无损检测设备校验规程Word文档格式.docx

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表1携带式定向X射线探伤机额定管电压kV额定管电流mA对钢穿透力mm250300553950表2携带式周向X射线探伤机额定管电压kV额定管电流mA对钢穿透力mm2503005537平靶管47平靶管5.3X射线机支架系统定位误差应小于2mm。

5.4黑度计测量误差应小于5。

5.5X光胶片和观片灯：

结合照像质量及曝光时间等因素对其类型进行选择。

5.6其他校验设备见表3表3名称和测量范围最小分度值秒表钢尺01000mm0.1s1.0mm6校验6.1校验项目和校验方法6.1.1校验项目6.1.1.1首次校验：

新购置安装使用的或修理后的X射线探伤机，进行的校验。

6.1.1.2后续校准校验：

在有效期范围内的校验。

6.1.1.3校验项目：

穿透力，辐射角，计时器误差、透照灵敏度的测定。

6.1.2校验方法6.1.2.1穿透力校验a）将X光胶片裁成80mm360mm，至焦点600mm，胶片长边方向与X射线管轴线方向平行。

定向射线机，胶片中心偏离辐射中心（1465）mm处拍片；

周向射线机，中心沿周向辐射场中心线，绕管轴线每90拍一张胶片，穿透力取其中最低值。

b）胶片前方紧贴放置表1表2相应要求的标准试块，增感屏用0.03mmPb，试块四周按表4规定的铅当量遮挡。

表4额定管电压kV铅当量mmPb501001502002503000.41.42.13.66.39.3c）采用额定管电压、额定管电流进行曝光，携带式X射线探伤机曝光5min。

d）将曝光后的胶片进行暗室处理，显影、定影液的配制及冲洗时间和温度等条件，按不同类型X光胶片暗室处理条件规定要求进行。

e）干燥后的胶片用黑度计测量黑度值Di。

在胶片中心区域至少测5点，取其算术平均值D。

胶片本底黑度应不大于0.3，D值最小不应小于1.5。

6.1.2.2辐射角的校验a）定向X射线探伤机辐射角的校验将校验的X射线探伤机放置在支承架上，窗口对准地面，地面应用厚度为6mm的铅板屏蔽，使X光管轴线（射线机长度方向轴线和宽度方向）与地面平行，焦点距铅板表面600mm；

在铅板上找出窗口正投影的中心点，并通过此点划出与射线机长度方向和宽度方向的平行线，两平行线交于窗口在铅板上正投影的中心点；

训练X射线机至额定值，将装好胶片的暗袋（胶片为360mm80mm、增感屏前后屏均为0.5mm）放置在铅板划好的两条线上，每条线上各放三个暗袋，两线交点处的暗袋上应摆放中心标记，暗袋搭接处应摆放搭接标记。

调整X射线机管电压至额定值的50，管电流为额定值进行透照，将已透照好的胶片进行暗室处理并干燥，在观片灯上进行测量底片上中心标记至底片黑度变化区黑度较大的边界处的距离Sj（径向）和Sh（横向）,S=Si+Sh/2,并按tg-1分别计算X射线机的径向和横向辐射角。

式中角为X射线机的辐射角。

b）周向X射线探伤机的径向辐射角校验将校验射线机立放于地面，使射线机外壳红色带的中心距地面一定高度，并以此高度在距焦点600mm的0、90、180、270位置各放置一个装好胶片的暗袋，胶片长度方向应平行于射线机长轴方向，其他校验程序及方法同定向机校验。

6.1.2.3计时器误差校验将校验射线机上的计时器分别调到0.5，1，5min等位置，开机的同时启动秒表，在射线机的计时器停止同时停止秒表，每个位置上测量3次，计算其算术平均值与设定值之差。

取其与设定值之比最大者为计时器误差。

6.1.2.4透照灵敏度校验a）测量要求同穿透力校验，采用JB/T7902-1999线型像质计中的R10系列，用2个规格相同、材质标记为FE的线型像质计（参阅JB/T4730-2005承压设备无损检测表5像质计的选用），贴附在按表1表2要求的相应试块边缘区域X射线机一侧，像质计的细线朝外。

