材料测试实验.docx

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材料测试实验

扫描电子显微镜（SEM）

　　（SEM）扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。

1942年，英国第一制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时刻太长，因此有效价值不大。

通过各国科学工作者的尽力，尤其是随着电子工业技术水平的不断进展，到

　　1956年开始生产商品扫描电镜。

近数十年来，扫描电镜已普遍地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，增进了各有关学科的进展。

　　一．扫描电镜的特点

　　和光学显微镜及透射电镜相较，扫描电镜具有以下特点：

（一）能够直接观看样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm

（二）样品制备进程简单，不用切成薄片。

　　（三）样品能够在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，能够从各类角度对样品进行观看。

　　（四）景深大，图象富有立体感。

扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

　　（五）图象的放大范围广，分辨率也比较高。

可放大十几倍到几十万倍，它大体上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。

分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

　　（六）电子束对样品的损伤与污染程度较小。

　　（七）在观看形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成份分析。

　　二．扫描电镜的结构和工作原理

（一）结构

　　1．镜筒

　　镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。

其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），而且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各类信号。

　　2．电子信号的搜集与处置系统

　　在样品室中，扫描电子束与样品发生彼此作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子等。

在上述信号中，最要紧的是二次电子，它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子，产生于样品表面以下几nm至

　　几十nm的区域，其产生率要紧取决于样品的形貌和成份。

通常所说的扫描电镜像指的确实是二次电子像，它是研究样品表面形貌的最有效的电子信号。

检测二次电子的检测器（图15

（2）的探头是一个闪烁体，当电子打到闪烁体上时，1就在其中产生光，这种光被光导管传送到光电倍增管，光信号即被转变成电流信号，再经前置放大及视频放大，电流信号转变成电压信号，最后被送到显像管的栅极。

　　3．电子信号的显示与记录系统

　　扫描电镜的图象显示在阴极射线管（显像管）上，并由照相机拍照记录。

显像管有两个，一个用来观看，分辨率较低，是长余晖的管子；另一个用来照相记录，分辨率较高，是短余晖的管子。

　　4．真空系统及电源系统

　　扫描电镜的真空系统由机械泵与油扩散泵组成，其作用是使镜筒内达到10（4～10（5托的真空度。

电源系统供给各部件所需的特定的电源。

（二）工作原理

从电子枪阴极发出的直径20（m～30（m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，通过聚光镜及物镜的集聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。

在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品表面作光栅状扫描而且激发出多种电子信号。

这些电子信号被相应的检测器检测，通过放大、转换，变成电压信号，最后被送到显像管的栅极上而且调制显像管的亮度。

显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描，而且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步，如此即取得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像，这种图象反映了样品表面的形貌特点。

第二节扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分，而且比较柔软，因此，在进行扫描电镜观看前，要对样品作相应的处置。

扫描电镜样品制备的要紧要求是：

尽可能使样品的表面结构保留好，没有变形和污染，样品干燥而且有良好导电性能。

TEM

透射电子显微镜（英语：

Transmissionelectronmicroscopy，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到超级薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。

散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此能够形成明暗不同的影像。

通常，透射电子显微镜的分辨率为～，放大倍数为几万～百万倍，用于观看超微结构，即小于µm、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。

成像原理

透射电子显微镜的成像原理可分为三种情形：

　　吸收像：

当电子射到、大的样品时，要紧的成相作用是作用。

样品上质量厚度大的地址对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。

初期的透射电子显微镜都是基于这种原理。

衍射像：

电子束被样品后，样品不同位置的衍射波散布对应于样品中晶体各部份不同的衍射能力，当显现时，缺点部份的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射钵的振幅散布不均匀，反映出晶体缺点的散布。

相位像：

当样品薄至100Å以下时，电子能够传过样品，波的振幅转变能够忽略，成像来自于相位的转变。

组件

　　电子枪：

发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。

阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。

聚光镜：

将电子束聚集，可用已操纵照明强度和孔径角。

样品室：

放置待观看的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热、冷却等设备。

物镜：

为放大率很高的短距透镜，作用是放大电子像。

物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。

中间镜：

为可变倍的弱透镜，作用是对电子像进行二次放大。

通过调剂中间镜的电流，可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。

透射镜：

为高倍的强透镜，用来放大中间像后在荧光屏上成像。

另外还有二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像。

应用

　　透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。

由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会阻碍到最后的成像质量，必需制备更薄的超薄切片，一样为50～100nm。

