14RT复习题.docx
《14RT复习题.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《14RT复习题.docx（19页珍藏版）》请在冰点文库上搜索。
14RT复习题
20140314山西省特种NDT-RT初试班练习题
（特别声明:
仅供参考无任何模拟或考试导向）
一、是非题（在括号内，正确的画○，错误的画X，每题2分，共30分）
1、按照JB/T4730-2005标准，对从事射线检测人员主要要求的规定，包括技术资格、健康条件、视力和上岗前辐射安全知识培训并取得放射工作人员证等。
（○）
2、按照JB/T4730-2005标准规定：
现场进行X射线检测时，应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。
管理区在控制区外，其边界上空气比释动能不大于2.5gGy.h-1。
（×）
3、按照JB/T4730-2005标准规定，铁（Fe）像质计适应于碳钢、低合金钢、不锈钢等材料的照相，但实际工作中，对镍（Ni）合金焊缝照相，如没有Ni丝像质计，也可用钢丝代替。
（○）
4、根据JB/T4730-2005标准规定，透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，采用射线检测技术等级为AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度允许降至2.0。
（×）
5、按照JB/T4730-2005标准规定，单壁透照和双壁单影透照时，像质计放置在胶片侧时，必须进行对比试验。
（×）
6、按照JB/T4730-2005标准的规定，如果采用的焦距为800mm，则对AB级技术推荐的曝光量最小值约为20mA.min。
（○）
7、按照JB/T4730-2005标准的规定，采用AB级技术透照直径为400mm、壁厚为16mm的管道环形焊缝，若射线源的焦点尺寸为3mm,可采用源在中心周向曝光透照方式。
（○）
8、按照JB/T4730-2005标准规定，采用源在内单壁透照方式时，不论焦点尺寸和透照厚度如何变化，只要得到的底片质量符合黑度和灵敏度的要求，射源至工件表面距离f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。
（×）
9、JB/T4730-2005标准规定，采用源在内透照方式，允许f值在一定范围内减小。
这样规定的目的是增加源在内透照方式的应用机会，因为该方式不但能保证底片黑度均匀，而且能减少透照次数，提高效率。
（×）
10、按照JB/T4730-2005标准的规定，当采用AB级技术双壁双影透照直径为75mm、壁厚为4mm的小管焊缝时，底片应识别的象质计丝号为13（直径0.20mm）。
（○）
11、按照JB/T4730-2005标准的规定，透照小口径管环形对接接头时，每次必须放置沟槽专用对比试块IA或IB，用于对未焊透、根部内凹和根部咬边的深度进行侧定。
（×）
12、按JB/T4730-2005标准中给出的确定焦点至工件表面距离的诺模图，采用B级技术透照，如果有效焦点尺寸为3mm,工件表面至胶片距离为l0mm，则可采用的焦点至工件表面的最小距离f约为160mm。
（○）
13、按照JB/T4730-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级技术的要求时，经合同各方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后，可采用A级技术进行射线检测。
（×）
14、由于圆形缺陷点数与安全并无直接关系,所以按照JB/T4730-2005标准规定，底片评定人员有权将各级别的圆型缺陷放宽1～2点。
（×）
15、JB/T4730-2005标准中，所提供的透照次数曲线图只能很快查出公称直径D0>100mm的环向对接焊接接头的最少透照次数。
（○）
二、单项选择题（将唯一正确答案的序号填入括号内，每题2分，共30分）
1、按JB/T4730-2005标准规定，采用源在内中心透照或偏心透照，
允许减小射线源至工件表面距离f值的前提是（C）。
A、工件材料的裂纹敏感性不大B、工件截面厚度变化不大
C、底片的黑度和灵敏度能够满足标准的规定
D、能保证小缺陷检出灵敏度
2、JB/T4730-2005标准对各技术级别的底片黑度值都有所提高，这一规定的主要目的是：
（C）
A、提高底片的清晰度B、扩大一次透照厚度范围
C、提高小缺陷的检出能力D、减少散乱射线对底片的影响
3、以下关于射线能量选择的叙述，与JB/T4730-2005标准规定不相符的是：
（B）
A、X射线照相应尽量选用较低的管电压。
B、对截面厚度变化大的承压类设备,在保证灵敏度的前提下,管电压可以超过图1规定的限值，对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过80KV。
C、采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。
