数字信号处理实验一信号 系统及系统响应.docx

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数字信号处理实验一信号系统及系统响应

西安郵電學院

 

数字信号处理课内实验

报告书

 

系部名称

计算机系

学生姓名

常成娟

专业名称

电子信息科学与技术

班级

电科0603

学号

04062095(22号)

时间

2008-11-23

实验一:

信号、系统及系统响应

一.实验目的

(1)熟悉连续信号经理想采样前后的频谱变化关系,加深对时域采样定理的理解。

(2)熟悉时域离散系统的时域特性。

(3)利用卷积方法观察分析系统的时域特性。

(4)掌握序列傅里叶变换的计算机实现方法,利用序列的傅里叶变换对连续信号、离散信号及系统响应进行频域分析。

二.实验原理与方法

采样是连续信号数字处理的第一个关键环节。

对一个连续信号xa(t)进行理想采样的过程可用(10.3.1)式表示。

(10.3.1)其中(t)为xa(t)的理想采样,p(t)为周期冲激脉冲,即

(10.3.2)

(t)的傅里叶变换(jΩ)为

(10.3.3)

将(10.3.2)式代入(10.3.1)式并进行傅里叶变换,

 

(10.3.4)

 

式中的xa(nT)就是采样后得到的序列x(n),即

x(n)的傅里叶变换为

(10.3.5)

比较(10.3.5)和(10.3.4)可知

(10.3.6)

在数字计算机上观察分析各种序列的频域特性,通常对X(ejω)在[0,2π]上进行M点采样来观察分析。

对长度为N的有限长序列x(n),有

(10.3.7)

其中

一个时域离散线性非移变系统的输入/输出关系为

(10.3.8)

上述卷积运算也可以在频域实现

 

图10.3.1实验一的主程序框图

三.实验内容及步骤

(1)认真复习采样理论、离散信号与系统、线性卷积、序列的傅里叶变换及性质等有关内容,阅读本实验原理与方法。

(2)编制实验用主程序及相应子程序。

①信号产生子程序,用于产生实验中要用到的下列信号序列:

xa(t)=Ae-atsin(Ω0t)u(t)

进行采样,可得到采样序列

xa(n)=xa(nT)=Ae-anTsin(Ω0nT)u(n),0≤n<50

其中A为幅度因子,a为衰减因子,Ω0是模拟角频率,

T为采样间隔。

这些参数都要在实验过程中由键盘输入,图10.3.2xa(t)的幅频特性曲线

产生不同的xa(t)和xa(n)。

b.单位脉冲序列:

xb(n)=δ(n)

c.矩形序列:

xc(n)=RN(n),N=10

②系统单位脉冲响应序列产生子程序。

本实验要用到两种FIR系统。

a.ha(n)=R10(n);

b.hb(n)=δ(n)+2.5δ(n-1)+2.5δ(n-2)+δ(n-3)

③有限长序列线性卷积子程序,用于完成两个给定长度的序列的卷积。

可以直接调用MATLAB语言中的卷积函数conv。

conv用于两个有限长度序列的卷积,它假定两个序列都从n=0开始。

调用格式如下:

y=conv(x,h)

(3)调通并运行实验程序,完成下述实验内容:

①分析采样序列的特性。

a.取采样频率fs=1kHz,即T=1ms。

b.改变采样频率,fs=300Hz,观察|X(ejω)|的变化,并做记录(打印曲线);进一步降低采样频率,fs=200Hz,观察频谱混叠是否明显存在,说明原因,并记录(打印)这时的|X(ejω)|曲线。

源程序:

A=444.128;

a=50*sqrt

(2)*pi;

w=50*sqrt

(2)*pi;

n=0:

49;

fs=1000;

x=A*exp((-a)*n/fs).*sin(w*n/fs);

k=-200:

200;

w=(pi/100)*k;

y=x*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

%y=fft(x)

subplot(1,2,1);

stem(n,x);

axis([0,50,-50,150]);

xlabel('n');

ylabel('Xa(n)');

title('fs=1000');

subplot(1,2,2);

plot(w/pi,abs(y))

axis([-2,2,0,1000]);

xlabel('w/pi');

ylabel('/Xa(ejw)/');

A=444.128;

a=50*sqrt

(2)*pi;

w=50*sqrt

(2)*pi;

n=0:

49;

fs=500;

x=A*exp((-a)*n/fs).*sin(w*n/fs);

k=-200:

200;

w=(pi/100)*k;

y=x*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

%y=fft(x)

subplot(1,2,1);

stem(n,x);

axis([0,50,-50,150]);

xlabel('n');

ylabel('Xa(n)');

title('fs=500');

subplot(1,2,2);

plot(w/pi,abs(y))

axis([-2,2,0,500]);

xlabel('w/pi');

ylabel('/Xa(ejw)/');

A=444.128;

a=50*sqrt

(2)*pi;

w=50*sqrt

(2)*pi;

n=0:

49;

fs=200;

x=A*exp((-a)*n/fs).*sin(w*n/fs);

k=-200:

200;

w=(pi/100)*k;

y=x*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

%y=fft(x)

subplot(1,2,1);

stem(n,x);

axis([0,50,-50,150]);

xlabel('n');

ylabel('Xa(n)');

title('fs=200');

subplot(1,2,2);

plot(w/pi,abs(y))

axis([-2,2,80,180]);

xlabel('w/pi');

ylabel('/Xa(ejw)/');

结果分析:

时域采样定理要求采样频率大于折叠频率fs/2=500Hz,频谱才不至于出现混叠。

从仿真图中可以看出当fs=200Hz时,频谱出现严重失真(出现混叠);而当fs=1000Hz时,频谱没有失真;fs=500Hz时,频谱刚好处于临界状态。

②时域离散信号、系统和系统响应分析。

a.观察信号xb(n)和系统hb(n)的时域和频域特性;利用线性卷积求信号xb(n)通过系统hb(n)的响应y(n),比较所求响应y(n)和hb(n)的时域及频域特性,注意它们之间有无差别,绘图说明,并用所学理论解释所得结果。

原程序:

函数调用部分:

function[x,n]=impesq(n0,n1,n2)

n=[n1:

n2];

x=[(n-n0)==0];

 

n=0:

3;

xb=impesq(0,0,3);

Hb=impesq(0,0,3)+2.5*impesq(1,0,3)+2.5*impesq(2,0,3)+impesq(3,0,3);

k=-200:

200;

w=(pi/100)*k

aa=xb*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

bb=Hb*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

n=0:

3

subplot(3,2,1);

stem(n,xb);

axis([-2202]);

xlabel('n');

ylabel('xb(n)');

title('xb(n)');

subplot(3,2,2);

plot(w/pi,abs(aa));

axis([-2202]);

xlabel('w/pi');

ylabel('xb(|(jw)|');

title('[xb(ejw)]');

subplot(3,2,3);

stem(n,Hb);

axis([0403]);

xlabel('n');

ylabel('Hb');

title('Hb(n)');

subplot(3,2,4);

plot(w/pi,abs(bb));

axis([-2208]);

xlabel('w/pi');

ylabel('Hb(|(jw)|');

title('[Hb(ejw)]');

n=0:

6

y=conv(xb,Hb);

yy=y*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

subplot(3,2,5);

stem(n,y);

axis([0703]);

xlabel('n');

ylabel('y(n)');

title('xb*Hb');

subplot(3,2,6);

plot(w/pi,abs(yy));

axis([-2208]);

xlabel('w/pi');

ylabel('|Y(jw)|');

title('[Y(ejw)]');

结果分析:

单位冲击序列和任意序列卷积等于任意序列,从仿真图中可以直接看出卷积后的频谱Y/(ejw)/和任意序列的频谱Hb/(ejw)/相同。

b.观察系统ha(n)对信号xc(n)的响应特性。

原程序:

函数调用部分:

function[x,n]=stepseq(n0,n1,n2)

n=[n1:

n2];

x=[(n-n0)>=0];

 

n=0:

18;

xc=stepseq(0,0,9);

Ha=stepseq(0,0,9);

y=conv(xc,Ha);

subplot(2,2,1);

stem(n,y);

axis([020010]);

xlabel('n');

ylabel('y(n)');

title('xc(n)*Ha(n)');

k=-300:

300;

W=(pi/100)*k;

Y=y*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k)

subplot(2,2,2);

plot(W/pi,Y);

axis([-220150]);

xlabel('W/pi');

ylabel('Y(jw)');

title('FT[xc(n)*Ha(n)]');

n=0:

13;

xc1=stepseq(0,0,4);

y=conv(xc1,Ha);

subplot(2,2,3);

stem(n,y);

axis([015010]);

xlabel('n');

ylabel('y(n)');

title('xc1(n)*Ha(n)');

k=-300:

300;

W=(pi/100)*k;

Y=y*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k)

subplot(2,2,4);

plot(W/pi,Y);

axis([-22060]);

xlabel('W/pi');

ylabel('Y(jw)');

title('FT[xc1(n)*Ha(n)]');

 

结果分析:

长度为M的序列X1(n)和长度为N的序列X2(n)做线性卷积后其长度L=M+N-1.

当Xc(n)和Ha(n)的长度都为10,作线性卷积后长度为10+10-1=19,和左上角的仿真结果一致;当Xc(n)和Ha(n)的长度分别为5和10时,作线性卷积后的长度为14,仿真图如左下。

和理论相符合。

③卷积定理的验证。

原程序:

Impesq为调用函数,见上文。

n=0:

3;

hb=impesq(0,0,3)+2.5*impesq(1,0,3)+2.5*impesq(2,0,3)+impesq(3,0,3);

k=-200:

200;

W=(pi/100)*k;

m=hb*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

n=0:

19;

xa=1*exp(-0.4*n*1).*sin(2.0734*n*1);

n=0:

22;

z=conv(xa,hb);

subplot(2,2,1);

stem(n,z);

axis([020-0.51.5]);

xlabel('n');

ylabel('y(n)');

title('xa(n)*hb(n)');

subplot(2,2,2);

Y1=z*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

plot(W/pi,abs(Y1));

axis([-2202.5]);

xlabel('w/pi');

ylabel('|Y(ejw)|');

title('FT[xa(n)*Hb(n)]');

k=-200:

200;

W=(pi/100)*k;

n=0:

19;

c=xa*(exp(-j*pi/100)).^(n'*k);

Y=c.*m;

subplot(2,2,3)

plot(W/pi,Y);

axis([-2202.5]);

xlabel('w/pi');

ylabel('|Y(jw)|');

title('Xa(jw)*Hb(jw)');

结果分析:

由图中可以看出两个序列卷积的傅立叶变换等于其傅立叶的乘积,从而验证了时域卷积定理。

4.思考题

(1)在分析理想采样序列特性的实验中,采样频率不同时,相应理想采样序列的傅里叶变换频谱的数字频率度量是否都相同?

它们所对应的模拟频率是否相同?

为什么?

因为w=ΩT=Ω/fs,所以当采样频率不同时,相应理想采样序列的傅里叶变换频谱的数字频率度量不同,因为模拟信号是一定的,所以对应的模拟频率Ω一定是相同的。

(2)在卷积定理验证的实验中,如果选用不同的频域采样点数M值,例如,选M=10和M=20,分别做序列的傅里叶变换,求得所得结果之间有无差异,为什么?

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