酸位时,采用原样压片,不加KBr。

可以利用氨、吡啶、三甲基胺和正丁胺等碱性吸附质。

6.理解化学吸附与物理吸附的区别?

掌握孔结构表征方法全过程(BET,全吸附测定,预处理条件等)。

(1)物理吸附:

吸附力是由固体和气体分子之间的范德华引力产生的,一般比较弱。

吸附热较小,一般在几个KJ/mol以下。

吸附无选择性,吸附稳定性不高,吸附与解析速率都很快。

吸附不需要活化能,吸附速率并不因温度的升高而变快。

吸附可以是单分子层,也可以是多分子层。

(2)化学吸附:

吸附力是由吸附剂与吸附质分子之间产生的化学键力,一般较强。

吸附热较高,一般在40KJ/mol以上。

吸附有选择性,吸附很稳定,一旦吸附,就不易解吸。

吸附是单分子层的。

吸附需要活化能,温度升高,吸附和解吸速率加快。

化学吸附相当于吸附剂表面分子与吸附质分子发生了化学反应,在红外、紫外—可见光谱中会出现新的特征吸收带。

孔结构表征方法全过程:

孔结构测试方法:

蒸汽物理吸附法、压汞法、X射线小角度衍射法、电子显微镜观察法、气泡法、离心力法、透过法、核磁共振法等。

孔吸附类型:

Langmuir吸附和BET吸附,通常采用BET吸附处理(对于在77K温度进行的N2静态吸附,当0

若仅测比表面积,则只要用静态吸附法(P/P0=0.05-0.35);若要测定比表面积、孔结构、孔径、孔体积,则应用全吸附(P/P0=0.05-1)。

对于未知体系,先做热重分析,在不知为介孔还是微孔物质,则先采用介孔模型来测,结果如果显示在微孔范围,应重新采用微孔模型测定。

通过吸附—脱附等温曲线来判断孔的类型。

孔径分布测定:

做等温吸附—脱附曲线,根据曲线类型选择孔径计算方法。

微孔,选吸附剂做孔分布,计算模型为HK、MP、t-plot;介孔(有滞后环),选脱附剂做孔分布,计算模型为BJH。

研究表明,在临界温度下(77K)氮气分子在多孔物质表面的吸附情况依赖于孔尺寸,当多孔物质孔径为2nm时,氮分子在孔壁上发生多层吸附,这时曲线中没有滞后环;当样品的孔径为2.0~3.6nm时,氮分子吸附分为两步,即孔壁表面多层吸附和孔腔内毛细凝结,这种凝结仍然不会使吸附曲线出现滞后环;当孔径大于3.6nm时,大量的毛细凝结将发生,使吸附曲线表现出明显的滞后环。

7.电子顺磁共振原理,对简单谱图要会解析。

电子顺磁共振(ESR):

是直接检测和研究含有未成对电子顺磁性物质的一种波谱学技术,可用于从定性和定量方面检测物质原子或分子中所含的不配对电子,并探索其周围环境的结构特性。

基本原理:

含未成对电子的物质,在没有外加磁场作用时,这些未成对电子的取向是随机的,它们处于相同的能量状态,受外加磁场作用时发生能级分裂,称为齐曼分裂,能级分裂的大小与外加磁场强度成正比。

此时,如果在垂直磁场B的方向上施加频率为v的电磁波,当满足hv=gβH,则样品处于上下两能级的电子发生受激跃迁,即低能级的电子吸收电磁波能量而跃迁到高能级,这便是电子顺磁共振。

谱图:

设n为磁性核的个数,I为它的核自旋量子数,原来的单峰波谱便分裂成(2nI+1)条谱线,相对强度、裂分服从二项式展开规律,强度以中心线为最强,并以等间距向两侧分布。

对象:

①在分子轨道中出现不配对电子(或称单电子)的物质。

如自由基(含有一个单电子的分子)、双基及多基(含有两个及两个以上单电子的分子)、三重态分子(在分子轨道中亦具有两个单电子,但它们相距很近,彼此间有很强的磁的相互作用,与双基不同)等。

②在原子轨道中出现单电子的物质,如碱金属的原子、过渡金属离子(包括铁族、钯族、铂族离子,它们依次具有未充满的3d,4d,5d壳层)、稀土金属离子(具有未充满的4f壳层)半导体中的空穴或电子、晶格缺陷等。

电子顺磁共振波谱法ESR

分析原理:

在外磁场中,分子中未成对电子吸收射频能量,产生电子自旋能级跃迁

谱图的表示方法:

吸收光能量或微分能量随磁场强度变化

提供的信息:

谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数,提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息

8.表面分析技术有哪些?