因此用透射电子显微镜观看时的样品需要处置得很薄。

经常使用的方式有：

超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。

关于液体样品，一般是挂预处置过的铜网上进行观看。

特点

　　TEM经常使用于研究纳米材料的结晶情形，观看纳米粒子的形貌、分散情形及测量和评估纳米粒子的粒径。

是经常使用的纳米复合材料微观结构的表征技术之一。

　　以电子束作光源，电磁场作透镜。

电子束波长与加速电压（通常50~120KV）的平方根成反比。

　　由电子照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统、电源系统等5部份组成。

　　分辨力，放大倍数可达百万倍。

　　TEM分析技术是以波长极短的电子束作照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率（1nm）、高放大倍数的电子光学分析技术；

　　用电镜（包括TEM）进行样品分析时，通常有两个目的：

一个是取得高倍放大倍数的电子图像，另一个是取得电子衍射花腔；

TEM经常使用于研究纳米材料的结晶情形，观看纳米粒子的形貌、分散情形及测量和评估纳米粒子的粒径。

是经常使用的纳米复合材料微观结构的表征技术之一。

XRD

即X-raydiffraction，衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，取得材料的成份、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手腕。

布喇格定律

X射线是一种很短（约为20～┱）的，能穿透必然厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包括与靶中各类元素对应的具有特定波长的X射线，称为特点（或标识）X射线。

考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离（10-8nm）相近，1912年德国物理学家劳厄Laue）提出一个重要的科学预见：

晶体能够作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强，在其他方向上减弱。

分析在照相底片上取得的衍射花腔，即可确信晶体结构。

这一预见随即为实验所验证。

1913年英国物理学家布喇格父子在劳厄发觉的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的闻名公式──布喇格定律：

　　2dsinθ=nλ

式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。

其上限为以下条件来表示：

　　nmax=2dh0k0l0/λ，　dh0k0l0<λ/2

只有那些间距大于波长一半的面族才可能给出衍射，以此求纳米粒子的形貌。

当X射线以掠角θ（入射角的余角）入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上取得因叠加而增强的衍射线。

布喇格定律简练直观地表达了衍射所必需知足的条件。

当X射线波长λ已知时（选用固定波长的特点X射线），采纳细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布喇格条件的反射面取得反射,测出θ后，利用布喇格公式即可确信点阵平面间距、晶胞大小和类型;依照衍射线的强度,还可进一步确信晶胞内原子的排布。

这即是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐（Debye—Scherrer）法的理论基础。

而在测定单晶取向的劳厄法中，所用单晶样品维持固定不变更（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都知足布喇格条件,应选用持续X射线束。

若是利用结构已知的晶体，那么在测定出衍射线的方向θ后,即可计算X射线的波长，从而判定产生特点X射线的元素。

这即是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成份。

实际应用

X射线衍射现象发觉后，专门快被用于研究金属和合金的晶体结构，显现了许多具有重大意义的结果。

如韦斯特格伦（）（1922年）证明α、β和δ铁都是体心立方结构，β-Fe并非是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变成面心立方晶体，从而最终否定了β-Fe硬化理论。

随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定和在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的功效。

如对超点阵结构的发觉，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确信了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。

目前X射线衍射（包括散射）已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方式。

在金属中的要紧应用有以下方面：

物相分析是X射线衍射在金属顶用得最多的方面，分定性分析和定量分析。

前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相较较，确信材料中存在的物相；后者那么依照衍射花腔的强度，确信材料中各相的含量。

在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成份配比及随后的处置规程是不是合理等方面都取得普遍应用。

周密测定点阵参数经常使用于相图的固态溶解度曲线的测定。

溶解度的转变往往引发点阵常数的转变；当达到溶解限后，溶质的继续增加引发新相的析出，再也不引发点阵常数的转变。

那个转折点即为溶解限。

另外点阵常数的周密测定可取得单位晶胞原子数，从而确信固溶体类型；还能够计算出密度、膨胀系数等有效的物理常数。

取向分析包括测定单晶取向和多晶的结构（见择优取向）。

测定硅钢片的取向确实是一例。

另外，为研究金属的范性形变进程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。

晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定由衍射花腔的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。

