原子序数z等原子核中的质子数量.docx
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原子序数z等原子核中的质子数量
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一、是非题
原子序数z等于原子核中的质子数量。
为了使原子呈中性，原子棱中的质子数必须等于核外的电子数。
当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线．
不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。
放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所用于工业探伤。
将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
与其他放射性同位素不同，Cs137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。
射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
x射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
x射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
当x射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
标识x射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
连续x射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。
1.2lX射线的波长与管电压有关。
X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。
同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。
X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。
与C。
60相对，Csl37发出的γ射线能量较低，半衰期较短。
光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。
一能量为300KeY的光子与原子相互作用，使一轨道电子脱离50KeV结合能的轨道，且具有50KeV动能飞出，则新光子的能量是200KeV。
光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。
光电子又称为反冲电子．
随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。
当射线能量在至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。
连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。
射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。
当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。
1.37C。
60和Irl192射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。
X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。
放射性同位素的当量能总是高于其平均能。
X射线与可见光本质上的区别仅仅是振动频率不同。
高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。
连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。
连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。
标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。
X射线与γ射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。
采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。
原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。
放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。
在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。
在工业射线探伤中，使胶片感光的主要是连续谱x射线，标识谱x射线不起什么作用。
Ir192射线与物质相互作用，肯定不会发生电子对效应。
高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。
连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。
X光管的有效焦点总是小于实际焦点。
x射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过份受热。
x射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。
由于X射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压平均值毒示。
移动式X射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。
移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。
相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和尺寸小于后者。
“变频”是减小x射线机重量的有效措施之一。
放射性同位素的比活度越太，其辐射强度也就越大。
适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是C。
60，透宜探测厚度20mm以下钢试件的γ源是Ir192。
黑度定义为阻光率的常用对数值。
底片黑度D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。
能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。
用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。
胶片达到一定黑度所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。
同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。
比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。
胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。
在常用的100KV-400KVX射线能量范围内*铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。
对X射线，增感系数随射线能量的增高而增大。
但对γ射线来说则不是这样，例如，钻60的增感系数比铱192低。
对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。
x和γ射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而x射线来自于一个以高压加速电子的装置。
在任何情况下，同位素都有优于嚣射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。
对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度也越大。
相同标称千伏值和毫安值的x射线机所产生的射线强度和能量必定相同。
所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。
放射源的比活度越大，其半衰期就越短。
胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片对比度越小。
胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。
从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。
宽容度大的胶片其对比度必然低。
显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在座标上的位置向左移。
胶片特性曲线在座标上的位置向左移，意味着胶片感光速度减小。
与一般胶片不同，X射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。
“潜象”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。
铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。
（）
透照不锈钢焊缝，可以使用碳素钢丝象质计。
透照钛焊缝，必须使用钛金属丝象质计。
铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以使用广泛。
胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。
梯噪比高的胶片成像质量好。
胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。
影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。
使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。
射线照相时，若干伏值提高，将会使胶片对比度降低。
一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。
增大曝光量可提高主因对比度。
当射线的有效量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。
射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。
用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。
减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。
胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。
使用γ射线源可以消除几何不清晰度。
增加源到胶片的距离可以减小几何清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。
胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。
对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。
胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度有关。
使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。
胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。
显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。
实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。
当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时，影象对比度会受照相几何条件的影响。
可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。
如果信噪比不够，即使增大胶片衬度，也不可能识别更小的细节影像。
_
散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。
底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。
射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。
透照有余高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指能保证焊缝部位和母材部位
得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。
3.3l底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。
固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。
底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。
对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。
由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大，所以增加曝光量有利于缺陷影象识别。
射线照相的信噪比与胶片梯噪比具有不同含义。
γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。
选择较小的射源尺寸df，或者增大焦距值F，都可以使照相Ug值减小。
欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率。
采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。
环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。
无论采用哪一种透照方式，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。
所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。
己知铜的等效系数Ψ铜=．则透照同样厚度的钢和铜时，后者的管电压应为前者的倍。
对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。
源在内透照时，搭接标记必须放在射源侧。
背散射线的存在，会影响底片的对比度。
通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。
不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均应放在射源侧。
由于“互易定律失效”，采用荧光增感时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。
当被透工件厚度差较大时，就会有“边蚀散射”发生。
在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对γ射线并不适用。
使用“滤板”可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。
在源和工件之间放置滤板减小散射线的措施对于平板工件照相并不适用。
在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。
采用平靶周向X射线机对环缝作内透中心法周向曝光时，有利于检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。
采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。
采用双壁单影法透照时，如保持K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越小。
用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检。
对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。
使用γ射线曝光曲线时，首先应知道射线源在给定时间的活度。
如果已知等效系数，用x射线曝光曲线来代替，射线曝光曲线，也能求出曝光参数。
小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。
增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。
对尺寸很小的缺陷，其影象的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。
材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。
在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。
环缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。
纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记之间的长。
小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量，其目的是减小底片反差，扩大检出区域。
射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。
显影时胶片上的AgBr被还原成金属银，从而使胶片变黑。
对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。
胶片在显影液中显影时，如果不进行任何搅动，则胶片上每一部位都会影响紧靠在它们下方部位的显影。
定影液有两个作用，溶解未曝光的AgBr和坚膜作用。
所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。
不减少底片上水迹的方法是温胶片快速干燥。
胶片表面起网状皱纹可能是胶片处理温度变化急剧而引起的。
冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。
显影液中如果过量增加碳酸钠，在底片上会产生反差降低的不良后果。
使用被划伤的铅箔增感屏照相，底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。
胶片上静电花纹的产生是由于射线管两端的电压过高的原因。
射线底片上产生亮的月牙痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。
射线底片上产生亮的月牙痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。