可以得到什么信息?

能对具体谱图进行分析。

要求对简单的XPS谱图进行解析。

表面分析技术:

俄歇电子能谱分析(AES)、紫外光电子能谱(UPS)、X射线光电子能谱分析(XPS)

得到的信息:

俄歇电子能谱(AES):

当X射线或者高能电子打到物质上以后,能以一种特殊的物理过程(俄歇过程)释放出二次电子——俄歇电子,其能量只决定于原子中的相关电子能级,而与激发源无关。

主要用于对金属、合金和半导体等材料表面进行分析。

真空紫外光电子能谱(UPS):

以真空紫外光作为电离源,发射的光电子来自原子的价壳层。

主要用于研究固体和气体分子的价电子和能带结构以及表面态情况。

X射线光电子能谱(XPS):

用X射线辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发而发射出来,通过对光电子能量的测定得到光电子能谱,从中可以了解样品元素组成和含量。

主要用于固体样品的表面分析,能对除H、He之外的所有元素进行定性和定量分析,能鉴定元素的化学价态和化学结构。

XPS谱图分析:

化学结构的变化和原子价态的变化都可以引起谱峰有规律的位移。

通过对化学位移的研究,可以了解原子的状态,可能处于的化学环境以及分子结构等。

化学位移现象可以用原子的静电模型来解释。

内层电子一方面受到原子核强烈的库仑作用而具有一定的结合能,另一方面又受到外层电子的屏蔽作用。

当外层电子密度减少时,屏蔽作用将减弱,内层电子的结合能增加;反之则结合能将减少。

因此当被测原子的氧化态增加,或与电负性大的原子结合时,都导致其结合能的增加。

由此可从被测原子内层电子结合能变化来了解其价态变化和所处化学环境。

谱峰规律:

主量子数n小的峰比n大的峰强;n相同,角量子数L大的峰比L小的峰强;内量子数J大的峰比L小的峰强。

9.了解分子荧光的基本原理,理解分子结构与荧光的关系,能对简单荧光谱图进行分析。

(掌握共轭体系、分子的刚性平面以及取代基效应对荧光性能的影响)

原理:

基态分子吸收特定频率的辐射跃迁一次到激发态,处于激发态电子是不稳定状态,返回基态时,通过辐射跃迁(发光)和无辐射跃等方式失去能量;电子由第一激发单重态的最低振动能级返回基态产生荧光,电子由第一激发三重态的最低振动能级返回基态产生荧光。

分子结构与荧光的关系:

(1)跃迁类型:

π→π*的荧光效率最高,系间跨越过程的速率常数小,有利于荧光的产生;

(2)共轭效应:

具有芳香环或杂环的分子有利于提高共轭度,增加荧光强度,例如荧光素和酚酞有相似结构,荧光素有很强的荧光,但酚酞没有。

(3)刚性平面结构:

可降低分子振动,减少与溶剂的相互作用,具有很强的荧光。

(4)取代基效应:

芳环上有供电子基如-OH、-NH2,使荧光增强。

芳环上有吸电子基如-COOH、-CO,使荧光减弱。

取代基为-SO3H则不影响荧光强度。

荧光光谱法FS

分析原理:

被电磁辐射激发后,从最低单线激发态回到单线基态,发射荧光

谱图的表示方法:

发射的荧光能量随光波长的变化

提供的信息:

荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息

10.掌握核磁共振基本原理?

对简单谱图要求会解析。

(1)基本原理

指自旋磁矩不为零的原子核,在外磁场中,其核能级将发生塞曼分裂。

若有一定频率的电磁波作用于它,分裂后的核能级之间将发生共振跃迁的现象。

自旋量子数I不为零的核与外磁场相互作用,产生2I+1种分裂取向(氢核I=1/2),此为塞曼分裂。

(2)谱图

(3)哪个峰为什么为低场/高场?

