实验一典型环节的电路模拟和数字仿真实验.docx
《实验一典型环节的电路模拟和数字仿真实验.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《实验一典型环节的电路模拟和数字仿真实验.docx(27页珍藏版)》请在冰点文库上搜索。
![实验一典型环节的电路模拟和数字仿真实验.docx](https://file1.bingdoc.com/fileroot1/2023-6/16/fcb8d17e-2b06-4867-a210-38963251a3c1/fcb8d17e-2b06-4867-a210-38963251a3c11.gif)
实验一典型环节的电路模拟和数字仿真实验
实验一典型环节的电路模拟与数字仿真实验
一实验目的
通过实验熟悉各种典型环节传递函数及其特性,掌握电路模拟和数字仿真研究方法。
二实验内容
1.设计各种典型环节的模拟电路。
2•编制获得各种典型环节阶跃特性的数字仿真程序。
3•完成各种典型环节模拟电路的阶跃特性测试,并研究参数变化对典型环节阶跃特性的影响。
4.运行所编制的程序,完成典型环节阶跃特性的数字仿真研究,并与电路模拟研究的结果作比较。
三实验步骤
1•熟悉实验设备,设计并连接各种典型环节的模拟电路;
2•利用实验设备完成各典型环节模拟电路的阶跃特性测试,并研究
参数变化对典型环节阶跃特性的影响;
3•用MATLAB编写计算各典型环节阶跃特性的数字仿真研究,并与电路模拟测试结果作比较。
分析实验结果,完成实验报告。
四实验结果
1•积分环节模拟电路、阶跃响应
仿真结果:
2•比例积分环节模拟电路、阶跃响应
仿真结果:
3•比例微分环节模拟电路、阶跃响应
仿真结果:
-
工亠十I-壬-H4二亠十T工十H4
4.惯性环节模拟电路、阶跃响应
仿真结果:
5•实验结果分析:
积分环节的传递函数为G=1/Ts(T为积分时间常数),惯性环节的传递函数为G=1/(Ts+1)(T为惯性环节时间常数)。
当时间常数T趋近于无穷小,惯性环节可视为比例环节,
当时间常数T趋近于无穷大,惯性环节可视为积分环节。
实验二典型系统动态性能和稳定性分析的电路模拟与数
字仿真研究
一实验目的
1•学习和掌握动态性能指标的测试方法。
2.研究典型系统参数对系统动态性能和稳定性的影响。
二实验内容
1•观测二阶系统的阶跃响应,测出其超调量和调节时间,并研究其参数变化对动态性能和稳定性的影响。
三实验步骤
1•熟悉实验设备,设计并连接由一个积分环节和一个惯性环节组成
的二阶闭环系统的模拟电路;
2•利用实验设备观测该二阶系统模拟电路的阶跃特性,并测出其超
调量和调节时间;
3.二阶系统模拟电路的参数观测参数对系统的动态性能的影响;
4•分析结果,完成实验报告。
四实验结果
典型二阶系统
仿真结果:
1)过阻尼
2)无阻尼
3)欠阻尼
实验分析:
超调量变小,调节时间变大
实验三典型环节的频率特性测试
一实验目的
1•学习和掌握测量典型环节频率特性曲线的方法和技能。
2•学习根据实验所得频率特性曲线求取传递函数的方法。
二实验内容
1.用实验方法完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。
2.用实验方法完成典型二阶系统开环频率特性曲线测试。
3•根据测得的频率特性曲线求取各自的传递函数;
4.用数字仿真方法求取一阶惯性环节的频率特性和二阶系统开环
频率特性,并与实验所得结果比较。
三实验步骤
1.熟悉实验设备中的正弦信号发生电路,掌握改变信号幅值和频率的方法;
2.利用实验设备完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试;
3.利用实验设备完成典型二阶系统开环频率特性曲线测试;
4.根据测得的频率特性曲线求取各自的传递函数;
5.运行计算机,分析结果,完成报告。
四实验结果
1.试用一阶惯性环节传递函数参数、电路设计及其幅相频特性曲线
一阶惯性环节模拟电路
仿真结果为:
显”尿槎犬
席X-+广
厂M-Y厂
*¥tF^J»2fZdl.i7)
100L200
厂40D厂1000
■W母爭洼5®迢
|運:
iiiriw二|
釆禅描遣真
IjjSiMHia-1
采惮满埴丫
I不瘫棗Z]
采胖坯iittx
显.球
谄加1a_=d
5R4faiJTY
显爪
厂血目
餡協1o巳
窑雅启动
■nr
i:
CnLtf/d±v>
rr2口l
L400L
8口
1o口口
f»m_st土込迟
mso-itt
jj
宋钉d赳il»耳
|痙gTHl
TE1
玦怦U*MF¥
一亍』
'PoLA.3*
"81稈tCm.sZd.tv)
j主按
<-时械<-采:
惮挫剧
金嫌城厂蚊件优基
100
400
£oa1ODD
|imaiioi«采惮诵谑K
liSiMrih
巧
|年兼Jft
4
苗号世生:
IS握
2•用典型
卑祥逼谨£黒牌迴遺肯
厂區栢L庶松
fiSJttl0兰|
IJKO
.□ss.U3Z
□73
■63.041
OD
R«l
1Ira-SQ
/..S.7
=0叮心创
n
42.
