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平均值与全距管制图(X-R)﹐平均值与标准差管制图(X-σ)﹐中位值与全距管制图(X-R)﹐个别值与全距管制图(X-Rm)

2.1.2计数值管制图:

此类数据均属于以单位计数者如不良数﹐缺点数等间断数据﹐常用者有不良率管制图(P-CHART)﹐不良数管制图(Pn-CHART)﹐缺点数管制图(C-CHART)﹐平均缺点数管制图(U-CHART)。

2.2作业要领说明:

2.2.1X-R管制图

2.2.1.1搜集数据-搜集100个以上的数据,依测定时间顺序,或群体顺序排列。

2.2.1.2这些数据是最近的数据,并且在技术上可认为今后的制程不会有多大

变化。

2.2.1.3数据的履历必须很清楚。

2.2.1.4数据分组—2~6个数据为一组,把全部数据共分为20~30组。

2.2.1.5一组内的数据个数,谓之样本数,以n表示。

2.2.1.6组之个数,谓之组数,以K表示。

2.2.1.7同一组内不要含有异质的数据。

通常是以群体顺序,或测定时间顺序

来分组。

2.2.1.8记入数据表-把数据记入如图表一的数据表里。

2.2.1.9计算平均值X(四舍五入后,比测定值多求一位数),求各组的平均值X。

(n:

为样本大小)

X=

   X1+X2+X3+……+X

       n

例如图表一的第一组的平均值为:

=49

 48+49+48+50+51

      5

2.2.1.10计算全距R

求每组的全距R

R=X(最大值)-X(最小值)

如图表一的第一组全距:

R=51-48=3

2.2.1.11计算总平均X(四舍五入后比测定值多求2位数)。

(K=组数)

    X1+X2+……+Xk

        K

例如图表一:

X=

49+50+50+48+…+50+49+50

          25

=49.68

ΣX=1242       X=49.68

     ΣR=117        R=4.7

限  界  線

備註

係   數   表

A2R=0.577×

4.7=52.39

UCL=X+A2R=52.42

 CL=X=49.68

LCL=X-A2R=46.97

A2

1.880

1.023

0.279

D4

3.27

2.58

2.28

D3

d2

1.13

1.69

2.06

UCL=D4R=2.12×

4.7=9.96

 CL=R=4.7

LCL=D3R=0

0.577

2.12

2.33

2.2.1.12计算全距的平均值R

R=

R1+R2+……+Rk

         K

 3+4+7+6+……+8+6+3+4

         25

2.2.1.13计算管制界限

X管制图:

中心线   CL=X

上管制界限 UCL=X+A2R

下管制界限 LCL=X-A2R

(A2为系数,可由查表得)

因n=5,故查表得A2=0.577

CL=X=49.71

UCL=X+A2R=52.42

LCL=X-A2R=47.00

2.1.1.14R管制图

中心线   CL=R

上管制界限 UCL=D4R

下管制界限 LCL=D3R

(D4,D3为系数,可由查表得)

因n=5,故查表得D4=2.12,D3=0

CL=R=4.7

UCL=D4R=9.96

LCL=D3R(因n<6,故不考虑)

2.2.1.15记入管制界限

准备管制图用纸,绘上恩分度使上下管制界限之监能在20~30㎜左右。

X管制图时           R管制图时

中心线记入实线         中心线R记入实线

UCLX,LCLX各别记入虚线   UCLR,LCLR各别记入虚线初期

之管制上下限制订,可从初期制程能力解析引用。

2.2.1.16调查是否在管制状态

把点全部记入管制图上,如果点都在管制界限内时,即认为制程是在管制状态下,如果有超出管制界限外的点时,就判断制程非管制状态,必须进一步做制程解析,追查原因,制定标准,采取去除原因的措施使制程完全进入管制状态,点在管制界限上时,亦视同超出界外的点。

预备数据调查结果,如果制程在管制状态时,就不必重新算,而把图表一所求

得的管制界限,直与规格比较。

2.3P管制图

2.3.1搜集数据

先预测制程不良率,然后抽取平均约含有1~5个不良品大小的样本n,大约

20~25组,加以测定。

最好能抽取同样大小的样本。

假如预测不良率大约为P

则Pn(不良数)=1~5

(n=各组样本数)

n=

    15

     P  P

例如预测不良率大约为0.05

则样本大小n可定为

=20~100

   1   5

   0.05  0.05

2.3.2计算不良率P

P=

  Pn  Pn=样本之不良个数

  n    n=样本大小 )