按要求曝光并处理胶片。

b）底片上，在黑度均匀区（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续的金属丝影像时，则该丝认为是可识别的。

7校验记录7.1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信息数据，并对不符合项进行复校7.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。

7.3无损检测技术负责人应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。

7.4校验记录由生产部存档保管。

8记录报告表式X射线机校验结果校验项目射线机编号辐射角计时器误差穿透力透照灵敏度校验时间：

校验人：

审核人：

2超声波探伤仪校验规程1目的：

使超声波仪器性能指标、试块几何尺寸满足标准、规范要求。

适用于本公司所有在用模拟、数字式超声波探伤仪；

超声用标准、对比试块。

3引用标准3.1JB/T4730-2005承压设备无损检测3.2JB/T7913-1995超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法3.3JB/T9214-1999A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能、测试方法3.4JB/T10061-1999A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件3.5JB/T10063-1999超声探伤用1号标准试块技术条件4校验要求4.1A型脉冲反射式超声波仪器垂直线性、水平线性主要性能校验周期，仪器每使用三个月校验一次，将校验结果进行记录存档。

4.2校验人员应持有国家相关部门颁发的超声波检测级或级资格。

4.3A型脉冲反射式探伤仪垂直线性误差不大于5，水平线性误差不大于1。

5校验步骤5.1超声波用标准试块校验前应检查试块表面不应有锈蚀、明显划伤、碰伤等缺陷。

5.2超声波用标准试块几何尺寸、形位公差及表面粗糙度应符合有关标准的规定。

5.3垂直线性校验。

5.3.1测试所用器材2.5MHz或5MHz直探头。

5.3.2测试步骤5.3.2.1将仪器抑制开关置于“0”，连接探头并将探头固定在试块上，调节探伤仪，使荧光屏上显示的反射孔垂直刻度波高达100（不饱和），且衰减器至少有30dB的衰减余量。

5.3.2.2调节衰减器，依次记下每衰减2dB时孔波幅度的百分数，直至26dB。

然后将孔波幅度实测值与表中所列理论值相比较，取最大正偏差d（+）与最大负偏差d（-）之绝对值的和为垂直线性误差d。

d=d（+）+d（-）d为垂直线性误差，理论值表：

衰减量dB02468101214161820246波高理论值（）0079.463.150.139.831.625.120.015.812.510.0.9.3.05.3.2.3将底波幅度调为垂直刻度的100，重复按5.3.2项的测试。

5.4水平线性校验5.4.1测试所用器材2.5MHz或5MHz直探头。

5.4.2测试步骤5.4.2.1连接探头并根据被测探伤仪中扫描范围档级的要求将探头固定于适当厚度的试块上，再调节探伤仪，使示波屏上显示多次无干扰底波。

5.4.2.2分别将底波调到相同（如垂直刻度的80%）的条件下，使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”，第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”；

然后在依次将每次底波调到上述相同幅度时，分别读取第二、三、四次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”偏差Ln，然后取其最大偏差Lmax，利用水平计算公式计算出水平线性误差LL=Lmax/0.8B100%，L为水平线性误差，%；

B为水平全刻度数。

5.4.2.3在探伤仪扫描范围的每个档级，至少应测试一种扫描速度下的水平线性误差。

5.5动态范围校验5.5.1调抑制至0。

5.5.2将满幅度100%某波高用衰减器衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。

5.6灵敏度余量校验5.6.1仪器与直探头灵敏度余量的测试5.6.5.1仪器增益至最大，抑制至0，发射强度至强，连接探头，并使探头悬空，调衰减器使电噪声电平10%，记下此时的衰减器的读数N1dB。

5.6.1.2将探头对准200/2平底孔。

调衰减器使2平底孔回波高达50%，记下此时衰减器读数N2dB。

则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）5.7盲区校验直探头置于CSK-A试块50孔的两侧面，5mm侧面处有独立回波，则盲区小于或等于5mm。

若此处无独立回波，而在另一侧面（10mm）处有独立回波，则盲区在510mm之间。

若此处仍无独立回波，则盲区大于是10mm。

5.8分辨力校验5.8.1抑制至0，探头置于CSK-A试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C。

