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倒易矢量的长度等于对应。
2.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该满足条件，能产生。
3.影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有，，，。
4.考虑所有因素后的衍射强度公式为，对于粉末多晶的相对强度为。
5.结构振幅用表示，结构因素用表示，结构因素=0时没有衍射我们称或。
对于有序固溶体，原本消光的地方会出现。
三、选择题
1.最常用的X射线衍射方法是（）。
A.劳厄法；
B.粉末多法；
C.周转晶体法；
D.德拜法。
2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。
A.正装法；
B.反装法；
C.偏装法；
D.A+B。
3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（）。
A.<
325目；
B.>
250目；
C.在250-325目之间；
D.任意大小。
4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）。
A.保持同步1﹕1；
B.2﹕1；
C.1﹕2；
D.1﹕0。
5.衍射仪法中的试样形状是（）。
A.丝状粉末多晶；
B.块状粉末多晶；
C.块状单晶；
D.任意形状。
四、填空题
1.在粉末多晶衍射的照相法中包括、和。
2.德拜相机有两种，直径分别是和Φmm。
测量θ角时，底片上每毫米对应º
和º
3.衍射仪的核心是测角仪圆，它由、和共同组成。
4.可以用作X射线探测器的有、和等。
5.影响衍射仪实验结果的参数有、和等。
五、选择题
1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。
A.外标法；
B.内标法；
C.直接比较法；
D.K值法。
2.X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。
A.Hanawalt索引；
B.Fenk索引；
C.Davey索引；
D.A或B。
3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（）。
A.相机尺寸误差；
B.底片伸缩；
C.试样偏心；
D.A+B+C。
4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。
A.第一类应力（宏观应力）；
B.第二类应力（微观应力）；
C.第三类应力；
5.Sin2Ψ测量应力，通常取Ψ为（）进行测量。
A.确定的Ψ角；
B.0-45º
之间任意四点；
C.0º
、45º
两点；
D.0º
、15º
、30º
四点。
六、填空题
6.在Δθ一定的情况下，θ→º
，Δsinθ→；
所以精确测定点阵常数应选择θ。
7.X射线物相分析包括和，而更常用更广泛。
8.第一类应力导致X射线衍射线；
第二类应力导致衍射线；
第三类应力导致衍射线。
9.X射线测定应力常用仪器有和，常用方法有和。
10.X射线物相定量分析方法有、、等。
七、选择题
1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（4*10-5）。
A.1000；
B.10000；
C.40000；
D.600000。
2.可以消除的像差是（）。
A.球差；
B.像散；
C.色差；
3.可以提高TEM的衬度的光栏是（）。
A.第二聚光镜光栏；
B.物镜光栏；
C.选区光栏；
D.其它光栏。
4.电子衍射成像时是将（）。
A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；
B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；
C.关闭中间镜；
D.关闭物镜。
5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。
A.物镜的物平面；
B.物镜的像平面C.物镜的背焦面；
D.物镜的前焦面。
八、填空题
11.TEM中的透镜有两种，分别是物镜和目镜。
12.TEM中的三个可动光栏分别是第二聚光镜光栅位于第二聚光镜下方焦点位置，物镜光栅位于物镜后焦面上，选区光栅位于物镜像平面位置。
13.TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。
14.TEM的主要组成部分是照明系统、成像系统和观察记录系统；
辅助部分由真空系统、循环冷却系统和、控制系统组成。
15.电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
九、选择题
1.单晶体电子衍射花样是（）。
A.规则的平行四边形斑点；
B.同心圆环；
C.晕环；
D.不规则斑点。
2.薄片状晶体的倒易点形状是（）。
A.尺寸很小的倒易点；
B.尺寸很大的球；
C.有一定长度的倒易杆；
D.倒易圆盘。
3.当偏离矢量S<
0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（）。
A.球面外；
B.球面上；
C.球面内；
D.B+C。
4.能帮助消除180º
不唯一性的复杂衍射花样是（）。
A.高阶劳厄斑；
B.超结构斑点；
C.二次衍射斑；
D.孪晶斑点。
5.菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；
B.确定180º
不唯一性；
C.鉴别有序固溶体；
D.精确测定晶体取向。
6.如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（）。
A.六方结构；
B.立方结构；
C.四方结构；
一十、填空题
16.电子衍射和X射线衍射的不同之处在于不同、不同，以及不同。
17.电子衍射产生的复杂衍射花样是、、、和。
18.偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是θ角布拉格方程的程度。
19.单晶体衍射花样标定中最重要的一步是。
20.二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在产生衍射花样，但体心立方和面心立方结构的花样中。
一十一、选择题
1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（）。
A.明场像；
B.暗场像；
C.中心暗场像；
D.弱束暗场像。
2.当t=5s/2时，衍射强度为（）。
A.Ig=0；
