晶胞中的a，b，c，分别是三个晶轴方向上的单位平移向量的长度，称为轴长，不是"三个棱"的长度。
轴长符号也常用a0，b0，c0表示。
轴长单位常用?
（埃，Angstrom，=10-10米）或纳米（nm，=10-9米）。
在晶体结构中没有"棱"这样一种说法，只有晶体坐标系，而这个坐标系是用a，b，c，α，β，γ六个参数来表示的，α，β，γ分别代表三个轴间的夹角。
而"晶棱"是指晶体的外形的棱边。
所以说"a、b、c代表晶胞的三个棱的长度"是错误的。
如何计算晶胞体积？
比如说我想计算二氧化锆四方晶相的晶胞体积，甚至是各个晶胞参数，怎么用这个软件来具体处理一下呢？
首先，你要有相应的晶体学方面的知识。
这些软件是为我们处理一些晶体学上的一些问题服务，所以，你不能抛开晶体学去使用软件。
有了一些必要的晶体学知识之后，你再去学习使用这些软件，这样你才能看懂help里的内容。
对于你现在所讲的这个晶胞体积的问题，实际上也就是晶胞参数精确测定的问题，因为晶胞参数精确测定了之后，晶胞体积自然就知道了。
有什么软件能根据分数坐标画出晶体的空间结构？
就是有八面体或者四面体的那种。
根据晶体的结构结构数据，用diamond或atoms等专业的晶体结构绘图软件便可画出晶体的空间结构。
六角结构的晶体在生长时它的内在的优先生长方向是哪一个？
一般来说晶体沿短轴方向生长速度快,垂直于长轴方向的晶面密度较大，从能量的角度说，当晶体生长时，这样的格位更稳定一些。
在X射线测量中（三方晶系）通常给出的都是六方的晶格常数例如a=b=5.741,c=7.141,夹角分别为120°，120°，90°。
现在我想把它换算成三方结构的晶格常数a=b=c=?
夹角a=?
你是通过对衍射数据指标化得出的六方晶格常数，还是从文献得到的？
如果你的晶胞是菱方格子，那么用六方定向和菱方定向是一样的
梁敬魁的《粉末衍射法测定晶体结构》中有公式可以由三方转六方，或六方转三方。
如何知道晶体中原子坐标?
做单晶X－射线衍射才能得到原子的坐标。
除了四圆外，CCD也可进行单晶X－射线衍射。
如何根据X射线衍射数据计算晶粒尺寸晶格常数和畸变，用什么理论和公式？
根据衍射峰的峰形数据可以计算晶粒尺寸晶格常数和畸变。
在衍射峰的宽化仅由于晶粒的细小产生的情况下，根据衍射峰的宽化量应用Scherrer公式便可以估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
你如果需要做这方面的计算，需要增加一些入门知识，在本网页上你就能够找到一些有关资料的。
[X射线小角衍射和X射线小角散射]
小角X射线散射（SmallAngleX-rayScattering）和小角X射线衍射（Smallanglex-raydiffraction）是一回事吗？
早期小角X射线散射仅指超细颗粒在低角度范围（常指2θ<20°）上的X射线散射，而现在，小角X射线散射通指在低角度范围（常指2θ<10°~20°）的X射线散射。
X-射线照射到晶体上发生相干散射（存在位相关系）的物理现象叫衍射，即使发生在低角度也是衍射。
例如，某相的d值为31.5A，相应衍射角为2.80°（Cu-Kα），如果该相有很高的结晶度，31.5A峰还是十分尖锐的。
薄膜也能产生取决于薄膜厚度与薄膜微观结构的、集中在小角范围内的X射线衍射。
在这些情况下，样品的小角X射线散射强度主要来自样品的衍射，称之为小角X射线衍射。
对这类样品，人们关心的是其最大的d值或者是薄膜厚度与结构，必须研究其小角X射线衍射。
X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。
但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角X射线衍射图的特征完全不同。
小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质。
X-射线照射到样品上还会发生非相干散射，其强度分别也主要集中在在低角度范围，康普顿散射就属于此类，其结果是增加背景。
哪里能得到小角X射线衍射的系统理论包括书、文献、技术、软件？
1.张晉远等,X射线小角散射.高等教育出版社,北京,1990
2.Y.Xiang,etal.MaterialsCharacterization,2000,44（4-5）:
435-9
我现在做介孔材料。
介孔（孔径2-50nm）在材料中成有序排列，象晶格一样的排列在材料中，孔壁、材料为非晶相。
为什么XRD能粗测孔与孔的间距？
我了解到的是,孔成有序排列，所以在小角度会有衍射峰,（001）面的峰值和孔径有关。
但我不知道为什么?