D、采用任何管电压透照所得底片，像质计灵敏度均应达到4.11.3规定要求。
4、以下关于曝光曲线使用的叙述，与JB/T4730-2005标准规定不相符的是：
（A）
A、对使用中的曝光曲线，每次检测前应进行校验。
B、对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线。
C、应依据曝光曲线所确定的参数来进行实际检测。
D、X射线机更换高压包等重要部件后，应对曝光曲线进行校验或重新制作。
5、以下关于增感屏使用的叙述，与JB/T4730-2005标准规定不相符的是：
（D）
A、高能X射线照相，可使用钢屏或铜屏也可以使用铅屏。
B、Se-75源照相，AB级一般采用厚度为0.1～0.2mm的铅屏。
C、Ir-192源照相，选择增感屏厚度时应考虑所采用的照相技术等级。
D、CO-60源照相，不允许使用钢屏或铜屏。
6、JB/T4730标准规定：
采用AB级技术，源在外单壁透照外径为350mm、壁厚20mm的环形对接接头，要求100%检测，如果焦距为600mm,按标准附录D确定的最少透照次数应为（A）次。
A、8B、9C、10D、11
7、JB/T4730-2005标准中，与照相技术等级有关的规定是（C）。
A、允许使用的最高透照电压的规定
B、无用射线和散乱射线屏蔽的规定
C、一次透照长度的规定
D、小径管对接接头透照次数的规定
8、以下关于缺陷评定的叙述，与JB/T4730-2005标准规定不相符的是：
（D）
A、圆形缺陷用圆形缺陷评区进行质量分级评定。
B、圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
C、当各类缺陷评定质量级别不同时，以质量最差的级别作为对焊接接头的质量级别。
D、在圆形缺陷评定区域内同时存在圆形缺陷和条状夹渣或未焊透时，应进行综合评级，以两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
9、以下关于JB/T4730-2005标准，双壁双影透照时像质计使用规定的理解的叙述，错误的是：
（D）
A、像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
B、当像质计放置在胶片侧时，必须放置铅字“F”标记。
C、如使用等径像质计，底片上应至少能识别两根金属丝。
D、如使用等径像质计，金属丝可横跨焊缝放置，也可平行焊缝放置。
l0、以下关于小径管对接接头射线照相的叙述，与JB/T4730-2005标准规定不相符的是：
（B）
A、椭圆成像时，应控制影象开口宽度在1倍焊缝宽度左右。
B、按100%检测要求进行垂直透照重叠成像，当T/D0≤0.12时，相隔90℃透照两次，当T/DO>0.12时，应相隔1200或600透照3次。
C、壁厚小于或等于8mm且焊缝宽度小于等于DO/4时，方可采用椭圆成像透照。
D、由于结构原因不能多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围。
11、下列叙述中，与JB/T4730-2005标准的规定不相符合的是（C）
A．对初次制定的射线检验工艺，应进行背散射防护检查
B．标记应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位
C．使用中的曝光曲线，每半年应校验一次
D．黑度计至少6个月校验一次
12、以下关于多胶片技术应用的叙述，哪项不符合JB/T4730-2005标准规定要求：
（B）
A、采用双片透照单片观察方法时，AB级技术的底片有效评定区黑度范围应控制在2.0≤D≤4.0
B、采用双片透照单片观察方法时，所使用的胶片可以是两种感光速度不同的胶片，也可以是两张感光速度相同的胶片
C、双片透照双片叠加观察的方法仅限于A级技术
D、双片透照双片叠加观察时，单片黑度不得低于1.3
13、按照JB/T4730-2005标准规定，用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用T2或更高类别的胶片．以下对于这一规定的理解的叙述，哪项是不正确的：
（D）
A、高类别胶片梯度大，有利于提高裂纹缺陷影像对比度
B、高类别胶片颗粒度小，有利于提高裂纹影像细节显示
C、高类别胶片信噪比高，有利于提高裂纹缺陷影像识别度
D、高类别胶片感光速度慢，有利于准确控制曝光时间
14、小径管环向焊缝X射线检测，由于结构原因不能进行多次透照时，采取以下哪项措施不能起到扩大检出范围的作用？
（D）
A、提高管电压B、窗口前加滤波板
C、双胶片技术D、增加曝光量
15、JB/T4730-2005标准规定：
经合同各方同意，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度满足要求的前提下，Ir-192源和Se-75源的最小透照厚度允许降低。
这里的“有效补偿措施”不包括（C）。
?
A、提高底片黑度B、选用T2或T1类胶片
C、选用更小的一次透照长度D、采用双片技术?