在形变和热处置进程中这二者有明显转变，它直接阻碍材料的性能。

宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小，直接阻碍机械零件的利用寿命。

利用测量点阵平面在不同方向上的间距的转变，可计算出残留应力的大小和方向。

对晶体结构不完整性的研究包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平稳位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺点）。

合金相变包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系，等等。

结构分析对新发觉的合金相进行测定，确信点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。

液态金属和非晶态金属研究非晶态金属和液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。

特殊状态下的分析在高温、低温和瞬时的动态分析。

另外，小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺点如位错线等，也取得了重视。

X射线分析的新进展

金属X射线分析由于设备和技术的普及已慢慢变成金属研究和材料测试的常规方式。

初期多用照相法，这种方式费时较长，强度测量的精准度低。

X射线衍射仪是利用衍射原理,精准测定物质的晶体结构,织构及应力,精准的进行物相分析,定性分析,定量分析.普遍应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.

X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。

X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一样用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）。

用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶极，X射线从靶极发出。

电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必需用水冷却。

XRDX-射线衍射（WideAngleX-rayDiffraction）主若是对照标准谱图分析纳米粒子的组成，分析粒径，结晶度等。

应历时应先对所制样品的成份进行确认。

在确信后，查阅相关手册标准图谱，以确信所制样品是不是为所得。

热分析

热分析（thermalanalysis，TA）是指用热力学参数或物理参数随温度转变的关系进行分析的方式。

国际热分析协会（InternationalConfederationforThermalAnalysis，ICTA）于1977年将热分析概念为：

“热分析是测量在程序操纵温度下，物质的物理性质与温度依托关系的一类技术。

”依照测定的物理参数又分为多种方式。

最经常使用的热分析方式有:

差（示）热分析（DTA）、热重量法（TG）、导数热重量法（DTG）、差示扫描量热法（DSC）、热机械分析（TMA）和动态热机械分析（DMA）。

另外还有：

逸气检测（EGD）、逸气分析（EGA）、扭辫热分析（TBA）、射气热分析、热微粒分析、热膨胀法、热发声法、热光学法、热电学法、热磁学法、温度滴定法、直接注入热焓法等。

测定尺寸或体积、声学、光学、电学和磁学特性的有热膨胀法、热发声法、热传声法、热光学法、热电学法和热磁学法等。

热分析技术能快速准确地测定物质的晶型转变、熔融、升华、吸附、脱水、分解等转变，对无机、有机及高分子材料的物理及化学性能方面，是重要的测试手腕。

热分析技术在物理、化学、化工、冶金、地质、建材、燃料、轻纺、食物、生物等领域取得普遍应用。

参考：

热分析仪器可普遍用于化学、物理学、高分子化学与物理、地质学、生物学等基础科学领域的研究和化工、冶金、地质、电工、陶瓷、轻纺、食物、医药、农林、消防等行业的生产企业、科研单位及大专院校。

北京光学仪器厂是研发国内第一台热分析仪器的厂家。

差热分析

差热分析（DifferentialThermalAnalysis，DTA），是一种重要的热分析方式，是指在程序控温下，测量物质和参比物的温度差与温度或时刻的关系的一种测试技术。

该法普遍应用于测定物质在热反映时的特点温度及吸收或放出的热量，包括物质、、、、、等物理或化学反映。

普遍应用于无机、、、矿物金属、航天耐温材料等领域，是无机、有机、专门是、等方面热分析的重要仪器。

热分析方式是利用热学原理对物质的物理性能或成份进行分析的总称。

依照国际热分析协会（InternationalConfederationforThermalAnalysis，缩写ICTA）对热分析法的概念：

热分析是在程序操纵温度下，测量物质的物理性质随温度转变的一类技术。

所谓“程序操纵温度[1]”是指用固定的速度加热或冷却，所谓“物理性质”那么包括物质的质量、温度、热焓、尺寸、机械、声学、电学及磁学性质等。

【差热分析的起源】

差热分析（DifferentialThermalAnalysis—DTA）法是一种重要的热分析方式，是指在程序控温下，测量物质和参比物的温度差与温度或时刻的关系的一种测试技术。

