数字信号处理上机实验Word文档下载推荐.docx

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xb(n)=δ(n)

c.矩形序列:

xc(n)=RN(n),N=10

②系统单位脉冲响应序列产生子程序。

本实验要用到两种FIR系统。

a.ha(n)=R10(n);

b.hb(n)=δ(n)+2.5δ(n-1)+2.5δ(n-2)+δ(n-3)

③有限长序列线性卷积子程序

用于完成两个给定长度的序列的卷积。

可以直接调用MATLAB语言中的卷积函数conv。

conv用于两个有限长度序列的卷积,它假定两个序列都从n=0开始。

调用格式如下:

y=conv(x,h)

(3)调通并运行实验程序,完成下述实验内容

①分析采样序列的特性。

采样信号xa(n)的参数为A=444.128,a=50

=50

a.取采样频率fs=1kHz,,即T=1ms。

b.改变采样频率,fs=300Hz,观察|X(e^jω)|的变化,并做记录(打印曲线);

进一步降低采样频率,fs=200Hz,观察频谱混叠是否明显存在,说明原因,并记录(打印)这时的|X(e^jω)|曲线。

程序代码如下:

function[y]=x(t,A,a,omiga0)

y=A*exp(-a*t).*sin(omiga0*t).*u(t);

end

%分析采样序列特性

A=444.128;

a=50*2^0.5*pi;

omiga0=50*2^0.5*pi;

fs1=1000;

fs2=300;

fs3=200;

w=linspace(-2*pi,2*pi,10000);

n=0:

49;

x1=x(n/fs1,A,a,omiga0);

x2=x(n/fs2,A,a,omiga0);

x3=x(n/fs3,A,a,omiga0);

X1=x1*exp(-j*n'

*w);

X2=x2*exp(-j*n'

X3=x3*exp(-j*n'

subplot(3,2,1);

stem(n,x1,'

.'

);

ylabel('

y'

xlabel('

n'

title('

时间函数'

subplot(3,2,2);

plot(w/pi,abs(X1),'

r'

|X(jf)|'

\omega/\pi'

频谱图'

text(1.5,1200,'

f=1000Hz'

subplot(3,2,3);

stem(n,x2,'

subplot(3,2,4);

plot(w/pi,abs(X2),'

text(1.5,500,'

f=300Hz'

subplot(3,2,5);

stem(n,x3,'

subplot(3,2,6);

plot(w/pi,abs(X3),'

text(1.5,250,'

f=200Hz'

图1对xa不同取样频率得到的取样图和频谱图

由图可知,采样频率不同,所得到的采样后信号和其傅里叶变换都不同。

fs=1000Hz时,频谱的混叠效应很小,fs=300Hz时,混叠效应加大,fs=200Hz时,混叠效应进一步加大。

这是因为采样频率越来越接近临界采样频率,所以会造成频谱的混叠。

②时域离散信号、系统和系统响应分析。

a.观察信号xb(n)和系统hb(n)的时域和频域特性;

利用线性卷积求信号xb(n)通过系统hb(n)的响应y(n),比较所求响应y(n)和hb(n)的时域及频域特性,注意它们之间有无差别,绘图说明,并用所学理论解释所得结果。

b.观察系统ha(n)对信号xc(n)的响应特性。

a.

clearall;

xb=double(impact(0,0,1));

xc=single(R(1,1,10));

ha=single(R(1,1,10));

hb=impact(0,0,3)+2.5*impact(1,0,3)+2.5*impact(2,0,3)+impact(3,0,3);

[Xb,w]=DFT(xb,2);

[Hb,w]=DFT(hb,4);

y=conv(xb,hb);

[Y,w]=DFT(y,5);

stem(0:

1,xb,'

xb'

plot(w/pi,Xb,'

|Xb(jf)|'

text(1.5,700,'

stem(hb,'

hb'

plot(w/pi,Hb,'

|Hb(jf)|'

stem(y,'

plot(w/pi,Y,'

|Y(jf)|'

图2xb、hb的时域频域特性

δ(n)的傅里叶变换恒为1。

由图可知,xb(n)*hb(n)=hb(n),即y(n)=hb(n),所以y(n)和hb(n)的频谱也是完全一样的。

b.