跟长周期有关：
大的孔需要大的周期，或者说是"孔面"间距，类似于"晶面间距"。
"孔"意味晶体中该区域没有原子填充，没有填充原子就无衍射峰。
而孔洞的边界是原子紧密排列的，原子密度相对较高，对应产生较强的衍射，强度较大。
大孔孔径大，空间重复周期大（即长周期），对应的晶面距大，产生的衍射在小角区。
所说的（001）有强线对应的材料的晶体C轴较长，如果第一线是（100）则A轴较长。
[关于粉末衍射数据库的问题]
PDF2卡片与JCPDS卡有什么区别？
是同一个东西！
PDF2是ICDD（InternationalCentreforDiffractionData）的产品，ICDD的前身为JCPDS（JointCommitteeonPoderDiffractionStandards）。
为什么我用pcpdfwin查到的电子PDF卡和我在学校图书馆查的PDF卡不同，卡号都是一样的，可相对强度值不一样，这是为什么？
相对强度是估计的，有误差是正常的，可能是数据的来源有所不同造成的，还有要注意，由于卡片制作后就不能改，所以有的卡片被后来的结果修正了，这在印制的卡片上是没有这种信息的，但在数据库中的卡片则有说明，哪些卡片已经被删除。
衍射卡片里面相对强度怎么有的大于100？
（比如为999）
粉末衍射卡的强度数据以相对强度提供，一般以最强线为100。
但是计算的粉末衍射数据最强峰的强度值取作999。
其实相对强度的数值并不重要，您只要把最大的当作100，其它的与之比较就可以了，比如999当作100那么500就是50，353就是35，在这里因为是估计，有误差也没有关系了。
同一种物质对应着两张卡片，这正常吗？
这很正常，两张卡片是在不同的时间或由不同的人做的。
你可以按卡片号调出卡片，卡片上就可以查到卡片数据出处的原始文献。
在X射线粉末衍射的数据表中，PeakList中有Rel.Int.[%]，PatternList中有ScaleFac,请问"Rel.Int.[%]"，"ScaleFac"代表的意义。
"Rel.Int.[%]"的意思是"相对强度，%"，"ScaleFac"是（强度）"比例因子"。
请问哪里能查到文献上发表的天然产物的晶体数据？
ICSD数据库或ICDD的PDF数据库。
除此之外，还可以在矿物数据库中和美国矿物学家晶体结构数据库中免费查到，在"晶体学数据库"栏目中提供的链接中查。
[物相分析方面的问题]
样品卡与标准卡对比原则？
提供几条原则供大家参考：
1. .对比d值比对比强度要重要；
2. 低角度的线要比高角度的线要重要；
3. 强线比弱线重要；
4. 要重视特征线；
5. 同一个物相可能有多套衍射数据，但要注意有的数据是被删除的；
6.个别低角度线出现缺失；
7.由于样品择优取向某些线的强度会发生变化；
8.有时会出现无法解释的弱线，这是正常的，不能要求把所有的线都得到解释。
"要重视特征线"，那么什么是特征线？
"同一个物相可能有多套衍射数据，但要注意有的数据是被删除的"，这是什么意思？
所谓的特征线就是某物质最强而且是独有的最容易判断的线，如石英的特征线就是d=3.34?