该法普遍应用于测定物质在热反映时的特点温度及吸收或放出的热量，包括物质相变、分解、化合、凝固、脱水、蒸发等物理或化学反映。

普遍应用于无机、硅酸盐、陶瓷、矿物金属、航天耐温材料等领域，是无机、有机、专门是高分子聚合物、玻璃钢等方面热分析的重要仪器。

【差热分析原理及仪器结构】

物质在受热或冷却进程中，当达到某一温度时，往往会发生熔化、凝固、晶型转变、分解、化合、吸附、脱附等物理或化学转变，并伴随有焓的改变，因此产生热效应，其表现为样品与参比物之间有温度差。

记录二者温度差与温度或时刻之间的关系曲线确实是差热曲线（DTA曲线）。

差热分析仪的结构包括带有控温装置的加热炉、放置样品和参比物的坩埚、用以盛放坩埚并使其温度均匀的维持器、测温热电偶、差热信号放大器和记录仪（后二者亦可用测温检流计代替）。

从差热图上可清楚地看到差热峰的数量、高度、位置、对称性和峰面积。

峰的个数表示物质发生物理化学转变的次数，峰的大小和方向代表热效应的大小和正负，峰的位置表示物质发生转变的转化温度。

在相同的测定条件下，许多物质的热谱图具有特点性。

因此，可通过与已知的热谱图的比较来辨别样品的种类。

理论上讲，可通过峰面积的测量对物质进行定量分析，但因阻碍差热分析的因素较多，定量难以准确。

一样的差热分析装置由加热系统、温度操纵系统、信号放大系统、差热系统和记录系统等组成。

有些型号的产品也包括气氛操纵系统和压力操纵系统。

现将各部份简介如下：

1）加热系统

加热系统提供测试所需的温度条件，依照炉温可分为低温炉（＜250℃）、一般炉、超高温炉（可达2400℃）；按结构形式可分为微型、小型，立式和卧式。

系统中的加热元件及炉芯材料依照测试范围的不同而进行选择。

2）温度操纵系统

温度操纵系统用于操纵测试时的加热条件，如升温速度、温度测试范围等。

它一样由定值装置、调剂放大器、可控硅调剂器（PID-SCR）、脉冲移相器等组成，随着自动化程度的不断提高，大多数已改成微电脑操纵，提高的控温精度。

3）信号放大系统

通过直流放大器把差热电偶产生的微弱温差电动势放大、增幅、输出，使仪器能够更准确的记录测试信号。

4）差热系统

差热系统是整个装置的核心部份，由样品室、试样坩埚、热电偶等组成。

其中热电偶是其中的关键性元件，即便测温工具，又是传输信号工具，可依如实验要求具体选择。

5）记录系统

记录系统初期采纳双笔记录仪进行自动记录，目前已能利用微机进行自动操纵和记录，并可对测试结果进行分析，为实验研究提供了专门大方便。

6）气氛操纵系统和压力操纵系统

该系统能够为实验研究提供气氛条件和压力条件，增大了测试范围，目前已经在一些高端仪器中采纳。

【差热分析的应用】

　　凡是在加热（或冷却）进程中，因物理-化学转变而产生吸热或放热效应的物质，均能够用差热分析法加以鉴定。

其要紧应用范围如下：

1）含水化合物

关于含吸附水、结晶水或结构水的物质，在加热进程中失水时，发生吸热作用，在差热曲线上形成吸热峰。

2）高温下有气体放出的物质

一些化学物质，如碳酸盐、硫酸盐及硫化物等，在加热进程中由于CO二、SO2等气体的放出，而产生吸热效应，在差热曲线上表现为吸热谷。

不同类物质放出气体的温度不同，差热曲线的形态也不同，利用这种特点就能够够对不同类物质进行区分鉴定。

3）矿物中含有变价元素

矿物中含有变价元素，在高温下发生氧化，由低价元素变成高价元素而放出热量，在差热曲线上表现为放热峰。

变价元素不同，和在晶格结构中的情形不同，那么因氧化而产生放热效应的温度也不同。

如Fe2+在340~450℃变成Fe3+。

4）非晶态物质的重结晶

有些非晶态物质在加热进程中伴随有重结晶的现象发生，放出热量，在差热曲线上形成放热峰。

另外，若是物质在加热进程中晶格结构被破坏，变成非晶态物质后发生晶格重构，那么也形成放热峰。

