整理硅光电池特性测试实验Word格式.docx

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7、三相电源线1根

8、实验指导书1本

9、20M示波器1台

四、实验原理

1、硅光电池的基本结构

目前半导体光电探测器在数码摄像﹑光通信﹑太阳电池等领域得到广泛应用，硅光电池是半导体光电探测器的一个基本单元，深刻理解硅光电池的工作原理和具体使用特性可以进一步领会半导体PN结原理﹑光电效应理论和光伏电池产生机理。

图4-1是半导体PN结在零偏﹑反偏﹑正偏下的耗尽区，当P型和N型半导体材料结合时，由于P型材料空穴多电子少，而N型材料电子多空穴少，结果P型材料中的空穴向N型材料这边扩散，N型材料中的电子向P型材料这边扩散，扩散的结果使得结合区两侧的P型区出现负电荷，N型区带正电荷，形成一个势垒，由此而产生的内电场将阻止扩散运动的继续进行，当两者达到平衡时，在PN结两侧形成一个耗尽区，耗尽区的特点是无自由载流子，呈现高阻抗。

当PN结反偏时，外加电场与内电场方向一致，耗尽区在外电场作用下变宽，使势垒加强；

当PN结正偏时，外加电场与内电场方向相反，耗尽区在外电场作用下变窄，势垒削弱，使载流子扩散运动继续形成电流，此即为PN结的单向导电性,电流方向是从P指向N。

2、硅光电池的工作原理

硅光电池是一个大面积的光电二极管，它被设计用于把入射到它表面的光能转化为电能，因此，可用作光电探测器和光电池，被广泛用于太空和野外便携式仪器等的能源。

光电池的基本结构如图3，当半导体PN结处于零偏或反偏时，在它们的结合面耗尽区存在一内电场，当有光照时，入射光子将把处于价带中的束缚电子激发到导带，激发出的电子空穴对在内电场作用下分别飘移到N型区和P型区，当在PN结两端加负载时就有一光生电流流过负载。

流过PN结两端的电流可由式1确定

式

（1）中Is为饱和电流，V为PN结两端电压，T为绝对温度，Ip为产生的光电流。

从式中可以看到，当光电池处于零偏时，V=0，流过PN结的电流I=Ip；

当光电池处于反偏时（在本实验中取V=-5V），流过PN结的电流I=Ip-Is，因此，当光电池用作光电转换器时，光电池必须处于零偏或反偏状态。

光电池处于零偏或反偏状态时，产生的光电流Ip与输入光功率Pi有以下关系：

式

（2）中R为响应率，R值随入射光波长的不同而变化，对不同材料制作的光电池R值分别在短波长和长波长处存在一截止波长，在长波长处要求入射光子的能量大于材料的能级间隙Eg，以保证处于介带中的束缚电子得到足够的能量被激发到导带，对于硅光电池其长波截止波长为λc=1.1μm，在短波长处也由于材料有较大吸收系数使R值很小。