2.3.3计入管制图用纸

准备好管制图用纸,把4.2.1.12所求得P值记入管制图上。

2.3.4计算平均不良率P

P=

  ΣPn  不良个数的总合

  ΣP  检验个数的总合

2.3.5计算管制线

中心线 CL=P       P(1-P)

上管制界限UCL=P+3 n

              P(1-P)

下管制界限LCL=P-3n

2.3.6计入管制线

中心线计入实线,UCL,LCL计入虚线

2.3.7调查是否在管制状态

计入的点全部在管制界限内时,认为数据的制程是在管制状态。

如果有点超出管制界限时,就判断制程在非管制状态,此时应进一步做制程解析,制定标准追查原因,采取改善措施。

在管制界限上的点,亦作为超出线外的点处理。

2.4U管制图--单位缺点管制图(检查数不必相同)

作业方法及采取调查对策基准,参照P管制图作业要领

※U管制图的使用在于单位缺点率,例:

制品检查50条,发生不良点有70个。

         每日检查不良点(C)

=14

U=

               70

               50

            每日检查数(n)

※每月检查资料收集完成后,要算出每月的平均不良缺点率(U)及每月的检查平均数(n)。

          每月的总不良缺点数

每月平均不良率U=

          每月的检查总数

    

       第一天缺点数 第二天缺点数 第三天缺点数 每月最后一天

          C1 +  C2  +  C3 +……+ Ck

      =

          n1 +  n2  +  n3 +……+ nk

第一天检查数 第二天检查数 第三天检查数

       每月的检查总数

    n=

       每月的检查日数

3.SPC管制图异常基准

3.1连续七点往上或往下

3.2连续七点在同侧

3.3超过管制界限

3.4在管制界限上

3.514个连续点上下交替出现。

3.614个连续点上下交替出现。

3.714个点连续点在±

1δ区。

3.8处理方法:

3.8.1作业停止

3.8.2报告线长、班长、QC

3.8.3未经QC许可作业继续停止

3.9异常发生先期防范措施

3.9.1连续5点上升、下降或出现单侧时,作业员需立即确认作业条件(遇困难无

法解决,报告线长)

3.9.2连续6点上升、下降或出现单侧时,作业员需通知线长或由线长自行发现,

由线长确认作业条件。

3.9.31-4项发生时,依第5项内容作异常处理,发行异常报告书对策之。

3.10管制界限修订:

原则上管制界限使用一段时间后,因制程条件发生变异时得

搜集最进一批数据,重新计算管制界限以修订之。

4.制程能力解析

4.1估计制程标准差(σ)

σ=R/d2

4.2计算制程能力

4.2.1单边规格(上限或下限)

 USL-XX-USL

CP=       或

   3σ3σ

4.2.2双边规格

USL-LCL

 CP=   

4.2.3制程能力指数(Cpk)

   USL-X   (X-LSL)

Cpk=      =       

     3σ       3σ

4.2.4Cpk=1.00其制程能力为X±

3σ

Cpk=1.33其制程能力为X±

4σ

4.3制程能力评价

4.3.1评价基准

Cap允收标准

取消SPC

Ppk

Cpk

管制依据

作  法

≧1.67

≧1.33

原则连续3张

(3×

30工作天)

Cap≧2.00

提列实绩经客户SQA同意后取消之更换适当之其它管制方式

4.3.2制程能力不足(无法达到允收基准)时,需立即采取有效对策。

(以TEAM WORK方式)

暂定对策:

保证交货品质。

恒久对策:

提升Cpk值符合要求。

4.3.3统计技术应用参见《统计技术与数据分析过程控制程序》,APQP参见《产品质

量先期策划过程控制程序》。

5.附件及记录

5.1[CPK分析计划]

5.2[X-R管制图]

6.相关文件

6.1《统计技术与数据分析过程控制程序》

6.2《产品质量先期策划过程控制程序》

公司名称:

苏州新区亚明塑胶有限公司

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