5）晶型转变

有些物质在加热进程中由于晶型转变而吸收热量，在差热曲线上形成吸热谷。

因此适合对金属或合金、一些无机矿物进行分析鉴定。

【阻碍差热分析曲线的因素】

差热分析操作简单，但在实际工作中往往发觉同一试样在不同仪器上测量，或不同的人在同一仪器上测量，所取得的差热曲线结果有不同。

峰的最高温度、形状、面积和峰值大小都会发生必然转变。

其要紧缘故是因为热量与许多因素有关，传热情形比较复杂所造成的。

尽管阻碍因素很多，但只要严格操纵某种条件，仍可取得较好的重现性。

阻碍仪器仪表差热分析的要紧因素

（1）气氛和压力的选择

气氛和压力能够阻碍样品化学反映和物理转变的平稳温度、峰形。

因此，必需依照样品的性质选择适当的气氛和压力，有的样品易氧化，能够通入N二、Ne等惰性气体。

（2）升温速度的阻碍和选择

升温速度不仅阻碍峰温的位置，而且阻碍峰面积的大小，一样来讲，在较快的升温速度下峰面积变大，峰变尖锐。

可是快的升温速度使试样分解偏离平稳条件的程度也大，因此易使基线漂移。

更要紧的可能致使相邻两个峰重叠，分辨力下降。

较慢的升温速度，基线漂移小，使体系接近平稳条件，取得宽而浅的峰，也能使相邻两峰更好地分离，因此分辨力高。

但测按时刻长，需要仪器的灵敏度高。

一样情形下选择10℃/min～15℃/min为宜。

（3）试样的预处置及用量

试样用量大，易使相邻两峰重叠，降低了分辨力。

一样尽可能减少用量，最多大至毫克。

样品的颗粒度在100目～200目左右，颗粒小能够改善导热条件，但太细可能会破坏样品的结晶度。

对易分解产动气体的样品，颗粒应大一些。

参比物的颗粒、装填情形及紧密程度应与试样一致，以减少基线的漂移。

（4）参比物的选择

要取得平稳的基线，参比物的选择很重要。

要求参比物在加热或冷却进程中不发生任何转变，在整个升温进程中参比物的比热、导热系数、粒度尽可能与试样一致或相近。

经常使用三氧化二铝（α-Al2O3）或煅烧过的氧化镁或石英砂作参比物。

如分析试样为金属，也能够用金属镍粉作参比物。

若是试样与参比物的热性质相差很远，那么可用稀释试样的方式解决，主若是减少反映猛烈程度；若是试样加热进程中有气体产生时，能够减少气体大量显现，以避免使试样冲出。

选择的稀释剂不能与试样有任何化学反映或催化反映，经常使用的稀释剂有SiC、Al2O3等。

（5）纸速的选择

在相同的实验条件下，同一试样如走纸速度快，峰的面积大，但峰的形状平坦，误差小;走纸速度小，峰面积小。

因此，要依照不一样品选择适当的走纸速度。

此刻比较先进的差热分析仪多采纳电脑记录，可大大提高记录的精准性。

除上述外还有许多因素，诸如样品管的材料、大小和形状、热电偶的材质和热电偶插在试样和参比物中的位置等都是应该考虑的因素。

【差热分析技术的进展前景】

差热分析从被发明以后，迅速应用于各个研究领域，成为分析金属、陶瓷及高分子物质的有效工具，而且被不断进展。

1935年进展了定量差热分析方式，能够精准的确信矿物在混合物中的含量。

麦西尔斯提出了微量DTA法，是差热测试的灵敏度和分辨率取得专门大提高，因此取得了迅速进展。

20世纪60年代，差示扫描量热法（DSC）被提出，其特点是利用温度范围比较宽，分辨能力和灵敏度高，依照测量方式的不同，可分为功率补偿型DSC和热流型DSC，要紧用于定量测量各类热力学参数和动力学参数。

因此，差热分析法由于具有诸多优势，已成为材料研究中不可缺少的测试方式，随着科研需求的扩大和仪器制造技术的进步，差热分析法必然会有更大的进展。

联合型热分析仪器

联合型热分析仪器为热重法与差热法联合型热分析仪器，在同一次测量中利用同一样品可同步取得热重与差热信息，TG与DTA曲线对应性更佳，有助于判别热效应由物理进程引发，仍是化学进程引发；对TG曲线进行一次微分计算可取得