电子技术课程设计报告 峰值检测系统.docx

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电子技术课程设计报告峰值检测系统

电子技术课程设计报告

课题名称:

峰值检测系统

系(院):

专业:

班级:

姓名:

学号:

指导教师:

学年学期:

2011~2012学年第1学期

 

2011年12月16日

 

目录

1、内容摘要…………………………………………………………………………2

2、设计内容及要求…………………………………………………………………2

3、比较和选定设计的系统方案,画出系统框图…………………………………2

3.1方案一………………………………………………………………………2

3.2方案二………………………………………………………………………3

4、单元电路设计、参数计算和器件选择…………………………………………4

4.1放大电路……………………………………………………………………4

4.2采样/保持电路……………………………………………………………5

4.3采样/保持控制电路…………………………………………………………6

4.4数字显示表头电路…………………………………………………………6

4.5数字锁存控制电路……………………………………………………………7

5、电路的工作原理…………………………………………………………………8

6、组装调试的内容…………………………………………………………………9

7、系统需要的元器件………………………………………………………………10

8、参考文献…………………………………………………………………………11

 

1、内容摘要

在科研、生产各个领域都会用到峰值检测设备,例如检测建筑物的最大承受力,检测钢丝绳允许的最大拉力等等.准确测量峰值对有关课题的研究是有重要意义的。

2、设计内容及要求

(1)用传感器和检测电路测量某建筑物的最大承受力。

传感器的输出信号为0mV~5mV,lmV等效于400kg。

(2)测量值用数字显示,显示范围为0000—1999。

(3)峰值电压保持稳定。

3、比较和选定设计的系统方案,画出系统框图

3.1方案一

本课题的关键任务是检测峰值并使之保持稳定,且用数字显示峰值.该方案用采样/保持峰值电路,通过数据锁存控制电路锁存峰值的数字量。

如图1所示。

它由传感器、放大器、采样/保持、采样/保持控制电路、A/D(模数转换)、译码显示、数字锁存控制电路组成。

各组成部分的作用是:

图1峰值检测系统的方案一框图

(1)传感器:

把被测信号量转换成电压量。

(2)放大器:

将传感器输出的小信号放大,放大器的输出结果满足模数转换器的转换范围。

(3)采样/保持:

对放大后的被测模拟量进行采样,并保持峰值。

(4)采样/保持控制电路:

该电路通过控制信号实现对峰值采样,小于原峰值时,保持原峰值,大于原峰值时保持新的峰值。

(5)A/D转换:

将模拟量转换成数宇量。

(6)译码显示:

完成峰值数字量的译码显示。

(7)数字锁存控制电路:

对模数转换的峰值数字量进行锁存,小于峰值的数字量不能锁存。

模数转换和译码显示构成数字显示表头(图1的虚线部分)。

3.2方案二

为实现峰值检测,该方案采用数字式峰值保持器,该部分是图2所示的虚线部分。

图2峰值检测系统的方案二框图

方案二由传感器、放大器、数字式峰值保持器和译码显示器组成。

该方案中除数字式峰值保持器外,其余三部分和方案一相同。

数字式峰值保持器由比较器、控制门、方波发生器、计数器和D/A组成,各部分功能如下:

(1)比较器:

比Ui和UO的大小.当Ui>Uo时,比较器输出高电平,打开控制门,时钟脉冲进入计数器.当Ui

(2)方波发生器:

产生一定频率的方波信号,作为控制门的时钟脉冲信号。

(3)控制门:

控制时钟脉冲进入计数器.当比较器输出高电平时,该门开启,时钟脉冲进入计数器,当比较器输出低电平时,该门关闭。

(4)计数器:

被测信号的峰值通过控制门使时钟脉冲进入计数器,输出数字量,供给译码显示电路显示峰值。

计数器保持的数码反映被检测信号的峰值。

(5)D/A:

计数器的数字量送入D/A转换器后,进行数模转换。

D/A输出模拟量UO和被测量Ui比较,由比较结果1或0决定计数器计数还是保持峰值。

综上所述:

方案一和方案二都可以将峰值保持并以数字形式输出。

方案一是对模拟量进行采样/保持并锁存峰值的数字量,它可以采用集成采样/保持电路和大规模集成电路3位半A/D转换器。

方案二是采用数字式峰值保持器,主要电路是计数器和D/A转换,随着输出的位数增多,需要的器件也跟着增多.比较两个方案可知,前者比后者电路简单,采用的器件先进,所用元器件少,且容易实现.因此系统设计方案选择方案一。

4、单元电路设计、参数计算和器件选择

4.1放大电路

由于输入信号为0-5mV,则若选用3位半A/D,数字表头显示将是0000-1999感器输出1mV等效于400kg,则5mV等效于2000kg,因而选用放大倍数Au=400电路就能完成系统对小信号放大的要求。

(1)选择电路:

放大电路种类很多,为将传感器输出的微弱信号进行放大,采用高精度数据放大器,如图3所示。

该电路中Ai,和Ao的失调电压量值和方向相同,可以互相抵消,所以此种电路精度很高.这种高精度数据放大器对完成弱信号的放大有重要作用。

图3高精度数据放大器

(2)参数计算:

由于Ui=Ux=0~5mV,U01=2V,根据公式:

U01/Ui=-(R4∕R3)(1+2R2/R1),

将U01与Ui的数值代入,有400=-(R4∕R3)(1+2R2/R1)

放大器为完成400倍的放大,分配第一级放大器放大倍数1+2R2/R1=8,分配第二级放大倍数400/8=50=R4/R3,则电阻的阻值分别为R1=1.6kΩ,R2=5.6kΩ,R3=2kΩ,R4=100kΩ。

(3)器件选择:

R1,R2,R3和R4都选1/8W金属膜电阻,其阻值分别为1.6kΩ,5.6kΩ,2kΩ和100kΩ。

A1,A2和A3,选用μA741型运算放大器。

由于μA741具有很高的输入共模电压和输入差模电压范围、具有失调电压调整能力和短路保护功能、功耗较低、电源电压适应范围较宽等特点,所以该放大电路采用此器件比较合适。

4.2采样/保持电路

该电路的核心器件选用LF398采样/保持集成电路芯片,它具有体积小、功能强、运行稳定可靠等优点。

它的功能是对模拟信号进行采样和存储.具体电路如图4所示。

LF398的8脚是采样/保持的逻辑控制脚,当该脚输入高电平时,LF398进行采样,输入低电平时保持。

保持时,回路阻抗很大,故保持能力很强;采样时,输入信号使采样/保持电容CH迅速充电到Ui。

CH的质量对电路的性能影响很大,一般对此电容要求很高,如要求它的绝缘电阻大、漏电小。

可选用有机薄膜介质电容,如聚苯乙烯和聚丙烯电容,取CH=0.1μF。

4.3采样/保持控制电路

采样/保持控制电路可选用比较电路,如图5所示。

比较电路将LF398的输入端电压与输出端电压相比较,产生一个控制信号Uk,用Uk控制LF398的逻辑控制脚。

图4采样保持电路图5采样/保持控制电路

当Ui>Uo2时,比较器输出Uk为高电平,使LF398采样。

当Ui

图5中,二极管保证输出低电平时,输出端箝位于0电平(管压降忽略)。

Uk还用来控制数字锁存控制电路。

比较器选用运算放大器μA741。

二极管选普通硅二极管2CKll。

4.4数字显示表头电路

数字显示表头电路由A/D转换和译码显示两部分组成(见图1-4-1)。

该电路可采用三位半数字电压表电路。

选择器件如下:

三位半A/D转换器MCl4433,七路达林顿驱动器MCl413,BCD到七段锁存-译码-驱动器CD4511,能隙基准电源MCl403和四个共阴极LED发光数码管。

注意数字显示表头电路中MCl4433的EOC和DU端不是直接相连,而是通过数字锁存控制电路连接.该表最大量程为1999kg,以1.999代表1999kg,小数点不用显示。

4.5数字锁存控制电路

数字锁存控制电路是保证A/D转换的峰值数字被锁存在三位半A/D的输出锁存器内。

为完成峰值锁存必须掌握A/D转换器两个管脚的功能,其中一个管脚是数字显示更新输入控制端DU,另一个管脚是转换周期结束标志输出端EOC。

DU的功能是:

当DU的电平为1时,A/D转换结果被送入输出锁存器;当DU的电平为0时,A/D转换器仍输出锁存器中原来的转换结果。

EOC的功能是,每一个A/D转换周期结束时,EOC端输出一个正脉冲。

通常电路利用EOC端的输出控制DU,则每次A/D转换结果都会被输出,而峰值检测电路只允许峰值结果输出,小于峰值则不输出。

所以电路必须设置在峰值时,EOC的输出才能控制DU。

考虑三位半A/D转换器转换周期为1/3s,当峰值信号来到时,应允许EOC的输出在1/3s内控制DU端。

由于采样/保持电路能在A/D转换周期内保持峰值的模拟量,所以在A/D转换周期间峰值数据不会受影响,经过前面分析,设计数字锁存控制电路。

(1)电路设计,设计的数字锁存控制电路如图6所示。

电路由单稳态延时电路C、或门GA和与门GB组成。

图6中输入信号Uk来自比较器的输出,Uk=1表示峰值采样,Uk=0峰值保持。

电路工作情况如下:

图6数字锁存控制电路

①当Uk=1时,或门GA输出1,允许UEOC通过与门GB,若UEOC是高电平,则UDU也是高电平。

UDU可以控制DU端,峰值数据被锁存在A/D转换器的输出锁存器中。

②当Uk由高电平变成低电平时,单稳态触发器C的3端是下降沿触发的脉冲展宽延时电路输入端,在输入脉冲作用下,Uo在1/3s内仍保持高电平。

在1/3s内Uo使或门GA输出1,此间EOC的输出电平UEOC能通过与门GB,UEOC是高电平时,UDU也是高电平,UDU也能控制DU端,使输出锁存器锁存峰值数据。

③当Uk=0V,Uo=0V时,或门GA输出为0,封锁与门GB,UEOC不能通过与门GB,与门GB的输出UDU为低电平,UDU封锁A/D转换器的输出锁存器,输出锁存器仍输出原来的峰值数据。

(2)参数计算:

单稳态触发器3脚输入信号Uk由高电平变为低电平时,使输出脉冲U0延时1/3s的高电平,数字锁存控制电路就能控制A/D的输出锁存器锁存峰值数据。

输出脉冲的延时时间Tx=1/3s由外接部件RT和CExt的数值大小所决定。

根据公式Tx=CExtRTln2=0.7CExtRT;

取CExt=lμF,将Tx=1/3s,CExt=1μF代入上式,得

1/3s=0.7RT×10-6s,即RT=476kΩ

取标称值RT=510kΩ。

(3)器件选择:

单稳态触发器选74LSl21,或门选74LS32,与门选74LS08。

CExt选lμF的聚苯乙烯电容,RT选510kΩ的金属膜电阻。

5、电路的工作原理

根据方案一的框图和设计的各部分单元电路,绘制出本课题的整机电路图,如图7所示。

图中正电源用+5V,负电源用一5V。

图7峰值检测系统原理图

6、组装调试的内容

①使用的主要仪器和仪表。

②调试电路的方法和技巧。

③测试的数据和波形并与计算结果比较分析。

④调试中出现的故障、原因及排除方法

7、系统需要的元器件

MC14433

3位半A/D转换

1

CD4511

BCD码—七段码译码器

1

MC1413

7路输出达林顿驱动器

1

MC1403

低压基准电压源

1

4位共阴数码管

或3位半共阴数码管

1

74LS08

 

4组2输入与门

1

74LS32

 

4组2输入或门

1

74121

CT54121/CT74121

单稳态触发器

1

LF398

 

采样保持放大器

1

uA741

 

运放

4

电阻

300

 

7

电阻

1.6K

2

电阻

5.6K

2

电阻

2K

 

2

电阻

100K

 

2

电阻

510K

 

1

电阻

470K

 

1

电阻

300K

 

1

滑动变阻器

1K

 

1

电容

0.1UF

 

3

 

1UF

 

1

二极管

2CK11

 

1

8、参考文献

1.康华光主编,电子技术基础(模拟部分),第四版,北京:

高等教育出版社,1999

2.康华光主编,电子技术基础(数字部分),第四版,北京:

高等教育出版社,1999

3.童诗白主编,模拟电子技术基础,第三版,北京:

高等教育出版社,2001

4.阎石主编,数字电子技术基础,第四版,北京:

高等教育出版社,1998

5.孙梅生、李梅莺、徐搌英编,电子技术基础课程设计,北京:

高等教育出版社,1989

6.张志悦,邹延引编,数字电路设计与实用电路,广州:

华南理工大学出版社,1988

7.陈汝全主编,电子技术常用器件应用手册,北京理工大学出版社,1991

8.[美]DavidF.Stout著,龚启墉,朱征云,彭湘军译,微电路设计和应用手册,北京国防工业出版,1987。

9.绳广基编著,数字逻辑电路设计与实验,上海交通大学出版社,1988

10.贺天枢主编,国家标准电气制图应用指南,北京:

中国标准出版杜,1989

11.宋光汉,方之稹编著,电气实验技术与测量,北京:

中国计量出版社,1991

12.何立民编著,单片机应用系统设计系统配置与接口技术,北京:

北京航空航天大学1990

13.尤德斐主编,数字化测量技术及仪器,北京:

机械工业出版社,1986

14.潘洪福等编著,电子测量技术与仪表,重庆:

科学技术文献出版社重庆分社,1991

15.[日]山崎弘朗主编,姜德华,赵秀芬译,电子电路的抗干扰技术,北京:

科学出版社,1989

16.沈雷主编,CMOS集成电路原理及应用,北京:

光明日报出版社,1986

17.郝鸿安主编,模拟集成电路应用集锦,上海:

上海科学技术文献出版社,1984

18.[美]D。

沃布沙尔著,言华等译,电子仪器的电路设计,北京:

科学出版杜,1986

19.《中国集成电路大全)编写委员会编,中国集成电路大全集成运算放大器,北京:

国防工业出版社,1985

20.《中国集成电路大全》编写委员会编,中国集成电路大全TTL集成电路,北京:

国防工业出版社,1985

21.《中国集成电路大全》编写委员会编,中国集成电路大全CMOS集成电路,北京:

国防工业出版社,1985

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