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NandFlash详述绝对经典

NandFlash详述

1. 硬件特性:

【Flash的硬件实现机制】

Flash全名叫做FlashMemory,属于非易失性存储设备(Non-volatileMemoryDevice),与此相对应的是易失性存储设备(VolatileMemoryDevice)。

这类设备,除了Flash,还有其他比较常见的如硬盘,ROM等,

与此相对的,易失性就是断电了,数据就丢失了,比如大家常用的存,不论是以前的SDRAM,DDRSDRAM,还是现在的DDR2,DDR3等,都是断电后,数据就没了。

Flash的部存储是MOSFET,里面有个悬浮门(FloatingGate),是真正存储数据的单元。

-------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

金属-氧化层-半导体-场效晶体管,简称金氧半场效晶体管(Metal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor,MOSFET)是一种可以广泛使用在模拟电路与数字电路的场效晶体管(field-effecttransistor)。

MOSFET依照其“通道”的极性不同,可分为n-type与p-type的MOSFET,通常又称为NMOSFET与PMOSFET,其他简称尚包括NMOSFET、PMOSFET、nMOSFET、pMOSFET等。

-------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

在Flash之前,紫外线可擦除(uv-erasable)的EPROM,就已经采用用FloatingGate存储数据这一技术了。

图1.典型的Flash存单元的物理结构

数据在Flash存单元中是的。

存储电荷的多少,取决于图中的外部门(externalgate)所被施加的电压,其控制了是向存储单元中冲入电荷还是使其释放电荷。

数据的表示,以所存储的电荷的电压是否超过一个特定的阈值Vth来表示。

【SLC和MLC的实现机制】

NandFlash按照部存储数据单元的电压的不同层次,也就是单个存单元中,是存储1位数据,还是多位数据,可以分为SLC和MLC:

1. SLC,SingleLevelCell:

单个存储单元,只存储一位数据,表示成1或0.

就是上面介绍的,对于数据的表示,单个存储单元中部所存储电荷的电压,和某个特定的阈值电压Vth,相比,如果大于此Vth值,就是表示1,反之,小于Vth,就表示0.

对于nandFlash的数据的写入1,就是控制ExternalGate去充电,使得存储的电荷够多,超过阈值Vth,就表示1了。

而对于写入0,就是将其放电,电荷减少到小于Vth,就表示0了。

关于为何NandFlash不能从0变成1,我的理解是,物理上来说,是可以实现每一位的,从0变成1的,但是实际上,对于实际的物理实现,出于效率的考虑,如果对于,每一个存储单元都能单独控制,即,0变成1就是,对每一个存储单元单独去充电,所需要的硬件实现就很复杂和昂贵,同时,所进行对块擦除的操作,也就无法实现之前的,一闪而过的速度了,也就失去了Flash的众多特性了。

//也就是放电的思路还是容易些。

1->0

2. MLC,MultiLevelCell:

与SLC相对应,就是单个存储单元,可以存储多个位,比如2位,4位等。

其实现机制,说起来比较简单,就是,通过控制部电荷的多少,分成多个阈值,通过控制里面的电荷多少,而达到我们所需要的存储成不同的数据。

比如,假设输入电压是Vin=4V(实际没有这样的电压,此处只是为了举例方便),那么,可以设计出2的2次方=4个阈值,1/4的Vin=1V,2/4的Vin=2V,3/4的Vin=3V,Vin=4V,分别表示2位数据00,01,10,11,对于写入数据,就是充电,通过控制部的电荷的多少,对应表示不同的数据。

对于读取,则是通过对应的部的电流(与Vth成反比),然后通过一系列解码电路完成读取,解析出所存储的数据。

这些具体的物理实现,都是有足够精确的设备和技术,才能实现精确的数据写入和读出的。

单个存储单元可以存储2位数据的,称作2的2次方=4LevelCell,而不是2LevelCell;

