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实验十三集成与非门参数测试

实验十三集成与非门参数测试

一、实验目的

1、掌握74LS20及74LS00型TTL集成与非门主要参数的测试方法;

2、掌握与非门逻辑功能的测试方法;

3、认识各种门电路及掌握空余端处理方法。

二、试验原理

本实验所使用的74LS20(双四输入与非门)或74LS00(四二输入与非门)是一种低功耗肖特基集成TTL门电路,其电路图及引线功能及排列图如下:

图13-1

74LS00及74LS20采用肖特基二极管作为输入级,组成与门电路,而用三极管作为输出级而实现非的逻辑功能。

下面分析该电路的工作过程:

①输入端至少有一接低电平的情况——“关门状态”

假设A端接低电平0.3V,则VB1=0.3+0.2=0.5V(0.2V为肖特基二极管导通电压)。

此电压使T1﹑T2﹑T5均截止,VCC通过8k电阻给T3、T4提供偏置电流,T3﹑T4导通,且处于空载电流很小的饱和状态。

输出高电平VOH达3.6V。

输出电阻是复合管电阻,其数值很小,输出高电平稳定,且可带一定的拉电流负载(IOH)。

②输入端全部接高电平(3.6V)——“开门状态”

这时VB1=VBEI+VBE5=0.7+0.7=1.4V,各输入二极管均截止。

T1、T5正偏且有足够大的基极流使T1、T5饱和导通,输出为低电平VOL=0.3V,VB3=VC1=VBE5+VCES1=0.7+0.3=1V,其电位差VB3-VC5=1-0.3=0.7V,此值不会使T3、T4同时导通。

但T3的发射极有一电阻,较易导通,故为微导通状态。

T4截止,其很大的输出电阻作为T5的负载,所以T5这时可带较大的灌电流

负载(IOL)。

以上分析说明74LS00和74LS20型TTL电路能实现“与非”的逻辑功能,7400为二输入与非门

7420为四输入与非门

三、实验内容

1.元件认识

观察集成芯片的外形,了解引脚排列及各管脚的位置和功用。

2.参数测量

(1)空载导通功耗PON的测量

测量电路如图13-2所示,与非门输入端全部开路、输出端空载,测量电源电流ICC,得两个(或四个)与非门总的空载导通功耗。

此值小于20mW为合格,测得:

ICC=mA。

(2)输入端短路电流IIS的测量

将与非门任一输入端经毫安表接地,如图13-3所示,其余各端悬空,毫安表读数即IIS值,此值小于0.4mA为合格。

测得:

IIS=mA。

(3)开门电平VON和关门电平VOFF的测量。

a.VON的测量

测量电路如图13-4所示。

在测量时,将VI从0逐渐增加,当输出端刚刚达到0.35V左右时的输入电压即为VON,此值小于1.8V为合格。

测得:

VON=V。

b.VOFF的测量

测量电路同上。

调节输入电压VI,使开始时的输出端为低电平,然后逐渐减小VI,当输出端刚刚达到高电平2.7V时的输入电压即为VOFF,此值大于0.8V为合格。

测得:

VOFF=V。

(4)输出高电平VOH和输出低电平VOL的测量

a.测量电路同上。

将与非门任一输入端接地,其它输入端悬空,测量输出端的电压值,即得VOH,此值大于3.2V为合格。

测得:

VOH=V。

b.VOL的测量

测量电路同上。

将输入电平VI调至输入高电平3.6V,此时测得的输出电压值即为输出低电平VOL的值,此值小于0.35V为合格。

测得:

VOL=V。

实际上,只要开门电平VON合格,VOL也一定合格。

3.逻辑功能侧试

与非门输入端接逻辑开关(0/1开关),与非门输出端接发光二极管(LED0/1指示器)。

扳动0/1开关,给与非门输入不同的逻辑电平组合,观察LED0/1指示器显示状态,LED亮为高电平(逻辑1),LED熄灭为低电平(逻辑0),列出真值表。

4.动态测试

(1)从任一输入端输入单极性方波信号,如图13-5所示(方波信号可从数字逻辑实验系统中获得,方波信号频率以能稳定观察波形为准),其它输入均接高电平(0/1打在1位置),用示波器观察输入方波电压与输出方波电压的波形,比较两波形的相位关系。

