TDLTE射频板测试说明beta1资料Word文档格式.docx
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＞-13dBm
7
S11
输入驻波比
2:
1（<
-9.5dB）
1.5:
1（<
-14dB）
8
S22
输出驻波比
9
Pout，max
（输出功率）
40.2dBm（开启DPD）
10
Ripple
1.5dB（30MHz带内）
2.5dB（30MHz）
3dB（74MHz带内）
11
DCcurrentI_5.7V
280mA
12
DCcurrentI_28V
1.7A@常开下行满功率输出
13
带外抑制
频率（MHz）
抑制（dB）
0~2349
≥15
0~2400
≥30
2349~2400
≥10
2400~2533
≥5
2749~2841
2841~4000
≥20
eRPLU反馈链路性能指标
说明
输入信号频率范围
2540MHz～2650MHz
输出信号频率范围
前向功率检测通道增益
-54±
1dB
反向功率检测通道增益
-48±
前向功率检测通道增益平坦度
3dB
前、反向耦合通道隔离度
≥15dB
2所需仪器及工具
名称
参考型号
数量
备注
矢量网络分析仪
E5062A，ZVB4
ESD外壳接地
NetworkAnalyzer
信号发生器
E4438C，N5182A
SignalGenerator
频谱仪（带扫源）
E4443A，R&
SFSQ8
SpectrumAnalyzer
噪声系数测试仪
N8973A
NoiseFigureMeter
直流电源
GPC-3060D
DCPowerSupply
50ΩSMA终端负载
SMA
大功率衰减器
40dB200W
50ΩN终端负载
N型
转换头1
N阳→SMA阴
校验时用
转换头2
SMA阴→SMA阴
3RX接收链路测试
1）接收链路增益、带内波动以及输入输出驻波比
测试步骤/信号流程：
测试步骤:
步骤1：
正确连接模块至已校准好的网络分析仪；
步骤2：
正确设置模块跳线，工作在常收状态；
步骤3：
通过网络分析仪测试接收链路的增益曲线，分别读取2570MHz、2600MHz、2620MHz增益值取平均得接收链路增益，读取任意30MHz通带内的最大增益、最小增益，算出30MHz带内波动；
步骤4：
通过网络分析仪测试接收链路的50MHz带内S11，S22曲线，分别读出带内最大驻
波比；
步骤5：
分别测试四条通路。
预期结果：
增益：
2dB）
带内波动：
2.5dB@30MHz带内
输入驻波比：
输出驻波比：
2）接收链路噪声系数
噪声系数测试仪自校；
模块的RX端口接噪声系数测试仪输入口，ANT端口接噪声系数测试仪的噪声头，TX端口接50欧姆匹配负载；
设置模块工作在常收状态；
读取噪声系数值NF；
链路噪声系数：
带内最大值NF<
3）接收链路的输入三阶互调截断点
模块的TX端口接50欧姆匹配负载，RX端口接频谱分析仪，ANT端口接信号源（信
号源输出信号为互调信号，输出功率分别保证到模块的ANT端口为-48dBm）。
模块正常工作，设为常收状态；
在频谱仪上测出并记录三阶互调产物和有用信号大小，通过计算得IIP3；
IIP3﹥-13dBm
4）接收链路带外抑制测试
对网络分析仪进行直通校准（功率：
-40dBm，频段0MHz～5000MHz）；
将矢量网络分析仪频率范围设定在2570MHz~2620MHz，读取最小S21幅度值S0；
分别将将矢量网络分析仪频率范围设定在0MHz~2400MHz、2400MHz~2533MHz、2749MHz~2841MHz、2841MHz~4000MHz各自读得最大的S21幅度值为S1、S2、S3、S4；
步骤6：
计算（S0-S1），（S0-S2），（S0-S3），（S0-S4）即为各个频段要求的抑制比；
步骤7：
分别测试四个通道。
频率（MHz）抑制（dB）
0~2400MHz≥30dB
2400~2533MHz≥5dB
2749~2841MHz≥5dB
2841~4000MHz≥20dB
4TX发射链路测试
1）发射链路增益，带内波动（30MHz&
74MHz）测试