B.Ig<
0；
C.Ig>
D.Ig=Imax。
4.当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（）。
A.质厚衬度；
B.衍衬衬度；
C.应变场衬度；
D.相位衬度。
5.当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（）。
A.小于真实粒子大小；
B.是应变场大小；
C.与真实粒子一样大小；
D.远远大于真实粒子。
一十二、填空题
21.运动学理论的两个基本假设是入射电子在样品内只能受到不多于一次的散射和入射电子波在样品内传播过程中，强度的衰减可以忽略。
22.对于理想晶体，当或连续改变时衬度像中会出现或。
23.对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的点阵畸变导致衍射波振幅增加了一个附加的位相因子，但是若位相角=2π的整数倍时，缺陷也不产生衬度。
24.一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行，但孪晶的平行线，而层错的平行线是的。
25.实际的位错线在位错线像的，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是因为位错线像的宽度是宽度。
一十三、选择题
1.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）。
A.背散射电子；
B.二次电子；
C.吸收电子；
D.透射电子。
2.在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（）。
A.和电子束垂直的表面；
B.和电子束成30º
的表面；
C.和电子束成45º
D.和电子束成60º
的表面。
3.可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（）。
B.吸收电子；
C.特征X射线；
D.俄歇电子。
4.扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）。
A.波谱仪；
B.能谱仪；
C.俄歇电子谱仪；
D.特征电子能量损失谱。
5.波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（A）。
A.快速高效；
B.精度高；
C.没有机械传动部件；
D.价格便宜。
一十四、填空题
26.电子束与固体样品相互作用可以产生
、、、、、等物理信号。
27.扫描电子显微镜的放大倍数是的扫描宽度与的扫描宽度的比值。
在衬度像上颗粒、凸起的棱角是衬度，而裂纹、凹坑则是衬度。
28.分辨率最高的物理信号是为nm，分辨率最低的物理信号是为nm以上。
29.电子探针包括和两种仪器。
30.扫描电子显微镜可以替代进行材料观察，也可以对进行分析观察。
1.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？
答：
⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。
或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
⑸当原子中K层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。
如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。
即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。
14.当体心立方点阵的体心原子和顶点原子种类不相同时，关于H+K+L=偶数时，衍射存在，H+K+L=奇数时，衍射相消的结论是否仍成立?
假设A原子为顶点原子，B原子占据体心，其坐标为：
A：
000（晶胞角顶）
B：
1/21/21/2（晶胞体心）
于是结构因子为：
FHKL=fAei2π（0K+0H+0L）+fBei2π（H/2+K/2+L/2）
=fA+fBeiπ（H+K+L）
因为：
enπi=e－nπi=（－1）n
所以，当H+K+L=偶数时:
FHKL=fA+fB
FHKL2=（fA+fB）2
当H+K+L=奇数时:
FHKL=fA－fB
FHKL2=（fA－fB）2
从此可见,当体心立方点阵的体心原子和顶点原主种类不同时，关于H+K+L=偶数时，衍射存在的结论仍成立，且强度变强。
而当H+K+L=奇数时，衍射相消的结论不一定成立，只有当fA=fB时,FHKL=0才发生消光，若fA≠fB，仍有衍射存在，只是强度变弱了。
15.物相定性分析的原理是什么？
对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？
物相定性分析的原理：
X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na,Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。
定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
16.有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别？
有效放大倍数是把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0.2mm），让人眼能分辨的放大倍数。
放大倍数是指显微镜本身具有的放大功能，与其具体结构有关。
放大倍数超出有效放大倍数的部分对提高分辨率没有贡献，仅仅是让人观察得更舒服而已，所以放大倍数意义不大。
显微镜的有效放大倍数、分辨率才是判断显微镜性能的主要参数。
比较光学显微镜和电子显微镜成像的异同点。
电子束的折射和光的折射有何异同点？
（1）
光学显微镜
电子显微镜
照明光源
可见光
电子波
的性质
波动性
粒子性和波动性
成像原理
光波通过玻璃透镜而发生折射，从而会聚成像。
电子束在轴对称的非均匀电场或磁场的作用下，而发生折射，从而产生电子束的会聚与发散，以达到成像的目的！
透镜的
放大倍数
一般最高在1000～1500之间
远远高于光学显微镜的放大倍数，其分辨本领高至纳米量级。
分辨率的
影响因素
分辨本领主要取决于照明源的波长。
衍射效应和像差对分辨率都有影响。
透镜的像差
球面像差、色像差、
像域弯曲
球差、像散、色差
透镜焦距
固定不变
可变
透镜的功能
仅局限于形貌观察
集形貌观察、晶体结构、成分分析与一体。
透镜的主要组成部分
焦距很短的物镜、
焦距很长的目镜。
照明系统、成像系统、
观察与记录系统、
