通用量具使用方法培训教材PPT推荐.ppt

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1-6公司之财产。

1-7避免双方买卖的纠纷（交易证明用）1-8量测标准对现代社会之影响。

第二章仪器设备之管理,1.量规仪器的概念凡直接或间接从事量测,分析.校正.检验.测试等作业的设备统称.2.量规仪器的分类2-1产品特性分类1.量规（样板）类:

如样圈、螺纹样板等.2.机械量测仪器类:

如游标尺、孔径规、及量表等.3.电量量测仪器类:

如电流表、电压表等.4.电子量测仪器类:

如信号产生器、高频率表等.5.度量衡器具类:

如尺、秤类、量器等.6.其他检测试验设备:

如拉力试验机、硬度机、投影机等.,2-2用途分类1.分析仪器:

如显微镜、分光仪等.2.测试仪器:

如硬度试验机、压缩试验机等.3.制备装置:

如车床、研磨器等.4.量测仪器:

如测微计、游标尺等.5.侦测装置:

如压力计、流量计等.2-3以性质分类1.标准件:

如块规、砝码等.2.仪器:

游标卡尺、天平、扭力计等.,3.影响量测精度之因素1.量测时之环境影响:

如温度、湿度、光线明暗等.2.量测时量器本身之影响:

灵敏度发生故障,精度面受损伤,内部生锈、装置不良等.3.量测人员技术之影响:

如保养不良、量测压力不当待测件夹持方式不对,观察姿态不正确,及读数错误等.4.选用不当量器之影响:

检校不同之量器或工作,应用不同精度之量器,一般依被检校者之精度选用适当量器,量测器之精度必须是被量测器精度之十倍.5.被量测件本身之影响:

量测面有油污秽质,受热受压变形,精度面受损等.6.其他偶然性之影响:

如突然日光射入量器,或发生极大振动或由人体之辐射热影响等.,4.量规之使用与保养欲完成精确之量测工作,对量具要深加注意,以作合理之使用与良好之保养.倘因使用不当,则必增加误差;

保养不良,则必损伤精度,不但减少其使用寿命,甚至还可能影响产品品质.使用前后注意事项分述如下:

4-1.使用前注意事项1.工作物表面不得有毛发、油污及渣屑等杂物.2.量规应清洁擦干净,量面无腐蚀与碰击等痕迹.3.要有定期（有效）校验标识,必要时在使用前查验一次.4.量规应整齐分别排列于适当的地方,不可重叠放置,并应作适当保养,保持清洁.,4-2使用时注意事项1。

量规与工作物均宜放正，不可偏斜，并避免手触及测量面。

2。

测量压力应适当，使用一般量具时，仅需半磅至二磅之压力即可相当于铅笔写字时之压力。

3。

工件夹持方式要适当。

4。

切不可在机器开动时应用量规量测。

5。

切不可将量规强行推入工件中或夹于虎钳上使用。

6。

不可任意敲击或乱丢放。

7。

特定量规之使用有一定方法及步骤，应遵照使用。

4-3使用后注意事项1。

使用后应擦拭干净，注意量面有无碰伤痕。

量规如需每日使用，或短期存放，应擦拭清洁，涂上轻防锈油分别存于保护盒内。

如不需经常使用或较长期储存，应先清洁再涂上防锈油，放于干燥处储存。

保管人员应定期检视保养收存储情况。

实施定期校验及记录。

4-4一般注意事项1。

不可将量规当作敲击工具，并防止跌落，以免损坏。

不可用粗布硬质擦拭量规之量面，以免损其精度。

量规之量面及刻度须保持良好。

量规之装配、拆卸、调整及修理等工作，不可擅自施行，应请量规管理单位办理。

第三章通用量具的使用方法,第一节卡尺,1.常用卡尺的概述通用卡尺是用来测量外尺寸，盲孔，阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具按结构形式分为：

游标卡尺电子数显卡尺带表卡尺深度游标卡尺电子数显深度卡尺,各常用卡尺基本结构简图3.1我们常用的几种卡尺有:

游标卡尺带表卡尺数显卡尺深度卡尺,游标卡尺的结构,四用带表卡尺结构,电子数显卡尺结构,4.卡尺的操作步骤,4.1归零位移动尺框使两外测量面接触,此时指针应与表盘上方的零刻度线重合,如未重合,松开表圈下方的紧固螺钉,转动表圈使之对齐,然后拧紧紧固螺钉.4.2测量:

可进行外径,内径,台阶,深度四种尺寸测量.4.2.1测量时卡尺及工作件均宜放正，不可偏斜,使用时卡尺测量面要与工件的被测量垂直或平行.4.3读数方法:

4.3.1游标卡尺和带表卡尺的读数,整数部分从主尺（主刻度）上读取,小数部分之读数从副尺（次刻度）上读取.4.3.2数显卡尺直接在数字显示器中读取.,卡尺的保养项目,.是否在有效期內.齒輪傳動是否順暢.量尺內（深度槽）是否清潔.刻度盤指針是否歸零.是否妥善保存.电子卡尺不能喷防锈油，关掉电源可用酒精擦拭.,第二节高度规,1.高度规的概述高度规是用来专门测量高度或划线的量具.2.高度规的简图（如下图）2.1上计数器与下计数器的区别2.1.1上计数器通常是测量基准是在下面,测量时划线刀刃是从低到高,刻度盘的指针是顺时针旋转.2.1.2下计数器通常是测量基准是在一高度,测量时划线刀刃是从高到低,刻度盘的指针是逆时针旋转.,高度规简图,3.高度规的操作步骤3.1调零松开固定螺钉,转动手柄,使高度规划线刀刃向下运动,至贴紧划线平台,调节表盘使指针与零位对齐,再按上下表盘归零键归零.3.2划线或测量3.2.1调节转动手柄,使划线刀刃前端高于被测量工件,然后降下高度,使划线前端紧贴在被测工件上端,不能用大力转动手柄.力道要与归零时的力一样.3.2.2划线转动手柄使划线前端达到规定的尺寸高度,调节固定螺钉,用手推动高度规底座在工件位置划线.3.3读数整数从上下计数器中读取.小数从刻度盘中读取.,高度规的读数,第三节千分尺,1.千分尺概述是由尺架,测微螺杆,微分筒等部分组成的量具.主要用于外尺的比较测量.2.千分的简图,3.操作步骤3.1归零旋转微分筒使测砧平面与测微螺杆平面重合,此时固定套管的刻度与微分筒的零刻度对齐.如有校准规的,有用软布擦净校准规的测量面,再校对零位.3.1.1若千分尺读数与校对规所标数值不一致时,须松开调整螺钉,转动固定套管,直至千分尺的读数与校对规所标数值一致,锁紧调整螺钉.3.2测量将被测工件正放在外径千人分尺导杆内,内径千分尺则反之,千分尺的两测量面与被测工件的测量紧贴及平行,顺时针旋转微分筒至两测量接近测量物时,再旋转测力装置使两测量面接触测量面,当听到”喀嚓”声3次时停止旋转.,3.3读数3.3.1千分尺读数的整数部分,从固定套管的主刻度中读取,主刻度有两排刻度.上一排是每一小格是1MM.下一排是每一小格是0.5MM.3.3.2千分尺读数的小数部分,从微分筒的刻度中读取,每一小格是0.01MM.转一圈是0.5MM.3.3.3数显千分尺可以从数字显示器中直接读取.,第四章色差理论,一名词定义1.色温:

是物体在加热时,所发出的色光测量.色温常用绝对温度或开尔文度表示,低的色温如红色是2400K,高的色温如蓝色是9300K,中性色温如灰色是6500K.2.明度:

是颜色的深浅程度.3.A光源:

以白炽灯为代表的CIE标准光源.4.C光源:

是模拟平均晶光的钨丝灯为代表的标准光源.,5.D光源:

是以日光灯为代表的CIE标准光源.6.F光源:

以萤光灯为代表的CIE标准光源.7色调：

是物体的基本色，如红色/绿色/紫色等，可用圆柱形色空间角度位置或在色轮上的位置确色相色度仪:

是模拟人眼对红,绿,蓝光响应的光学测量仪器.,.CIE是国际光学照明委员会的简称。

以下是CIE色空间座标图,二.色差仪的测量模式,1。

CIELAB是基于一种颜色不能同时既是绿又是红，也不能同时既是蓝又是黄这个理论而建立。

当一种颜色用CIEL*a*b*时，L*表示明度值；

a*表示红/绿值及b*表示黄/蓝值。

CIELCH颜色模型采用了同CIEL*a*b*一样的颜色空间，但它采用L表示明度值；

C表示饱和度值及H表示色调角度值的柱形坐标。

三。

容差公式,1。

CIELAB容差公式L*=L*样品-L*标准（明度差异）a*=a*样品-a*标准（红/绿差异）b*=b*样品-b*标准（黄/蓝差异）2.CIELCH容差公式L*=L*样品-L*标准（明度差异）C*=C*样品-C*标准（饱和差异）H*=（Eab）2-（L*）2-（C*）21/2（色调差异）,3.Eab容差公式Eab容差公式以一个数值代表总色差.Eab=（L）2+（a*）2+（b*）21/2Eab容差值越小代表色差越少,说明样品与标准的色差越接近.相反地Eab容差越大,差异越大.THEEND,