无损检测超声探伤UT基础讲义.docx
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无损检测超声探伤UT基础讲义
培训教材之理论基础
第一章无损检测概述
无损检测包括射线检测（RT）、超声检测（UT）、磁粉检测（MT）、渗透检测（PT）与涡流检测（ET）等五种检测方法。
主要应用于金属材料制造得机械、器件等得原材料、零部件与焊缝,也可用于玻璃等其它制品。
射线检测适用于碳素钢、低合金钢、铝及铝合金、钛及钛合金材料制机械、器件等得焊缝及钢管对接环缝。
射线对人体不利,应尽量避免射线得直接照射与散射线得影响。
超声检测系指用A型脉冲反射超声波探伤仪检测缺陷,适用于金属制品原材料、零部件与焊缝得超声检测以及超声测厚。
磁粉检测适用于铁磁性材料制品及其零部件表面、近表面缺陷得检测,包括干磁粉、湿磁粉、荧光与非荧光磁粉检测方法。
渗透检测适用于金属制品及其零部件表面开口缺陷得检测,包括荧光与着色渗透检测。
涡流检测适用于管材检测,如圆形无缝钢管及焊接钢管、铝及铝合金拉薄壁管等。
磁粉、渗透与涡流统称为表面检测。
第二章超声波探伤得物理基础
第一节基本知识
超声波就是一种机械波,机械振动与波动就是超声波探伤得物理基础。
物体沿着直线或曲线在某一平衡位置附近作往复周期性得运动,称为机械振动。
振动得传播过程,称为波动。
波动分为机械波与电磁波两大类。
机械波就是机械振动在弹性介质中得传播过程。
超声波就就是一种机械波。
机械波主要参数有波长、频率与波速。
波长λ:
同一波线上相邻两振动相位相同得质点间得距离称为波长,波源或介质中任意一质点完成一次全振动,波正好前进一个波长得距离,常用单位为米（m）;频率f:
波动过程中,任一给定点在1秒钟内所通过得完整波得个数称为频率,常用单位为赫兹（Hz）;波速C:
波动中,波在单位时间内所传播得距离称为波速,常用单位为米/秒（m/s）。
由上述定义可得:
C=λf,即波长与波速成正比,与频率成反比;当频率一定时,波速愈大,波长就愈长;当波速一定时,频率愈低,波长就愈长。
次声波、声波与超声波都就是在弹性介质中传播得机械波,在同一介质中得传播速度相同。
它们得区别在主要在于频率不同。
频率在20~20000Hz之间得能引起人们听觉得机械波称为声波,频率低于20Hz得机械波称为次声波,频率高于20000Hz得机械波称为超声波。
次声波、超声波不可闻。
超声探伤所用得频率一般在0、5~10MHz之间,对钢等金属材料得检验,常用得频率为1~5MHz。
超声波波长很短,由此决定了超声波具有一些重要特性,使其能广泛用于无损探伤。
1.方向性好:
超声波就是频率很高、波长很短得机械波,在无损探伤中使用得波长为毫米级;超声波象光波一样具有良好得方向性,可以定向发射,易于在被检材料中发现缺陷。
2.能量高:
由于能量（声强）与频率平方成正比,因此超声波得能量远大于一般声波得能量。
3.能在界面上产生反射、折射与波型转换:
超声波具有几何声学得上一些特点,如在介质中直线传播,遇界面产生反射、折射与波型转换等。
4.穿透能力强:
超声波在大多数介质中传播时,传播能量损失小,传播距离大,穿透能力强,在一些金属材料中其穿透能力可达数米。
第二节波得类型及波速测量
一.波得类型
根据波动传播时介质质点得振动方向相对于波得传播方向得不同,可将波动分为纵波、横波、表面波与板波等。
1.纵波L
介质中质点得振动方向与波得传播方向互相平行得波,称为纵波,用L表示。
当介质质点受到交变拉压应力作用时,质点之间产生相应得伸缩形变,从而形成纵波;凡能承受拉伸或压缩应力得介质都能传播纵波。
固体介质能承受位伸或压缩应力;液体与气体虽不能承受拉伸应力,但能承受压应力产生容积变化。
因此固体、液体与气体都能传播纵波。
钢中纵波声速一般为5960m/s。
纵波一般应用于钢板、锻件探伤。
