铜箔基板品质术语之诠释Word格式.docx
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之所以如此，實乃因線路愈來愈細密時，其附著力的穩定性（Consistency）將益形重要，而並非原板材銅箔附著力平均值很高就算完事。
PC-4101/21就FR-4板材之此號規格單中，對該類基板之抗撕強度已劃分成三項試驗及允收規格，即：
A.厚度17um以上之低稜線銅箔（Low
Profile），其測值無論厚板（指0.78mm或31mil以上）或薄板（指0.78mm或31mil以下）均需超過70㎏/m（或3.938磅/吋）之規格。
B.標準稜線抓地力較強之銅箔（即IPC-CF-150之Grade1）又有三種情況（試驗方法均按IPC-TM-650之2.4.8節之規定）：
（B-1）：
熱應力試驗後（288℃漂錫10秒鐘）；
薄板者須超過80㎏/m（或4.47磅/吋），厚板者須超過105㎏/m（或5.87磅/吋）。
（B-2）：
於125℃高溫中；
薄板與厚板均須超過70㎏/m（約4lb/in）。
（B-3）：
經濕製程考驗後；
薄板須超過55㎏/m（或3.08lb/in）厚板須超過80㎏/m（或4.47lb/in）。
C.其他銅箔者，其抗撕強度之允收規格則須供需雙方之同意。
D.試驗頻度：
按IPC-4101表5之規定，上述B-1項品質出貨時須逐批試驗，B-2項則三個月驗一次，而B-3項也是三個月驗一次。
一般業者經常對抗撕強度隨便說說的8磅，係指早期美軍規範（MIL-P-13949）舊“規格單4D”中，對厚度1oz之標準銅箔之8lb/in而言，立論十分鬆散不足為訓。
2.VolumeResistivity体積電阻率（不重要）
係在量測板材本身的絕緣品質如何，是以“電阻值”為其量化標準。
例如在各種DC高電壓下，測試兩通孔間板材的電阻值，即為絕緣品質的一種量測法。
由於板材試驗前的情況各異，試驗中周遭環境也不同，故對本術語與下述之“表面電阻率”在數據都會造成很大的變化。
例如軍規MIL-P-13949要求20mil以上的FR-4厚板材，執行本試驗前須在50℃/10﹪RH與25℃/90﹪RH兩種環境之間，先進行往返10次的變換，然後才在第10次25℃/90﹪RH之後進行本試驗。
至於原在20mil以上的FR-4厚板材，則另要求在C-96/35/90（ASTM表示法，即35℃，90﹪RH，放置96小時）之環境中先行適況處理，且另外還要求在125℃的高溫中，量測FR-4的電阻率讀值。
IPC-4101在其表5中對此項基板品質項目，要求12個月才測一次（由此可見本項並不重要）。
每次取6個樣片，須按IPC-TM-650手冊之2.5.17.1測試法進行實做，而及格標準則另按各單獨板材之特定規格單。
至於最常見FR-4之厚板（指0.78mm或30.4mil以上）經吸濕後，其讀值仍須在106Megohm-cm以上，高溫中試驗之及格標準亦應在103Megohm-cm以上。
其實此種"
体積電阻率"
也就是所謂的"
比絕緣"
（Specific
Insulation）值，係指板材在三度空間各邊長1cm的塊狀絕緣體上，分別自其兩對面所測得電阻值大小之謂也。
因目前基材板的技術已非常進步，此種基本絕緣品質想要不及格還不太容易呢，似無必要詳加追究。
3.SurfaceResistivity表面電阻率（不重要）
係量測單一板面上，相鄰10mil兩導体間之表面電阻率。
不過當板材的事先適況處理與試驗環境不同時，其之測值亦有很大的變化。
本試驗前各種板材所應執行的10次適況前處理，則與前項体積電阻率之做法相同，而125℃的高溫中試驗也按前項實施。
IPC-4101亦將此項目收納在其表5中，測試方法與12個月測試之頻度，也與前項完全相同。
早年樹脂的生產技術自然不如目前遠甚，時常擔心樹脂或玻纖布中夾雜有離子性的殘渣，一旦如此將造成板材絕緣品質的劣化，是故早年的老舊規範中，都加設了上述兩項絕緣品質之"
電阻率"
規格。
然而基材板中若要12個月才測一次的品質項目，又能對每天大量出貨的PCB工業有何幫助？
有什麼把關的必要？
真是天曉得!