3、硅光电池的基本特性

（1）短路电流

图4-3硅光电池短路电流测试

如图4-3所示，不同的光照的作用下，毫安表如显示不同的电流值。

在不同的光照作用下，硅光电池短路时的电流值也不同，即为硅光电池的短路电流特性。

（2）开路电压

图4-4硅光电池开路电压测试

如图4-4所示，不同的光照的作用下，电压表如显示不同的电压值。

在不同的光照作用下，硅光电池开路时的电压也不同，即为硅光电池的开路电压特性。

（3）光照特性

光电池在不同光照度下，其光电流和光生电动势是不同的，它们之间的关系就是光照特性。

如图4-5所示即为硅光电池光生电流和光生电压与光照度的特性曲线。

在不同的偏压的作用下，硅光电池的光照特性也有所不同。

图4-5硅光电池的光照电流电压特性

（4）伏安特性

如图4-6，在硅光电池输入光强度不变时，测量当负载一定的范围内变化时，光电池的输出电压及电流随负载电阻变化关系曲线称为硅光电池的伏安特性。

其特性曲线如下图4-6所示

图4-6硅光电池伏安特性

检测电路图如下图4-7所示：

图4-7硅光电池的伏安特性测试

（5）负载特性（输出特性）

光电池作为电池使用如图4-8所示。

在内电场作用下，入射光子由于内光电效应把处于介带中的束缚电子激发到导带，而产生光伏电压，在光电池两端加一个负载就会有电流流过，当负载很小时，电流较小而电压较大；

当负载很大时，电流较大而电压较小。

实验时可改变负载电阻RL的值来测定硅光电池的负载特性。

图4-8硅光电池负载特性的测定

在线性测量中，光电池通常以电流形式使用，故短路电流与光照度（光能量）呈线性关系，是光电池的重要光照特性。

实际使用时都接有负载电阻RL，输出电流IL随照度（光通量）的增加而非线性缓慢地增加，并且随负载RL的增大线性范围也越来越小。

因此，在要求输出的电流与光照度呈线性关系时，负载电阻在条件许可的情况下越小越好，并限制在光照范围内使用。

光电池光照与负载特性曲线如图11所示。

图4-9硅光电池光照与负载特性曲线

（5）光谱特性

一般硅光电池的光谱响应特性表示在入射光能量保持一定的条件下，硅光电池所产生光电流/电压与入射光波长之间的关系。

（6）时间响应特性

表示时间响应特性白方法主要有两种，一种是脉冲特性法，另一种是幅频特性法。

1）脉冲响应

光敏晶体管受调制光照射时，相对灵敏度与调制频率的关系称为频率特性。

减少负载电阻能提高响应频率，但输出降低。

一般来说，光敏三极管的频响比光敏二极管差得多，锗光敏三极管的频响比硅管小一个数量级。

五、注意事项

1、当电压表和电流表显示为“1＿”是说明超过量程，应更换为合适量程；

2、连线之前保证电源关闭。

3、实验过程中，请勿同时拨开两种或两种以上的光源开关，这样会造成实验所测试的数据不准确。

4、硅光电池的偏压不要接反。

六、实验步骤

1、硅光电池短路电流特性测试

实验装置原理框图如图4-10所示。

图4-10硅光电池短路电流特性测试

（1）组装好光通路组件，将照度计显示表头与光通路组件照度计探头输出正负极对应相连（红为正极，黑为负极），将光源调制单元J4与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。

（2）“光照度调节”调到最小，连接好光照度计，直流电源调至最小，打开照度计，此时照度计的读数应为0。

（3）“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“静态”，将拨位开关S1拨上，S2，S3，S4，S5，S6，S7均拨下。

（4）按图4-10所示的电路连接电路图

（5）打开电源顺时针调节照度调节旋钮，使照度值依次为下表中的光照度值，分别读出电流表读数，填入下表，关闭电源。

光照度（Lx）

100

200

300

400

500

600

光生电流（uA）

（4）将“光照度调节”旋钮逆时针调节到最小值位置后关闭电源。

（5）上表中所测得的电压值即为硅光电池相应光照度下的开路电压。

（6）实验完毕，关闭电源，拆除所有连线。

2、硅光电池开路电压特性测试

实验装置原理框图如图4-11所示。

图4-11硅光电池开路电压特性测试

（4）按图4-11所示的电路连接电路图

（5）打开电源顺时针调节照度调节旋钮，使照度值依次为下表中的光照度值，分别读出电压表读数，填入下表，关闭电源。

10

20

30

40

50

光生电压（mA）

3、硅光电池光照特性

（1）根据实验1和2所调试的实验数据，作出如图6所示的硅光电池的光照电流电压特性曲线。

（2）改变不同光照度的取值，重复实验1和实验2，并作出相应硅光电池的光照电流电压特性曲线。

（5）为保障评价对象建成或实施后能安全运行，应从评价对象的总图布置、功能分布、工艺流程、设施、设备、装置等方面提出安全技术对策措施；

从评价对象的组织机构设置、人员管理、物料管理、应急救援管理等方面提出安全管理对策措施；

从保证评价对象安全运行的需要提出其他安全对策措施。

对策措施的建议应有针对性、技术可行性和经济合理性，可分为应采纳和宜采纳两种类型。

4、硅光电池伏安特性

1）地方环境标准是对国家环境标准的补充和完善。

在执行上，地方环境标准优先于国家环境标准。

实验装置原理框图如图4-12所示。

图4-12硅光电池伏安特性测试

（1）规划环境影响评价的分析、预测和评估内容。

表一：

项目基本情况；

（1）生产力变动法（4）电压表档位调节至2V档，电流表档位调至200uA档，将“光照度调节”旋钮逆时针调节至最小值位置。

（5）按图4-12所示的电路连接电路图，R取值为100欧，打开电源顺时针调节照度调节旋钮，增大光照度值至500lx。

记录下此时的电压表和电流表的读数填入下表；

电阻

为了有别于传统的忽视环境价值的理论和方法，环境经济学家把环境的价值称为总经济价值（TEV），包括环境的使用价值和非使用价值两个部分。

2K

5.1K

7.5K

10K

15K

20K

6.提出安全对策措施建议25K

51K

200K

（1）资质等级。

评价机构的环评资质分为甲、乙两个等级。

环评证书在全国范围内使用，有效期为4年。

电流

（四）环境价值评价方法

建设项目环境影响评价技术服务机构（以下简称“环评机构”）应当按照《建设项目环境影响评价资质管理办法》的规定申请建设项目环境影响评价资质（以下简称“环评资质”），经国家环境保护部审查合格，取得《建设项目环境影响评价资质证书》后，方可在环评证书规定的资质等级和评价和范围内从事环境影响评价技术服务。