%xc=R10(n)

yn=conv(ha,xc);

[Y,w]=DFT(yn,19);

subplot(2,2,1);

stem(yn,'

yn'

subplot(2,2,2);

plot(w/pi,abs(Y),'

xc=single(R(1,1,5));

%xc=R5(n)

[Y,w]=DFT(yn,14);

subplot(2,2,3);

subplot(2,2,4);

图3xc长度为10和5时与ha的卷积时序图和频域图

y(n)的长度与理论计算的相同。

两序列卷积后的长度为n1+n2-1,用此方法可以快速验证两个序列的卷积结果是否正确。

两次卷积的长度分别为10+10-1=19和10+5-1=14由图可以判断,卷积的结果正确。

③卷积定理的验证。

A=1,a=0.4,

=2.0734,T=1。

xa=x(n,1,0.4,2.0374);

[Xa,w]=DFT(xa,50);

yn=conv(xa,hb);

Y=DFT(yn,53);

figure

(1);

plot(w/pi,angle(Y),'

相位'

Y(jf)的相位'

Hb=DFT(hb,4);

Yn=Hb.*Xa;

figure

(2);

subplot(1,2,1);

plot(w/pi,abs(Yn),'

|Yn(jf)|'

subplot(1,2,2);

plot(w/pi,angle(Yn),'

Yn(jf)的相位'

先对xa,hb求卷积再转换为频谱图如下:

图4xa时域图、xa与hb卷积频域图和对应相位图

Hb.*Xa的频谱图如下

图5Hb.*Xa的频谱图

对比图4图5即可验证卷积定理的正确性。

4、思考题

(1)在分析理想采样序列特性的实验中,采样频率不同时,相应理想采样序列的傅里叶变换频谱的数字频率度量是否都相同?

它们所对应的模拟频率是否相同?

为什么?

答:

数字频率度量不相同,但他们所对应的模拟频率相同。

由公式w=Ω*Ts可知,采样间隔Ts的变化会引起数字频率w的变化,但是不会引起模拟频率Ω的变化。

(2)在卷积定理验证的实验中,如果选用不同的频域采样点数M值,例如,选M=10和M=20,分别做序列的傅里叶变换,求得的结果有无差异?

有差异,采样点数不一样,得到的傅里叶变换的点数也会不一样。

用FFT作谱分析

1、实验目的

(1)进一步加深DFT算法原理和基本性质的理解(因为FFT只是DFT的一种快速算法,所以FFT的运算结果必然满足DFT的基本性质)。

(2)熟悉FFT算法原理和FFT子程序的应用。

(3)学习用FFT对连续信号和时域离散信号进行谱分析的方法,了解可能出现的分析误差及其原因,以便在实际中正确应用FFT。

2、实验步骤

(1)复习DFT的定义、性质和用DFT作谱分析的有关内容。

(2)复习FFT算法原理与编程思想,并对照DIT-FFT运算流图和程序框图,读懂本实验提供的FFT子程序。

(3)编制信号产生子程序,产生以下典型信号供谱分析用:

(4)编写主程序。

(5)按实验内容要求,上机实验,并写出实验报告。

3、实验内容

(1)对2中所给出的信号逐个进行谱分析。

x1=[11110000];

x2=[12344321];

x3=[43211234];

fs=64;

N1=8;

N2=16;

N3=32;

N4=64;

%x4=cos(0.25*pi*n);

%x5=sin((pi/8)*n);

%x7=cos(0.25*pi*n)+sin((pi/8)*n);

%x8=cos(0.25*pi*n)+j*sin((pi/8)*n);

%x1作图

i=1;

f1=fft(x1,N1);

figure(i);

i=i+1;

subplot(1,3,1);

N1-1,x1,'

x1n的波形'

x1n'

subplot(1,3,2);

N1-1,abs(f1),'

x1n的8点FFT'

|X(k)|'

k'

f1=fft(x1,N2);

subplot(1,3,3);