（2）光波可通过玻璃透镜而发生折射，从而会聚成像；
而电子波不同，它只能在外在条件才能发生折射，即轴对称的非均匀电场和磁场可以让电子束折射，从而产生电子束的会聚与发散，以达到成像的目的。
电子折射与广折射不同，因为电子走的轨迹是空间曲线，而光折射是直线传播。
17.试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
答:
当电子束穿过较厚的完整单晶体样品时，衍射图上除斑点花样外，又出现一些平行的亮暗线对，这就是菊池线。
利用菊池图与试验得到的菊池衍射图对比可直接确定晶体取向，而无需进行繁琐的指数标定和晶体取向的计算；
可控制样品转到所需晶带轴的倾转方向和角度。
当样品倾斜时，衍射斑点位置无明显改变，而菊池线对明显移动，故可以精确测定晶体取向。
18.何谓衬度？
衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。
19.电子束和固体样品作用时会产生哪些信号？
它们各具有什么特点？
和光学显微镜相比，扫描电子显微镜具有能连续改变放大倍率，高放大倍数，高分辨率的优点；
扫描电镜的景深很大，特别适合断口分析观察；
背散射电子成像还可以显示原子序数衬度。
和透射电子显微镜相比，扫描电镜观察的是表面形貌，样品制备方便简单。
1.电子束和固体样品作用时会产生哪些信号？
具有高能量的入射电子束与固体样品表面的原子核以及核外电子发生作用，产生下图所示的物理信号
1：
背散射电子
背散射电子是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子，其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
弹性背散射电子是指被样品中原子核反弹回来的散射角大于90°
的那些入射电子，其能量基本上没有变化。
非弹性背散射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹性散射而造成的，不仅能量变化，方向也发生变化。
背散射电子的产生范围在1000Å
到1mm深，由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成分分析。
2：
二次电子
二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
二次电子来自表面50-500Å
的区域，能量为0-50eV。
它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。
由于它发自试样表面层，入射电子还没有较多次散射，因此产生二次电子的面积与入射电子的照射面积没多大区别。
所以二次电子的分辨率较高，一般可达到50-100Å
扫描电子显微镜的分辨率通常就是二次电子分辨率。
二次电子产额随原子序数的变化不明显，它主要决定于表面形貌。
3．吸收电子
入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收，此即为吸收电子。
入射电子束射入一含有多元素的样品时，由于二次电子产额不受原子序数影响，则产生背散射电子较多的部位其吸收电子的数量就较少。
因此，吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
4．透射电子
如果样品厚度小于入射电子的有效穿透深度，那么就会有相当数量的入射电子能够穿过薄样品而成为透射电子。
样品下方检测到的透射电子信号中，除了有能量与入射电子相当的弹性散射电子外，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子。
其中有些待征能量损失DE的非弹性散射电子和分析区域的成分有关，因此，可以用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。
5．特性X射线
特征X射线是原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。
发射的X射线波长具有特征值，波长和原子序数之间服从莫塞莱定律。
因此，原子序数和特征能量之间是有对应关系的，利用这一对应关系可以进行成分分析。
如果用X射线探测器测到了样品微区中存在某一特征波长，就可以判定该微区中存在的相应元素。
6．俄歇电子
如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量DE不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。
因为每一种原子都有自己特定的壳层能量，所以它们的俄歇电子能量也各有特征值，一般在50-1500eV范围之内。
俄歇电子是由试样表面极有限的几个原于层中发出的，这说明俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。
20.和波谱仪相比，能谱仪在分析微区化学成分时有哪些优缺点？
能谱仪全称为能量分散谱仪（EDS）。
Si（Li）能谱仪的优点：
（1）分析速度快
能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分析和确定样品中含有的所有元素，带铍窗口的探测器可探测的元素范围为11Na~92U
（2）灵敏度高
X射线收集立体角大，由于能谱仪中Si（Li）探头可以放在离发射源很近的地方（10㎝左右），无需经过晶体衍射，信号强度几乎没有损失，所以灵敏度高（可达104cps/nA，入射电子束单位强度所产生的X射线计数率）。
此外，能谱仪可在低入射电子束流（10-11A）条件下工作，这有利于提高分析的空间分辨率。
（3）谱线重复性好
由于能谱仪没有运动部件，稳定性好，且没有聚焦要求，所以谱线峰值位置的重复性好且不存在失焦问题，适合于比较粗糙表面的分析工作。
能谱仪的缺点：
（1）能量分辨率低
峰背比低。
由于能谱仪的探头直接对着样品，所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到，从而使得Si（Li）检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时，背底也相应提高,谱线的重叠现象严重。
故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差。
能谱仪的能量分辨率（130eV）比波谱仪的能量分辨率（5eV）低。
（2）工作条件要求严格
Si（Li）探头必须始终保持在液氦冷却的低温状态，即使是在不工作时也不能中断，否则晶体内Li的浓度分布状态就会因扩散而变化，导致探头功能下降甚至完全被破坏。
21.原子发射光谱是怎么产生的？
其特点是什么?
