常用材料分析方法简写.docx

1、常用材料分析方法简写AAAS 原子吸收光谱法AES 原子发射光谱法AFS 原子荧光光谱法ASV 阳极溶出伏安法ATR 衰减全反射法AUES 俄歇电子能谱法 CCEP 毛细管电泳法CGC 毛细管气相色谱法CIMS 化学电离质谱法CIP 毛细管等速电泳法CLC 毛细管液相色谱法CSFC 毛细管超临界流体色谱法CSFE 毛细管超临界流体萃取法CSV 阴极溶出伏安法CZEP 毛细管区带电泳法DDDTA 导数差热分析法DIA 注入量焓测定法DPASV 差示脉冲阳极溶出伏安法DPCSV 差示脉冲阴极溶出伏安法DPP 差示脉冲极谱法DPSV 差示脉冲溶出伏安法DPVA 差示脉冲伏安法DSC 差示扫描量热法D

2、TA 差热分析法DTG 差热重量分析法EEAAS 电热或石墨炉原子吸收光谱法ETA 酶免疫测定法EIMS 电子碰撞质谱法ELISA 酶标记免疫吸附测定法EMAP 电子显微放射自显影法EMIT 酶发大免疫测定法EPMA 电子探针X射线微量分析法ESCA 化学分析用电子能谱学法ESP 萃取分光光度法FFAAS 火焰原子吸收光谱法FABMS 快速原子轰击质谱法FAES 火焰原子发射光谱法FDMS 场解析质谱法FIA 流动注射分析法FIMS 场电离质谱法FNAA 快中心活化分析法FT-IR 傅里叶变换红外光谱法FT-NMR 傅里叶变换核磁共振谱法FT-MS 傅里叶变换质谱法GC 气相色谱法GC-IR

3、气相色谱-红外光谱法GC-MS 气相色谱-质谱法GD-AAS 辉光放电原子吸收光谱法GD-AES 辉光放电原子发射光谱法GD-MS 辉光放电质谱法GFC 凝胶过滤色谱法GLC 气相色谱法GLC-MS 气相色谱-质谱法HHAAS 氢化物发生原子吸收光谱法HAES 氢化物发生原子发射光谱法HPLC 高效液相色谱法HPTLC 高效薄层色谱法IIBSCA 离子束光谱化学分析法IC 离子色谱法ICP 电感耦合等离子体ICP-AAS 电感耦合等离子体原子吸收光谱法ICP-AES 电感耦合等离子体原子发射光谱法ICP-MS 电感耦合等离子体质谱法IDA 同位素稀释分析法IDMS 同位素稀释质谱法IEC 离子

4、交换色谱法INAA 仪器中子活化分析法IPC 离子对色谱法IR 红外光谱法ISE 离子选择电极法ISFET 离子选择场效应晶体管LLAMMA 激光微探针质谱分析法LC 液相色谱法LC-MS 液相色谱-质谱法MMECC 胶束动电毛细管色谱法MEKC 胶束动电色谱法MIP-AAS 微波感应等离子体原子吸收光谱法MIP-AES 微波感应等离子体原子发射光谱法MS 质谱法NNAA 中子活化法NIRS 近红外光谱法NMR 核磁共振波谱法PPAS 光声光谱法PC 纸色谱法PCE 纸色谱电泳法PE 纸电泳法PGC 热解气相色谱法PIGE 粒子激发Gamma射线发射光谱法PIXE 粒子激发X射线发射光谱法 R

5、RHPLC 反相高效液相色谱法RHPTLC 反相液相薄层色谱法RIA 发射免疫分析法RPLC 反相液相色谱法SSEM 扫描电子显微镜法SFC 超临界流体色谱法SFE 超临界流体萃取法SIMS 次级离子质谱法SIQMS 次级离子四极质谱法SP 分光光度法SP(M)E 固相(微)萃取法STM 扫描隧道电子显微镜法STEM 扫描投射电子显微镜法SV 溶出伏安法TTEM 投射电子显微镜法TGA 热重量分析法TGC 薄层凝胶色谱法TLC 薄层色谱法UUPS 紫外光电子光谱法UVF 紫外荧光光谱法UVS 紫外光谱法XXES X射线发射光谱法XPS X射线光电子光谱法XRD X射线衍射光谱法XRF X射线荧

