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实验六、荧光测定实验

一、基本概念

1.发射光谱

是指发光的能量按波长或频率的分布。

通常实验测量的是发光的相对能量。

发射光谱中,横坐标为波长(或频率),纵坐标为发光相对强度。

发射光谱常分为带谱和线谱,有时也会出现既有带谱、又有线谱的情况。

2.激发光谱

是指发光的某一谱线或谱带的强度随激发光波长(或频率)变化的曲线。

横坐标为激发光波长,纵坐标为发光相对强度。

激发光谱反映不同波长的光激发材料产生发光的效果。

即表示发光的某一谱线或谱带可以被什么波长的光激发、激发的本领是高还是低;也表示用不同波长的光激发材料时,使材料发出某一波长光的效率。

3.余辉衰减曲线

是指激发停止后发光强度随时间变化的曲线。

横坐标为时间,纵坐标为发光强度(或相对发光强度)。

二、测试仪器

激发光谱、发射光谱及余辉衰减曲线的测试采用日本岛津RF-5301PC型荧光分光光度计。

从150W氙灯光源发出的紫外和可见光经过激发单色器分光后,再经分束器照到样品表面,样品受到该激发光照射后发出的荧光经发射单色器分光,再经荧光端光电倍增管倍增后由探测器接收。

另有一个光电倍增管位于监测端,用以倍增激发单色器分出的经分束后的激发光。

注意:

选做钨灯光源激发光谱、发射光谱测试的同学应采用天津港东WGY-10型荧光分光光度计。

光源发出的紫外-可见光或者红外光经过激发单色器分光后,照到荧光池中的被测样品上,样品受到该激发光照射后发出的荧光经发射单色器分光,由光电倍增管转换成相应电信号,再经放大器放大反馈进入A/D转换单元,将模拟电信号转换成相应数字信号,并通过显示器或打印机显示和记录被测样品谱图。

三、样品制备

1.粉末试样

粉末试样可适当添加不影响光谱特性的粘结剂(也可不添加粘结剂),置于样品台凹槽中,压实、用载玻片碾平,固定到样品座中。

2.块状试样

块状试样可以直接用双面胶粘结在样品台上,固定到样品座中。

3.液体试样

液体试样应放入专用的液体样品槽中,固定到样品座中。

四、测试过程

RF-5301PC荧光分光光度计测试发射、激发光谱及余辉衰减曲线

先开机:

打开Xe灯开关和主机开关。

开电脑。

双击电脑桌面的“RFPC”程序快捷键进入测试程序,会出现初始化界面,仪器依次检测ROM、RAM、EEPROM激发狭缝、发射狭缝、激发单色器、发射单色器和基线,初始化完成后,进入到测试界面。

1.发射光谱的测试

第一步:

参数设置。

点击Configure设置/Parameter参数,进行测试参数设置:

(1)第一行为光谱类型。

选择“Emission”发射光谱

(2)第二行为激发波长。

输入激发波长(可以查找数据)

(3)第三行为发光波长范围。

输入扫描的起始波长和终止波长(对于未知样,也可选择可见光全波段400~760nm,一般范围:

激发波长加二倍狭缝宽——二倍激发波长减去二倍狭缝宽)

(4)第四行为记录范围。

输入纵坐标的最小和最大显示值

(5)第五行为扫描速度。

由快至慢有6种速度选择

(6)第七行为狭缝宽度。

可分别选择激发和发射狭缝宽度,(对于发光较弱的样品,测试时可以适当增大狭缝宽度。

(7)第八行为测试灵敏度选框。

(8)第九行为响应时间选框,由快至慢有9种速度选择

(9)参数设置完成后,点击“OK”。

第二步:

光谱测试。

点击屏幕右下角“Start”按钮,开始发射光谱测试。

测试完成后,屏幕会自动弹出一个保存界面:

上栏可输入文件名称,下栏可输入注解,若输入注解,则该注解将会在打印出的报告中显示出来。

输入文件名后,点击“Save”保存。

注意:

这种保存只是临时保存,关机后将消失。

永久保存需使用File/Saveas,选择存储路径和文件夹,点击“SaveAs”保存。

保存后的文件,扩展名是“.SPC”,只能用“RF-5301PC”程序打开。

若想将测试结果转换为数据,以利于使用其他软件作图和编辑,需进行数据转换。

第三步:

自动寻峰。

对于测试所得的发射光谱,程序能够进行自动寻峰。

步骤是:

点击Manipulate操作/选择Peakpick/鼠标左键点住屏幕下方弹出的窗口,上拉,调整窗口大小,即可读出峰值。

第四步:

数据转换。

点击File/Datatranslation/AscIIExport/则询问转换哪个通道?

选择通道后,点击OK,则数据转换过程完成。

转换后的扩展名为“.ASC”的文件自动保存在了C盘/RFPC文件夹/Data子夹中。

第五步:

数据处理。

打开Origin软件,点击工具菜单中的“导入ASC码文件”快捷键,按照路径寻找我们刚刚转换的扩展名为“.ASC”的文件,点击“打开”,则数据被导入。

点击屏幕下方的“直线”工具,即可完成作图。

调整横、纵坐标的字号。

输入横、纵坐标名称和单位。

数据处理完成后,可直接复制到Word文件中。

2.激发光谱的测试

第一步:

参数设置。

点击Configure设置/Parameter参数,进行测试参数设置:

(1)在光谱类型选框中,选择“Excitation”激发光谱,选择后,下面几行选项随之变化。

(2)第二行为监测的发光波长。

(通常,选择发射光谱的峰值位置作为监测波长。

(3)第三行为激发波长范围。

输入扫描的起始波长和终止波长(通常终止波长应小于发射光谱的短波边,但允许有适量交叉)

(4)以下“记录范围”、“扫描速度”、“狭缝宽度”、“灵敏度”及“响应时间”的设置,与发射光谱测试时的设置相类似。

(5)参数设置完成后,点击“OK”。

第二步:

光谱测试。

点击屏幕右下角“Start”按钮,开始激发光谱测试。

测试完成后,自动寻峰、数据转换、数据处理的操作与发射光谱相类似。

3.余辉衰减曲线的测试

第一步:

参数设置。

点击“AcquireMode”,在下拉菜单中选择“TimeCourse”模式,进行测试参数设置。

其中,参数设置对话框上半部分:

激发波长(最大激发)、监测发光波长(最大发射)、狭缝宽度、灵敏度、响应时间及记录范围的设置与发射光谱、激发光谱测试时的设置相类似。

参数设置对话框下半部分:

反应时间是指余辉衰减曲线的测试时间,即横坐标的扫描时间段;时间模式可选自动或手动;时间单位默认为秒。

参数设置完成后,点击“OK”。

第二步:

余辉衰减曲线测试点击屏幕右下角“Start”按钮,开始余辉衰减曲线的测试。

测试完成后,数据转换、数据处理的操作与发射光谱及激发光谱的操作相类似。

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