手机结构和硬件测试规范Word文档格式.docx

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TestCab:

DampHeat,steadystate

IEC60068-2-78，YD/T1539-2006

粉尘测试

GB/T2423.37-2006-TEnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:

TestL:

Dustandsand

IEC60068-2-68

温度冲击测试

GB/T2423.22-2002EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:

TestN:

ChangeofTemperature

IEC60068-2-14，YD/T1539-2006

数据线、耳机插拔寿命测试

YD/T1539-2006

翻盖/滑盖寿命测试

YD/T1539

静电测试

GB/T17626.2-1998,YD/T1592.1-2007

表面温升测试

GB4943

电池容量测试

GB18287

摄像头分辨率测试

YD/T1607

显示屏分辨率测试

本标准由中移XXX号文件印发。

本标准由中国移动通信集团终端有限公司提出，集团公司技术部归口。

本标准起草单位：

中国移动集团终端有限公司

本标准主要起草人：

锁磊、邵玮、梁作宇、刘启飞、邵松

1范围

本标准适用于中国移动定制的所有手机终端产品。

本标准规定了手机结构可靠性和主要硬件器件性能相关的测试方法和要求。

如无特殊说明，各项测试的测试样机数量均为1台。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

序号

标准编号

标准名称

发布单位

[1]

YD/T1367-2006

《2GHzTD-SCDMA数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求》

中国通信标准化协会

[2]

QB-E-001-2010

《中国移动TD-SCDMA终端设备总体技术要求》

中国移动

3术语、定义和缩略语

下列术语、定义和缩略语适用于本标准：

术语、定义、缩略语

解释

温度冲击

Thermalshock，指按规定的技术要求可对试样进行温度急骤变化的试验

ESD

Electro-StaticDischarge

4结构可靠性测试

4.1定向跌落测试

测试编号：

4.1

测试目的：

考察产品在搬运期间和使用过程中遭到跌落的适应性

测试设备及环境：

（1）测试设备：

可调跌落高度不低于1m，能够实现对测试面的定向跌落，跌落地面为钢制的平滑刚性表面，钢板厚度不小于20mm。

（2）测试环境：

温度20°

C~30°

C,湿度35~60%RH

测试步骤：

（1）跌落高度：

1m，跌落次数：

每个面2次，共12次。

具体步骤如下。

（2）对试验样品进行外观、功能和装配的检测。

（3）设定跌落试验机跌落高度1m，保证测试样品处于开机状态。

（4）按下述数字顺序对试验样品的六个面进行六次跌落测试。

若为翻盖机或滑盖机，使终端处于合盖状态进行测试。

每次跌落之后对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

（5）按上述数字顺序对试验样品的六个面重复进行六次跌落测试。

若为翻盖机或滑盖机，使终端处于开盖状态进行测试。

预期结果：

（1）测试样品功能不可发生任何失效或削减，包括但不限于以下功能，如开关机，拨打接听电话，屏幕显示，按键功能，照相预览、拍照和保存，马达功能，电池充电，铃音播放，麦克和听筒功能等。

（2）测试样品不能有机械结构的损坏，包括但不限于以下现象，如显示屏的破裂，外部或内部器件的脱落，壳体的开裂，不可恢复性的缝隙，结构件或电池的变形，转轴异响，滑轨异常等。

（3）测试样品不能有材料的明显退化，包括但不限于以下问题，如大面积退色及喷漆的脱落等。

（4）可以接受轻微划痕或可手动恢复得微小缝隙。

（5）可以接受用户可拆卸部件的脱落，如电池或电池壳、SIM卡、SD卡的脱落。

备注：

无。

4.2微跌落测试

4.2

考察产品在搬运期间和使用过程中遭到轻微跌落的适应性

可调跌落高度不低于10cm，能够实现对测试面的定向跌落，跌落地面为钢制的平滑刚性表面，钢板厚度不小于3mm。

（1）对试验样品进行外观、功能和装配的检测。

（2）设定跌落试验机跌落高度10cm，保证测试样品处于开机状态。

（3）按下述数字顺序对试验样品的六个面依次进行微跌落测试，每个面跌落200次。

完成后对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

（1）测试样品功能不可发生任何失效或削减，包括但不限于以下功能，如开关机，拨打接听电话，屏幕显示，按键功能，照相预览、拍照和保存，马达功能，电池充电，铃音播放、麦克和听筒功能等。

