常用材料分析方法简写.docx
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常用材料分析方法简写
A
AAS原子吸收光谱法
AES原子发射光谱法
AFS原子荧光光谱法
ASV阳极溶出伏安法
ATR衰减全反射法
AUES俄歇电子能谱法
C
CEP毛细管电泳法
CGC毛细管气相色谱法
CIMS化学电离质谱法
CIP毛细管等速电泳法
CLC毛细管液相色谱法
CSFC毛细管超临界流体色谱法
CSFE毛细管超临界流体萃取法
CSV阴极溶出伏安法
CZEP毛细管区带电泳法
D
DDTA导数差热分析法
DIA注入量焓测定法
DPASV差示脉冲阳极溶出伏安法
DPCSV差示脉冲阴极溶出伏安法
DPP差示脉冲极谱法
DPSV差示脉冲溶出伏安法
DPVA差示脉冲伏安法
DSC差示扫描量热法
DTA差热分析法
DTG差热重量分析法
E
EAAS电热或石墨炉原子吸收光谱法
ETA酶免疫测定法
EIMS电子碰撞质谱法
ELISA酶标记免疫吸附测定法
EMAP电子显微放射自显影法
EMIT酶发大免疫测定法
EPMA电子探针X射线微量分析法
ESCA化学分析用电子能谱学法
ESP萃取分光光度法
F
FAAS火焰原子吸收光谱法
FABMS快速原子轰击质谱法
FAES火焰原子发射光谱法
FDMS场解析质谱法
FIA流动注射分析法
FIMS场电离质谱法
FNAA快中心活化分析法
FT-IR傅里叶变换红外光谱法
FT-NMR傅里叶变换核磁共振谱法
FT-MS傅里叶变换质谱法
GC气相色谱法
GC-IR气相色谱-红外光谱法
GC-MS气相色谱-质谱法
GD-AAS辉光放电原子吸收光谱法
GD-AES辉光放电原子发射光谱法
GD-MS辉光放电质谱法
GFC凝胶过滤色谱法
GLC气相色谱法
GLC-MS气相色谱-质谱法
H
HAAS氢化物发生原子吸收光谱法
HAES氢化物发生原子发射光谱法
HPLC高效液相色谱法
HPTLC高效薄层色谱法
I
IBSCA离子束光谱化学分析法
IC离子色谱法
ICP电感耦合等离子体
ICP-AAS电感耦合等离子体原子吸收光谱法
ICP-AES电感耦合等离子体原子发射光谱法
ICP-MS电感耦合等离子体质谱法
IDA同位素稀释分析法
IDMS同位素稀释质谱法
IEC离子交换色谱法
INAA仪器中子活化分析法
IPC离子对色谱法
IR红外光谱法
ISE离子选择电极法
ISFET离子选择场效应晶体管
L
LAMMA激光微探针质谱分析法
LC液相色谱法
LC-MS液相色谱-质谱法
M
MECC胶束动电毛细管色谱法
MEKC胶束动电色谱法
MIP-AAS微波感应等离子体原子吸收光谱法
MIP-AES微波感应等离子体原子发射光谱法
MS质谱法
N
NAA中子活化法
NIRS近红外光谱法
NMR核磁共振波谱法
P
PAS光声光谱法
PC纸色谱法
PCE纸色谱电泳法
PE纸电泳法
PGC热解气相色谱法
PIGE粒子激发Gamma射线发射光谱法
PIXE粒子激发X射线发射光谱法
R
RHPLC反相高效液相色谱法
RHPTLC反相液相薄层色谱法
RIA发射免疫分析法
RPLC反相液相色谱法
S
SEM扫描电子显微镜法
SFC超临界流体色谱法
SFE超临界流体萃取法
SIMS次级离子质谱法
SIQMS次级离子四极质谱法
SP分光光度法
SP（M）E固相（微）萃取法
STM扫描隧道电子显微镜法
STEM扫描投射电子显微镜法
SV溶出伏安法
T
TEM投射电子显微镜法
TGA热重量分析法
TGC薄层凝胶色谱法
TLC薄层色谱法
U
UPS紫外光电子光谱法
UVF紫外荧光光谱法
UVS紫外光谱法
X
XESX射线发射光谱法
XPSX射线光电子光谱法
XRDX射线衍射光谱法
XRFX射线荧光光谱法
常见仪器分析方法的缩写、谱图和功能说明
分析方法
缩写
分析原理
谱图的表示方法
提供的信息
紫外吸收光谱
UV
吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁
相对吸收光能量随吸收光波长的变化
吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息
荧光光谱法
FS
被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光
发射的荧光能量随光波长的变化
荧光效率和寿命，提供分子中不同电子结构的信息
红外吸收光谱法
IR
吸收红外光能量，引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁
相对透射光能量随透射光频率变化
峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率
拉曼光谱法
Ram
吸收光能后，引起具有极化率变化的分子振动，产生拉曼散射
散射光能量随拉曼位移的变化
峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率
核磁共振波谱法
NMR
在外磁场中，具有核磁矩的原子核，吸收射频能量，产生核自旋能级的跃迁
吸收光能量随化学位移的变化
峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数，提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息
电子顺磁共振波谱法
ESR
在外磁场中，分子中未成对电子吸收射频能量，产生电子自旋能级跃迁
吸收光能量或微分能量随磁场强度变化
谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数，提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息
质谱分析法
MS