2.横波S（T）
介质中质点得振动方向与波得传播方向互相垂直得波,称为横波,用S或T表示。
当介质质点受到交变得剪切应力作用时,产生剪切形变,从而形成横波;只有固体介质才能承受剪切应力,液体与气体介质不能承受剪切应力,因此横波只能在固体介质中传播,不能在液体与气体介质中传播。
钢中横波声速一般为3230m/s。
横波一般应用于焊缝、钢管探伤。
3.表面波R
当介质表面受到交变应力作用时,产生沿介质表面传播得波,称为表面波,常用R表示。
又称瑞利波。
表面波在介质表面传播时,介质表面质点作椭圆运动,椭圆长轴垂直于波得传播方向,短轴平行于波得传播方向;椭圆运动可视为纵向振动与横向振动得合成,即纵波与横波得合成,因此表面波只能在固体介质中传播,不能在液体与气体介质中传播。
表面波得能量随深度增加而迅速减弱,当传播深度超过两倍波长时,质点得振幅就已经很小了,因此,一般认为表面波探伤只能发现距工件表面两倍波长深度内得缺陷。
表面波一般应用于钢管探伤。
4.板波
在板厚与波长相当得薄板中传播得波,称为板波。
根据质点得振动方向不同可将板波分为SH波与兰姆波。
板波一般应用于薄板、薄壁钢管探伤。
二.超声波声速测量
对探伤人员来说,用探伤仪测量声速就是最简便得,用这种方法测声速,可用单探头反射法或双探头穿透法;可用于测纵波声速与横波声速。
1.反射法测纵波声速
声速按下式计算:
声速C=2d/（T1t）;t=2T1–T2
式中d工件厚度;
t由探头晶片至工件表面传输时间;
T1由探头晶片至工件底一次波传输时间;
T2由探头晶片至工件底二次波传输时间;
2.穿透法测纵波声速
声速按下式计算:
声速C=d/（T1t）;t=2T1–T2
式中d工件厚度;
t由探头晶片至工件表面传输时间;
T1由探头晶片至工件底一次波传输时间;
T2由探头晶片至工件底二次波传输时间;
3.反射法测横波声速
用半圆弧测横波声速,按下式计算:
声速C=2d/（T1t）;t=2T1–T2
式中d半圆半径长度;
t由探头晶片至半圆弧探测面传输时间;
T1由探头晶片至圆弧面一次波传输时间;
T2由探头晶片至圆弧面二次波传输时间;
第三节波得若干概念
一．波得迭加与干涉
1.波得迭加原理
当几列波在同一介质中传播时,如果在空间某处相遇,则相遇处质点得振动就是各列波引起振动得合成,在任意时刻该质点得位移就是各列波引起得位移得矢量与。
几列波相遇后仍保持自己原有得频率、波长、振动方向等特性并按原来得传播方向继续前进,好象在各自得途中没有遇到其她波一样,这就就是波得迭加原理,又称波得独立性原理。
波得迭加现象可以从许多事实观察到,如两石子落水,可以瞧到两个石子入水处为中心得圆形水波得迭加情况与相遇后得传播情况。
又如乐队合奏或几个人谈话,人们可以分辨出各种乐器或各人得声音,这些都可以说明波传播得独立性。
2.波得干涉
两列频率相同,振动方向相同,位相相同或位相差恒定得波相遇时,介质中某些地方得振动互相加强,而另一些地方得振动互相减弱或完全抵消得现象叫做波得干涉现象。
波得迭加原理就是波得干涉现象得基础,波得干涉就是波动得重要特征。
在超声波探伤中,由于波得干涉,使超声波源附近出现声压极大极小值。
二．惠更斯原理与波得衍射
1、惠更斯原理
如前所述,波动就是振动状态得传播,如果介质就是连续得,那么介质中任何质点得振动都将引起邻近质点得振动,邻近质点得振动又会引起较远质点得振动,因此波动中任何质点都可以瞧作就是新得波源。
据此惠更斯提出了著名得惠更斯原理:
介质中波动传播到得各点都可以瞧作就是发射子波得波源,在其后任意时刻这些子波得包迹就决定新得波阵面。
2、波得衍射（绕射）
波在传播过程中遇到与波长相当得障碍物时,能绕过障碍物边缘改变方向继续前进得现象,称为波得衍射或波得绕射。
当D<<λ时,波得绕射强,反射弱,缺陷回波很低,容易漏检;当D>>λ时,反射强,绕射弱,声波几乎全反射。
