集成电路开短路测试.docx
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集成电路开短路测试
摘要
本次设计针对测试集成电路的开短路。
作品设计以AT89S52,两个CD4051，一个待测芯片MC34063为主，用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中一个引脚，此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。
34063芯片测试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定；自动分装时能够与机械手系统通信；用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。
在评定集成电路等级时，第一种测试仪只需分辨合格与不合格。
芯片的测试分两次。
在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片（小片）进行测试。
测试后进行切割。
测试合格的芯片才能进行封装。
封装完成后的芯片还要进行第二次测试。
当已经封装的芯片被测出故障，厂商应当拆掉封装进行测试，找出故障原因。
这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。
关键词：
一片AT89S52；两片CD4051；一片MC34063
（1）恒电流电路设计
（2）判决电路设计
（3）控制电路设计
（4）选通电路设计
1、硬件原理图
七、总结.......................................................................................................................9
八、参考文献..................................................................................................................................10
集成电路开短路测试
一．选题的意义
对集成电路厂家来说，开短路测试（openshorttest）是集成电路生产商必须具备的一项关键技术，关系到企业的生存；对消费者使用者来说，开短路测试关系到一个项目的生产效率，在很大程度上决定着工作的质量。
二．原理分析
集成电路开短路测试分为开路测试（openshorttoVDD）和短路测试（openshorttoVSS）。
一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管，一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏（或接地）,再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.
open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.
三．总体设计
四．详细设计
（一）硬件设计
1.恒电流电路设计
5V电压源通过电路产生2.5V电压，供电流源使用。
电流源是通过Q1和Q2两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成，该电流源主要用于提供100mA到500mA的电流用于测试输入，其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作用
2.判决电路设计
比较电路上端接2.5V，通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生1.5V的电压，在5号引脚产生0.2V的电压；将3和6号引脚电位与他们比较，以此来选通二极管D1或D2，当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其中一个导通，介于两电位之间时两个二极管全部截止，其中3和6号引脚电位等于所U3选通引脚电位。
3.控制电路设计
控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6，9，10，11号引脚实现；右上图是AT89S52的复位电路。
4.选通电路设计
选通电路主要用于选择被测芯片的引脚，芯片U2选通的引脚通过其3号引脚将被测引脚点置0，芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平，之后通过发光二极管来显示两引脚是开路或短路，还是正常。
（二）软件设计
#include
#include
#defineuintunsignedint
#defineucharunsignedchar
sbitP1_0=P1^0;//定义p1.0口
sbitP1_1=P1^1;//定义P1.1口
voiddeplay（uintz）//延时
{
uintx,y;
for（x=z;x>0;x--）
for（y=110;y>0;y--）;
}
voidopen_short_to_VDD（）//开路测试
{
uinti,j;
P2=0x34;
i=P2&0x0f;
j=（P2&0xf0）>>4;
for（i=3;i<=6;i++）
{if（j==i）continue;
P2=（j<<4）|i;
if（P1_0）P1_1=1;elseP1_1=0;
deplay（700）;
}
}
voidopen_short_to_VSS（）//短路测试
{
uinti,j;
P2=0x23;
i=P2&0x0f;
j=（P2&0xf0）>>4;
for（i=3;i<=6;i++）
{
if（i==j）continue;
P2=（j<<4）|i;
deplay（700）;
}
}
voidshort_out_to_PIN（）//对各引脚测短路
{uinti,j;
P2=0x32;
i=P2&0x0f;
j=（P2&0xf0）>>4;
for（i=3;i<=6;i++）
{
for（j=3;j<=6;j++）
{
if（j==i）continue;
P2=（j<<4）|i;
deplay（1000）;
}
}
}
main（）
{
while
（1）
{
open_short_to_VDD（）;
deplay（700）;
open_short_to_VSS（）;
deplay（700）;
short_out_to_PIN（）;
}
}
五．系统设计
1、硬件原理图
六．测试
眼前最亮的黄灯亮了说明芯片没问题，后面的红灯亮指示的电源
七．总结
本次设计最终实现测试芯片开短路的功能，能够测试八个引脚的芯片的好坏，当一个芯片好使时，除电源等以外的另一个灯会隔几秒连续亮两下，如果引脚出现开短路时则指示灯一直熄灭，除电源灯
在设计期间，查阅了大量有关单片机系统设计的相关中文、英文资料，分析了很多芯片的功能及应用，初步掌握了单片机与一些传感器的用法。
通过查阅资料，不但做到了温故而知新，而且使自己所学的知识更加系统化，并在一定程度上提高了收集和筛选信息的能力。
在查阅英文资料的同时，也提高了英语的应用能
八、参考文献
[1]杨素行.模拟电子技术基础简明教程.清华大学电子学教研组编，高等教育出
版社，第三版2005年12月
[2]杨光友，朱宏辉.单片微型计算机原理及接口技术.北京.第1版.中国水利水电出版社，2002：
P23—P25
[3]先锋工作室.单片机程序设计实例.北京.第1版.清华大学出版社，2003：
P125—P134
[4]李华.MCS-51系列单片机实用接口技术.北京.第1版.北京航空航天大学出版社，2004：
P75—P78
[5]张毅刚，彭喜元，乔立岩.新编MCS-51单片机应用设计.哈尔滨.第1版.哈尔滨工业大学出版社，2003：
P35—P60
[6]李群芳，张士军，黄建.单片微型计算机与接口技术.北京.第3版.电子工业出版社.2008:
P105—P13
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