的线，在混合物中如果出现这条线，有石英的可能性就大，其它也是这样，这在混合物中查物相是很有用的。
同一个物相可能有多套衍射数据是指有多个卡片的数据都是一个物相，比如石英（SiO2）从1到49卷都有数据，共有93个数据卡片，但是1-8卷15，16，33-1161，42-391等（共38个）这些卡片都是卡片库的编者已经删除的。
哪里能查到文献上发表的天然产物的晶体数据？
除ICSDdatabase和ICDD的PDF库外，还可以在矿物数据库中和美国矿物学家晶体结构数据库中免费查到。
如何将单晶数据转化为粉末的，来作为我的标准谱呢？
可以利用Shape公司的软件，利用单晶数据计算粉末理论图，最新版本1.2demo版。
没有它的粉晶射线图，但是有根据其单晶X射线衍射推算出来的晶胞参数，请问我怎么才能反推算出该晶体的粉晶衍射图？
如果你有结构数据，就可以从理论上算出粉末衍射图的，可以使用MaterialsStudio的reflexplus模块算出来；有原子坐标，通过diamond也可以得到它的粉末XRD图。
如何分析出其晶体结构而确定是我们预期的物质呢？
如果能够在ICDD的粉末衍射数据库中找到你预期的物质的衍射数据，做一个XRD鉴定即可确定。
做了一些铝合金试样的XRD，试样中铝含量超过95%。
试样的谱线均在纯铝谱线左侧，低角度谱线偏离0.2度左右，高角度谱线偏离0.3-0.4度左右。
请问它们是第二相固溶引起的吗？
它们与固溶程度有什么定性和定量的关系？
根据Bragg公式，峰位置向左偏移，相当于d值变大了，反映其晶胞参数变大了，说明在Al的晶格中渗入了其他的原子。
另外，没有出现新的衍射峰，说明是铝的无序固溶体，保持着纯铝的晶体结构。
钴酸锂的标准卡片有哪几种？
而许多厂家用的是16-427标准卡片，没有考虑（009）这个衍射峰，为什么不用75-0532标准卡片呢？
16-427是通过实验得出的，而75-0532是利用ICSD结构数据库中的结构数据计算得出的
做钴酸锂实验时，出现的峰和75-0532一样，而和16-427是不是只差（009）衍射峰呢？
如果是这样，那么就是16-427漏掉了这个峰，或者当时实验者收集数据时的角度不够高，没有达到这个峰的位置，这种情况是常有的
做钴酸锂XRD衍射实验时，在X衍射仪上做出的衍射图片,第一个衍射峰特别高,其他的衍射峰特别低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位高手指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验，还是多晶膜等？
如果是粉末，那可能就是择优取向了
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁，XRD与标准JCPDS相比衍射峰有规律向左偏移，这表达什么晶体结构的信息啊？
可能的原因：
如果各峰的偏移基本上是一个固定值，原因是2θ零位不正确；
样品平面后仰；
组成偏离化学式"MgNH4PO4·6H2O"，未知的偏离导致晶格变大了一些。
用Jade5软件可以进行XRD定量分析吗?
XRD定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据），余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如WPSOfice的"WPS表格"、微软的Excel）完成甚为方便。
因此，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行XRD定量分析，当然，有Jade软件更为方便。
哪里有X射线衍射校正和定量分析用的标准物质（GBW（E）130017）α-石英（α-SiO2）
国家标准物质研究中心询购。
[结构分析计算方面的问题]
请介绍一些介绍Rietveld方法的书籍。
这方面的书籍很多，如：
《粉末衍射法测定晶体结构》
作者：
梁敬魁编著 出版社：
科学出版社
出版时间：
2003 丛编项：
应用物理学丛书
简介：
本书系统全面论述了粉末衍射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法等在离子晶体结构分析中的应用。
主题项：
粉末衍射法－晶体结构X射线衍射－晶体结构
有没有关于精修的详细操作的指南？
如果你想用Fullprof来精修结构，那么你可以看看本论坛：
http:
//www.crystalstar.org/Article/ShowArticle.asp?
ArticleID=81关于这个软件的使用说明。
有了结构数据后，你可以用diamond、atoms等绘图软件绘出晶体结构图
请推荐一个小巧玲珑，方便实用的计算晶胞参数的软件。
Celref2.0或3.0都可以。
chekcell软件可以根据xrd图谱和pdf卡片获得样品的晶胞参数么？
CHEKCELL是进行晶胞参数的精修，粗晶胞当然可以在pdf卡片上得到了，这个软件是较简单，按照上面的提示操作就可以了
用XRD图来精修出分子结构研究分子的性质,收集XRD时应注意些什么?
强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到5000计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，最大d值的峰不能缺失。
衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。
做XRD时步长一般为0.02度，但是如果要做Rietveld分析，出了强度要求500以上，步长有没有什么要求啊？
一个半峰宽内有3-5个点就可以了，步长一般为FWHM的0.2-0.3就可以了。
强度要求在10000-20000之间。
如果用普通的xrd仪器如bruckerD8或者philips等测试粉末的xrd,扫描速度需要多慢才适合用gsas等方法作rietveld分析，需要加内标吗？
扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在5000以上，至于内标是不需要的。
衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系，因为以前用Rigaku的Dmax，每次都是几千，但现在用Bruker或者Philips，好像每次都在一千以下，不知道是什么问题。
粉末的结晶肯定是好的。
与发生器的功率有关。
你曾使用的Rigaku的Dmax是高功率的转靶衍射仪吧？
强度也和衍射仪的扫描半径有关。
用国产仪器（丹东方园仪器有限公司）测的XRD数据能不能用于Retrieve精修?