化学位移:

指屏蔽作用所引起的共振时磁感应强度的移动现象。

位移的标准:

(只研究氢核?

)没有完全裸露的氢核,因此采用相对标准-四甲基硅烷(TMS),原因是TMS电子云密度最大,屏蔽最强。

位移常数δTMS=0,因此其他类型的氢核位移为负值(负号或去掉)。

低场/高场的原因:

位移常数δ小,屏蔽越强,共振需要的电场强度大,在高场出现,最小为δTMS=0;δ大,则在低场出现。

(1)电负性:

可以去屏蔽效应。

与质子相连元素的电负性越强,吸电子作用越强,去屏蔽作用越明显。

信号峰在低场出现。

而且,吸电子基团越多,去屏蔽越明显;基团距离越远,去屏蔽作用越小。

(2)磁各向异性效应:

是质子在分子中所处的空间位置不同,而导致。

如:

大π键、双键(C=C、C=O)、三键。

次级磁场与外磁场的磁力线方向相反,使这里的质子实受磁场强度降低,屏蔽效应增大,δ值减小。

(3)氢键的影响:

实验结果说明,氢键的形成使氢核受到去屏蔽作用,δ值增大

(4)范德华力的影响:

氢核的外电子被排斥,去屏蔽效应产生,该氢核的化学位移δ值增大。

(5)溶剂效应:

因此核磁共振数据或谱图必须标明所用的溶剂。

自选耦合和自旋裂分(n+1规则:

即四重峰相邻有3个质子,三重峰相邻有2个质子)

谱图-结构信息:

(1)峰的数目:

标志分子中磁不等性质子的种类,多少种H;

(2)峰的强度(面积):

每类质子的数目(相对),多少个H;

(3)峰的位移(δ):

每类质子所处的化学环境,化合物中位置;

(4)峰的裂分数:

相邻碳原子上质子数;

(5)偶合常数(J):

推断相邻H原子的关系与结构,确定化合物构型。

不足之处:

仅能确定质子。

核磁共振波谱法NMR

分析原理:

在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁

谱图的表示方法:

吸收光能量随化学位移的变化

提供的信息:

峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数,提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息。

11.质谱分析的基本原理?

质谱图通常有哪些碎片峰?

基本原理:

  根据带电粒子在电磁场中能够偏转的原理,使研究的混合物或者单体形成离子,使形成的离子按照质荷比m/z进行分离。

(高真空工作条件)

碎片峰:

(1)分子离子峰

分子受电子束轰击后失去一个电子而生成的离子M.+称为分子离子,例如:

M+e¨→M.++2e¨在质谱图中由M.+所形成的峰称为分子离子峰。

因此,分子离子峰的m/z值就是中性分子的相对分子质量Mr,而Mr是有机化合物的重要质谱数据。

分子离子峰的强弱,随化合物结构不同而异,其强弱一般为:

芳环>醚>酯>胺>酸>醇>高分子烃。

分子离子峰的强弱可以为推测化合物的类型提供参考信息。

(2)碎片离子峰

当电子轰击的能量超过分子离子电离所需要的能量时(约为50~70eV),可能使分子离子的化学键进一步断裂,产生质量数较低的碎片,称为碎片离子。

在质谱图上出现相应的峰,称为碎片离子峰。

碎片离子峰在质谱图上位于分子离子峰的左侧。

(3)同位素离子峰

在组成有机化合物的常见十几种元素中,有几种元素具有天然同位素,如C,H,N,O,S,Cl,Br等。

所以在质谱图中除了最轻同位素组成的分子离子所形成的M.+峰外,还会出现一个或多个重同位素组成的分子离子峰。

如(M+1).+、(M+2).+、(M+3).+等,这种离子峰叫做同位素离子峰,对应的m/z为M+1,M+2,M+3表示。

人们通常把某元素的同位素占该元素的原子质量分数称为同位素丰度,同位素峰的强度与同位素的丰度是相对应的。

(4)重排离子峰

分子离子裂解成碎片时,有些碎片离子不是仅仅通过键的简单断裂有时还会通过分子内某些原子或基团的重新排列或转移而形成离子,这种碎片离子称为重排离子。

质谱图上相应的峰称为重排峰。

重排的方式很多,其中最重要的是麦氏重排(MclaffertyRearrangement)。

可以发生麦氏重排的化合物有醛、酮、酸、酯等。

这些化合物含有C=X(X为O,S,N,C)基团,当与此基团相连的键上具有γ氢原子时,氢原子可以转移到X原子上,同时β键断裂。

(5)亚稳离子峰:

峰不是尖锐,而是较宽,且质荷比不是整数。

前面所阐述的离子都是稳定的离子,实际上在电离、裂解、重排过程中有些离子处于亚稳态。

例如:

在离子源中生成质量为m1的离子,在进入质量分析器前的无场飞行时发生断裂,使其质量由m1变为m2,形成较低质量的离子。

这类离子具有质量为m1离子的速度,进入质量分析器是具有m2的质量,在磁场作用下,离子运动的偏转半径大,它的表观质量m*=[m2]^2/m1,这类离子叫亚稳离子,m*形成的质谱峰叫亚稳离子峰,在质谱图上,m*峰不在m2处,而出现在比m2更低的m*处。

(6)两价离子峰。

比分子离子多失去一个电子。

(7)离子分子反应。

通过质谱图可以获得丰富的质谱信息:

各种碎片离子元素的组成,根据亚稳离子确定分子离子与碎片离子,碎片离子与碎片离子之间的关系,分子裂解方式与分子结构之间的关系等。

通过m/z峰及其强度,可以进行有机化合物的相对分子质量的测定,确定化合物的化学式,结构式,并进行定量分析。

质谱分析法MS

分析原理:

分子在真空中被电子轰击,形成离子,通过电磁场按不同m/e分离

谱图的表示方法:

以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化

提供的信息:

分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度,提供分子量,元素组成及结构的信息

12.X光吸收精细结构谱XAFS(X-RayAbsorptionFineStructure)

扩散X射线吸收精细结构(EXAFS):

可用测量晶体和非晶体,原因在于它以邻近原子对中心吸收原子出射光电子的散射为基础,所反映的仅仅是物质内部吸收原子周围短程有序的结构状态。

由于不同种类的原子吸收边的能量位置不同,因而可以方便地研究材料中原子周围的邻近情况。

吸收边产生的原因:

在入射X射线光子的能量与内层电子激发所需能量相当时,会导致吸收突然增加,使电子电离为光电子,产生突跃(吸收边),由K层电子(1S电子激发)被激发而形成的吸收边称为K吸收边,由L壳层电子被激发而形成的吸收边为L吸收边,由于L壳层电子又可分为三种能态,所以L吸收边又分为LI、LII、LIII(如2S电子跃迁形成LI,2P电子对应2P1/2、2P2/3两组形态分别形成LII、LIII边)。

13.紫外漫反射

紫外漫反射的应用:

研究固体的表面吸附、研究固体物质之间的反应、在分析测试中的应用(包括在药物分析中的应用、在薄层色谱中的应用和测定固体酸性)

紫外漫反射是由于光不能透过固体,只能通过积分球仪检测漫反射出来的光来检测信号。

紫外吸收一般用来检测液体样品,不能吸收的光可透过液体被直接检测。

原理一样,不同在于信号的收集方式及适用的样品:

紫外漫反射采用的是漫反射的方式(积分球),所测的样品为固体、粉末、乳浊液和悬浮液,而紫外可见是采用透射方式,所测样品为溶液。

本科教学复习:

气相色谱,高效液相色谱,红外光谱,紫外光谱,核磁共振、质谱、激光拉曼光谱和分子发光分析的基本原理部分。

气相色谱法GC:

分析原理:

样品中各组分在流动相和固定相之间,由于分配系数不同而分离

谱图的表示方法:

柱后流出物浓度随保留值的变化

提供的信息:

峰的保留值与组分热力学参数有关,是定性依据;峰面积与组分含量有关

高效液相色谱:

当流动相中所携带的混合物流过固定相时,就会和固定相发生作用(力的作用)。

由于混合物中各组分在性质和结构上有差异,与固定相发生作用的大小也有差异。

因此在同一推动力作用下,不同组分在固定相中的滞留时间有长有短,从而按先后不同的次序从固定相中流出。

  色谱法又叫层析法,它是一种物理分离技术。

它的分离原理是使混合物中各组分在两相间进行分配,其中一相是不动的,叫做固定相,另一相则是推动混合物流过此固定相的流体,

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