测试连接框图如下：
测试前先进行校准,把信号发生器到被测射频板的电缆损耗记入信号发生器；
由于下行链路输出端功率较大，所以端口必须加衰减40dB以上的衰减器，将被测射频板和频谱仪之间的电缆损耗合计衰减器自身差损共同记入频谱仪。
信号源AgilentN5182A设置：
a）Amptd=-20dBm
b）设置信号源输出方式为扫频输出：
SWEEP->
configurestepsweep
Freqstart:
2545MHzFreqstop:
2645MHz
Points:
500（可以适当调节）
sweepfreq设置为on
频谱仪R&
SFSQ81155.5001.08设置：
a）CenterFreq:
2595MHz
SPAN:
100MHz
RBW:
30kHz（可以适当调节）
AMPLITUDERefLevel:
40dBm
Attenuation:
Auto
Scale/Div:
b）Trace/View:
MaxHold
发射链路增益测试：
分别读取2570MHz、2595MHz、2620MHz处的功率值并计算三个频点的增益G1，G2，G3。
（增益=输出信号功率-输入信号功率（-20dBm）。
发射链路增益=（G1+G2+G3）/3。
带内波动测试：
（1）30MHz内带内波动测试
读取频带（2570MHz～2620MHz）内任意30MHz信号增益的最大值、最小值，算出30MHz带内波动
（2）74MHz内带内波动测试
读取频带（2548MHz～2642MHz）内任意74MHz信号最大增益、最小增益，算出74MHz带内波动
1.5dB@30MHz
3dB@74MHz
2）发射链路ACPR，功放28V电流测试@Pout=40dBm
测试连接框图同1）。
信号源设置：
测试信号为WCDMA4载波信号，峰均比PAR=10dB左右。
（1）信号源WCDMA4载波信号导入设置如下：
AgilentN5182A
a）Mode->
DualARB->
SelectWaveform->
WaveformSegments（选择WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM）->
LoadSegmentFromIntMeida
b）Mode->
Selectwaveform->
选择WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM->
ARBon
如果已经导入，则可跳过上述两步骤。
（2）测试输入信号参数设置：
a）Freq=2595MHz，Mod设置为on
b）Amptd最初可设置为-30dBm。
在测试时，逐步加大至输出功率为40dBm。
（可对电源限流以保护功放）
频谱仪设置：
（1）频谱仪FSQ8R&
S1155.5001.08设置如下：
a）Meas->
MULTCARRACP->
CP/ACPSTANDARD->
选择W-CDMA3GPPFWD
b）Meas->
CP/ACPCONFIG->
其中NO.OFADJCHAN设置为2（default=2）,NO.OFTXCHAN设置为4。
其余设置default
c）FERQ->
CENTERFREQUENCY设置为2595MHz
d）SPAN设置default
e）AMPTREFLEVELOFFSET根据测试线的线损进行补偿设置
注意：
在频谱仪输入端必须接40dB的衰减器。
ACPR测试：
记录下AdjacentChannal（±
5MHz）中Lower和Upper值中较差的数据。
例：
Lower：
-28dB，Upper：
-28.5dB，则记录下-28dB。
记录下AlternateChannal（±
10MHz）中Lower、Upper值中较差的数据。
方法同步骤1。
功放工作电流测试：
记录下输出功率为40dBm时的28V电源的电流值
计算两级功放效率（暂）
WCDMA4FA：
ACPR:
-27dBc/±
5MHz;
-27dB/±
I28V<
1.7A@Pout=40dBm
3）输入、输出驻波（S11，S22）测试
矢网校准：
a）Centerfreq:
2.6GHz,
