实验十三集成与非门参数测试实验十三 集成与非门参数测试一实验目的 一把握74LS20及74LS00型TTL集成与非门要紧参数的测试方式; 二把握与非门逻辑功能的测试方式; 3熟悉各类门电路及把握空余端处置方式.二实验原理 本实验所利用的74, 将与非门任一输入端经毫安表接地，如图13-3所示，其余各
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1、实验十三集成与非门参数测试实验十三 集成与非门参数测试一实验目的 一把握74LS20及74LS00型TTL集成与非门要紧参数的测试方式; 二把握与非门逻辑功能的测试方式; 3熟悉各类门电路及把握空余端处置方式.二实验原理 本实验所利用的74。
2、 将与非门任一输入端经毫安表接地，如图13-3所示，其余各端悬空，毫安表读数即IIS值，此值小于为合格。
测得： IIS = mA。
（3） 开门电平VON和关门电平VOFF的测量。
aVON的测量 测量电路如图13-。
3、 IIS = mA。
（3） 开门电平VON和关门电平VOFF的测量。
aVON的测量图13-4VI 测量电路如图13-4所示。
在测量时，将VI从0逐渐增加,当输出端刚刚达到0. 35V左右时的输入电压即为VON。
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