(2)将接输入端的0/1开关其中之一打在0位置,用示波器观察此时的输入电压和输出电压的波形,记录之。

5.用示波器观察电压传输特性

与非门如图13-6连接,输入谷值电压在0~0.5V峰值电压在3~5V的锯齿波电压,并将此锯齿波输入信号作为示波器X轴的扫描输入。

与非门输出电压作为示波器Y轴的输入,示波器显示电压传输特性,观察并记录传输特性。

锯齿波输入信号可采用图13-6所示方波加积分电路来获得。

四、实验仪器

数字逻辑实验箱,万用表,变阻器,示波器,74LS20,74LS00。

五、预习要求

1.复习门电路的工作原理和逻辑代数运算。

2.熟悉门电路的管脚排列。

3.复习示波器原理,弄清X轴输入方法。

六、实验报告要求

1.根据所测量的与非门各主要参数,说明它们的含义是否符合要求。

根据VON,VOFF,VOH,VOL计算抗干扰能力。

高电平抗干扰能力VNH=VOH-VON=

低电平抗干扰能力VNL=VOFF-VOL=

2.根据测量结果,说明74LS20或74LS00门电路的逻辑功能。

3.在内容4

(1)中,当接0/1开关的任意管脚悬空,问此时的输出波形如何?

若三个脚都悬空,输出波形又怎样?

4.说明不同功能的门电路闲置端的处理办法,如:

与非门,或非门,与或非门,异或门等。

七、思考题

1.如何用示波器来测量开门电平和关门电平。

2.测试电路中能否加入双极性方波信号。

实验十四组合逻辑电路设计

一、实验目的

1、能用指定芯片完成组合逻辑电路的设计。

2、用实验验证所设计的逻辑电路的逻辑功能。

3、熟悉各种集成门电路及正确使用集成门电路。

二、设计要求

1、根据题意列出输入、输出真值表。

2、利用卡诺图化简,写出最简的逻辑函数表达式。

3、利用指定门电路(如74LS20等)实现逻辑功能。

三、实验内容

1、用74LS20设计一表决逻辑电路,设有三个输入变量A、B、C,当输入变量中有二个或三个全为高电平“1”时,输出Y为“l”。

要求:

画出接线图。

2、静态测试:

按图连接电路,变量A、B、C用0/1开关信号,Y接LED0/1显示器。

改变开关量组合,测试电路的逻辑功能是否与设计功能一致。

3、动态测试:

变量A、B、C用实验系统中两两分频的序列信号作为输入信号,Y接双踪示波器一个垂直通道,A、B、C之一接另一个垂直通道,观察并记录输入输出波形。

4、选做题:

用尽可能少的集成与非门

(1)设计一可控的半加/半减器。

(2)设计一可控的全加/全减器。

四、实验可用器件介绍

74LS00,74LS20引脚图见实验十三,其它芯片引脚功能见图14-1。

五、预习要求

实验前画出已设计完成的逻辑电路及试验用的接线图,拟定实验仪器及元件,写出测试步奏。

六、试验后写出完整的实验报告。

 

图14-1

实验十五集成译码器及其应用

一、实验目的

1、掌握二进制译码器和7段显示译码器的逻辑功能。

2、了解各种译码器之间的差异,能正确选择译码器。

3、熟悉掌握集成译码器的应用方法。

4、掌握集成译码器的扩展方法。

二、实验原理

集成译码器是一种具有特定逻辑功能的组合逻辑器件,本实验以3线-8线二进制译码器74LS138为主,通过实验进一步掌握集成译码器。

1.74LS138管脚及功能

图15-1

双排直立式集成3-8译码器74LS138各引脚功能及原理图中惯用画法如图15-1所示。

由功能表可知:

(1)三个使能端(

=0)任何一个无效时,八个译码输出都是无效电平,即输出全为高电平“1”;

(2)三个使能端(

=1)均有效时,译码器八个输出中仅与地址输入对应的一个输出端为有效低电平“0”,其余输出无效电平“1”;

(3)在使能条件下,每个输出都是地址变量的最小项,考虑到输出低电平有效,输出函数可写成最小项的反,即:

2.用74LS138和门电路实现组合电路

给定逻辑函数L可写成最小项之和的标准式,对标准式两次取非即为最小项非的与非,即

逻辑变量作为译码器地址变量,即可用74LS138和与非门实现逻辑函数L。

3.用译码器实现数据分配

将需要传输的数据作为译码器的使能信号,地址变量作为数据输出通道的选择信号,译码器就能实现有选择的输出数据。

三、实验内容

1.74LS138功能测试

将74LS138输出Y7~Y0接LED0/1指示器,地址A2A1A0输入接0/1开关变量,使能端接固定电平(VCC或地)。

EN1EN2AEN2B≠100时,任意扳动0/1开关,观察LED显示状态,记录之。

EN1EN2AEN2B=100时,按二进制顺序扳动0/1开关,观察LED显示状态,并与功能表对照,记录之。

2.按图15-2连接电路,测试电路逻辑功能,列出逻辑函数F的真值表。

图15-2

3.按图15-3连接电路,使能端EN1接方波输入数据,频率以眼睛分辨得出LED闪动为准。

改变地址开关量,观察LED闪动位置变化情况。

方波输入和输出F接双踪示波器,调节方波频率使示波器稳定显示,比较输入输出波形。

EN1接高电平,方波输入数据接到EN2A(或EN2B)另一低电平有效的

使能端接地,用示波器比较输入数据和输出数据之相位关系,并与前一接法进行比较。

图15-3

4.用74LS138和74LS20实现下述逻辑函数(任选一)

L(A,B,C)=AB+AC+BC;

L(A,B,C)=

L(A,B,C)=

实现全加器。

四、预习要求

预习教材相关章节内容,完成任选题的设计工作,画出原理图和接线图。

五、实验仪器

数字逻辑实验箱,示波器,74LS20,74LS138。

六、实验报告要求

1.74LS138功能验证结论。

2.逻辑函数F的真值表和相关结论。

3.设计原理图和验证结果。

七、思考题

1.如何用74LS138实现4线-16线数据分配;

2.如何用74LS138实现四变量逻辑函数。

实验十六数据选择器及其应用

一、实验目的

1。

了解数据选择器(多路开关MUX)的逻辑功能及常用集成数选器。

2.掌握数据选择器的应用方法。

二、实验原理

本实验使用的集成数据选择器74LS151为8选1数据选择器,数据选择端3个地址输入A2A1A0用于选择8个数据输入通道D7~D0中对应下标的一个数据输入通道,并实现将该通道输入数据传送到输出端Y(或互补输出端

)。

74LS151还有一个低电平有效的使能端

,以便实现扩展应用。

74LS151引脚功能如图16-1和附表所示。

在使能条件下(

=0),74LS151的输出可以表示为

,其中mi为地址变量A2、A1、A0的最小项。

只要确定输入数据就能实现相应的逻辑函数,成为逻辑函数发生器。

三、实验内容

1.功能测试

按图16-2连接电路,8个数据输入中仅一个接地(0),其余悬空或接VCC

(1),列表验证74LS151功能是否与上表一致。

2.逻辑函数发生器

将图16-2中

、D1、D2、D4、D7接“0”,D0、D3、D5、D6接“1”,0/1逻辑开关按自然二进制数改变,列表记录输出Y逻辑值。

地址输入A2、A1、A0分别改接(图形编号01)序列输出L2、L1、L0,用双踪示波器对比观察输出波形。

此时,电路为一个固定序列发生器。

3.用74LS151实现(任选一题)