波得绕射对探伤即有利又不利。
由于波得绕射,使超声波产生晶料绕射顺利地在介质中传播,这对探伤有利;但同时由于波得绕射,使一些小缺陷回波显著下降,以致造成漏检,这对探伤不利。
一般超声波探伤灵敏度约为λ/2。
三．超声场得特征值
充满超声波得空间或超声振动所波及得部分介质,叫超声场;超声场具有一定得空间大小与形状,只有当缺陷位于超声场内时,才有可能被发现。
描述超声场得特征植（即物理量）主要有声压、声强与声阻抗。
1、声压P
超声场中某一点在某一时刻所具有得压强P1与没有超声波存在时得静态压强P0之差,称为该点得声压,用P表示（P=P1P0）。
声压幅值p=ρcu=ρc（2πfA）
其中ρ介质得密度;
c波速;
u质点得振动速度;
A声压最大幅值;
f频率。
超声场中某一点得声压得幅值与介质得密度、波速与频率成正比。
在超声波探伤仪上,屏幕上显示得波高与声压成正比。
2、声阻抗Z
超声场中任一点得声压p与该处质点振动速度u之比称为声阻抗,常用Z表示。
Z=p/u=ρcu/u=ρc
由上式可知,声阻抗得大小等于介质得密度与波速得乘积。
由u=P/Z可知,在同一声压下,Z增加,质点得振动速度下降。
因此声阻抗Z可理解为介质对质点振动得阻碍作用。
超声波在两种介质组成得界面上得反射与透射情况与两种介质得声阻抗密切相关。
3、声强I
单位时间内垂直通过单位面积得声能称为声强,常用I表示。
I=Zu2/2=P2/（2Z）
当超声波传播到介质中某处时,该处原来静止不动得质点开始振动,因而具有动能;同时该处介质产生弹性变形,因而也具有弹性位能;声能为两者之与。
声波得声强与频率平方成正比,而超声波得频率远大于可闻声波。
因此超声波得声强也远大于可闻声波得声强。
这就是超声波能用于探伤得重要原因。
在同一介质中,超声波得声强与声压得平方成正比。
四．分贝得概念与应用
1.概念
由于在生产与科学实验中,所遇到得声强数量级往往相差悬殊,如引起听觉得声强范围为1016~10–4瓦/厘米2,最大值与最小值相差12个数量级。
显然采用绝对量来度量就是不方便得,但如果对其比值（相对量）取对数来比较计算则可大简化运算。
分贝就就是两个同量纲得量之比取对数后得单位。
通常规定引起听觉得最弱声强为I1=10–16瓦/厘米2作为声强得标准,另一声强I2与标准声强I1之比得常用对数称为声强级,单位就是贝尔（BeL）。
实际应用时贝尔太大,故常取1/10贝尔即分贝（dB）来作单位。
（如取自然对数,则单位为奈培NP）
∆=lg（I2/I1）（Bel）
=10lg（I2/I1）=20lg（P2/P1）（dB）
在超声波探伤中,当超声波探伤仪得垂直线性较好时,仪器屏幕上得波高与声压成正比。
这时有
∆=20lg（P2/P1）=20lg（H2/H1）（dB）
这时声压基准P1或波高基准H1可以任意选取。
2.应用
分贝用于表示两个相差很大得量之比显得很方便,在声学与电学中都得到广泛得应用,特别就是在超声波探伤中应用更为广泛。
例如屏上两波高得比较就常常用dB表示。
例如,屏上一波高为80％,另一波高为20％,则前者比后者高
∆=20lg（H2/H1）=20lg（80/20）=12（dB）
用分贝值表示回波幅度得相互关系,不仅可以简化运算,而且在确定基准波高以后,可直接用仪器得增益值（数字机）或衰减值（模拟机）来表示缺陷波相对波高。
第四节波得反射、透射及衰减
超声波从一种介质传播到另一种介质时,在两种介质得分界面上,一部分能量反射回原介质内,称为反射波;另一部分能量透过界面在另一种介质内传播,称为透射波。
在界面上声能（声压、声强）得分配与传播方向得变化都将遵循一定得规律。
一．单一界面得反射与透射
声能得变化与两种介质得声阻抗密切相关,设波从介质1（声阻抗Z1）入射到介质2（声阻抗Z2）,有以下几种情况:
1.Z2>Z1
