LED失效分析报告图文精Word格式文档下载.docx

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申请代号：

SH-FA-00311

申请日期：

2011.07.11

鉴定员：

SA60019

审核：

SA60025

批准：

SA60028

一、基本情况

收到客户-北京市京电变电工程处，1盏XPE灯具（参见图-1），要求分析XPE失效的原因。

送检XPE灯具图-1

二、原因分析

1、电学特性

通过晶体管特性仪检测，所有XPE均无法点亮，其电学特性为短路（参见图-2）。

送检失效XPE电特性图-2

2、显微镜检测

取出二颗肉眼观察具代表性的LED进行高倍显微镜观察，失效XPE-NO1金线周围的硅胶有膨胀现象（参见图-3“红圈”处），及芯片电极处有明显发黑现象（参见图-3）。

膨胀现象说明：

LED的金线处过热，曾受到过电冲击；

电极处发黑现象说明：

LED受到严重的过电冲击。

从XPE-NO2中暂时无法观察到有明显的损坏痕迹，需进一步解剖（参见图-4）。

送检失效XPE-NO1放大图-3送检失效XPE-NO2放大图-4

3、解剖剥去失效XPE的硅胶透镜后，XPE-NO1芯片电极处发黑，再次说明：

该LED曾受过电严重的过电冲击（参见图-5）。

XPE-NO2金线端的电极处及芯片上的电极处，均发现部分发黑痕迹，此现象说明：

该LED受到过电冲击（参见图-6“红圈”处）。

送检失效XPE-NO1芯片图-5送检失效XPE-NO2芯片图-6

4、驱动电源检测分析：

连接方式为驱动电源+XPE灯板（灯板为客户寄来的完好的XPE灯板），用示波器在0.1Ώ上监视得到开机后的冲击电流约在2.25A（50mV*4.5/0.1Ώ）以上（参见图-7）。

检测纹波电流较大，超过50%（参见图-8）。

该电源的纹波电流及瞬间的冲击电流可能是导致XPE损坏的原因之一。

瞬间冲击电流图

-7

纹波图-8

三、结论

从上述现象分析得：

造成XPE短路的主要原因是由于EOS导致的LED失效。

四、免责声明

本报告为CREE非正式文档，任何正式报告仅由CREE总部提供。

本分析报告的目的旨在协助客户进行样品分析，仅供客户查找相关灯具失效原因所用。

若客户将本报告适用于其他途径，所造成的任何损失均与CREE无关。

本报告最终解释权归上海科锐光电发展有限公司所有。

技术中心

2011-07-18