N2-1,abs(f1),'

x1n的16点FFT'

%x2作图

f2=fft(x2,N1);

N1-1,x2,'

x2n的波形'

x2n'

N1-1,abs(f2),'

x2n的8点FFT'

f2=fft(x2,N2);

N2-1,abs(f2),'

x2n的16点FFT'

%x3作图

f3=fft(x3,N1);

N1-1,x3,'

x3n的波形'

x3n'

N1-1,abs(f3),'

x3n的8点FFT'

f3=fft(x3,N2);

N2-1,abs(f3),'

x3n的16点FFT'

%x4作图

N1-1;

x4=sin((pi/8)*n);

f4=fft(x4,N1);

N1-1,x4,'

x4n的8点波形'

x4n'

N1-1,abs(f4),'

x4n的8点FFT'

N2-1;

x4=cos(0.25*pi*n);

f4=fft(x4,N2);

N2-1,x4,'

x4n的16点波形'

N2-1,abs(f4),'

x4n的16点FFT'

%x5作图

x5=cos(0.25*pi*n);

f5=fft(x5,N1);

N1-1,x5,'

x5n的8点波形'

x5n'

N1-1,abs(f5),'

x5n的8点FFT'

f5=fft(x5,N2);

N2-1,x5,'

x5n的16点波形'

N2-1,abs(f5),'

x5n的16点FFT'

%x6作图

x=cos(8*pi*n/fs)+cos(16*pi*n/fs)+cos(20*pi*n/fs);

f6=fft(x,N2);

N2-1,x,'

x6n的16点波形'

x6n'

N2-1,abs(f6),'

x6n的16点FFT'

N3-1;

f6=fft(x,N3);

N3-1,x,'

x6n的32点波形'

N3-1,abs(f6),'

x6n的32点FFT'

N4-1;

f6=fft(x,N4);

N4-1,x,'

x6n的64点波形'

N4-1,abs(f6),'

x6n的64点FFT'

运行结果如下:

图6x1的8、16点谱分析

图7x2的8、16点谱分析

图8x3的8、16点谱分析

图9x4的8、16点谱分析

图10x5的8、16点谱分析

图11x6的16、32、64点谱分析

(2)令x7(n)=x4(n)+x5(n),用FFT计算8点和16点离散傅里叶变换。

%x7作图

x7=sin((pi/8)*n)+cos(0.25*pi*n);

f7=fft(x7,N1);

t1=max(x7);

t2=max(f7);

N1-1,x7,'

x7n的8点波形'

x7n'

N1-1,abs(f7),'

x7n的8点FFT'

f7=fft(x7,N2);

N2-1,x7,'

x7n的16点波形'

N2-1,abs(f7),'

x7n的16点FFT'

k=conj(f7);

x4=(k+f7)/2;

N2-1,abs(x4),'

恢复的X4(K)'

|Re(X7(k))|'

x5=(k-f7)/2;

N2-1,abs(x5),'

恢复的X5(K)'

|jIm(X7(k))|'

运行结果

图12左1:

x7的8点时域图右1:

x7的8点频谱图

左2:

x7的16点时域图右2:

x7的16点频谱图

左3:

对ifft(Re(X7))的到的X4(k)频谱

右3:

对ifft(Im(X7))的到的X5(k)频谱

将上图左3和右3与图4图5中的16点频谱图对比可知两者对应完全相等,验证了DFT的如下性质:

xnepRe(Xn)xnopjIm(Xn)。

(3)令x8(n)=x4(n)+j*x5(n),重复

(2)。

%x8作图

x8=cos(0.25*pi*n)+j*sin((pi/8)*n);

f8=fft(x8,N1);

N1-1,x8,'

x8n的8点波形'

x8n'

N1-1,abs(f8),'

x8n的8点FFT'

f8=fft(x8,N2);

N2-1,x8,'

x8n的16点波形'

N2-1,abs(f8),'

x8n的16点FFT'

k

(1)=conj(f8

(1));

form=2:

N2

k(

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