分子在真空中被电子轰击，形成离子，通过电磁场按不同m/e分离
以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化
分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度，提供分子量，元素组成及结构的信息
气相色谱法
GC
样品中各组分在流动相和固定相之间，由于分配系数不同而分离
柱后流出物浓度随保留值的变化
峰的保留值与组分热力学参数有关，是定性依据；峰面积与组分含量有关
反气相色谱法
IGC
探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力
探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线
探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数
裂解气相色谱法
PGC
高分子材料在一定条件下瞬间裂解，可获得具有一定特征的碎片
柱后流出物浓度随保留值的变化
谱图的指纹性或特征碎片峰，表征聚合物的化学结构和几何构型
凝胶色谱法
GPC
样品通过凝胶柱时，按分子的流体力学体积不同进行分离，大分子先流出
柱后流出物浓度随保留值的变化
高聚物的平均分子量及其分布
热重法
TG
在控温环境中，样品重量随温度或时间变化
样品的重量分数随温度或时间的变化曲线
曲线陡降处为样品失重区，平台区为样品的热稳定区
热差分析
DTA
样品与参比物处于同一控温环境中，由于二者导热系数不同产生温差，记录温度随环境温度或时间的变化
温差随环境温度或时间的变化曲线
提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息
示差扫描量热分析
DSC
样品与参比物处于同一控温环境中，记录维持温差为零时，所需能量随环境温度或时间的变化
热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线
提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息
静态热―力分析
TMA
样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化
样品形变值随温度或时间变化曲线
热转变温度和力学状态
动态热―力分析
DMA
样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化
模量或tgδ随温度变化曲线
热转变温度模量和tgδ
透射电子显微术
TEM
高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象
质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象
晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等
扫描电子显微术
SEM
用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象
背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等
断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等
仪器
紫外：
UV
原吸：
AAS
高效液相色谱：
HPLC
气相色谱：
GC
薄层色谱：
TLC
离子色谱：
IC
原子荧光：
AFS
电感耦合等离子体扫描光谱仪：
ICP
质谱：
MS
红外光谱：
IR；傅立叶红外光谱：
FT-IR；
核磁共振：
NMR
近红外：
NIR
示差扫描量热仪：
DSC
动态热机械分析仪：
DTMA
X射线荧光光谱仪：
XRF
透射电子显微镜:
TEM
扫描电子显微镜:
SEM
场电子显微镜:
FEM
场离子显微镜:
FIM
低能电子衍射EED
光电子能谱:
ESCA
扫描隧道显微镜:
STM
原子力显微镜:
AFM
横向力显微镜FM
扫描探针显微镜:
SPM
BOD:
生化耗氧量
COD:
化学耗氧量
TOC:
总有机碳
TIC:
总无机碳
AOX:
可吸收卤化物
仪器中文名称 仪器英文名称 英文缩写
原子发射光谱仪 AtomicEmissionSpectrometer AES
电感偶合等离子体发射光谱仪InductiveCoupledPlasmaEmissionSpectrometer ICP
直流等离子体发射光谱仪 DirectCurrentPlasmaEmissionSpectrometer DCP
紫外-可见光分光光度计 UV-VisibleSpectrophotometer UV-Vis
微波等离子体光谱仪 MicrowaveInductivePlasmaEmissionSpectrometer MIP
原子吸收光谱仪 AtomicAbsorptionSpectroscopy AAS
原子荧光光谱仪 AtomicFluorescenceSpectroscopy AFS
傅里叶变换红外光谱仪 FT-IRSpectrometer FTIR
傅里叶变换拉曼光谱仪 FT-RamanSpectrometer FTIR-Raman
气相色谱仪 GasChromatograph GC
高压/效液相色谱仪 HighPressure/PerformanceLiquidChromatography HPLC
离子色谱仪 IonChromatograph IC
凝胶渗透色谱仪 GelPermeationChromatograph GPC
体积排阻色谱 SizeExclusionChromatograph SEC
X射线荧光光谱仪 X-RayFluorescenceSpectrometer XRF