想必此等可有可無不關痛癢的陋規，將來遲早會被取消而成為歷史。
4.MoistureAbsorption吸濕率（又名WaterAbsorption）（次重要）
此項品質係訂定於IPC-4101之表5，須每三個月取4個樣板去做試驗。
又按IPC-4101/21對FR-4基板的規定，厚度低於0.78mm（30.5mil）的薄板要求吸濕率不可超過0.80﹪；
30.5mil以上的厚板則須低於0.35﹪。
至於測試方法，則應按IPC-TM-650手冊之2.6.2.1方法去進行。
其做法是裁取2吋X2吋的樣板，板邊四面都要用400號砂紙小心磨平，再將兩面銅箔蝕刻掉，洗淨後放置在105℃-110℃烤箱中烘烤1小時，取出後於乾燥皿中冷到室溫，再精稱其重量到0.1mg。
之後的吸水實驗也很簡單，即將樣板浸在23℃±
1℃的蒸餾水中24小時。
取出後立即擦乾並立即精秤即可。
4.1原理詮釋：
理論上純水是不導電的，若板材吸水後應不致造成絕緣品質的劣化，或出現漏電的缺失。
當然若所吸到的是不純的水，自然會影響到板材的絕緣品質。
但讀者們卻不可忘記，水分子是一種"
極性"
頗強的化合物，其"
相對容電率"
（εr.即老式說法的介質常數Dk）高達75，故板材吸水後所製作的多層板傳輸線，必然會造成訊號傳播速率（Vp）的降低，原理從Maxwell
Equation:
Vp=C/√
εr中可得其詳。
（Vp：
訊號之傳播速度、C：
光速、εr：
訊號線周圍介質之相對容電率）
其次是板材所可能吸到水份，當然不可能是純水，何況鑽孔鍍孔以及眾多的溼式流程，怎麼可能會不吸入離子性漏電的物質？
是故有了水後“玻纖絲陽極性漏電”之缺失（CAF；
ConductiveAnodicFilament）就難免不會發生了。
而且吸了水的板材遇到瞬間高溫焊接或噴鍚時，必然會產生爆板的惡果，這就是對基材板嚴格要求吸水率夠低的三種主要原因。
目前由於樹脂配方技術與膠片含浸工程的長足進步，一般商品板材之吸水率都遠於規格值的數十倍以下，換句話說吸水率早已不是問題了，除非規格值再嚴加降低，或改用壓力鍋試驗（PCT;
PressureCookerTest）更嚴酷的做法，才會面臨挑戰。
5.DielectricBreakdown介質崩潰（次重要）
係刻意不斷提高AC測試之電壓至50KV以上，以觀察厚板材中相距1吋之兩插孔電極，其崩潰打穿的起碼電壓值為何。
按IPC-4101表5的規定，此項品質亦係三個月測一次，每次取三個樣片。
至於IPC-4101/21對FR-4原板之及格標準，則另訂定下限為40KV。
其試驗法係按IPC-TM-650之2.5.6B法（1986.5）去進行。
所取無銅箔之樣板其大小為3吋X2吋（厚度在30.5mil以上），沿其板長方向的中心線上，鑽出相距1吋而直徑各為188mil的穿孔兩個，並分別插入兩錐狀電極（其一為高電壓極，其二為接地極），然後連以電纜一同浸於絕緣油槽中（如ShellDialAx即可）。
再按上表以每秒調升500V之方式逐漸升高測試電壓，仔細觀察所發生之崩潰的情形，且記錄其三個數據及求平均值。
但若並未出現崩潰時，即以其可調之最高電壓值為紀錄。
6.FlexuralStrength抗撓強度（又稱FlexuralModulus抗撓模數）（不重要）
6.1詮釋
聚是指基材板所在承受多少重量之下，而尚不致折斷的機械強度。
也就是說做成電路板後，可以承載多少元件而不變形的能力。
換言之就是在測板材的硬挺性（Stiffness
or
Rigidity），口語上似可說成“抗彎強度”或“抗彎能力”。
板材若在本項之品質良好時，其板彎板翹也就低了。
此“抗撓強度”的試驗方法，可按IPC-TM-650之2.4.4法（1994.12）去做，該法指出本項目是針對厚板而做，而厚板與薄板的分界卻是0.51mm（20mil），與現行分法（1997.12）的0.78mm（31mil）又有所不同。
按品質管理的精神，當然是“後來居上”取代前者，故知此種基板硬挺性品質是針對31mil以上的厚板而言。
6.2做法
實際做法很簡單，是將板材自底面以“兩桿”支撐，再自頂面的中央以“固定寬度的重頭（Crosshead）”用力向下壓。
該壓試機“之支撐跨距（Span）與下壓速度（Speed
of
Testing）等數據，以及對應試驗板在長寬厚等尺度方面的關係，均按下表之規定：
上述試驗機之支撐桿上緣與下壓重頭之下緣（Nose），均須呈現圓弧表面，樣板外緣亦須保持平整，不可出現缺口撕口等。
試驗要一直用力壓下直到樣板斷裂為止。