L(A,B,C)=AB+AC+BC;

L(A,B,C)=

L(A,B,C)=

四、实验仪器

数字逻辑实验箱,万用表,双踪示波器,74LS151。

五、预习要求

1.复习教材相关内容,掌握数选器逻辑功能。

2.恰当组织实验过程,绘制实验数据表格。

六、实验报告要求

1.74LS151功能测试结论;

2.74LS151按规定连接的逻辑函数发生器数据及功能;

3.用单片74LS151实现任选题的原理图和验证结果。

七、思考题

如何74LS151实现四变量乃至更多变量的逻辑函数。

八、其它数选器

1.74LS251

74LS251是三态输出的8选1数据选择器,与151有相同的管脚分布,

为高电平时,输出高阻状态。

2.74LS153

74LS153是双4选1数据选择器,两数据选择器共用数选输入A1A0,无互补输出端。

芯片管脚如下图分布。

实验十七触发器及其功能转换

一、实验目的

1、掌握基本RS、JK、D、T、T'触发器的逻辑功能。

2、熟悉各种触发器之间的相互转换方法。

3、熟悉不同结构形式触发器工作特性的差异。

4、熟悉触发器应用。

二、实验原理

触发器是一种具有记忆功能的二进制存贮器件,是组成各种时序逻辑电路的基本器件之一。

就触发器功能而言,有RS、JK、D、T、T'触发器。

就触发器结构而言,一般有主从、边沿之分。

边沿型触发器有较好的抗干扰性能。

D触发器和JK触发器都有TTL和CMOS集成产品。

1、基本RS触发器可由二个与非门所组成,如图17-1所示,没有单独的集成产品。

在相应的置位(S)或复位(R)加有效电平(信号),基本RS触发器置位(Q=1)或复位(Q=0)。

图示与非门组成的基本RS触发器,有效触发电平为低电平“0”,其功能见附表。

 

图17-1

2、JK触发器

本试验用74LS113是主从型双JK集成触发器,其外引线排列及功能见图17-2和附表。

图17-2

JK触发器具有保持、置数和计数三种功能。

由CP=1期间J、K的状态(按真值表)决定CP脉冲下跳后触发器状态Qn+1。

表中Qn是CP下跳前触发器状态,称为原状态;Qn+1称为次状态。

74LS113的S端是低电平有效的直接置位端,该引脚信号不受CP控制,74LS113没有直接复位R引脚。

主从型JK触发器的逻辑符号如图17-3所示。

图17-3

3。

D触发器

74LS74是边沿型双D触发器,时钟CP上跳沿有效,即触发器原状态和次状按CP的上升沿划分。

74LS74的引脚如图17-4分布,D触发器功能见附表,逻辑符号见图17-3。

图17-4

4.触发器功能转换

不同逻辑功能的触发器可以互相转换,只要在触发器输入端加组合转换电路即可。

各触发器的特征方程如下:

JK触发器:

D触发器:

T触发器:

T′触发器:

三、实验内容

1.测试触发器功能

a.与非门(74LS20或74LS00)按图17-1连接,置位端和复位端接0/1开关,输出端Q和

接LED。

改变开关组合,与RS触发器真值表比较。

b.74LS113一个触发器的S、J、K接0/1开关,输出端Q和

接LED,CP接A/B手动脉冲。

改变开关组合,按动A/B按钮,观察LED显示状态,与JK触发器真值表比较。

2.触发器功能转换

74LS113按图17-5连接,改变开关组合,按动A/B按钮,观察LED显示状态,与D触发器真值表比较。

图17-5

3.触发器计数(分频)功能

74LS113接成T′触发器(如图17-6),分别在T=0和T=1情况下,用示波器观察、比较输入、输出波形,得出可控计数结论。

图17-6

74LS74按图17-6接成T触发器,用示波器观察、比较输入、输出波形,得出二进制计数(二分频)结论,并与以上T=1输出波形比较,可见输出状态变化时间的不同。

74LS74按图17-7连接,示波器观察、比较方波输入、输出Q1和Q2波形,得出二位二进制计数(四分频)结论。

接方波信号

C1

1D

S

R

Q1

C1

1D

S

R

Q2

图17-7

四、预习要求

1、预习教材相关内容,了解触发器功能及时钟边沿。

2、确定实验线路连接,画出接线图,拟定实验必要的表格。

五、实验仪器

数字逻辑实验箱,示波器,74LS20,74LS113,74LS74。

六、实验报告要求

1.RS、JK、D、T、T′触发器功能验证结论。

2.触发器状态翻转的时钟边沿和相关结论。

3.计数器的分频作用。

七、其它型号集成触发器

实验十八集成计数器及其应用

一、实验目的

1、学习了解中规模集成计数器的计数分频功能;

2、掌握集成计数器构成N进制的计数器的连接方法。

二、实验原理

1.集成计数器74LS161

本实验所用集成芯片为异步清零同步预置四位二进制递增计数器74LS161,集成芯片的各功能端如图18-1所示,其功能见附表。

图18-1

74LS161为异步清零计数器,即

端输入低电平,不受CP控制,输出端立即全部为“0”,功能表第一行。

74LS161具有同步预置功能,在

端无效时,

端输入低电平,在时钟共同作用下,CP上跳后计数器状态等于预置输入DCBA,即所谓“同步”预置功能(第二行)。

都无效,ET或EP任意一个为低电平,计数器处于保持功能,即输出状态不变。

只有四个控制输入都为高电平,计数器(161)实现模16加法计数,Q3Q2Q1Q0=1111时,CO=1。

2.任意进制计数器(模长M≤16)

用集成计数器实现M进制计数有两种方法,反馈清零法和反馈预置法。

图18-2(a)为反馈清零法连接,图18-2(b)为反馈预置零法连接。

(a)(b)

图18-2

3.集成计数器扩展应用(模长M>16)

当计数模长M大于16时,可用两片以上集成计数器级联触发器来实现。

集成计数器可同步连接,也可以异步连接成多位计数器,然后采用反馈清零法或反馈预置法实现给定模长M计数。

图18-3所示为同步连接反馈清零法实现模长大于16计数电路原理图。

图18-3

三、实验内容

1.计数器功能测试:

图18-4

按图18-4连接电路。

a)使0/1开关全部为“1”按动A/B开关,观察LED显示状态,并作记录。

b)在输出状态非全“1”情况下,

端所接0/1开关变为“0”,观察LED显示状态,按动A/B开关后,再观察LED显示状态。

改变预置数再观察按动A/B开关前后LED显示状态。

c)将

端所接0/1开关变为“0”,观察LED显示状态。

d)使0/1开关全部为“1”,使能端(ET、EP)接低电平,按动A/B开关观察能否实现计数。

2.分别按图18-2(a)和(b)连接电路,CP接A/B开关,观察计数状态的变化过程,并记录该状态循环。

3.将图18-2CP改接频率为2KHz左右的方波脉冲,用示波器观察并画出Q0,Q1,Q2,Q3及计数脉冲波形,要求对准时间关系。

4.设计一模长M=7的计数电路。

四、预习要求

1.熟悉芯片各引脚排列。

2.弄清构成模长M进制计数器的原理。

3.实验前设计好实验所用电路,画出实验用的接线图。

五、实验器材

双踪示波器,数字逻辑实验箱,74LS161,74LS20。

六、实验报告要求

1、74LS161测试结论。

2、图18-2状态循环图和模长。

3、7进制计数器的电路设计图、连线图和计数器的测试结果。

4、测试过程中出现的问题及解决办法。

七、其它集成计数器

1.74LS160(同步预置异步复位一位BCD加法计数器)

