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开关电源可靠度测试规范

可靠度测试规范

 

可靠度测试规范

ReliabilityTestSpecification

编号

No.

WI7308

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3

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1.5温度Derating率

NO

组件名称

温度判定标准

备注

电阻

电阻最高耐温之80﹪

电容

电容最高耐温减5℃

半导体

1.SchottyDiode取Tj之90﹪

2.其它半导体(晶体管MOSFET取Tj之80﹪)

热暴走高温短路测试

Ta:

55℃ Load:

100﹪

Ta:

65℃Load:

70﹪

Input:

85V/265V时

(Tj*80﹪)+5℃为判定基础

基板

1.FR-4:

115℃

2.CEM-3:

110℃

3.CEM-1:

100℃

4.XPC-FR:

100℃

5.判定:

PCB最大耐温减10℃

与基板板厚无关

变压器

(含电感)

绝缘区分:

A种  E种 B种

标准温度:

 105℃120℃130℃

热偶式 :

90℃105℃110℃

Abnormal:

150℃165℃175℃

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INPUTSOURCE

待測物

溫度記錄器

負載

2Componenttemperaturerise组件温度上升:

2.1目的:

确保待测物之可靠度,确认各组件均在温度规格内使用。

2.2适用:

所有机种适用。

2.3测试条件:

a.输入电压:

规格范围之最小、额定、最大。

b.负载:

规格范围之最大。

c.输出电压:

额定。

d.周围温度:

常温。

e.接线图:

 

2.4测试方法:

a.依测试条件设定,当温度达到热平衡后,以热电偶测定组件温度,基板上之元

件焊点需测量温度。

b.参考温度Derating计算出最大温升规格值△t.

(i.e.DeratingCurve在100%Load100%下最高至50℃,则以附表A

Derating率之温度减去50得100%之LOAD下之△t.;60℃时,Derating率为70%,

则减去60得到70%之△t.)实际负载在100%时依减50℃之△t.为规格值。

c.组件之选择以R-1温度分布测得之发热较多组件做测定。

d.组件实际温升不能超过计算得出之△t.。

 

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INPUTSOURCE

待測物

SCOPE

負載

3.Partsderating组件余裕度:

3.1目的:

确保待测物之可靠度,确认组件实际使用时能在绝对最大额定下之Derating

率范围内。

3.2适用:

所有机种适用。

3.3测试条件:

a.测试待测物在下列条件下一次测和二次测主回路波形(电流波形和电压波形)

1.定额输入和输出

2.低压起动

3.短路开机

4.开机后短路

5.满载关机(不做记录)

b.各回路波形和组件耐压请参考「组件Derating」

c.接线图:

 

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3.4组件Derating

Surge:

I2t

NO

组件名称

温度判定标准

备注

电阻

80﹪电阻最高耐压之90﹪

Surge取耐压之95﹪

电容

电容最高耐压之85﹪

(AC输入电容取耐压之95﹪)

Ripple电流取100﹪

钽质电容取耐压之80﹪

二极管

(Diode)

VRMVRSMISFMSurge

SCR80﹪95﹪90﹪90﹪

TRIAC80﹪95﹪90﹪90﹪

Bridge-Diode80﹪95﹪90﹪90﹪

Diode80﹪95﹪90﹪90﹪

ScottyDiode90﹪95﹪90﹪90﹪

ZenerDiode90﹪90﹪

LED80﹪95﹪90﹪90﹪

晶体管

MOSFET

VDSS/VCE:

取规格之95﹪

VGSS/VBE:

取规格之95﹪

ID/IC :

取规格之95﹪

IB  :

取规格之95﹪

Fuse

取额定电流之70﹪

Surge:

65﹪

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恒溫槽

INPUTSOURCE

待測物

溫度記錄器

負載

電流

電壓

4.Thermalrunaway热暴走:

4.1 目的:

确认过负载、出力短路下,保护之余裕度。

4.2 适用:

所有机种适用。

4.3 测试条件:

a.输入电压:

规格之输入电压范围最小、最大值,(例85V/265V)。

b.负载:

100%及70%(例55℃为100﹪,65℃为70﹪)。

c.周围温度:

最高动作温度┼5℃,输出DeratingCurve100%下温度上限┼5℃。

d.输出电压:

额定。

e.接线图:

 

4.1.4.4测试方法:

a.参照部品温度上升结果确定待测部品,以热电偶量测。

b.电源输入后,连续观测绘出温度上升值,确认饱和点。

c.若有FAN装置于待测物,需实际仿真安装于系统之情形进行测试。

 

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INPUTSOURCE

待測物

示波器

負載

 5.Hightemperatureshotycircuit高温短路:

5.1目的:

确认输出短路放置后,待测物之可靠度。

5.2适用:

除未加短路保护机种外所有机种适用。

5.3测试条件:

a.输入电压:

规格范围之最大输入电压。

(实测取最大,例265V)

b.输出电压:

额定值。

c.周围温度:

动作温度上限┼5℃(例65℃)。

d.接线图:

 

4.1.5.4测试方法:

a.待测物在设定测试条件下,输出短路2小时以上。

b.记录温度上升之情形,参照温度Derating,不能超过规定温度。

c.解除短路状态后确认输出仍正常,部品不能有损坏。

 

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T1–T2

10

INPUTSOURCE

待測物

示波器

實效值

負載

6.Lifeofelectrolyticcapacitor电解电容算出寿命:

6.1目的:

推定待测物之寿命,并确认其可靠度。

6.2适用:

所有机种适用。

6.3测试条件:

a.输入电压:

额定值。

b.输出电压:

额定值。

c.负载:

额定。

d.周围温度:

40℃。

e.接线图:

 

6.4测试方法:

a.额定之输出、输入时,在规定之周围温度下,依下式计算:

L1=LS.2

L1:

实际之有效寿命

LS:

部品使用温度范围上限下之有效寿命

T1:

部品之使用温度范围上限

T2:

实际使用温度。

b.算出之寿命时间应≧规格所示。

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INPUTSOURCE

待測物

示波器

電阻負載

7.NoiseImmuuity噪声免疫力:

7.1目的:

确保待测产品之可靠度,确认输入对加入脉冲之耐受程度。

7.2适用:

所有机种。

7.3测试条件:

a.规格上有规定者,依规格实施。

b.周围温度:

常温、常湿。

c.输入电压:

115V

d.输出电压:

额定。

e.负载电流:

100%。

f.脉冲规格:

规格书所列值*110%(50ΩTermination)[如规格为±2.2KV则脉冲以±2.2KV*110%=±2.2KV施加]脉波宽为。

100nS,500nS,1000nS,时间五分钟。

g.接线图:

 

7.4测试方法:

a.依条件施加脉冲于输入─输入间,输入─Ground间,应无动作异常(含突入电流限

制回路、异常振荡等)保护回路误动作及组件损坏发生,测试时,输出电压之安定

度应在总和变动规格范围内。

 

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INPUTSOURCE

待測物

示波器

電阻負載

DMM

8.Electrostaticdischarge静电破坏:

8.1目的:

确保待测产品之可靠度,确认产品对静电气之耐受程度。

8.2适用:

规格书上规定之机种。

8.3测试条件:

a.周围环境:

常温、常湿。

b.输入电压:

额定(实测AC115V)

c.输出电压:

额定

d.负载:

额定100%

e.施加电压:

规格书之数值X110%[ChargeCapacitor500pF-SeriesResistor

100Ω],时间≧10sec.

f.接线图:

 

4.1.8.4测试方法:

a.待测物Ground部位,依条件施加脉冲电压分接触外壳及隔离放电实施;不能有保护回路误动作,组件破损之异常发生。

 

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電阻負載

待測物

INPUTSOURCE

9.LightningSurge雷击:

9.1目的:

确认输入端加入LightningSurge之耐受能力。

9.2适用:

规格有规定之机种。

9.3测试条件:

a.规格书有规定依规格条件。

b.输入电压:

额定(实测AC115V)

c.输出电压:

额定

d.负载:

额定

e.周围环境:

常温、常湿

f.施加波形:

JEC212规定,波头长1.2µs,波尾长50µs之电压,波形3KV*110%(

限流电阻100Ω)。

g.接线图:

 

4.1.9.4测试方法:

a.依规定测试条件,施加Surge电压于

输入─输入,输入─Ground±极各3回

确认组件无破损,无绝缘破坏,FlashoverArc及保护回路误动作情形发生。

 

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INPUTSOURCE

待測物

DVM

負載

ON/OFF

恆溫槽

10.InputON/OFFathightemperature高温输入ON/OFF:

10.1目的:

高温时输入电压ON/OFF重复施加,确认产品之信赖性。

10.2适用:

所有机种适用。

10.3测试条件:

a.输入电压:

规格之输入电压范围最大值(例:

265V)。

b.负载:

额定100%LOAD

c.输出电压:

额定

d.周围温度:

动作可能温度范围+5℃(例:

65℃)。

e.接线图:

 

4.1.10.4测试方法:

a.待测物置于恒温槽内,依条件之温度设定,到达设定温度后放置12小时,同时

电源ON/OFF至少500cycle于输入端,结束后确认组件无破损,输出电压与机

能正常(ON5S,OFF30S)。

 

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11.Lowtemperatureoperation低温动作确认:

11.1目的:

为确保待测产品可靠度,确认周围温度下限之动作余裕度。

11.2适用:

所有机种适用。

11.3测试条件:

a.输入电压:

规格范围之最小、最大值(实测最小值)。

b.输出电压:

额定。

c.负载:

最小、最大值(实测最大值)。

d.周围温度:

动作可能温度下限-10℃。

e.接线图:

 

11.4测试方法:

a.待测物在测试温度条件下设定为关机状态充份放置(至少1小时)关机状态,重新加入电源,确定可激活。

 