所得數據以“磅”或“公斤”為單位，再按樣板面積換算成“壓力強度”的PSI或Kg/M2，做為允收規格。
IPC-4101/21中即已列入現行的允收規格長方向之下限為4.23X107kg/m2，橫方向之下限為3.52X107kg/m2。
7.Flexural
Strengthat
Elevalted
Temperature高溫中抗撓強度（次重要）
係為已搭載零件的板子，在高溫焊接中模擬其抗撓強度如何的試驗。
實驗可按IPC-TM-650之2.4.4.1規定去做，是將樣板放在已有夾具的特定烤箱內，去進行壓試。
該烤箱須能控溫在3℃以內，不同板材之溫度條件另有表格規定。
所有做法與前項常溫者類同。
此等板材高溫“硬挺性”之品質好壞，對表面貼裝（SMT）各種零件之焊點強度甚具影響力。
目前各種小型手執電子機器的流行，連薄板也要考慮到本項品質了。
不過由於樹脂在Tg方面的提高，與玻纖布的改善（如Asahi-Scwebel專利壓扁分散的玻纖布），使得本項品質也改善極多。
8.ArcResistance耐電弧性（不重要）
是對無銅箔之清潔厚板面上，以高電壓低電流（0.1A以下）的兩個鎢金屬平面之電極測頭，在0.25的跨距下，當開動測試機時即產生空中之電弧，不久即會自動消失於板材中。
此時板材即將有電弧之軌跡（Tracksing）出現，於是記錄下空中電弧消失前所經歷的“秒數”，即為“耐電弧”的數據。
21號規格單要求應在60秒以上。
9.ThermalStress 熱應力（次重要）
係取2inX2in各種厚度之板材，有銅箔與無銅箔者分別試驗，也就是在288℃的錫池表面漂浮10秒鐘。
洗淨之後在正常視力下（左右眼各為2.0/2.0）檢查板面之外觀，或另用4倍與10倍放大鏡觀察板面，是否出現炭化（Charing）、表面污染、樹脂損傷、樹脂變軟、爆板分層、起泡、織紋顯露、瑕疵擴大、白點、白斑與坑陷等缺點。
至於有銅箔者則只檢查是否起泡或分層即可，此項品質與樹脂之Tg及板材吸水率有關。
目視標準可參考IPC-A-600F之各種圖示。
10.Dielectric
Strength介質強度（次重要）
本詞又稱為Electric
Strength抗電強度，係量測板材在Z方向抵抗高電壓的能力。
本項品質之衡量，是將已發生打穿（Failure）之直流電壓實測數據，除以板厚所得數據之volt/mil或volt/mm為單位。
此項試驗只針對薄板（31mil以下）而做，實驗須按IPC-TM-650之2.5.6.2法（1997.8）去進行。
21號規格單要求，及格標準之下限為2.90X104V/mm。
11.ComparativeTrackingIndex比較性漏電指數
此CTI是針對一般家電用品，或其他高電壓（110V,220V）電器品，所用單面基材板之品質項目。
因不屬於電腦資訊或通訊之領域，故IPC-4101並未將之納入，反倒是國際電工委員會（IEC）已收納於其IEC-STD-112之中（電路板資訊雜誌曾將該份Publication112於53期中全文翻譯，讀者可參考之）。
係模擬完工電路板在使用環境中遭到污染，致使板面線路間距處出現漏電短路，且發熱燒焦的情形。
是比較各種板材能否耐得惡劣環境的侵犯，能否減少危險機率之試驗，也就是在最壞的打算下，看看電路板之板材能否過關的試驗。
其做法是在裸基材的板面上，在相距4mm之兩點，以60度的方向在100g的力量下刺入板材°
電極尖端之錐度30o，刺定後在兩點之間不斷滴下0.1%的氯化銨溶液，每30秒1滴，並通入高電壓（100-600V）之交流電（AC）進行試驗。
可先試用300V並使出現1安培的電流。
因板面上已有氯化銨溶液，故通電中會出現電阻而發熱，逐使溶液被蒸發走掉，於是又續滴下溶液直到50滴時，看看板材本身會不會漏電。
一旦當絕緣板材出現0.1A的漏電並超過0.5秒以上者，即紀錄為故障（Failure，此時蜂鳴器會發出叫聲），測試儀器也會自動記錄下發生故障時已滴下的總滴數。
板材CTI的品質是指50滴仍未故障者，其所呈現的外加電壓數值。
若上述300V可順利過關時，還可再增加電壓為400V，500V，或600V等，直到出現故障前之最高電壓，即為該板材的CTI數據。
一般規定FR-4及格標準是200-400V，而CEM-1也是200-400V，但日本業界有時會要求到800V之嚴格標準。
非結晶性高分子之黏彈性分佈圖
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