三、工艺题（本题40分）
现有一在制III类容器——高压空气贮存器，筒体规格为Ф520Х60mm，材质16Mn锻，B3、B4接管的规格为Ф60Х10mm，材质为20G，筒体焊缝采用埋弧自动焊焊接，其结构如图1-1所示。
现要求对环缝B1采用γ射线检测。
可提供的检测设备和材料有：
Ir192射线仪（初始活度100Ci，已出厂120天）；天津III型、天津V型胶片（胶片规格：
360×100，200×100㎜）；曝光曲线见图1-3。
请编制B1环缝射线检测工艺（直接填写在提供的工艺卡中），并将射源放置、像质计使用、标记摆放、散射线屏蔽、透照技术等要求填写在说明栏中。
并回答相关问题。
图1-1
图1-2.RF-250EG·S2X射线机曝光曲线图图1-3.Ir192曝光曲线图
（焦点：
2㎜×2㎜）（焦点：
Φ3㎜×3㎜）
注：
曝光曲线图仅供解试题用
对接焊缝B1照相工艺卡
产品名称
高压空气存储器
产品类别
III类
焊接方法
CO2气体保护焊
部件名称
筒体与平封头（下）
产品材质
16MnIV
产品规格
Φ520×60mm
执行标准
JB/T4730.2-2005
照相技术级别
AB
验收等级
II级
设备型号
焦点尺寸（mm）
4.5X4.5mm
检测比例
胶片牌号
天津V型
胶片规格（mm）
增感屏（mm）
Pb0.1mm
底片黑度
2.0-4.0
像质计灵敏度值
7（0.80）
K值
1.1
显影时间
5min
显影温度
20℃
检测时机
焊后经外观检验合格
焊缝
编号
焊缝
长度
（mm）
检测
比例
（%）
透照
厚度W
（mm）
透照方式
焦距F（mm）
一次透照长度L3
（mm）
透照张数N
张/条
射线能量KV
或
源活度Ci
曝光
时间
（min）
B2
1633
60
源在?
单壁透照
33Ci
?
透照布置示意图（图示画出射线源、胶片、像质计、位置标记的摆放位置要求）
技术要求及
说明
1、采用源在外单壁透照，要求射线束垂直于焊缝表面；
2、胶片背后采用铅板屏蔽背散射射线；
3、像质计、搭接标记置于源侧；其余标记放于胶片侧
4、小径管注意屏蔽
编制
×××（级）
审核人
×××（级）
批准人
问答题（每题3分，共15分）：
1、B1和B2焊缝需要采用哪几种无损检测方法实施检测？
检测比例各为多少？
并说明依据或理由。
2、选择透照方式应考虑的因素有哪些？
环缝B1、B2、B3、B4各应采用哪种透照方式？
答；选择透照方式的原则是①应根据法规和工件结构形式优先选择单壁透照②在单壁不能实施的情况下，方采用双壁透照③双壁双影只应用于小径管透照。
依据上述原则，该环缝可采用源在内中心曝光和源在外单壁透照法。
但结合焦距的确定，当选择源在内中心曝光时，f=200mm（内半径）；而通过查表或公式计算可知，采用Ir192时，最小f=600mm，依据标准要求，当采用中心曝光时，f允许减小50%，即f可为300mm，远远大于内半径，不能满足要求，因此只能采取源在外单壁透照。
3、确定焦距的方法有哪些？
环缝B3和B4应选用多大的焦距？
答：
选择的焦距应满足几何不清晰度的规定，同时保证有一定范围的辐射场。
通过查表可知：
f=700mm，加上壁厚60mm，垫板厚度6mm，焦距F=766mm，结合一次透照长度的确定，在此选择F>900mm即可。
4、对环缝B2、B4进行透照时，若用X射线机进行检测，曝光量最低为多少？
答：
依据标准要求，当F=700mm时，曝光量不得小于15mA。
min，当焦距改变时，按平方反比定律折算，最小曝光量应为24mA。
min。
所选曝光量应大于所规定值。
依据曝光曲线选择对应360KV值的分钟数。
对小径管可提高KV值、短时间，但应保证适当曝光量。
三．工艺题：
（70分）
得分：
阅卷人:
下图为容器2个部件。
容器编号为2005-01,容器类别为Ⅲ类.