6、光光谱法常见仪器分析方法的缩写、谱图和功能说明分析方法缩写分析原理谱图的表示方法提供的信息紫外吸收光谱UV吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁相对吸收光能量随吸收光波长的变化吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息荧光光谱法FS被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光发射的荧光能量随光波长的变化荧光效率和寿命，提供分子中不同电子结构的信息红外吸收光谱法IR吸收红外光能量，引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁相对透射光能量随透射光频率变化峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率拉曼光谱法Ram吸收光能后，引起具有极化率变化的分子振动，产生拉

7、曼散射散射光能量随拉曼位移的变化峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率核磁共振波谱法NMR在外磁场中，具有核磁矩的原子核，吸收射频能量，产生核自旋能级的跃迁吸收光能量随化学位移的变化峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数，提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息电子顺磁共振波谱法ESR在外磁场中，分子中未成对电子吸收射频能量，产生电子自旋能级跃迁吸收光能量或微分能量随磁场强度变化谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数，提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息质谱分析法MS分子在真空中被电子轰击，形成离子，通过电磁场按不同m/e分离以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化

8、分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度，提供分子量，元素组成及结构的信息气相色谱法GC样品中各组分在流动相和固定相之间，由于分配系数不同而分离柱后流出物浓度随保留值的变化峰的保留值与组分热力学参数有关，是定性依据；峰面积与组分含量有关反气相色谱法IGC探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数裂解气相色谱法PGC高分子材料在一定条件下瞬间裂解，可获得具有一定特征的碎片柱后流出物浓度随保留值的变化谱图的指纹性或特征碎片峰，表征聚合物的化学结构和几何构型凝胶色谱法GPC样品通过凝

9、胶柱时，按分子的流体力学体积不同进行分离，大分子先流出柱后流出物浓度随保留值的变化高聚物的平均分子量及其分布热重法TG在控温环境中，样品重量随温度或时间变化样品的重量分数随温度或时间的变化曲线曲线陡降处为样品失重区，平台区为样品的热稳定区热差分析DTA样品与参比物处于同一控温环境中，由于二者导热系数不同产生温差，记录温度随环境温度或时间的变化温差随环境温度或时间的变化曲线提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息示差扫描量热分析DSC样品与参比物处于同一控温环境中，记录维持温差为零时，所需能量随环境温度或时间的变化热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息静态热

10、力分析TMA样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化样品形变值随温度或时间变化曲线热转变温度和力学状态动态热力分析DMA样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化模量或tg随温度变化曲线热转变温度模量和tg透射电子显微术TEM高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术SEM用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等断口

11、形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等仪器紫外：UV原吸：AAS高效液相色谱：HPLC气相色谱：GC薄层色谱：TLC离子色谱：IC原子荧光：AFS电感耦合等离子体扫描光谱仪：ICP质谱：MS红外光谱：IR；傅立叶红外光谱：FT-IR；核磁共振：NMR近红外 ：NIR示差扫描量热仪：DSC动态热机械分析仪：DTMAX射线荧光光谱仪：XRF透射电子显微镜:TEM扫描电子显微镜:SEM场电子显微镜:FEM场离子显微镜:FIM低能电子衍射EED光电子能谱:ESCA扫描隧道显微镜:STM原子力显微镜:AFM横向力显微镜FM扫描探针显微镜:SPMBOD:生化耗氧量COD:化学

12、耗氧量TOC:总有机碳TIC:总无机碳AOX:可吸收卤化物仪器中文名称 仪器英文名称 英文缩写 原子发射光谱仪 Atomic Emission Spectrometer AES电感偶合等离子体发射光谱仪 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer ICP直流等离子体发射光谱仪 Direct Current Plasma Emission Spectrometer DCP紫外-可见光分光光度计 UV-Visible Spectrophotometer UV-Vis微波等离子体光谱仪 Microwave Inductive Plasma Emiss

13、ion Spectrometer MIP原子吸收光谱仪 Atomic Absorption Spectroscopy AAS原子荧光光谱仪 Atomic Fluorescence Spectroscopy AFS傅里叶变换红外光谱仪 FT-IR Spectrometer FTIR傅里叶变换拉曼光谱仪 FT-Raman Spectrometer FTIR-Raman气相色谱仪 Gas Chromatograph GC高压/效液相色谱仪 High Pressure/Performance Liquid Chromatography HPLC离子色谱仪 Ion Chromatograph IC凝胶渗