电压

（6）关闭电源，将R分别换为100，200，510，750，1K，2K，5.1K，7.5K，10K重复上述步骤，分别记录电流表和电压表的读数，填入下表。

（7）改变光照度为100Lx、300Lx，重复上述步骤，将实验结果填入下表。

100lx：

25K

300lx：

（8）根据上述实验数据，在同一坐标轴中作出三种不同条件下的伏安特性曲线，并进行分析。

（9）实验完毕，关闭电源，拆除所有连线。

5. 

硅光电池负载特性测试实验

（4）电压表档位调节至2V档，电流表档位调至200uA档，将“光照度调节”旋钮逆时针调节至最小值位置。

（5）按图4-12所示的电路连接电路图，R取值为RL2=100欧。

（6）打开电源，顺时针调节“光照度调节”旋钮，逐渐增大光照度至0Lx，100Lx，200Lx，300Lx，400Lx，500Lx，600lx分别记录电流表和电压表读数，填入下表

光照度（lx）

电流（μA）

电压（mV）

（7）关闭电源，将R分别换为510，1K，5.1K，10K重复上述步骤，分别记录电流表和电压表的读数，填入下表。

R=510欧

R=1K

R=5.1K

R=10K

（7）根据上述实验所测试的数据，在同一坐标轴上描绘出硅光电池的负载特性曲线,并进行分析。

6、硅光电池光谱特性测试

当不同波长的入射光照到光电二极管上，光电二极管就有不同的灵敏度。

本实验仪采用高亮度LED（白、红、橙、黄、绿、蓝、紫）作为光源，产生400～630nm离散光谱。

光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。

定义为在波长

的单位入射功率的照射下，光电探测器输出的信号电压或电流信号。

即为

或

式中，

为波长为

时的入射光功率；

为光电探测器在入射光功率

作用下的输出信号电压；

则为输出用电流表示的输出信号电流。

本实验所采用的方法是基准探测器法，在相同光功率的辐射下，则有

为基准探测器显示的电压值，K为基准电压的放大倍数，

为基准探测器的响应度。

取在测试过程中,

取相同值,则实验所测测试的响应度大小由

的大小确定.下图为基准探测器的光谱响应曲线。

图4-13基准探测器的光谱响应曲线

（2）“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“静态特性”，将拨位开关S1，S2，S4，S3，S5，S6，S7均拨下。

（3）将直流电源2正负极直接与电压表相连，打开电源，调节电源电位器至电压表为10V，关闭电源。

（4）按如图4-11连接电路图.

（5）打开电源，缓慢调节光照度调节电位器到最大，依次将S2，S3，S4，S5，S6，S7拨上后拨下，记下照度计读数最小时照度计的读数E作为参考。

（注意：

请不要同时将两个拨位开关拨上）

（6）S2拨上，缓慢调节电位器直到照度计显示为E，将电压表测试所得的数据填入下表，再将S2拨下；

（7）重复操作步骤（6），分别测试出橙，黄，绿，蓝，紫在光照度E下电压表的读数，填入下表。

波长（nm）

红（630）

橙（605）

黄（585）

绿（520）

蓝（460）

紫（400）

基准响应度

0.65

0.61

0.56

0.42

0.25

0.06

响应度

（8）根据所测试得到的数据，做出硅光电池的光谱特性曲线。

7、硅光电池时间响应特性测试

（2）“光源驱动单元”的三掷开关BM2拨到“脉冲”，将拨位开关S1拨上，S2，S3，S4，S5，S6，S7均拨下。

（3）按图4-12所示的电路连接电路图，负载RL选择RL=10K欧。

（4）示波器的测试点应为光电三极管的电阻两端，为了测试方便，可把示波器的测试点使用迭插头对引至信号测试区的TP1和TP2；

图4-14

（5）打开电源，白光对应的发光二极管亮，其余的发光二极管不亮。

用示波器的第一通道与接TP和GND（即为输入的脉冲光信号），用示波器的第二通道接TP2。

（6）观察示波器两个通道信号，缓慢调节直流电源电位器直到示波器上观察到信号清晰为止，并作出实验记录（描绘出两个通道波形）。

（7）缓慢调节脉冲宽度调节，增大输入脉冲的脉冲信号的宽度，观察示波器两个通道信号的变化，并作出实验记录（描绘出两个通道的波形）并进行分析。

（8）实验完毕，关闭电源，拆除导线。