部件1：
材质为16MnR,外径500mm，壁厚30mm，A1缝长750mm；
部件2：
材质为20#钢,规格为φ89×8.7mm的小管。
要求两个部件的焊缝均按JB/T4730.2—2005进行100%射线检测，AB级照相，Ⅱ级合格。
已知条件为：
2505EG—S2、3005EG—S2型X光机各一台，X光机管电流均为5mA。
焦点尺寸均为3×3mm。
两台设备的曝光曲线见附图2a，2b。
请按要求编制射线检测工艺卡。
容器部件示意图
射线检测工艺卡
NO:
RT2005---01
产品编号
2005-01
产品名称
换热器
容器类别
Ⅱ类
检测标准
JB/T4730---05
照相等级
AB级
合格级别
Ⅲ级
底片黑度
2.0----4.0
铅屏厚度
0.05/0.1
胶片型号
天津Ⅲ
显影配方
天津胶片厂
推荐
显影温度
20℃
显影时间
5分钟
焊缝
编号
焊缝长度
mm
检测
比例%
透照
方式
透照
厚度
mm
应识别丝号
焦距mm
一次透照长度mm
拍片张数
设备型号
KV
曝光
时间
A1
100
20
单壁外透
16
11
600
100
1
2505EGS2
150或190
3分
或
2分
A6
100
20
单壁外透
16
11
600
100
1
2505EGS2
A2
1400
20
单壁外透
16
11
600
250
2
2505EGS2
A5
1400
20
单壁外透
16
11
600
250
2
2505EGS2
A3
1600
20
单壁外透
16
11
600
250
2
2505EGS2
A4
1600
20
单壁外透
16
11
600
250
2
2505EGS2
B1—B5
5*2400
20
单壁外透
16
11
600
185
5*3
2505EGS2
或
B1—B5
5*2400
20
单壁内透
16
11
650
250
5*2
2505EGS2
190
2.3分
透照说明:
1.单壁透照像质计置于射线源侧;
2.抽查部位由质检员现场指定,但环缝透照时丁字缝要100%检测;
3.纵缝划线从丁字缝开始量,第一张片和最后一张片的中心位置距丁字缝100mm（或120mm）;
透照布置示意图：
略
编制：
XXX审核：
XXX05年11月28日
三.问答题：
（共26分）
1、（6分）在JB/T4730.2-2005标准中，射线检测技术分级（A、AB、B）与许多检测参数有关。
请说出这些参数的名称？
2、（5分）在壁厚30mm、长度300mm的焊缝底片上，10×20mm评定区内发现两个圆形缺陷和单个条状夹渣缺陷，其中圆形缺陷长径为Φ3和Φ5，条状夹渣为8mm，按本标准评定，该底片应评定为几级。
3、（5分）JB/T4730.2-2005标准中，对射线底片上的标记有哪些要求？
4、（10分）用XXQ-2505射线机对φ325×10焊工考试试件（试件长300mm）对接焊缝进行X射线拍片，透照时焦距选择为490mm，请回答下列问题
（1）搭接标记摆放在源侧还是胶片侧?
（2）底片应看到的像质计丝号?
（3）该焊缝最少透照张数?
（4）拍片时最少曝光时间（近似值）?
题型
是非题
选择题
问答题
计算题
总分
统计人
复查人
日期
分数
一．是非题：
（20题，每题2分，共40分。
对画○，错画×。
）得分：
阅卷人:
1．对于低能量射线和原子序数高的物质，光电效应占优势。
（O）
2．不稳定同位素在衰变过程中始终要辐射γ射线。
（X）
3．X射线管中撞见阳极靶的电子速度越小，则所发出的射线能量也就越小。
（O）
4．连续X射线穿透物质后，能量降低，平均波长变短。
（X）
5．当射线穿过三个半阶层以后，其强度仅剩下最初强度的1/3。
（X）
6．标识X射线在工业射线检测中几乎不起作用。
（O）
7．采用铅箔增感时，增感系数与射线能量有关，钴60的增感系数比铱192低。
（O）
8．利用阴极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阳极侧小。
（X）
9．Co60射线源总是比Ir192射线源对人体的伤害大。
（X）
10．JB4730-2005标准（报批稿）规定，采用X射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，
应采用T2类或更高类别的胶片。
（X）
11．观片时发现底片上在较黑背景上出现“B”字较淡影像，说明底片未受背散射影响。
（X）
12．底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。
（O）
13．照射量的概念只适用于光子能量大约在几千伏到3MV之间的X射线或γ射线。
