单板硬件调试报告.docx

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单板硬件调试报告

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密级

产品名称：

共15页

XX单板硬件调试和单元测试报告

（仅供内部使用）

拟制：

日期：

yyyymmdd

审核：

日期：

yyyymmdd

审核：

日期：

yyyymmdd

批准：

日期：

yyyymmdd

日期

版本

描述

作者

2001-06-08

1.00

初稿完成

作者名

yyyymmdd

1.01

修改XXX

作者名

yyyy-mm-dd

1.02

修改XXX

作者名

yyyymmdd

2.00

修改XXX

作者名

1概述

6

1.1基本情况介绍

6

1.2单板模块划分

6

1.3调试测试组网图

6

1.4调试时间、地点及人员

6

2调试测试用例记录

6

2.1功能部分调试

6

2.1.1模块1

6

2.1.1.1调试用例1

6

2.1.1.2调试用例2

6

2.1.2模块2

6

2.1.3问题列表

7

2.2信号质量测试用例

7

2.2.1电源

8

2.2.1.1测试数据

8

2.2.1.2测试波形及分析

8

2.2.1.3问题列表

8

2.2.2逻辑信号

9

2.2.2.1测试结果

9

2.2.2.2测试波形及分析

9

2.2.2.3问题列表

9

2.2.3时钟信号

10

2.2.3.1测试结果

10

2.2.3.2实测波形及分析

10

2.2.3.3问题列表

10

2.3时序测试用例

10

2.3.1CPU接口部分时序

11

2.3.1.1测试结果

11

2.3.1.2测试时序及分析

11

2.3.2业务接口部分时序

11

2.3.2.1测试结果

11

2.3.2.2测试时序及分析

12

2.3.3问题列表

12

2.4失效器件原因分析

12

3调试测试总结

12

3.1调试测试结果

12

3.2遗留问题报告

13

3.3调试测试经验总结

14

4其他

14

5评审报告

14

表I」录

表1有问题信号记录表格

9

表2有问题信号记录表格

10

表3有问题信号记录表格

10

表4时序测试遗留问题

12

表5调试测试结果统计一

12

表6调试测试结果统计二

12

表7调试测试问题列表

13

表8信号质量遗留问题统计表

13

表9时序遗留问题统计表

13

表10功能遗留问题统计表

13

图H录

图1XX图

6

文档名称

关键词：

调试测试、计划、其它关键词

摘要：

缩略语清单：

对本文所用缩略语进行说明，要求提供每个缩略语的英文全名

和中文解释。

概述

（本章节内容在计划模板中都有体现，在确保内容没有改变的情况下，可以直接拷贝）

1.1基本情况介绍

简单介绍产品，并说明单板正式名称和PCB版本号。

1.2单板模块划分

从调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况，以及各个模块的功能和相互关系。

1.3调试测试组网图

简单描述调试测试的组网图。

可以配以插图进行说明。

1.4调试时间、地点及人员

描述本次调试的时间，地点和开发调试人员。

2调试测试用例记录

2.1功能部分调试

2.1.1模块1

2.1.1.1调试用例1

调试用例编号：

AAA-UT-CCC-NNN

调试项目：

可以用模块名或者调试大项命名

调试子项目：

具体的调试描述

检查点、应达到的要求、指标和预期结果：

执行中的其他说明：

调试人员：

|时间：

实测结果：

差异说明：

说明以下差异及每个差异的原因：

被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间的任何差异;

实际调试活动与调试计划之间的任何差异。

调试测试是否通过：

（OK,POK,NG,NT）

1.1.1.1调试用例2

1.1.2模块2

1.1.3问题列表

1.2信号质量测试用例

信号质量测试要保证全面性，即单板上的每个信号都要保证测试到，为了保证测试不遗漏，可以先将单板按照功能模块划分，并列举出每个功能模块中的器件，每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类，要列出每类信号的的判断标准，随后给出测试记录的表格。

功能模块的划分可以为：

电源模块、时钟模块、交义模块、业务处理模块、接口模块、CPU控制模块、主备倒换模块等等，或者参照前面“2.单板硬件功能模块划分”。

对于不同的模块，包含或涉及到不同类型的信号，芯片对不同信号的质量要求是不一样的，例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等；对时钟信号的质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频率、抖动等；对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲等；对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。

信号质量的测试点要选在信号的终端。

在表格中结果判断一栏中，注明OK、POK、NG、NT,其中：

0K：

测试结果全部正确

POK：

测试结果大部分正确

NG：

测试结果不通过

NT：

111于各种原因本次无法测试

以下的测试结果记录中，对测试通过的信号，只要求提供其列表；测试不通过的信号，要求提供测试波形记录、原因分析、解决措施和解决计划。

以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准，可作为信号质量判断的标准，同时需要参考器件手册；以下给出的标准与芯片要求不符的，以芯片要求为准，并要求在芯片的测试实测记录前，列出其特殊要求。