b）Span:
1GHz，
c）Power:
-20dBm
S11测试
测试2570MHz～2620MHz频段内的S11，并在MarkerSearch中选择MAX项，将MAX值添入表格。
S22测试
关掉功放28V电源。
步骤2：
测试2570MHz～2620MHz频段内的S22，并在MarkerSearch中选择MAX项，将MAX值添入表格。
-9.5dB）;
输出驻波比：
1（-14dB）
4）前向耦合度和平坦度测试
网络分析仪（带40dB衰减器）校准设置如下：
a）频率范围：
2548MHz～2642MHz，
b）输出功率：
-20dBm，
c）IF带宽：
1KHz；
测试步骤：
eRPLU模块的TX端口接矢量网络分析仪PORT1，ANT经过40dB衰减器后接矢量网络分析仪PORT2，RX接匹配负载，使其正常工作，设为常发状态；
测出S21。
设置网络分析仪：
Display---DatetoMem，存储eRPLU发射增益曲线，然后设置DataMath为：
Data/Mem。
eRPLU模块的TX端口接矢量网络分析仪PORT1，ANT接大功率匹配负载（50W以上），RX端口经40dB衰减器后接网络分析仪PORT2。
设置eRPLU工作在前向检测状态。
设置方法：
对应测试发射链路通道的接插件引脚电平设置如下（低：
GND，高：
6V）。
通道号
前向检测引脚编号
状态
检测与上行输出切换引脚编号
TX1
FRD_S1（9）
高
PD_EN1（15）
TX2
FRD_S2（8）
PD_EN2（14）
TX3
FRD_S3（26）
PD_EN3（32）
TX4
FRD_S4（27）
PD_EN4（33）
步骤4：
用网络分析仪读出曲线，即为前向耦合度曲线（负值），记下值。
步骤5：
读取该曲线里的最大值和最小值，算出前向功率检测通道增益平坦度
Gain=54dB±
Ripple<
5）反向耦合度测试
网络分析仪校准设置如下：
2548MHz～2642MHz
0dBm
1KHz
eRPLU的ANT端口接PORT1，TX端口接匹配负载，RX端口接PORT2。
设置eRPLU模块工作在反向检测工作状态。
设置方法:
对应测试发射链路通道的接插件引脚电平设置如下（低：
6V）：
FRD_S1（9）
低
PD_EN1（15）
FRD_S2（8）
PD_EN2（14）
FRD_S3（26）
PD_EN3（32）
读出增益曲线S21，即为反向耦合增益度曲线（负值）。
Gain=48dB±
6）发射链路带外抑制测试
对网络分析仪进行直通校准
0MHz～3000MHz
-20dBm
将矢量网络分析仪频率范围设定在2570MHz~2620MHz，读取最小S21幅度值S0。
分别将将矢量网络分析仪频率范围设定在0MHz~2349MHz、2349MHz~2400MHz、各自读得最大的S21幅度值为S1、S2。
计算（S0-S1），（S0-S2），即为各个频段要求的抑制比。
频率抑制
0~2349MHz≥15dB
2349~2400MHz≥10dB
5I2C接口功能测试
将eRPLU模块的TX端口连接到信号源的输出口，ANT端口通过大功率衰减器接频谱分析仪，其他端口接匹配负载；
eRPLU上电；
通过控制板对eRPLU里的EEPROM进行读写，看是否能够正常写入和读出；
通过控制板读取温度传感器数值，与实际温度比较，看是否一致。
预期测试结果：
EEPROM能够读写数据正确
温度数据能够正确读出
6高低温功能测试
1）低温试验方法
低温试验采用GB/T2423.1-2001的试验Ad，即散热样品温度渐变的低温试验。
试验严酷等级为-40℃，持续时间2h，试验温度的容许偏差为±
3℃。
被测模块满足与低温相关的指标要求，测试项如表6-1所示。
2）高温试验方法
高温试验采用GB/T2423.2-2001的试验Bd，即散热样品温度渐变的高温试验。
试验严酷等级为+85℃，持续时间2h，试验温度的容许偏差为±
2℃。
被测模块满足与高温相关的指标要求，测试项如表6-1所示。
表6-1高低温测试项：
序号
发射链路
接收链路
增益
ACPR
NF
带内增益波动
前向耦合度
低噪放开关时间
反向耦合度
升级会员 