X射线衍射仪 X-RayDiffractomer XRD
同位素X荧光光谱仪 IsotopeX-RayFluorescenceSpectrometer
电子能谱仪 ElectronEnergyDisperseSpectroscopy
能谱仪 EnergyDisperseSpectroscopy EDS
质谱仪 MassSpectrometer MS
核磁共振波谱仪 NuclearMagneticResonanceSpectrometer NMR
电子顺磁共振波谱仪 ElectronParamagneticResonanceSpectrometer ESR
极谱仪 Polarograph
伏安仪 Voltammerter
自动滴定仪 AutomaticTitrator
电导仪 ConductivityMeter
pH计 pHMeter
水质分析仪 WaterTestKits
电泳仪 ElectrophoresisSystem
表面科学 SurfaceScience
电子显微镜 ElectroMicroscopy
光学显微镜 OpticalMicroscopy
金相显微镜 MetallurgicalMicroscopy
扫描探针显微镜 ScanningProbeMicroscopy
表面分析仪 SurfaceAnalyzer
无损检测仪 InstrumentforNondestructiveTesting
物性分析 PhysicalPropertyAnalysis
热分析仪 ThermalAnalyzer
粘度计 Viscometer
流变仪 Rheometer
粒度分析仪 ParticleSizeAnalyzer
热物理性能测定仪 ThermalPhysicalPropertyTester
电性能测定仪 ElectricalPropertyTester
光学性能测定仪 OpticalPropertyTester
机械性能测定仪 MechanicalPropertyTester
燃烧性能测定仪 CombustionPropertyTester
老化性能测定仪 AgingPropertyTester
生物技术分析 Biochemicalanalysis
PCR仪 InstrumentforPolymeraseChainReactionPCR
DNA及蛋白质的测序和合成仪SequencersandSynthesizersforDNAandProtein
传感器 Sensors
其他 Other/Miscellaneous
流动分析与过程分析 FlowAnalyticalandProcessAnalyticalChemistry
气体分析 GasAnalysis
基本物理量测定 BasicPhysics
样品处理 SampleHandling
金属/材料元素分析仪 Metal/materialelementalanalysis
环境成分分析仪 CHNAnalysis
发酵罐 Fermenter
生物反应器 Bio-reactor
摇床 Shaker
离心机 Centrifuge
超声破碎仪 UltrasonicCellDisruptor
超低温冰箱 Ultra-lowTemperatureFreezer
恒温循环泵 ConstantTemperatureCirculator
超滤器 UltrahighPurityFilter
冻干机 FreezeDryingEquipment
部分收集器 FractionCollector
氨基酸测序仪 ProteinSequencer
氨基酸组成分析仪 AminoAcidAnalyzer
多肽合成仪 Peptidesynthesizer
DNA测序仪 DNASequencers
DNA合成仪 DNAsynthesizer
紫外观察灯 UltravioletLamp
分子杂交仪 HybridizationOven
PCR仪 PCRAmplifier
化学发光仪 ChemiluminescenceApparatus
紫外检测仪 UltravioletDetector
电泳 Electrophoresis
酶标仪 ELIASA
CO2培养箱 CO2Incubators
倒置显微镜 InvertedMicroscope
超净工作台 Bechtop
选区电子衍射
由选区形貌观察与电子衍射结构分析的微区对应性，实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。
简单地说，选区电子衍射借助设置在物镜像平面的选区光栏，可以对产生衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。
选区电子衍射的基本原理见图。
选区光栏用于挡住光栏孔以外的电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使得在荧光屏上观察到的电子衍射花样仅来自于选区范围内晶体的贡献。
实际上，选区形貌观察和电子衍射花样不能完全对应，也就是说选区衍射存在一定误差，选区域以外样品晶体对衍射花样也有贡献。
选区范围不宜太小，否则将带来太大的误差。
对于100kV的透射电镜，最小的选区衍射范围约0.5m；加速电压为1000kV时，最小的选区范围可达0.1m。
选区电子衍射的操作:
1）在成像的操作方式下，使物镜精确聚焦，获得清晰的形貌像。
2）插入并选用尺寸合适的选区光栏围住被选择的视场。
3）减小中间镜电流，使其物平面与物镜背焦面重合，转入衍射操作方式。
对于近代的电镜，此步操作可按“衍射”按钮自动完成。
4）移出物镜光栏，在荧光屏上显示电子衍射花样可供观察。
5）需要拍照记录时，可适当减小第二聚光镜电流，获得更趋近平行的电子束，使衍射斑点尺寸变小。
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