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12.Dynamicsourceeffect动的输入变动:

12.1目的:

确认待测产品在动的输入变动下能正常动作。

12.2适用:

交流输入之所有机种。

12.3测试条件:

a.规格书有规定者,依规格条件。

b.负荷:

额定100%。

c.周围温度:

常温。

d.输出电压:

额定。

e.输入变动条件:

额定←→最小,额定←→最大。

最大电压

額定電壓

←t→

t=0.5sec

最小電壓

←t→

釋波器

負載

待測物

INPUTSOURCE

频率:

60Hz

 

12.4测试方法:

a.在基准动作状态下(额定输入电压100%Load),测定输出电

压值VS。

b.计算电压变动率:

VH–VSx100%VL–VSx100%

VSVS

c.计算之变动率,应在总和变动之规格范围内。

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溫度

記錄器

恆溫槽

熱電藕

負載

待測物

INPUTSOURCE

13.FanabnormaloperationFAN异常动作:

13.1目的:

待测产品在自然冷却使用情形下,确认FAN停止运转,转数变慢时,保护

机能正常运作。

13.2适用:

产品因需风扇冷却而装设之机种。

13.3测试条件:

a.输入电压:

规格范围内之最小、最大值。

b.负载:

最大100%。

c.周围温度:

感热组件部份,依动作可能温度范围上限+5℃,25℃及下限-5℃共

3点实施测试。

其它部份则以动作可能温度范围上限+5℃,下限-5℃

实施量测。

d.输出电压:

额定。

 

13.4测试方法:

a.主要晶体管、变压器、CHOKE等重要组件,以热电藕量测记录其结果。

Fan异常动

作发生时观测组件温度上升应记录其结果。

b.OpenFrame之产品与系统产品搭配测试。

c.确定在测试条件下,无保护回路之误动作发生,组件上升温度不能超过规格值。

 

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y

XX方向

Z’

Z

供試電源

試驗方向

試驗方向

試驗方向

14.Vibration振动:

14.1目的:

为确保产品之信赖性,产品在制造时及运送时对振动之耐受程度需加以确认。

14.2适用:

所有机种适用。

14.3测试条件:

a.周围温度:

常温。

b.动作状态:

Non-Operating

c.振动频率:

5~10Hz全振幅10㎜

10~200Hz加速度21.6m/sec2(2.2G)

SweepTime:

10Min依对数变化。

振动方向:

X,Y,Z轴各1小时。

冲击试验程序:

1.试验系统图

 

4.1.14.4测试方法:

a.依测试条件或产品规格所列条件进行测试。

b.测试完成后,以目视检查(必要时用显微镜)待测物之外壳、基板、零件、配线

有无异常;确认后,通电并确认输出电压及电气特性有无异常。

 

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18

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試驗方向

Y

Y’

XX’

Z

Z’

Z

供試電源

試驗方向

試驗方向

15.Shock冲击:

15.1目的:

为确保待测物之可靠度,在制造时及运送时对冲击之耐受程度需予以确认。

15.2适用:

所有机种适用。

15.3测试条件:

a.冲击加速度:

588m/sec2(60G)

b.冲击时间:

11±5msec半波正弦波。

c.振动方向:

X(X’),Y(Y’),Z,5方向,各3回。

d.周围温度:

常温。

e.NonOperating

15.4测试方法:

a.依测试条件进行测试。

b.测试完成后,以目视检查(必要时用显微镜)待测物之外壳、基板、零件、配线有

无异常;确认后通电并确认输出电压及电气特性有无异常。

冲击测试程序:

1.测试系统图:

 

a.待测物需设计治具以固定之。

(电木板及铝板)

b.依测试条件施加予待测物。

c.加速度588m/sec2(60G)各方向3回。

d.记录试验条件及结果。

 

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恆溫槽

負載用治具

釋波器

負載

待測物

INPUTSOURCE

16.AbnormalRipple异常Ripple确认:

16.1目的:

确保待测产品之可靠度;由周围温度、输入电压、输出电流之各条件组合下

,确认其动作之安定性。

16.2适用:

所有机种适用。

16.3测试条件:

a.负载:

0%~100%(连续)。

b.周围温度:

动作温度范围(i.e.–20℃~60℃→-20℃/25℃/60℃)。

c.输入电压:

规格范围最小~最大(连续)。

d.输出电压:

额定。

e.接线图:

 

4.1.16.4测试方法:

a.待测物在不通电之状态下,依测试之组合条件,在设定之温度下放置1小时。

b.连续调整输入电压及负载电流,并观察有无异常Ripple之发生,如振荡、间歇

振荡、ACRipple导致之微小异常振荡。

 

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No.

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20

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90.11.12

functionalinspection

25

Temp

(degC)

Time(hour)

70

17.HighTemperatureTest高温测试:

17.1目的:

确认产品在高温置放后,维持正常功能之特性。

17.2适用:

所有机种适用。

17.3测试条件:

a.温度:

TH

 

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