同理,对于新出的单个存储单元可以存储4位数据的,称作2的4次方=16LevelCell。

【关于如何识别SLC还是MLC】

NandFlash设计中,有个命令叫做ReadID,读取ID,意思是读取芯片的ID,就像大家的一样,这里读取的ID中,是:

读取好几个字节,一般最少是4个,新的芯片,支持5个甚至更多,从这些字节中,可以解析出很多相关的信息,比如:

此NandFlash部是几个芯片(chip)所组成的,

每个chip包含了几片(Plane),

每一片中的页大小,块大小,等等。

在这些信息中,其中有一个,就是识别此flash是SLC还是MLC。

下面这个就是最常见的NandFlash的datasheet中所规定的,第3个字节,3rdbyte,所表示的信息,其中就有SLC/MLC的识别信息:

Description

I/O7

I/O6

I/O5I/O4

I/O3I/O2

I/O1I/O0

Internal

ChipNumber

1

2

4

8

0 0

0 1

1 0

1 1

CellType

2LevelCell

4LevelCell

8LevelCell

16LevelCell

0 0

0 1

1 0

1 1

Numberof

Simultaneously

ProgrammedPages

1

2

4

8

0 0

0 1

1 0

1 1

InterleaveProgram

Betweenmultiplechips

NotSupport

Support

0

1

CacheProgram

NotSupport

Support

0

1

表1.NandFlash第3个ID的含义

【NandFlash的物理存储单元的阵列组织结构】

Nandflash的部组织结构,此处还是用图来解释,比较容易理解:

图2.NandFlash物理存储单元的阵列组织结构

上图是K9K8G08U0A的datasheet中的描述。

简单解释就是:

1.一个nandflash由很多个块(Block)组成,

块的大小一般是

-> 128KB,

-> 256KB,

-> 512KB

此处是128KB。

2.每个块里面又包含了很多页(page)。

每个页的大小,

老的nandflash,页大小是256B,512B,

这类的nandflash被称作smallblock,。

地址周期只有4个。

对于现在常见的nandflash多数是2KB,

被称作bigblock,对应的发读写命令地址,一共5个周期(cycle),

更新的nandflash是4KB,

块,也是NandFlash的擦除操作的基本/最小单位。

3.每一个页,对应还有一块区域,叫做空闲区域(sparearea)/冗余区域(redundantarea),而Linux系统中,一般叫做OOB(OutOfBand),这个区域,是最初基于NandFlash的硬件特性:

数据在读写时候相对容易错误,所以为了保证数据的正确性,必须要有对应的检测和纠错机制,此机制被叫做EDC(ErrorDetectionCode)/ECC(ErrorCodeCorrection,或者ErrorCheckingandCorrecting),所以设计了多余的区域,用于放置数据的校验值。

页,是NandFlash的写入操作的基本/最小的单位。

【NandFlash数据存储单元的整体架构】

简单说就是,常见的nandflash,部只有一个chip,每个chip只有一个plane。

而有些复杂的,容量更大的nandflash,部有多个chip,每个chip有多个plane。

这类的nandflash,往往也有更加高级的功能,比如下面要介绍的MultiPlaneProgram和InterleavePageProgram等。

比如,型号为K9K8G08U0A这个芯片(chip),

部有:

K9F4G08U0A(256MB) :

 Plane(1Gb),Plane(1Gb)

K9F4G08U0A(256MB) :

 Plane(1Gb),Plane(1Gb)

K9WAG08U1A ,部包含了2个K9K8G08U0A

K9NBG08U5A ,部包含了4个K9K8G08U0A

【Flash名称的由来】

Flash的擦除操作是以block块为单位的,与此相对应的是其他很多存储设备,是以bit位为最小读取/写入的单位,Flash是一次性地擦除整个块:

在发送一个擦除命令后,一次性地将一个block,常见的块的大小是128KB/256KB。

,全部擦除为1,也就是里面的容全部都是0xFF了,由于是一下子就擦除了,相对来说,擦除用的时间很短,可以用一闪而过来形容,所以,叫做FlashMemory。

中文有的翻译为(快速)闪存。

【Flash相对于普通设备的特殊性】

1. 上面提到过的,Flash最小操作单位,有些特殊。

一般设备,比如硬盘/存,读取和写入都是以bit位为单位,读取一个bit的值,将某个值写入对应的地址的位,都是可以按位操作的。

但是Flash由于物理特性,使得部存储的数据,只能从1变成0,这点,可以从前面的部实现机制了解到,只是方便统一充电,不方便单独的存储单元去放电,所以才说,只能从1变成0,也就是释放电荷。

所以,总结一下Flash的特殊性如下:

普通设备(硬盘/存等)

Flash

读取/写入的叫法

读取/写入

读取/编程(Program)①

读取/写入的最小单位

Bit/位

Page/页

擦除(Erase)操作的最小单位

Bit/位

Block/块②

擦除操作的含义

将数据删除/全部写入0

将整个块都擦除成全是1,也就是里面的数据都是0xFF③

对于写操作

直接写即可

在写数据之前,要先擦除,然后再写

表2.Flash和普通设备相比所具有的特殊性

注:

①之所以将写操作叫做编程,是因为,flash和之前的EPROM,EEPROM继承发展而来,而之前的EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory),往里面写入数据,就叫做编程Program,之所以这么称呼,是因为其对数据的写入,是需要用电去擦除/写入的,就叫做编程。

②对于目前常见的页大小是2K/4K的NandFlash,其块的大小有128KB/256KB/512KB等。

而对于NorFlash,常见的块大小有64K/32K等。

③在写数据之前,要先擦除,部就都变成0xFF了,然后才能写入数据,也就是将对应位由1变成0。

【NandFlash引脚(Pin)的说明】

图3.NandFlash引脚功能说明

上图是常见的NandFlash所拥有的引脚(Pin)所对应的功能,简单翻译如下:

1. I/O0~I/O7:

用于输入地址/数据/命令,输出数据

2. CLE:

CommandLatchEnable,命令锁存使能,在输入命令之前,要先在模式寄存器中,设置CLE使能

3. ALE:

AddressLatchEnable,地址锁存使能,在输入地址之前,要先在模式寄存器中,设置ALE使能

4. CE#:

ChipEnable,芯片使能,在操作NandFlash之前,要先选中此芯片,才能操作

5. RE#:

ReadEnable,读使能,在读取数据之前,要先使CE#有效。

6. WE#:

WriteEnable,写使能,在写取数据之前,要先使WE#有效。

7. WP#:

WriteProtect,写保护

8. R/B#:

Ready/BusyOutput,就绪/忙,主要用于在发送完编程/擦除命令后,检测这些操作是否完成,忙,表示编程/擦除操作仍在进行中,就绪表示操作完成.

9. Vcc:

Power,电源

10. Vss:

Ground,接地

11. N.C:

Non-Connection,未定义,未连接。

[小常识]

在数据手册中,你常会看到,对于一个引脚定义,有些字母上面带一横杠的,那是说明此引脚/信号是低电平有效,比如你上面看到的RE头上有个横线,就是说明,此RE是低电平有效,此外,为了书写方便,在字母后面加“#”,也是表示低电平有效,比如我上面写的CE#;如果字母头上啥都没有,就是默认的高电平有效,比如上面的CLE,就是高电平有效。

【为何需要ALE和CLE】

突然想明白了,NandFlash中,为何设计这么多的命令,把整个系统搞这么复杂的原因了:

比如命令锁存使能(CommandLatchEnable,CLE)和地址锁存使能(AddressLatchEnable,ALE),那是因为,NandFlash就8个I/O,而且是复用的,也就是,可以传数据,也可以传地址,也可以传命令,为了区分你当前传入的到底是啥,所以,先要用发一个CLE(或ALE)命令,告诉nandFlash的控制器一声,我下面要传的是命令(或地址),这样,里面才能根据传入的容,进行对应的动作。

否则,nandflash部,怎么知道你传入的是数据,还是地址,还是命令啊,也就无法实现正确的操作了.