44713
-E2314
EI.罩
-€2603■€1970:
■«310&
阶开环传递函数参数、电路设计及其幅相频特性曲线
二阶系统模拟电路
显示賀式
金Xr广Eod«
=北一¥i_Pola.r
tttll:
(M/dixr)
WO奇200
厂AQf)厂1QDQ
IS*炭生1*.恆
IffiiMomjd
來样通退x
fis'iiiiH-二!
釆样播道丫
二I
*时域厂采样控制
广频均■■-软件仿耳
系》0?
人信号
显示
血示
遍EG』二j
采痒通埴K
采佯通埴〒
蓦申
'亞相
■应相
缩雄:
Ll_5j
縮放!
.D*.
握验歩敦溟畫
真睑操作
连捉
斷开谨携
摘示;
90卜3-$98・ON5.6Z9s.Lv€o®NNO?
®5$68CKO236$q、69e・6P6T
NsNGNdSP,EH§
円1
8
L
□
2
•I
ll
K
I
实验四线性系统串联校正的电路模拟与数字仿真研究
一实验目的
1•熟悉串联校正装置对线性系统稳定性和动态特性的影响。
2•掌握串联校正装置的设计方法和参数调试技术。
二实验内容
1•观测未校正系统的稳定性和动态特性。
2.按动态特性要求设计串联校正装置。
3•观测加串联校正装置后的系统的稳定性和动态特性,并观测校正
装置参数改变对系统性能的影响。
4•对线性系统串联校正装置进行计算机仿真研究,并对电路模拟与数字仿真结果进行比较研究。
三实验步骤
1•利用实验设备,根据图连接未校正电路,完成该系统的稳定性和动态特性观测;
2.按动态特性要求设计串联传递函数和模拟电路;
3.利用实验设备,根据图连接校正后电路,完成该系统的稳定性和动态特性观测;
4•改变串联校正装置的参数,对家校正后的二阶闭环系统进行调试,使其性能指标满足预定要求;
5.对线性系统串联校正装置进行计算机仿真研究,并对电路模拟与数字仿真结果进行比较研究;
6•分析实验结果,完成报告四实验结果
1•试验用未加校正二阶闭环系统模拟电路
仿真结果为:
□专11-33*曰「?
1<也7'-0—
7?
日曰1I
R-sJ31-zd4E-4巧CPLiErJdA
T&.414.IIB-.P:
-E112-»23.1
r_Fol4艺
L(R寸站
L护和空*M枕忡tGA,
辛沁flK.A.W"
XL金
3E〒
MHfttel.D■-彳
^1T«IltK
菲卄imitT
JBl-V
厂jff?
+H
LJCT-+B
縮删Ta•討
MfiWlU二」
f-1□□lnq口
w日仃口L1ooo
;ifllii*^itt-;|
曲彳鼻箱Ug[牡
5F:
w«atY
[干压:
m=〕
址til
ww»fc»
卡■.示e
2.试验用加校正后的二阶闭环系统模拟电路
仿真结果为:
mag
ffl年点.1口上皿弓*〕「M
■STS:
1□□厂金^iddr-
2D0
IDQiQ
TJ
33n«
_rl
r*Bodw
—Polar
瓯幵疑殲
45H101A爹龙H3
-1J
5K7B
-197S
C.010
moog
4115
SI172
422
-93.-439
4.S71
104.23£
■3207
-100.917
■99GS
107.36:
&
-114F7
Ifldl7101
-16
IKsab
■10&.027
"!
口0
广日寸城
片卿越
巫眾
显.5}%
胶丰日
SMfeH.Q討
ffllffil.O-_±_j
夾他额•作
鍵I敲I.U
3.实验结果分析
加入校正装置后,可以使为校正系统的缺陷得到补偿,在一定程度
上能够使已校正系统满足要求的性能指标。
…………一…一.……