5.8.2左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并为20%30%满刻度。

5.8.3调节衰减器,使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时衰减器所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.5.9仪器校验时若发现仪器或试块出现超差，应立即停用并向设备管理人员报告。

6校验记录6.1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信息数据，并对不符合项进行复校6.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。

6.3无损检测技术负责人应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。

6.4校验记录由生产部存档保管。

7记录表式超声波探伤仪校验结果校验项目探伤仪器编号垂直线性水平线性动态范围灵敏度余量盲区分辨力校验时间：

30磁粉探伤仪校验规程1适用范围本公司磁轭式磁粉探伤仪的定期校验。

2校验要求2.1校验周期：

半年一次。

2.2校验人员应持有国家相关部门颁发的磁粉检测级或级资格。

2.3校验项目2.3.1磁轭探伤仪提升力当电磁轭最大极间距时，交流电磁轭至少应有44N的提升力；

直流电磁轭至少应有177N的提升力；

交叉磁轭至少应有118N的提升力（磁极与试件表面间隙为0.5mm）。

2.3.2磁粉检测灵敏度至少应发现A1-30/100试片上人工缺陷磁痕显示。

2校验步骤2.1交流电磁轭探伤仪事先准备好一块重4.5Kg的钢板；

校验时，将磁轭极间距调至最大；

将磁轭头置于平放的钢板上，通电，将其悬空提起，如能保持5秒，则满足提升力的要求。

2.2直流电磁轭探伤仪事先准备好一块重18.2Kg的钢板；

将磁轭头置于平放的钢板上，通电，将其悬空提起，至少保持5秒，如能达到则满足提升力的要求。

2.3直流电磁轭探伤仪事先准备好一块重18.2Kg的钢板；

校验时，将磁轭极间距调至200mm；

将磁轭头置于平放的钢板上，通电，将其悬空提起，至少保持5秒，如能达到则满足提升力的要求。

2.4交叉磁轭探伤仪事先准备好一块重12Kg的钢板；

校验时，将磁轭置于平放的钢板上，通电，将其悬空提起，至少保持5秒，如能达到则满足提升力的要求。

2.5灵敏度试验将将A型或C型试片无人工缺陷的面朝外，可用透明胶带将其平整粘贴在被检表面上，并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。

施加磁悬液，磁化。

观察试片上出现清晰的磁痕，试验成功。

3磁粉探伤仪校验记录3.1校验记录由校验人员编制和填写，并对报告内容的准确性、客观性负责。

3.2记录应由无损检测检测责任师审核，并对记录结论正确性负责。

3.3记录应由技术负责人批准（签发），并对记录的有效性负责。

4记录表式电磁轭探伤仪校验结果校验项目探伤仪编号交流电磁轭直流电磁轭交叉磁轭灵敏度校验时间：

4.0黑度计校验规程1目的：

本规程用于测量照相底片的黑度仪的校验，使黑度仪能够对射线底片黑度作出可靠的评定。

本规程参照JB/T4730-2005附录B黑度计（光学密度计）定期校验方法制定。

适用于本公司所有在用黑度计。

记录和有关文件，在相应的记录中注明并记录校正读数和校验日期。

用标签表明校正的有效期。

3引用标准：

JB/T4730.2-2005承压设备无损检测第二部分：

射线检测4职责4.1公司生产部负责组织实施校验。

4.2校验人员由RT级人员承担，校验人员应熟悉黑度计的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。

4.3.无损检测技术负责人对校验报告进行审核。

5校验周期5.1所使用的黑度计至少每六个月校验一次。

5.2所使用的标准黑度片至少应每两年送计量单位校验一次。

6黑度计校验方法6.1校验时，接通黑度计外电源和测量开关，预热10分钟。

6.2用标准黑度片（密度片）的零黑度点（区）校验黑度计零点，校准后顺次测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。

6.3按照3.2条的规定反复测量3次。

6.4计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。

6.5对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过0.05，否则黑度计应校验、修理或报废。

8记录报告表式黑度计校验结果校验项目黑度计编号黑度片标准值黑度计显示值测量值误差校验时间：