原子的外层电子由高能级向低能级跃迁，能量以电磁辐射的形式发射出去，这样就得到发射光谱。
原子发射光谱特点是线状光谱。
22.解释下列名词：
（1）分析线、共振线、灵敏线、最后线；
（2）定量分析内标法中的内标线、分析线对。
（1）进行分析时所使用的谱线称为分析线。
以基态为跃迁能级的光谱称为共振线，或者说具有最低激发电位的谱线称为共振线，一般说是该元素的最强谱线。
灵敏线是元素激发电位低、强度较大的谱线，多是共振线。
最后线是指当样品中某元素的含量逐渐减少时，最后仍能观察到的几条谱线。
它也是该元素的最灵敏线。
（2）在分析元素的谱线中选一根谱线，称为分析线；
再在基体元素（或加入定量的其它元素）的谱线中选一根谱线，作为内标线。
这两条线组成分析线对。
然后根据分析线对的相对强度与被分析元素含量的关系式进行定量分析。
23.原子吸收分析中为什么选择共振线作吸收线?
共振线是元素的特征谱线，最易发生、吸收最强、最灵敏线。
24.解释下列名词：
（1）谱线半宽度；
（2）积分吸收；
（3）峰值吸收；
（4）锐线光源。
（1）谱线半宽度：
在吸收线轮廓上，峰值吸收值一半处的频率或波长称为吸收线的半宽度。
（2）积分吸收：
在吸收线轮廓内，以吸收系数对频率积分称为积分吸收。
（3）峰值吸收：
吸收线中心频率处的吸收系数K0为峰值吸收系数，简称峰值吸收。
（4）锐线光源：
能发射谱线半宽度很窄的发射线的光源。
25.原子荧光光谱是怎么产生的?
有几种类型?
气态自由原子吸收光源的特征辐射后，原子的外层电子跃迁到较高能级，然后又跃迁返回基态或较低能级，同时发射出与原激发辐射波长相同或不同的辐射即为原子荧光。
原子荧光属光致发光，也是二次发光。
当激发光源停止照射后，再发射过程立即停止。
原子荧光可分为共振荧光、非共振荧光与敏化荧光等三种类型
26.红外光谱定性分析的基本依据是什么？
简要叙述红外定性分析的过程。
定性分析的基本依据是红外吸收带的波长位置和吸收谱带的强度。
定性分析的过程：
（1）试样纯化；
（2）了解试样的来源及性质和其他实验资料；
（3）制样，记录红外吸收光谱；
（4）谱图解析；
如下例：
（5）和标准谱图对照。
27.何谓“指纹区”？
它有什么特点和用途？
是由于C-C、C-O、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架中多数基团的弯曲振动而产生的吸收光谱，非常复杂，如同人的指纹一样，没有两人完全一样。
只要在化学结构上存在微小的差异（如同系物、同分异构体和空间异构体），在指纹区的吸收都有明显的不同，所以，“指纹区”对化合物的鉴别很有用。
28.简述X射线光电子能谱的分析特点。
X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来分析材料成分和原子价态等。
它的分析特点有：
1.分析的成分是材料10nm以内的表层成分；
2.可以通过对化学位移的分析，给出所含元素的化学结构；
3.是一种无损分析方法（样品不被X射线分解）；
4.是一种超微量分析技术（分析时所需样品量少）；
5.是一种痕量分析方法（绝对灵敏度高）。
但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高，只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。
8.电子衍射与X射线衍射有那些区别？
可否认为有了
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