74LS160有与74LS161一样的引脚排列和功能,区别在于160是BCD计数器,Q3Q2Q1Q0=1001时,CO=1。

2.74LS190(可预置同步可逆BCD计数器)

74LS190是BCD同步加/减计数器,并行输出。

计数时,时钟CP的上升沿有效。

CP端、加/减端(

)和置数端(

)都先经过缓冲,从而降低了这些输入端对驱动信号的要求。

附表列出了74LS190的主要功能,下面作简要说明。

1)预置数:

当置数端(

)为低电平时,数据输入端信号A、B、C、D将对内部触发器直接置位或复位,结果使QA=A、QB=B、QC=C、QD=D,而与其他控制端的电平无关。

2)计数:

在允许端

为低电平,置数端无效(

=1)的条件下,若加/减输入端

为低电平,则可进行加计数,反之可进行减计数。

3)禁止计数:

当允许端

为高电平时,计数被禁止。

值得注意的是,允许端的电平应在CP为高电平时发生变化。

4)级联:

当计数器溢出时,进位/借位输出端(CO/BO)产生一个宽度为一个CP周期的正脉冲,串行时钟端(QCR)也形成一个宽度等于时钟低电平部分的负脉冲,上述正脉冲或负脉冲的后沿比产生溢出的时钟脉冲上升沿稍微滞后,它们可作为级联信号来用。

例如,把两级74LS190连接为同步计数器,只要将低位计数器的QCR端连至高位计数器的允许端

而要把两级计数器连接为异步计数器,则低位计数器的QCR端应和高位计数器的CP端相连.CO/BO端可用来完成高速计数的先行进位。

3.74LS90(二—五—十进制计数器)

74LS90内部有一个二进制计数器,时钟

,输出Q0;一个五进制计数器,时钟

,输出Q3Q2Q1;可异步构成十进制计数器。

它有两高电平有效的清零端R0A、R0B和两高电平有效的置9端S9A、S9B,其功能表如附表所示。

当计数脉冲由

输入,Q0与

相连时,就构成8421BCD计数器。

当计数脉冲由

输入,Q3与

相连时,则可构成5421BCD计数器。

八、选做和提高题

1.按图18-3电路完成连接和测试。

2.设计一用同步连接反馈预置法实现给定模长(16<M<256)计数电路。

3.设计一用异步连接反馈预置法实现给定模长(16<M<256)计数电路。

4.设计一用异步连接反馈清零法实现给定模长(16<M<256)计数电路。

实验十九集成移位寄存器

一、实验目的

1。

了解移位寄存器的逻辑功能及常用集成移位寄存器。

2.掌握移位寄存器的应用方法。

二、试验原理

本实验使用的集成移位寄存器是四位可逆可并行预置的移位寄存器74LS194。

74LS194管脚功能见图19-1和附表。

 

由功能表可知,74LS194具有异步清零功能,

端输入低电平信号,四个输出端都立即变为“0”。

无效时,两工作方式输入端M1M0电平决定74LS194工作方式。

M1M0=11,并行预置数,在时钟上跳时刻,并行输入数据D3D2D1D0预置到并行输出端;M1M0=10,左移寄存,左移输入端DSL输入数据寄存到Q0,各位数据向高位移动;M1M0=01,右移寄存,右移输入端DSR输入数据寄存到Q3,各位数据向低位移动;M1M0=00,寄存器处于保持工作方式,寄存器状态不变。

三、实验内容

1.功能测试

按图19-2连接电路,并按下表改变0/1开关逻辑值,记录输出逻辑值。

M1M0

DSLDSR

CP

Q3Q2Q1Q0

1

11

11

1

0

11

11

0

1

11

10

0

1

11

10

1

1

10

10

0

1

10

10

1

1

10

01

1

1

01

01

0

1

01

01

1

1

01

10

1

1

00

10

0

1

00

10

1

0

10

10

0

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