统计过程控制SPCWord格式文档下载.doc

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间隔

操作

人员

Tl

数量

作业指导书编号

仪器编号

检验人员

生产过程

质量要求

日期

时间

样本号

测定值

均值

极差R

备注

X1

X2

X3

X4

X5

计算:

图:

CL=R图:

CL=

UCL=+UCL=

LCL=-LCL=

CL

LCL

UCL

2.控制图部分

在方格纸上作出控制图:

控制图

R图

说明

操作人

班组长

质量工程师

横坐标为样本序号,纵坐标为产品质量特性。

图上有三条平行线:

实线CL:

中心线

虚线UCL:

上控制界限线

LCL:

下控制界限线。

三.控制图的设计原理

1.正态性假设:

绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。

2.3准则:

99。

73%。

3.小概率事件原理:

小概率事件一般是不会发生的。

4.反证法思想。

四.控制图的种类

1.按产品质量的特性分

(1)计量值()

(2)计数值(p,pn,u,c图)。

2.按控制图的用途分:

(1)分析用控制图;

(2)控制用控制图。

五.控制图的判断规则

1.分析用控制图:

规则1判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内(3种情况);

规则2判异准则-----排列无下述现象(8种情况)。

2.控制用控制图:

规则1每一个点子均落在控制界限内。

规则2控制界限内点子的排列无异常现象。

[案例1]p控制图

某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表

(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率,作控制图对其进行控制.

数据与p图计算表

组号

(1)

样本量

(2)

不合格品数D(3)

不合格品率p(4)

P图的UCL(5)

1

85

2

0.024

0.102

83

5

0.060

0.103

3

63

0.016

0.112

4

60

0.050

0.114

90

0.022

0.100

6

80

0.013

0.104

7

97

0.031

0.098

8

91

0.011

9

94

0.021

0.099

10

0.012

11

55

0.117

12

92

13

14

95

0.032

15

81

16

82

0.085

17

75

0.040

0.106

18

57

0.018

0.116

19

0.066

20

67

0.030

0.110

21

86

0.035

0.101

22

99

0.080

0.097

23

76

0.105

34

93

0.086

25

72

0.069

0.107

26

0.093

27

28

0.026

小计

2315

[解]

步骤一:

预备数据的取得,如上边表所示.

步骤二:

计算样本不合格品率

步骤三:

计算p图的控制线

由于本例中各个样本大小不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对第一个样本n1=85,有

UCL=0.102CL=0.0389LCL=-0.024

此处LCL为负值,取为零.作出它的SPC图形.

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