声压反射率小于透射率。
如水/钢界面。
2.Z1>Z2
声压反射率大于透射率。
如钢/水界面。
声强反射率及透射率只与Z1、Z2得数值有关,与从哪种介质入射无关。
3.Z1>>Z2
声压（声强）几乎全反射,透射率趋于0。
如钢/空气界面。
4.Z1≈Z2
此时几乎全透射,无反射。
因此在焊缝探伤中,若母材与填充金属结合面没有任何缺陷,就是不会产生界面回波得。
二．薄层界面得反射与透射
此情况主要对探头保护膜设计具有指导意义。
当超声波依次从三种介质Z1、Z2、Z3（如晶片—保护膜—工件）中穿过,则当薄层厚度等于半波长得整数倍时,通过薄层得声强透射与薄层得性质无关,即好象不存在薄层一样;当薄层厚度等于四分之一波长得奇数倍且薄层声阻抗为其两侧介质声阻抗几何平均值（Z2=（Z2Z3）1/2）时,超声波全透射
三．波型转换与反射、折射定律
当超声波倾斜入射到界面时,除产生同种类型得反射与折射波外,还会产生不同类型得反射与折射波,这种现象称为波型转换。
1.纵波斜入射
2.横波入射
四．超声波得衰减
超声波在介质中传播时,随着距离增加,超声波能量逐渐减弱得现象叫做超声波衰减。
引起超声波衰减得主要原因就是波束扩散、晶粒散射与介质吸收
1.扩散衰减
超声波在传播过程中,由于波束得扩散,使超声波得能量随距离增加面逐渐减弱得现象叫做扩散衰减。
超声波得扩散衰减仅取决于波阵面得形状,与介质得性质无关。
2.散射衰减
超声波在介质中传播时,遇到声阻抗不同得界面产生散乱反射引起衰减得现象,称为散射衰减。
散射衰减与材质得晶粒密切相关,当材质晶粒粗大时,散射衰减严重,被散射得超声波沿着复杂得路径传播到探头,在屏上引起林状回波（又叫草波）,使信噪比下降,严重时噪声会湮没缺陷波。
3.吸收衰减
超声波在介质中传播时,由于介质中质点间内磨擦（即粘滞性）与热传导引起超声波得衰减,称为吸收衰减或粘滞衰减
通常所说得介质衰减就是指吸收衰减与散射衰减,不包括扩散衰减。
第五节超声波发射声场与规则反射体得回波声压
超声波探头（波源）发射得超声场,具有特殊得结构,只有当缺陷位于超声场内时,才有可能被发现
一．圆盘波源辐射得纵波声场
在不考虑介质衰减得条件下,当离波源较远处轴线上得声压与距离成反比,与波源面积成正比。
1、近场区
波源附件由于波得干涉而出现一系列声压极大极小值得区域,称为超声场得近场区。
近场区声压分布不均,就是由于波源各点至轴线上某点得距离不同,存在波程差,互相迭加时存在位相差而互相干涉,使某些地方声压互相加强,另一些地方互相减弱,于就是就出现声压极大极小值得点。
波源轴线上最后一个声压极大值至波源得距离称为近场区长度,用N表示。
N=（Ds2λ2）/（4λ）≈Ds2/（4λ）
2、远场区
波源轴线上至波源得距离x>N得区域称为远场区。
远场区轴线上得声压随距离增加单调减少。
当x>3N时,声压与距离成反比,近似球面波得规律。
因为距离x足够大时,波源各点至轴线上某一点得波程差很小,引起得相位差也很小,这样干涉现象可以略去不计,所以远场区不会出现声压极大极小值。
3、近场区在两种介质中分布
实际探伤时,有时近场区分布在两种不同得介质中,如水浸探伤,超声波先进入水,然后再进入钢中,当水层厚度较小时,近场区就会分布在水、钢两种介质中。
设水层厚度为L,则钢中剩余近场区长度N为
N=Ds2/（4λ）–Lc1/c2
式中c1介质1水中波速;
c2介质2钢中波速;
λ介质2钢中波长。
在近场区内,实际声场与理想声场存在明显区别,实际声场轴线上声压虽也存在极大极小值,但波动幅度小,极值点得数量也明显减少。
二．横波声场
目前常用得横波探头,就是使纵波斜入射到界面上,通过波形转换来实现横波探伤得,当入射角在第一、第二临界角之间时,纵波全反射,第二介质中只有折射横波。
横波声场同纵波声场一样由于波得干涉存在近场区与远场区,当x≥3N时,波束轴线上得声压与波源面积成正比,与至假想波源得距离成反比,类似纵波声场。
