材料分析方法重点

1、第一章一选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是 射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称 A. K;B. K;C. K;D. L.3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选。

2、吸收限：X射线虽然有很强的透射作用，但是经试验证明，X射线通过深度为x处的dx厚度物质其强度的衰减dIx/dx与dx成正比，即 式1.1l为线吸收系数，表明物质对X射线的吸收特征，与密度无关。
式1.1经积分得（积分限0t。

3、材料分析原理与技术重点汇总材料分析原理与技术填空题1. X射线的本质是电磁波,其波长为0.0110nm.它既具有 波动性,又具有粒子性,X射线衍射分析是利用了它的波动性.X射线的核心部件是 X射线发射器.2. X 射线一方面具有波动性,表现。

4、无机非金属材料研究方法重点材料研究方法重点一光学显微分析一晶体光学基础1自然光经过某些物体的反射折射及吸收等作用,得到只在一个固定方向振动的光波,这种光波被称为偏振光,简称偏光.2光性均质体:在光学性质上显示各向同性的物体.一切非晶质体,对。

5、常用材料分析方法简写AAAS 原子吸收光谱法AES 原子发射光谱法AFS 原子荧光光谱法ASV 阳极溶出伏安法ATR 衰减全反射法AUES 俄歇电子能谱法 CCEP 毛细管电泳法CGC 毛细管气相色谱法CIMS 化学电离质谱法CIP 毛细管。

6、材料分析方法课后答案第一章一选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是 A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称 A.K;B. K;C. K;D. L.3. 。

7、材料近代分析测试方法一章 X衍射复习1X射线的产生极其分类. X 射线的产生:一真空二极管,发射电子的灯丝是阴极,阻碍电子运动的金属靶为阳极.在管子两极间加上高电压,使阳极发射出的电子流高速撞击金属阳极靶,产生X射线. 产生条件:要有产生电。

8、AAAS 原子吸收光谱法AES 原子发射光谱法AFS 原子荧光光谱法ASV 阳极溶出伏安法ATR 衰减全反射法AUES 俄歇电子能谱法 CCEP 毛细管电泳法CGC 毛细管气相色谱法CIMS 化学电离质谱法CIP 毛细管等速电泳法CLC 毛。

9、电子衍射材料分析方法第十章 电子衍射一概述透射电镜的主要特点是可以进行组织形貌与晶体结构同位分析.若中间镜物平面与物镜像平面重合成像操作,在观察屏上得到的是反映样品组织形态的形貌图像;而若使中间镜的物平面与物镜背焦面重合衍射操作,在观察屏上。

10、08级 材料分析方法复习材料分析部分习题1. 什么叫相干散射非相干散射荧光辐射吸收限俄歇效应答: 当射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长。

11、图1 粉末衍射的谱线形成和照相法的谱线形成（1）由于粉末柱试样中有上亿个结构相同的小晶粒，同时它们有着一切可能的取向，所以某种面网（dhkl）所产生的衍射线是形成连续的衍射圆锥，对应的圆锥顶角为4hkl。
（2）由于晶体中有很。

12、多色性，吸收性正交偏光下晶体学性质：消光，四次消光，干涉，干涉色及色谱表，补色法则和补色器（石英楔的使用方法），消光类型，延性符号。
正交偏光下的干涉现象及光率体性质鉴定、晶体光学与轴性的鉴定：光率体鉴定即轴性、光型、切片类。

13、现代材料分析方法,郑州航空工业管理学院机电工程学院张新房,CORAl,前言,一现代材料分析方法课程的性质二现代材料分析方法课程的主要内容三现代材料分析方法与本专业其它课程的关系四教材及主要参考书五本课程的考核,一课程性质,本课程是为材料加工。

14、材料分析方法复习总结1.已知某原子的光谱项,能够用能级示意图表示出其光谱支项与塞曼能级.原子能级由符号nMLJ 表示,其中n表示主量子数,即原子层数.M是J可能存在的个数,一般为2S1或2L1;L一般用大写字母SPDFG等表示,分别表示L的。

15、北航材料现代分析方法材料现代分析方法试题1参考答案一基本概念题共10题,每题5分1X射线的本质是什么是谁首先发现了X射线,谁揭示了X射线的本质答:X射线的本质是一种横电磁波伦琴首先发现了X射线,劳厄揭示了X射线的本质2下列哪些晶面属于11晶。

16、材料现代分析方法材料科学研究方法期末复习材料现代分析方法期末复习第 1 页 共 9 页材料现代分析方法重点笔记简答题材料现代分析方法重点笔记简答题材料现代分析方法重点笔记简答题材料现代分析方法重点笔记简答题1一束一束一束一束 X X X X。