物料验收标准指导书Word文档格式.doc

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处理方式

包装标示检验

1.数量不符:

来料数量与实际数量不一致。

2.核对包装箱,包装袋,型号书写,防伪标签等是否规范正确。

3.大数(包数)核对:

对整批包数进行清点,看是否与送货单数量相符。

严重缺点

上报采购及主管

生锈

功能区以及其他:

区域有生锈状况出现

退货处理

压伤

1.碗杯内有压伤情况出现。

2.第二焊点压伤面积大于表面积的1/4

次要缺点

退货处理/申请特采

焊点

不平

1.碗杯内有粗糙赃污情况。

2.第二焊点粗糙面超过四边边缘的1/4(阴影部分)或单边的1/5(阴影部分)。

毛边

1.功能区毛边≧0.1㎜。

2.其它区域毛边≧0.2㎜。

支架

变形

支架放在水平台上有弯曲变形现象。

按抽样计划进行

碗杯

外边缘A受损变形遮盖

内边缘B部分或杯内凹

错位

A点错位超出中心线的1/4

间距

不符

阴阳极间距Amin=0.1mm

其中同一批来料必须满足Amax-Amin<

0.07mm.

内容描述

尺寸

尺寸量测项目参照尺寸

附图来检验,未列入公差规格按规格书检验

银脚

支架PIN脚变形

沾锡不良

支架过锡温度:

280度和380度。

沾锡面积未达到98%沾锡或银层拖落。

拉力

在机台最佳状态时,空焊支架140PCS测量其拉力,拉力低于金线标准。

高温烘烤

经温度170℃±

5℃/2H烘烤后支架变色明显或影响支架焊接性支架起泡

镀银层脱落现象

电镀

起泡

碗杯内有电镀不良起泡

变色

支架颜色异状

申请特采

厚度

1.所订的支架的厚度相差8uinch。

2.与样品支架的不一样。

爬胶

1.支架的银脚四面有高于1.25mm爬胶。

主要缺点

芯片:

可接收图

不可接收图

处理

方式

资料

进货材料与资料不符者

混料

混有两种(含)以上不同型号者

电极残缺

1.不得大于原电极面积1/4

2.任意一角缺少不得超过原长度的2/3

3.扇型pad切歪不可损失电极面积1/10

电极

多余

1.不得超过原电极1/4面积

2.扇型pad不可接触到发光区

3.发光区上的电极多余不可超出发光区

污染

1.污染面积不可超过电极面积的20%

2.污染使pad氧化﹐腐蚀影响焊线品质者拒收

受损

1.擦伤面积不可超过电极面积的25%

2.刮伤若露出底材则需挑除

1.呈现黑褐色﹐无金属光泽。

2.无法判定者作焊线测试。

金道遗失

不可有两根或以上.金道未与N极联接

发光面残缺

1.边缘残缺面积不可超过原面积的1/4

2.双电极的中间破损不可大于N电极的1/3

背晶

缺失

缺失面积不可超过正常面积的20%

发光

面受

1.表面轻微刮伤不可大于发光区面积之1/5。

2.深度刮伤露出底材的长度不得大于发光区宽度的1/4。

3.刮痕不可贯穿发光区。

1.污染面积不可超过发光面面积的20%

晶片

1.缺损宽度不可超过晶片宽度的20%

切割

不良

1.多余晶片宽度不可超过晶片宽度的20%

连晶

连晶不接受

偏移

Y<

=X/2或X<

=Y/2

歪斜

倾斜角度不可超过20°

晶片排列偏移不可大于1/2晶片宽度(相邻晶片)

排列

晶片行列偏移不可大于一个晶片宽度(整张膜晶片)

芯片

晶片长度/宽度高高参晶片规格(误差0.025mm)

长宽

参晶片规格(误差0.025mm)

光电

性能

与实际的光电性能不符(参晶片规格)

不沾

打线时,金线与晶片电极接触不好

拔电极

打线时,晶片电级被拔起

奇纳管

实封实封样品,按芯片规格书提供的参数.正反向加6V电压时,电流小于1微安。

银胶/白胶:

1.标示:

制造日期与制造厂商与规格不符

2.运输途中,未加冷气措施/温度-5℃(正常在<

-5℃条件保存)

3.银胶入库后,在无冷气措施条件下放置超过1小时

4.胶瓶外未标注有效日期。

退货

胶色

1.查看胶颜色是否正常(银胶正常应为银灰色,DX-20C正常为半透明)

2.解冻后:

观察:

a、异物/硬块b、过稀/表面水状(提起玻璃棒时无银胶粘落1cm“I”字形)c、过稠(提起玻璃棒时银胶粘在棒上)

3.银灰色、均匀、粘稠、无杂物、不散胶,包装完整

形状

点胶胶形不规则(正常为半球状)

固化

150±

5℃烘烤2H后不固化

实验

固化后用笔针划成粉末(正常为划痕光洁,成银白色)

推力

不足

晶片固化后推力<

100g(正常为≥100g以45mil晶片为标准)

导电

焊线后测试,检查VF是否一致,是否在正常范围内,并检查有无发光不稳定现象。

成品测试晶片VF与正常相差大于0.1V

1mm(宽)*2cm(长)(165度2H)导电阻在0.3Ω

可操

作性

点胶时,晶片底部银胶形状良好,大小一致;

不堵针头,出胶均匀,不拉丝,易于控制

金线:

取绿色标贴端20--50MM

1.来料标贴、型号及制造产商是否相符;

外箱包装是否良好

2.金线是否有打结、有杂物、缠绕、表面油污、不光滑,表面有刻痕,有无不平整等现象

3.是否有线径不一、刮伤、氧化等不良现象是否有线中间断开等不良现象。

4.线轴粗糙不平。

数量

1.来料数量/重量符合标签和送检单要求

客诉

测试

拉力不足:

(标准:

0.8MIL>

5G/0.9MIL>

6G/1MIL>

8G)

线轴

1.不是标准线轴,不能与焊线机相配合

2.内外径不符合我司要求

金丝缠绕

金丝缠绕过紧/过松,a.轻微(出线不顺畅,不影响焊线速度)b.严重(出线不顺畅,影响焊线速度)

伸长率

作业时会发生洁净性、韧性不强,焊线时易断,伸张率不够

荧光粉:

型号不良

包装不良

假货包装

1.来料标示、型号是否正确;

日期不在有效期限内

2.包装是否整齐,是否密封包装

尺寸不相符

3.验证码不能通过。

数量不良

包装不是100G或不同送货数量

色温及衰减不良

1.同等比例色温的相差500K;

2.老化50MA48H衰减比样品严重

白光胶:

1来料标示、型号是否正确;

2包装是否整齐,是否密封包装

包装不是送货数量及送货标准数量包装

1.同等对例相比做出的相差500K

树脂:

模条:

外观

检验

数量不符

来料数量与实际数量不一致

毛边不良

导柱之导入口与钢片毛边面积不可过大

尺寸不良

适合产品的规格书和误差

外观不良

模粒发光区部份不得有任何刮伤及模糊状况。

成型不良

模粒成型部份不得有任何凹洞

型号、规格不符

比对模粒型号与其规格需吻合

卡点不良

卡点不可有断裂或裂痕现象.

导柱不良

导柱不可有断裂或变形现象.

帽沿不良

帽沿不可异位﹑错位或破孔现象

硅钢片不良

模腔表面钢片生锈面积大于整体面积的10%或变形导致无法插入铝船内

模粒胶体部位

胶体与铁片松动

间距边宽

两边导柱间距过宽易松动,造成插偏

封胶

制作

插浅/插深

因模粒不良造成两端支架插深或插浅

偏心

因模粒不良造成前后左右偏心胶体变形

刮伤

胶体ABCP区表面粗糙不平刮伤

使用次数不够

批量使用50次出现2%外观不良

150度2H有变形

卡点

卡点高度误差不得超过0.05mm

其它外观尺寸

外观尺度误差不的超过0.15mm

审核:

核准:

编制:

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