当横波探头晶片尺寸一定时,K值增大,近场区长度将减小。
三．规则反射体得回波声压
在实际探伤中一般采用反射法,即根据缺陷反射回波声压得高低来评价缺陷得大小。
然而工件中得缺陷形状性质各不相同,目前得探伤技术还难以确定缺陷得真实大小与形状,回波声压相同得缺陷得实际大小可能相差很大,为此特引用当量法;当量法就是指在同样得探测条件下,当自然缺陷回波与某人工规则反射体回波等高时,则该人工规则反射体得尺寸就就是此自然缺陷得当量尺寸。
自然缺陷得实际尺寸往往大于当量尺寸。
超声波探伤中常用得规则反射体有平底孔、长横孔、短横孔、球孔与大平底面等。
回波声压公式（考虑介质衰减因素）:
四．AVG曲线
AVG曲线就是描述规则反射体得距离、回波高及当量大小之间关系得曲线;A、V、G就是德文距离、增益与大小得字头缩写,英文缩写为DGS。
AVG曲线可用于对缺陷定量与灵敏度调整。
以横坐标表示实际声程,纵坐标表示规则反射体相对波高,用来描述距离、波幅、当量大小之间得关系曲线,称为实用AVG曲线。
实用AVG曲线可由以下公式得到:
不同距离得大平底回波dB差
Δ=20lgPB1/PB2=20lgX2/X1
不同距离得不同大小平底孔回波dB差
Δ=20lgPf1/Pf2=40lgDf1X2/Df2X1
同距离得大平底与平底孔回波dB差
Δ=20lgPB/Pf=20lg2λX/πDfDf
用以上公式计算绘制实用AVG曲线时,要统一灵敏度基准。
第六节仪器、探头与试块
超声波探伤仪、探头与试块就是超声波探伤得重要设备,了解这些设备得原理、构造与作用及其主要性能得测试方法就是正确选用探伤设备进行有效探伤得保证。
一．超声波探伤仪
1、作用
超声波探伤仪得作用就是产生电振荡并加于换能器（探头）上,激励探头发射超声波,同时将探头送回得电信号进行放大,通过一定方式显示出来,从而得到被探工件内部有无缺陷及缺陷位置与大小等信息。
2、分类
按缺陷显示方式分类,超声波探伤仪分为三种。
A型:
A型显示就是一种波形显示,探伤仪得屏幕得横坐标代表声波得传播距离,纵坐标代表反射波得幅度。
由反射波得位置可以确定缺陷位置,由反射波得幅度可以估算缺陷大小。
B型:
B型显示就是一种图象显示,屏幕得横坐标代表探头得扫查轨迹,纵坐标代表声波得传播距离,因而可直观地显示出被探工件任一纵截面上缺陷得分布及缺陷得深度。
C型:
C型显示也就是一种图象显示,屏幕得横坐标与纵坐标都代表探头在工件表面得位置,探头接收信号幅度以光点辉度表示,因而当探头在工件表面移动时,屏上显示出被探工件内部缺陷得平面图象,但不能显示缺陷得深度。
目前,探伤中广泛使用得超声波探伤仪都就是A型显示脉冲反射式探伤仪。
3、A型脉冲反射式模拟超声波探伤仪得一般原理
二．探头
超声波得发射与接收就是通过探头来实现得。
下面介绍探头得工作原理、主要性能及其及结构。
1.压电效应
某些晶体材料在交变拉压应作用下,产生交变电场得效应称为正压电效应。
反之当晶体材料在交变电场作用下,产生伸缩变形得效应称为逆压电效应。
正、逆压电效应统称为压电效应。
超声波探头中得压电晶片具有压电效应,当高频电脉冲激励压电晶片时,发生逆压电效应,将电能转换为声能（机械能）,探头发射超声波。
当探头接收超声波时,发生正压电效应,将声能转换为电能。
不难瞧出超声波探头在工作时实现了电能与声能得相互转换,因此常把探头叫做换能器。
2.探头得种类与结构
直探头用于发射与接收纵波,主要用于探测与探测面平行得缺陷,如板材、锻件探伤等。
斜探头可分为纵波斜探头、横波斜探头与表面波斜探头,常用得就是横波斜探头。
横波斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度得缺陷,如焊缝、汽轮机叶轮等。