如果显影时间过长。
有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大了底片灰雾。
显影液中氢离子浓度增大，则显影速度减慢，故借助于显影液保持一定PH值。
定影液中的氢离子浓度过高，定影能力就越强。
胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完成。
因为铁不耐腐蚀且容易生锈，所以不能用铁制容器盛放显影液。
溴化钾除了抑制灰雾的作用外，还有增大反差的作用。
显影时搅动不但能够使显影速度加快，还有提高反差的作用。
所谓“超加和性”是指米吐尔和菲尼酮配合使用，显影速度大大提高的现象。
由于射线照相存在影象放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。
各种热裂纹只发生在焊缝上，不会发生在热影响区。
形状缺陷不属于无损检测检出范畴，但对于目视检查无法进行的场合和部位，射线照相应对形状缺陷，例如内凹、烧穿、咬边等，评级。
暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。
一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域，验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否也增加。
热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。
照射量单位“伦琴”只适用x射线或γ射线，不能用于中子射线。
当x或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。
即使剂量相同，不同种类辐射对人体伤害是不同的。
小剂量，低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。
只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。
从x射线机和γ射线的防护角度来说，可以认为1戈瑞=1希沃特。
焦耳／千克是剂量当量单位，库伦/千克是照射量单位。
剂量当量的国际单位是希沃特，专用单位是雷姆，两者的换算关系是l希沃特=100雷姆。
x射线比γ射线更容易被人体吸收，所以x射线对人体的伤害比γ射线大。
当照射量相同时，高能X射线比低能X射线对人体伤害力更大一些。
宽容度大是高能X射线照相的优点之一。
中子照相的应用之一是用来检查航空材料蜂窝结构的粘接质量。
高能X射线照相的不清晰度主要是固有不清晰度，几何不清晰度的影响几乎可以忽略。
二、选择题
原子的主要组成部分是（）。
A、质子、电子、光子B、质子、重子、电子
C、光子、电子、X射线D、质子、中子、电子
电磁波的频率（f），速度（c）和波长（λ）之间的关系可用（）表示。
A、f=λ·cB、c=f·λC、λ=f·cD、λ=f/c
原子核的质子数等于（）。
A、中子数B、原子序数C、光子数D、原子量
质子和中子的区别是中子没有（）。
A、电荷B、质量C、自旋D、半衰期
当几种粒子和射线通过空气时，其电离效应最高的是（）。
A、α粒子B、β粒子C、中子D、X和γ射线
在射线探伤中应用最多的三种射线是（）。
A、X射线，γ射线和中子射线B、α射线，β射线和γ射线
C、X射线，γ射线和β射线D、X射线，γ射线和α射线
原子核外电子能级量最高的是（）。
A、外壳层B、中间壳层C、内壳层D、以上均不是
同位素是指（）。
A、质量数相同而中子数不同的元素；
B、质量数相同而质子数不同的元素；
C、中子数相同而质子数不同的元素；
D、质子数相同而质量数不同的元素。
X射线、γ射线和α粒子有一个共同点，即它们都是（）。
A、均质粒子辐射B、电磁辐射C、微波辐射D、电离辐射
在射线检验中采用的能量范围（约100KeVo-10MeV）射线穿过钢铁强度衰减的最主要原因是（）。
A、光电效应B、汤姆逊效应C、康普顿效应D、电子对效应
光子能量的数学表达式是（）。
A、E=h/υB、E=λ/hc
C、E=hυD、E=hυ2
强度为I的单色射线通过厚度为△X的材料后，强度减弱△I，其关系式为△I=μI△X，此式表示下列哪种现象？
（）
A、光电效应B、康普顿散射C、吸收D、半价层厚度
通常所说的200KVX射线指（）。
A、最大能量为的“白色”X射线
B、平均能量为的连续射线
C、能量为的连续射线
D、有效能量为的连续射线
单色射线是指（）。
A、标识x射线B、工业探伤γ源产生的射线
C、用来产生高对比度的窄束射线D、由单一波长的电磁波组成的射线
在一般的工业探伤中，射线与物质相互作用时，主要产生的二个效应是（）。
A、光电效应和电子对效应B、光电效应和康普顿散射
C、康普顿散射和电子对效应D、康普顿散射和电离
当光子与物质相互作用时，光子将部分能量用于逐出轨道电子，且剩余的能量变为电子的动能，这就是（）。
A、康普顿散射B、光电效应C、电子对效应D、电离
当光子与物质相互作用时，光子的波长增加，方向改变，这是由于（）的结果。
A、光电效应B、康普顿散射C、汤姆逊散射D、电子对产生
康普顿散射的特征是（）。
A、产生光电子B、产生俄歇电子C、产生反冲电子D、产生正负电子对
光电效应的特征是（）．
A、产生光电子B、发射标识x射线
C、发射二次电子D、以上都是
已知某单能射线在钢中的半价层为3mm，则该射线在钢中的吸收系数为（）。
A、B、2.31cm-1C、2.079cmD、00231mm-1
射线通过物质时的衰减取决于（）。
A、物质的原子序数B、物质的杨氏模量
C、物质的泊松比D、物质的晶粒度
窄束和宽束的区别是（）。
A、窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达
检测器。
B、窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是指散射和未散射的射线均到达
检测器。
C、窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。
D、窄束和宽束区别在于照射场大小不同。
散射线的主要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的。
A、光电过程B、康普顿过程C、电子对过程D电离过程
从X射线管中发射出的射线包括（）。
A、连续X射线B、标识X射线C、β射线D、A和B
连续X射线穿透厚工件时，有何特点？
（）
A、第二半价层小于第一半价层B、第二半价层等于第一半价层
C、第二半价层大于第一半价层D、第二半价层与第一半价层关系不确定
当射线波长一定时，下列哪种物质的μ最大？
A、FeB、AlC、TiD、Cu
产生x射线的一般方法是在高速电子牌运动方向上设置一个障碍物，使高速电子在这个障碍物上突然减速，这个障碍物被叫（）。
A、阳极B、阴极C、靶D、灯丝
X射线的穿透能力取决于（）。
．
A、毫安B千伏C、曝光时间D焦点尺寸
γ射线的穿透能力取决于（）．
A、源的尺寸B、源的种类C、曝光时间D、焦点尺寸
当施加于X射线管两端的管电压不变，管电流增加时，则（）。
A、产生的X射线波长不变，强度不变
B、产生的X射线波长不变，强度增加
C、产生的X射线波长不变，强度减小
D、产生的X射线波长增加，强度不变
X射线机的管电流不变，管电压减小时，则X射线将会发生（）。
A、强度不变，波长减小B、强度不变，波长增大
C、波长减小，强度减小D、波长增大，强度减小
X射线警所产生的连续X射线的强度与管电压的关系是（）．
A、强度与管电压成正比B、强度与管电压成反比
C、强度与管电压平方与正比D、强度与管电压平方成反比
放射性同位素衰变时，原子核衰变方式通常是（）。
A、粒子发射B、K俘获C裂变D、A和B
韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时，与靶的什么相互作用而放也电子的能量，产生连续X射线的？
（）
A、自由电子B、原子核的质子或中子
C、充层电子D、原子核外库仑场
放射性元素Co60转变为N60的过程是一次（）
A、α衰变B、β衰变C、γ衰变D、K俘获
以下关于光电效应的叙述，哪一条是错误的（）
A、光电效应发生几率随光子能量的增大而减小
B、光电效应发生几率材料的原子序数增大而增大
C、在光电效应过程中除产生光电子外，有时还会产生反冲电子
D、光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量
以下关于康普顿效应的敦述，哪一条是错误的（）
A、散射光子的波长肯定小于入射光子
B、反光子与散射光子能冲电子的能量为入射量之差
C、散射角α越大，散射光子能量越小
D、康普顿效应发生几率随入射光子能量增大而减小
某放射性同位素的衰变常数为天-1，则其半衰期为（）
A、186天B、129天C、53天D、537天
下列几种材料中，射线衰减系数较大的是（）
A、铜B、铝C、铁D、碳
以下关于瑞利散射的叙述，哪一条是错误的（）
A、瑞利散射是相干散射的一种
B、瑞利散射不改变光于能量，只改变光子的运动方向
C、瑞利散射的发生几率随原子序数的增大而减小
D、瑞利散射的发生几率随光子能量的增大而急剧减小
射线照相难以检出的缺陷是（）
A、未焊透和裂纹B、气孔和未熔合
C、夹渣和咬边D、分层和折叠
射线照相法对哪一种焊接方法不适用。
（）
A、气焊，电渣焊B、气体保护焊、埋弧自动焊
C、手工电弧焊、系离子弧焊D、摩擦焊，钎烽
以下哪些材料的熔化焊对接焊缝适宜使用射线照相法检测（）
A、钢和不锈钢B钛和钛合金
C、铝及铝合金D、以上都适宜
以下关于射线照相特点的叙述，哪些是错误的（）
A、判定缺陷性质、数量、尺寸比较准确
B、检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大
C、成本较高，检测速度不快
D、射线对人体有伤害
管电压、管电流不变，将X射线管阳极由铜换成钨，产生X射线线质如何变化？
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