国产衍射仪的基本技术指标（测角准确度、重现性、分辨率，衍射强度稳定性、长期工作稳定性等指标）与进口衍射仪并无水平级的差异。
配有石墨弯晶单色器的国产衍射仪，正确选择狭缝、采数步宽和步进计数时间（保证峰强度），同样能够获得能够用于Retrieve精修的衍射数据。
例如中科院北京研究生院无机新材料实验室近几年来完成的大量晶体结构分析工作，其衍射数据就是在该实验室购置的XD-3型X射线衍射仪（北京普析通用仪器公司生产）上收集的。
我做的是磷矿粉的XRD，它属于六方晶系。
请问有没有能计算晶胞参数的程序，以及程序的用法。
首先您应该要求给您作衍射的实验室提供d值和强度的衍射数据，然后检索ICDD卡片。
如果你把这个物相的卡片数据检索到了，那么你的问题就是晶胞参数精修了，下载Chekcell精修晶胞参数。
如果你还想计算结晶粒度的大小，建议你用一些全谱拟合的软件，如Fullprof等，这样，不仅可以精修晶胞参数，同时也可以得到半高宽或积分宽度的数据，可以用于结晶粒度计算。
当然，要计算结晶粒度，最好还要进行仪器校正曲线的测定，一般在收集你的实验样品的同时，再在相同条件下收集标准样品（LaB6，标准Si等）的谱图，以便扣除仪器对半高宽或积分宽度的贡献。
已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的hkl值，请问如何确定其空间群，有没有相应的软件。
有了这些就可以用Shelx来解晶体了，空间群自然也就能确定了。
可以用国际晶体学手册，利用你的已知数据便可查的。
未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的，最终的结果还要用结构测定的结果来最后确定，统计消光规律来推测空间群的软件有XPREP,wingx等.
具体可以如下操作：
衍射数据当作P1空间群处理然后利用Pattern程序生成Psudo-Precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。
不是所有的时候都可以直接给出最终的空间群。
最好在解完结构之后，利用结构解析程序产生的FCF文件再重新核对一遍。
如果我想要從這個powderdiffractionprofile來解出其結晶結構.包括其各個晶格參數 以及其是什麼樣的晶型tetragonalororthorhombic等等那我該如何是好呢？
如果你只想知道这个新物相的晶格参数和晶系，用你的粉末衍射数据去指标化就可以了。
指标化就是确定每个衍射峰的衍射指标，当然这个过程同时就给出了晶系。
有沒有一個程式是可以輸入abc三軸的值以及三軸之間的三個夾角然後就可以自動畫出這樣的晶型可能產生的powderdiffractionprofile呢？
有这样的程序可以输入晶格参数和空间群就可以理论计算出衍射峰的位置。
可以用的软体很多，CHEKCELL这个免费的软体就可以解决您的问题。
如果需要理论计算衍射强度，你还需要给出原子坐标参数。
原子各向同性（异性）温度因子对结构影响大吗？
温度因子就是反映原子在平衡位置附近振动情况的一个因子，主要是对强度有影响，那当然就对结构有影响了。
晶体的各向异性温度因子是如何定义的？
晶体中的原子普遍存在热运动，这种运动在绝对零度时也未必停止。
通常所谓的原子坐标是指它们在不断振动中的平衡位置。
随着温度的升高，其振动的振幅增大。
这种振动的存在增大了原子散射波的位相差，影响了原子的散射能力，即衍射强度。
在晶体中，特别是对称性低的晶体，原子各个方向的环境并不相同，因此严格的说不同方向的振幅是不等的，由此引入了各向异性温度因子。
在进行Rietveld结构精修时，是否该对温度因子进行约束？
如何约束以及约束范围？
由于温度因子是随着衍射角的增加而对强度的影响增大，所以，如果要精修温度因子，就一定要收集高角度的数据。
如何由粉末衍射数据通过FullProf提取结构因子？
首先需要一个dat文件，第一行，2theta起点，步长，终点，下面是每个点的强度。
下面需要编写pcr文件，先得到六个晶胞参数，零点，还要得到18-30个背景点，才能开始编写，其他参数设置可以看说明书。
如果你以前用Fullprof精修过结构,则只需修改如下参数：
Line11-2的N（numberofatomsinasymmetricunit）参数置为0,相应的下面与原子有关的参数就不要了；Line11-2的JBT参数（2,-2,3或-3,具体看说明）。
至于要输出什么样格式的结构因子数据文件,可以通过LINE3的JFOU参数来控制。
Fullprof精修时，Biso的值给如何设定？
是否有个大概的取值范围？
Biso是温度因子，occu是占有率。
从我拟合来看，Biso与原子的位置有关系。
温度因子是反映原子或离子偏离平衡位置
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