信号标准特性

信号类型

VCC

VOH

VIH

VT

VIL

VOL

TTL、ABT

5

2.4

2

1.5

0.8

0.4

LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV

3.3

2.4

2

1.5

0.8

0.4

CMOS

5

4.44

3.5

2.5

1.5

0.5

PECL

5

4.19

3.87

3.7

3.52

3.05

LVPECL

3.3

2.42

2.06

2

1.94

1.58

GTL

1.2

0.86

0.8

0.75

0.4

GTL+

1.5

1.05

1

0.95

0.4

ETL

5

2.4

1.6

1.5

1.4

0.4

BTL（低电平为IV）

2.1

1.62

1.55

1.47

1.1

通用信号规范

信号类型

正向过

冲

负向过

冲

正向回

冲

负向回冲

正向毛

刺

负向毛刺

边沿

特性

①

实测VIH

要求

实测VIL

要求

PECL

<0.2V

<0.2V

>3.87V

<3.52V

<3.52V

>3.87V

必须

单调

>3.87

<3.52

TTL

<1V

<1V

>2.4V

<0.8V

<0.8V

>2.4V

必须

单调

>3V

<0.6V

TTL（3V）

<0.6V

<0.6V

>2.4V

<0.8V

<0.8V

>2.4V

必须

单调

>2.8V

<0.6V

CMOS

<1V

<1V

>3.5V

<1.5V

<1.5V

>3.5V

必须

单调

>3.5V

<1.0V

GTL+

<0.4V

<0.4V

>1.2V

<0.3V

<0.3V

>1.2V

必须

单调

>1.4V

<0.4V

GTL

<0.3V

<0.3V

>0.95V

<0.25V

<0.25V

>0.95V

必须

单调

>1.15V

<0.3V

①边沿特性：

对通用信号中的控制信号一般要求边沿必须单调；对数据、地址等信号可结合时序的测试结果来作相应的要求。

通用时钟信号规范赛

信号类型

占空比

上升

单调性

上升

时间

下降单调性

下降

时间

抖动特性

PECL

10%-

必须

必须

待定。

60%

单调

单调

建议：

对于存在指标规定的信号，应满足指标；无指标规定或无法明确界定的情况下，应满足可幕性要求。

TTL

40%-

60%

必须

单调

必须

单调

TTL（3V）

40%-

60%

必须

单调

必须

单调

CMOS

40%-

60%

必须

单调

必须

单调

GTL+

40%-

60%

必须

单调

必须

单调

*:

通用时钟信号规范描述了时钟信号要特殊关注的特性，测试中要注意，时钟信号必须同时满足信号标准特性和通用信号规范。

1.1.1电源

LL1.1测试数据

幅度允许

变化范围

VCC1推荐

电源电压*

纹波

地线噪声

（VP-P）

幅度允许

变化范圉

VCC2推荐电压*

纹

波

地线噪声

（VP-P）

要求

指标

±5%

±5%

±12%

±5%

±5%

±12%

实测

值

*：

单电源工作的不分VCC1、VCC2等

1.1.1.1测试波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形，实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做

为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求,具体波形见图XX。

参考表格如下：

±11有问题信号记录表格

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1.1逻辑信号

1.1.1.1测试结果

1.接口模块

U1：

信号名/网络名

测试点（管

脚）

结果判

断

备注

如：

CLK

U1-1

0K

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

U2：

信号名/网

络名

测试点（管

脚）

结果判

断

备注

如：

CLK

U1-1

0K

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

U3:

oooooo

2.业务处理模块

3.XXX模块

1.1.1.1测试波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

1.1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求,具体波形见图XX。

参考表格如下：

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1.1时钟信号

1.1-1-1测试结果

信号名/网络名

测试点（管

脚）

结果判

断

备注

如：

CLK

U1-1

0K

可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法

1.1.1.1实测波形及分析

在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。

所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。

如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。

L1.1.2问题列表

在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。

也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求,具体波形见图XX。

参考表格如下：

信号名/网络名

测试点

问题描述

原因分析

改进措施

是否填写了缺陷跟踪电子流

1.1时序测试用例

时序测试包括了CPU的读写时序、存储器的操作时序、业务处理器件的数据输入输出时序等。

具体应按单板实际设计进行划分。

在时序测试之前要列出涉及到时序要求的器件，如U3,U4……；然后可按照器件分别来记录时序测试结果，在记录每个器件的测试结果之询，与信号质量测试类似，也要先列出器件对时序的要求。

表中标识符应与器件手册对应。

在表格中结果判断一栏中，注明OK、POK、NG、NT,其中：

0K：

测试结果全部正确

POK：

测试结果大部分正确

NG：

测试结果有较大的错误

\T：

山于各种原因本次无法测试

1.1.1CPU接口部分时序

1.1.1.1测试结果

（下面表形式供参考使用，也可直接分别给出设计•要求和实际测试得到的时

序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划）

参数

标

识

符

最小值要求（ns）

最大值要求（ns）

实测

值

（ns）

结

论

改进措施

修改计划

命令（/CS,/RAS,

/CAS,/WE,DQM）的

建立时间

tcs

修改汁划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完成日期。

命令（/CS,/RAS,

/CAS,/WE,DQM）的保持时间

tCH

地址建立时间

tAS

地址保持时间

tAH

数据数据建立时间

tDS

数据数据保持时间

tDH

1.1.1.1测试时序及分析