14、透色谱仪 Gel Permeation Chromatograph GPC体积排阻色谱 Size Exclusion Chromatograph SECX射线荧光光谱仪 X-Ray Fluorescence Spectrometer XRFX射线衍射仪 X-Ray Diffractomer XRD同位素X荧光光谱仪 Isotope X-Ray Fluorescence Spectrometer 电子能谱仪 Electron Energy Disperse Spectroscopy 能谱仪 Energy Disperse Spectroscopy EDS质谱仪 Mass Spectrometer

15、 MS核磁共振波谱仪 Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer NMR电子顺磁共振波谱仪 Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer ESR极谱仪 Polarograph 伏安仪 Voltammerter自动滴定仪 Automatic Titrator电导仪 Conductivity MeterpH计 pH Meter水质分析仪 Water Test Kits电泳仪 Electrophoresis System表面科学 Surface Science电子显微镜 Electro Microscopy光学显微镜 O

16、ptical Microscopy金相显微镜 Metallurgical Microscopy扫描探针显微镜 Scanning Probe Microscopy表面分析仪 Surface Analyzer无损检测仪 Instrument for Nondestructive Testing物性分析 Physical Property Analysis热分析仪 Thermal Analyzer粘度计 Viscometer流变仪 Rheometer粒度分析仪 Particle Size Analyzer热物理性能测定仪 Thermal Physical Property Tester电性能测定仪

17、Electrical Property Tester光学性能测定仪 Optical Property Tester机械性能测定仪 Mechanical Property Tester燃烧性能测定仪 Combustion Property Tester老化性能测定仪 Aging Property Tester生物技术分析 Biochemical analysisPCR仪 Instrument for Polymerase Chain Reaction PCR DNA及蛋白质的测序和合成仪 Sequencers and Synthesizers for DNA and Protein传感器 Sen

18、sors其他 Other/Miscellaneous流动分析与过程分析 Flow Analytical and Process Analytical Chemistry气体分析 Gas Analysis基本物理量测定 Basic Physics样品处理 Sample Handling金属/材料元素分析仪 Metal/material elemental analysis环境成分分析仪 CHN Analysis发酵罐 Fermenter生物反应器 Bio-reactor摇床 Shaker离心机 Centrifuge超声破碎仪 Ultrasonic Cell Disruptor超低温冰箱 Ultr

19、a-low Temperature Freezer恒温循环泵 Constant Temperature Circulator超滤器 Ultrahigh Purity Filter冻干机 Freeze Drying Equipment部分收集器 Fraction Collector氨基酸测序仪 Protein Sequencer氨基酸组成分析仪 Amino Acid Analyzer多肽合成仪 Peptide synthesizerDNA测序仪 DNA SequencersDNA合成仪 DNA synthesizer紫外观察灯 Ultraviolet Lamp分子杂交仪 Hybridizatio

20、n OvenPCR仪 PCR Amplifier化学发光仪 Chemiluminescence Apparatus紫外检测仪 Ultraviolet Detector电泳 Electrophoresis酶标仪 ELIASACO2培养箱 CO2 Incubators倒置显微镜 Inverted Microscope超净工作台 Bechtop选区电子衍射由选区形貌观察与电子衍射结构分析的微区对应性，实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。 简单地说，选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区光栏，可以对产生衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。

21、选区电子衍射的基本原理见图。选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样仅来自于选区范围内晶体的贡献。实际上，选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应，也就是说选区衍射存在一定误差，选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。选区范围不宜太小，否则将带来太大的误差。对于100kV的透射电镜，最小的选区衍射范围约0.5m；加速电压为1000kV时，最小的选区范围可达0.1m。选区电子衍射的操作:1) 在成像的操作方式下，使物镜精确聚焦，获得清晰的形貌像。2) 插入并选用尺寸合适的选区光栏围住被选择的视场。3) 减小中间镜电流，使其物平面与物镜背焦面重合，转入衍射操作方式。对于近代的电镜，此步操作可按“衍射”按钮自动完成。4) 移出物镜光栏，在荧光屏上显示电子衍射花样可供观察。5) 需要拍照记录时，可适当减小第二聚光镜电流，获得更趋近平行的电子束，使衍射斑点尺寸变小。