4.3自由跌落测试

4.3

考察产品在搬运期间和使用过程中遭到重复跌落的适应性

滚筒跌落机，跌落高度满足0.5m，跌落过程中确保测试样品为自由跌落，不受设备旋转向心力影响，跌落平面为钢制的平滑刚性表面，钢板厚度不小于3mm。

（2）测试样品处于开机状态，保证电池盖固定牢固（如测试样品电池盖较松，可用薄胶带辅助加固）。

（3）调整跌落频率，确保测试样品在跌落过程中不接触滚筒侧壁。

通常设定为10-12次/分钟，转速设定以能够保证测试样品在跌落过程中不接触滚筒侧壁而落在底板中央区域为准。

（4）将测试样品放入滚筒跌落机，开始自由跌落测试。

总跌落次数为100次。

在完成100次跌落后对样品进行外观、功能和装配的检测。

5环境适应性测试

5.1低温使用测试

5.1

模拟低温条件下的使用，确定产品在低温状态下的适用性，不会在极端的低温条件下产生永久性的损坏。

（1）温度试验箱，低温范围低于-15°

C，偏差在±

3°

C之内。

（2）测试样品开机状态下放入温度试验箱。

（3）设定温度试验箱从室温降到-15°

C，温变时间为1小时。

（4）保持温度6小时后，在-15°

C条件下检测样品的功能。

（5）测试结束后恢复到室温，再次对测试样品进行外观，功能和装配的检测。

（2）测试样品不能有机械结构的损坏，包括但不限于以下现象，如显示屏的破裂、漏液，外部或内部器件的脱落，壳体的开裂，不可恢复性的缝隙，结构件或电池的变形，转轴异响，滑轨异常等。

（3）测试样品不能有材料的明显退化，包括但不限于以下问题，如退色，起皮，鼓泡，喷漆的脱落，材料软硬的明显变化等。

5.2高温使用测试

5.2

模拟高温条件下的使用，确定产品在高温状态下的适用性，不会在极端的高温条件下产生永久性的损坏。

（1）温度试验箱，高温范围高于+55°

（3）设定温度试验箱从室温升到+55°

（4）保持温度6小时后，在+55°

5.3高湿使用测试

5.3

模拟高湿条件下的使用，确定产品在高湿状态下的适用性，不会在极端的高湿条件下产生永久性的损坏。

（1）温湿度试验箱，高温范围高于+40°

C，温度偏差在±

C之内，湿度不低于93±

3%RH，湿度偏差在±

3%之内。

（2）测试样品开机状态下放入温湿度试验箱。

（3）设定温湿度实验箱从常温常湿条件升到温度+40±

C，湿度93±

3%RH，温湿度变化时间为1小时。

（4）保持温度24小时后，在温度+40±

3%RH条件下检测样品的功能。

（5）测试结束后恢复到常温常湿，再次对测试样品进行外观，功能和装配的检测。

5.4温度冲击测试

5.4

确定产品、元器件经受环境极端温度迅速变化的能力。

（1）温度冲击试验箱，高温区温度范围高于+55°

C，低温区温度范围低于-25°

C，在3分钟内实现温变。

（2）测试样品关机状态下放入温度冲击试验箱。

（3）设定温湿度实验箱的低温区温度为-25±

C，高温区温度为+55±

C。

测试样品在两个温度条件下各持续30分钟（包括0-3分钟的温变时间）为一个循环，共执行5个循环。

温度循环过程见下图。

（4）循环结束后至少在室温下恢复2小时，对测试样品进行外观，功能和装配的检测。

5.5粉尘测试

5.5

确定产品防止细尘侵入的防护程度。

（1）粉尘试验箱，满足IP5X标准要求，滑石粉颗粒大小<

75um，使沙尘自由降尘。

（2）测试样品关机状态下放入粉尘试验箱。

（3）设定并运行粉尘试验箱，持续8小时。

（4）测试结束后，取出样品，刷掉测试样品上堆积的粉尘。

对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

（1）按键和其他可活动的部件不能有功能和触感上的退化。

（2）显示器屏幕内不允许有影响视觉效果的灰尘。

（3）照相机Lens下面不允许有明显的灰尘。

（4）不允许发生由于灰尘进入壳体或连接口造成的任何功能失效或削减。

6寿命测试

6.1数据线插拔寿命测试

6.1

模拟用户的使用，保证产品在整个生命周期中，数据线的connector及其配套的数据线功能正常，并评估用户频繁使用对产品的影响。

连接器自动插拔设备，保证在数据线插入时，测试设备不损坏产品和连接器。

C,湿度35~60%RH。

（1）对试验样品进行外观、功能的检测。

（2）测试并记录测试样品的数据线的拔出力值。

（3）测试样品处于开机状态，固定好测试样品，以10-20次/分钟的测试速度进行数据线插拔测试3000次。

（4）在完成插拔后，对测试样品进行外观、功能的检测，测量拔出力值。

（1）测试样品功能不能发生任何失效或着削减，如数据线充电和传输数据。

（2）连接器部件不能有任何结构的损坏或材料的明显退化，如明显的磨损，开裂，变形等。

（3）测试后连接器的拔出力值应该在测试前的70-130%之间。

6.2耳机插拔寿命测试

6.2

模拟用户的使用，保证产品在整个生命周期中，耳机的connector及其配套的耳机线功能正常，并评估用户频繁使用对产品的影响。

连接器自动插拔设备，保证在耳机插入时，测试设备不损坏产品和连接器。

（2）测试并记录测试样品的耳机的拔出力值。

（3）测试样品处于开机状态，固定好测试样品，以10-20次/分钟的测试速度进行耳机插拔测试1000次。

（1）测试样品功能不能发生任何失效或着削减，如耳机声音、耳机功能键等。

6.3翻盖/滑盖寿命测试

6.3

模拟客户的常规翻/滑盖使用，保证产品在使用寿命期限内不会因为翻盖/滑盖而导致机械结构或电器性能的故障。

保证在翻盖/滑盖测试过程中，测试设备不损坏产品相关部件，样机运动畅通，满足25-35次/分钟的速度。

（2）测试样品处于开机状态，将测试样品固定于测试台面上。

（3）设置测试次数为60000次，在完成翻盖/滑盖测试后，对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