（O）
14．底片上显示的像质计的像质指数越大，底片的灵敏度也就越高。
（O）
15．不同类型的胶片，基本区别在于AgBr的颗粒尺寸不同。
（O）
16．铅箔增感屏除有增感作用外，也有减少散射线的作用。
（O）
17．底片黑度定义为透光率的常用对数值的倒数（X）
18．高能X射线照相的不清晰度主要是固有不清晰度，几何不清晰度的影响几乎可以忽略。
（O）
19．显影不足或过度，会影响底片的黑度、反差和灰雾度，但不影响颗粒度。
（X）
20．JB4730-2005标准（报批稿）规定，钢制和铜制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级的要求是一样的。
（O）
二．选择题：
（单项选择，10题，每题2分，共20分。
）
得分：
阅卷人：
1．原子核的核电荷数等于：
（B）
A.中子数B.原子序数C.光子数D.原子量
2．X射线管所产生的连续X射线的总强度与管电压的关系是：
（D）
A.强度与管电压成反比B.强度与管电压成正比
C.强度与管电压的平方成反比D.强度与管电压的平方成正比
3．在胶片特性曲线上可以得到胶片的技术性能参数的是：
（D）
A.胶片的反差系数B.胶片的本底灰雾度
C.正常的曝光范围D.以上都是
4．检验人员每年允许接受的最大射线照射剂量为：
（A）
A.5×10-2希沃特B.5×10-3希沃特C.2.5×101雷姆D.2.5×102雷姆
5．以下哪一因素对胶片对比度不产生影响：
（A）
A.射线能量B.胶片颗粒度C.底片黑度D.显影条件
6．JB4730-2005标准（报批稿）规定，射线检测技术级别为B级,纵向焊接接头一次透照长度的透照厚度比K值：
（B）
A.K≤1.03B.K≤1.01C.K≤1.1D.K≤1.06
7．下面关于底片噪声的说法正确的是：
（C）
A.所谓底片噪声就是底片黑度B.只有信噪比降低，缺陷才容易识别
C.曝光时间增大，信噪比不断提高D.管电压增大，信噪比不断提高
8．透照厚度差较大的工件，置于工件和射源之间的滤板作用是：
（D）
A.降低射线的硬度B.缩短曝光时间
C.吸收背散射线D.使透过射线有效能量提高，减少边蚀散射。
9．决定细节在射线底片上可识别最小尺寸的是：
（D）
A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是
10．JB4730-2005标准（报批稿）规定，用Co－60透照钢、不锈钢材料AB级的厚度范围是：
（A）
A.40～200B.60～150C.40～150D.60～200
三．问答题：
（4题，每题5分，共20分。
）
得分：
阅卷人：
1．什么叫射线的线质？
连续X射线的线质怎样表示？
答：
线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较硬，穿透力较弱的射线称其线质较软。
对单色射线，线质可用光子能量或波长定量表示，对连续X射线，因其能量和波长是连续分布的，一般可用半价层，吸收系数或有效能量来定量表示。
2．射线胶片有哪些特性参数？
哪几项可在特性曲线上表示出来？
如何表示？
答：
射线胶片的特性参数主要有：
感光度（S），梯度（G），灰雾度（D0），宽容度（L），颗粒度（Gr）。
其中前四项可以特性曲线上定量表示出来。
感光度S=1/E
梯度（G）G=tgα（平均梯度G=2/（lgE2-lgE1）
灰雾度（D0）D0:
曲线与纵座标交点值
宽容度（L）L=lgE2-lgE1
3．像质计灵敏度是否等于缺陷灵敏度？
答：
象质计灵敏度是证人射线照相技术质量的一种手段。
一般说来，象质计灵敏度越高，发现缺陷的能力越强，但象质计灵敏度和缺陷探测灵敏度之间不能划等号，后者的情况复杂得多，是缺陷自身几何形状、吸收系数、位置及取向角度的复合函数。
虽然人们设计了各种型式的象质计，但到目前为止，还没有一种完美的象质计，能恰当反映出射线照相技术对各种自然缺陷的探测能力。
4．按JB4730-2005（报批稿）规定，简述有关γ射源透照技术的要求。
答：
1．用中心内透法时，允许透照的最小厚度可为表4规定值的一半，即AB级，Se-75：
5㎜；Ir-192：
10㎜；Co-60：
20㎜。
附加条件：
IQI灵敏度满足要求。
2．用非中心内透法时，允许最小透照厚度：
Se-75，5㎜；Ir-192，10㎜。
附加条件：
有有效补偿措施；IQI灵敏度满足要求；合同各方同意。
3．用γ射源透照裂纹敏感性大的材料时，应采用T2类或更优类别的胶片。
四．计算题：
（每题5分；共4题、20分）
得分：
阅
升级会员 