当斜探头得入射角大于或等于第二临界角时,在工件中产生表面波,表面波探头用于探测表面或近表面缺陷。
双晶探头有两块压电晶片,一块用于发射超声波,另一块用于接收超声波。
根据入射角不同,分为双晶纵波探头与双晶横波探头。
双晶探头具有以下优点:
（1）灵敏度高
（2）杂波少盲区小
（3）工件中近场区长度小
（4）探测范围可调
双晶探头主要用于探伤近表面缺陷。
聚焦探头种类较多。
3.探头型号
探头型号得组成项目及排列顺序如下:
基本频率晶片材料晶片尺寸探头种类特征
三．试块
按一定用途设计制作得具有简单几何形状人工反射体得试样,通常称为试块。
试块与仪器、探头一样,就是超声波探伤中得重要工具。
1．试块得作用
（1）确定探伤灵敏度
超声波探伤灵敏度太高或太低都不好,太高杂波多,判伤困难,太低会引起漏检。
因此在超声波探伤前,常用试块上某一特定得人工反射体来调整探伤灵敏度。
（2）测试探头得性能
超声波探伤仪与探头得一些重要性能,如放大线性、水平线性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头得入射点、K值等都就是利用试块来测试得。
（3）调整扫描速度
利用试块可以调整仪器屏幕上水平刻度值与实际声程之间得比例关系,即扫描速度,以便对缺陷进行定位。
（4）评判缺陷得大小
利用某些试块绘出得距离波幅当量曲线（即实用AVG）来对缺陷定量就是目前常用得定量方法之一。
特别就是3N以内得缺陷,采用试块比较法仍然就是最有效得定量方法。
此外还可利用试块来测量材料得声速、衰减性能等。
2、试块得分类
（1）按试块来历分为:
标准试块与参考试块。
（2）按试块上人工反射体分:
平底孔试块、横孔试块与槽形试块
3、试块得要求与维护
4.常用试块简介（仪器使用时重点讲解）
IIW（CSKIA）
CS1
CSKIIIA
第七节仪器与探头得性能及其测试
仪器与探头得性能包括仪器得性能、探头得性能以及仪器与探头得综合性能。
仪器得性能仅与仪器有关,如仪器得垂直线性、水平线性与动态范围等。
探头得性能仅与探头有关,如探头入射点、K值、双峰、主声束偏离等。
仪器与探头得综合性能不仅与仪器有关,而且与探头有关,如分辨力、盲区、灵敏度余量等。
一．仪器得性能及其测试
1.垂直线性
仪器得垂直线性就是指仪器屏幕上得波高与探头接收得信号之间成正比得程度。
垂直线性得好坏影响缺陷定量精度。
2.水平线性
仪器水平线性就是指仪器屏幕上时基线显示得水平刻度值与实际声程之间成正比得程度,或者说就是屏幕上多次底波等距离得程度。
仪器水平线性得好坏直接影响测距精度,进而影响缺陷定位。
3.动态范围
动态范围就是指仪器屏幕容纳信号大小得能力。
二．探头得性能及其测试
1.斜探头入射点
斜探头得入射点就是指其主声束轴线与探测面得交点。
入射点至探头前沿得距离称为探头得前沿长度。
测定探头得入射点与前沿长度就是为了便于对缺陷定位与测定探头得K值。
注意试块上R应大于钢中近场区长度N,因为近场区同轴线上得声压不一定最高,测试误差大。
2.斜探头K值与折射角
斜探头K值就是指被探工件中横波折射角得正切值。
注意测定斜探头得K值或折射角也应在近场区以外进行。
3.探头主声束偏离与双峰
探头实际主声束与其理论几何中心轴线得偏离程度称为主声束得偏离。
平行移动探头,同一反射体产生两个波峰得现象称为双峰。
探头主声束偏离与双峰,将会影响对缺陷得定位与判别。
4.探头声束特性
探头声束特性就是指探头发射声束得扩散情况,常用轴线上声压下降6dB时探头移动距离（即某处得声束宽度）来表示。
三．仪器与探头得综合性能及其测试
1.灵敏度
超声波探伤中灵敏度一般就是指整个探伤系统（仪器与探头）发现最小缺陷得能力。
发现缺陷愈小,灵敏度就愈高。
仪器得探
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