（1）测试样品功能不能发生任何失效或着削减，包括但不限于以下功能，如开关机，拨打接听电话，屏幕显示，铃音播放等。

（2）测试样品不能有机械结构的损坏，包括但不限于以下问题，如壳体的开裂，不可恢复性的缝隙，结构件的变形等。

（3）转轴/滑轨相关结构不能有明显的磨损或撕扯。

本用例仅针对翻盖机和滑盖机。

6.4屏幕寿命测试（仅针对电阻屏）

6.4

模拟客户对电阻触摸屏的常规使用，保证产品在使用寿命期限内不会因为触摸屏而导致电器性能的故障。

划格点击测试机。

（1）测试样机两台，分别标记为样机1、样机2。

（2）使样机1处于开机状态，固定在测试夹具上，并执行以下测试：

a）点击屏幕的中心位置，25万次；

b）点击力量：

250g+/-10%；

c）点击速度：

1-3次/秒。

（3）使样机2处于开机状态，固定在测试夹具上，并执行以下测试：

a）使用附带的手写笔沿触摸屏边框3MM内单步做直角三角形划线测试（即单独划X轴直线、Y轴直线、对角线,依次组成直角三角形），每一步执行10万次；

b）划线力量：

c）划线速度：

60mm/秒；

（1）功能：

触摸屏使用功能无异常，显示屏显示正常以及无其它与测试前状态参数不一致的功能问题。

（2）结构：

触摸屏、显示屏无损伤、破裂；

手写笔头部无变形、扭曲、损伤以及无其它与测试前状态参数不一致通过的结构问题。

（3）触摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前不一致的外观问题。

本用例仅针对电阻触摸屏。

本用例使用手机自带手写笔进行测试。

7静电测试

7

评估被测产品遭受直接来自操作者和对邻近物体的静电放电时的抗扰度。

（1）静电测试环境如下图所示。

（2）测试样机距离墙和任何金属结构至少1m。

（3）ESD发生器的放电线要有接地保护。

（4）桌上的绝缘片的厚度为0.5cm。

（5）输出电压的极性分为：

正极和负极。

（6）测试环境：

C~25°

C,湿度50~60%RH。

（2）插入测试卡，测试样品处于开机并待机状态，放置于测试台面上。

（3）选定测试点，具体信息如下表：

手机状态

（开机：

接触放电）

放电位置

±

4kV

带充电器/

不带充电器/

待机状态/

通话状态

天线接口

ü

数据线接口

充电器接口

裸露金属

空气放电）

10kV

裸露金属部位

Speaker

Receiver

Mic

壳体缝隙

按键缝隙

（4）设置好相关参数，按照上表选定测试点首先进行接触放电测试。

（5）每个测试点进行10次连续放电，然后释放静电，然后按照顺时针顺序进行下一个点的放电测试。

（6）对试验样品进行外观、功能和装配的检测。

（7）设置好相关参数，按照上表选定测试点进行空气放电测试。

（8）每个测试点放电一次，释放静电一次，一共10次放电测试。

（9）对试验样品进行外观、功能和装配的检测。

（10）插上充电器重复步骤4）到9）。

（11）将测试样品与基站模拟器连接，是测试样品处于通话状态，重复步骤4）到9）。

（1）测试样品功能不能发生任何失效或者削减，包括但不限于以下功能，如开关机，拨打接听电话，屏幕显示，按键功能，整机手感，照相机预览，拍照和保存，马达功能，电池充电，铃音播放等（PassA）。

（2）测试样品部分功能失常，但能自行恢复可以接受。

如屏显示异常（花屏/白屏/黑屏）然后自行恢复正常显示等类似故障（PassB）。

（3）测试后部分功能失常，在外力帮助下能够恢复，可以接受。

例如手机死机，屏幕显示异常，不识SIM卡，不能自行恢复，重装电池后功能正常等类似故障（PassC）。

（4）不能接受功能失常且不能恢复的现象，包括但不限于以下功能，如开关机，拨打接听电话，屏幕显示，按键功能，照相机御览，拍照和保存，电池充电，铃音播放等。

如测试结束后不能开机，放置24小时后仍不能开机等类似故障。

8硬件性能测试

8.1表面温升测试

8.1.1通话状态的表面温升测试

8.1.1

检查手机在打电话状态下的表面温升是否符合要求。

IRCamera，可以自动寻找并确定最高、最低温度点

温度25°

测