【NandFlash只有8个I/O引脚的好处】

1. 减少外围引脚:

相对于并口(Parellel)的NorFlash的48或52个引脚来说,的确是大大减小了引脚数目,这样封装后的芯片体积,就小很多。

现在芯片在向体积更小,功能更强,功耗更低发展,减小芯片体积,就是很大的优势。

同时,减少芯片接口,也意味着使用此芯片的相关的外围电路会更简化,避免了繁琐的硬件连线。

2. 提高系统的可扩展性,因为没有像其他设备一样用物理大小对应的完全数目的addr引脚,在芯片部换了芯片的大小等的改动,对于用全部的地址addr的引脚,那么就会引起这些引脚数目的增加,比如容量扩大一倍,地址空间/寻址空间扩大一倍,所以,地址线数目/addr引脚数目,就要多加一个,而对于统一用8个I/O的引脚的NandFlash,由于对外提供的都是统一的8个引脚,部的芯片大小的变化或者其他的变化,对于外部使用者(比如编写nandflash驱动的人)来说,不需要关心,只是保证新的芯片,还是遵循同样的接口,同样的时序,同样的命令,就可以了。

这样就提高了系统的扩展性。

【Nandflash的一些典型(typical)特性】

1.页擦除时间是200us,有些慢的有800us。

2.块擦除时间是1.5ms.

3.页数据读取到数据寄存器的时间一般是20us。

4.串行访问(Serialaccess)读取一个数据的时间是25ns,而一些旧的nandflash是30ns,甚至是50ns。

5.输入输出端口是地址和数据以及命令一起multiplex复用的。

以前老的NandFlash,编程/擦除时间比较短,比如K9G8G08U0M,才5K次,而后来很多6.nandflash的编程/擦除的寿命,最多允许的次数,以前的nandflash多数是10K次,也就是1万次,而现在很多新的nandflash,技术提高了,比如,Micron的MT29F1GxxABB,Numonyx的NAND04G-B2D/NAND08G-BxC,都可以达到100K,也就是10万次的编程/擦除。

和之前常见的NorFlash达到同样的使用寿命了。

7.48引脚的TSOP1封装或52引脚的ULGA封装

【NandFlash中的特殊硬件结构】

由于nandflash相对其他常见设备来说,比较特殊,所以,特殊的设备,也有特殊的设计,所以,有些特殊的硬件特性,就有比较解释一下:

1.页寄存器(PageRegister):

由于NandFlash读取和编程操作来说,一般最小单位是页,所以,nandflash在硬件设计时候,就考虑到这一特性,对于每一片,都有一个对应的区域,专门用于存放,将要写入到物理存储单元中去的或者刚从存储单元中读取出来的,一页的数据,这个数据缓存区,本质上就是一个buffer,但是只是名字叫法不同,datasheet里面叫做PageRegister,此处翻译为页寄存器,实际理解为页缓存,更为恰当些。

注意:

只有写到了这个页缓存中,只有等你发了对应的编程第二阶段的确认命令0x10之后,实际的编程动作才开始,才开始把页缓存中的数据,一点点写到物理存储单元中去。

所以,简单总结一下就是,对于数据的流向,实际是经过了如下步骤:

图4NandFlash读写时的数据流向

【NandFlash中的坏块(BadBlock)】

NandFlash中,一个块中含有1个或多个位是坏的,就成为其为坏块。

坏块的稳定性是无法保证的,也就是说,不能保证你写入的数据是对的,或者写入对了,读出来也不一定对的。

而正常的块,肯定是写入读出都是正常的。

坏块有两种:

(1)一种是出厂的时候,也就是,你买到的新的,还没用过的NandFlash,就可以包含了坏块。

此类出厂时就有的坏块,被称作factory(masked)badblock或initialbad/invalidblock,在出厂之前,就会做对应的标记,标为坏块。

具体标记的地方是,对于现在常见的页大小为2K的NandFlash,是块中第一个页的oob起始位置(关于什么是页和oob,下面会有详细解释)的第1个字节(旧的小页面,pagesize是512B甚至256B的nandflash,坏块标记是第6个字节),如果不是0xFF,就说明是坏块。

相对应的是,所有正常的块,好的块,里面所有数据都是0xFF的。

(2)第二类叫做在使用过程中产生的,由于使用过程时间长了,在擦块除的时候,出错了,说明此块坏了,也要在程序运行过程中,发现,并且标记成坏块的。

具体标记的位置,和上面一样。

这类块叫做worn-outbadblock。

对于坏块的管理,在Linux系统中,叫做坏块管理(BBM,BadBlockManagment),对应的会有一个表去记录好块,坏块的信息,以及坏块是出厂就有的,还是后来使用产生的,这个表叫做 坏块表(BBT,BadBlockTable)。

在Linux核MTD架构下的NandFlash驱动,和Uboot中NandFlash驱动中,在加载完驱动之后,如果你没有加入参数主动要求跳过坏块扫描的话,那么都会去主动扫描坏块,建立必要的BBT的,以备后面坏块管理所使用。

而关于好块和坏块,NandFlash在出厂的时候,会做出保证:

1.关于好的,可以使用的块的数目达到一定的数目,比如三星的K9G8G08U0M,整个flash一共有4096个块,出厂的时候,保证好的块至少大于3996个,也就是意思是,你新买到这个型号的nandflash,最坏的可能,有3096-3996=100个坏块。

不过,事实上,现在出厂时的坏块,比较少,绝大多数,都是使用时间长了,在使用过程中出现的。

2.保证第一个块是好的,并且一般相对来说比较耐用。

做此保证的主要原因是,很多NandFlash坏块管理方法中,就是将第一个块,用来存储上面提到的BBT,否则,都是出错几率一样的块,那么也就不太好管理了,连放BBT的地方,都不好找了,^_^。

一般来说,不同型号的NandFlash的数据手册中,也会提到,自己的这个nandflash,最多允许多少个坏块。

就比如上面提到的,三星的K9G8G08U0M,最多有100个坏块。

对于坏块的标记,本质上,也只是对应的flash上的某些字节的数据是非0xFF而已,所以,只要是数据,就是可以读取和写入的。

也就意味着,可以写入其他值,也就把这个坏块标记信息破坏了。

对于出厂时的坏块,一般是不建议将标记好的信息擦除掉的。

uboot中有个命令是“nandscrub”就可以将块中所有的容都擦除了,包括坏块标记,不论是出厂时的,还是后来使用过程中出现而新标记的。

一般来说,不建议用这个。

不过,我倒是经常用,其实也没啥大碍,呵呵。

最好用“nanderase”只擦除好的块,对于已经标记坏块的块,不擦除。

【nandFlash中页的访问顺序】

在一个块,对每一个页进行编程的话,必须是顺序的,而不能是随机的。

比如,一个块中有128个页,那么你只能先对page0编程,再对page1编程,。

,而不能随机的,比如先对page3,再page1,page2.,page0,page4,.。

【片选无关(CEdon’t-care)技术】

很多Nandflash支持一个叫做CEdon’t-care的技术,字面意思就是,不关心是否片选,

那有人会问了,如果不片选,那还能对其操作吗?

答案就是,这个技术,主要用在当时是不需要选中芯片却还可以继续操作的这些情况:

在某些应用,比如录音,音频播放等应用,中,外部使用的微秒(us)级的时钟周期,此处假设是比较少的2us,在进行读取一页或者对页编程时,是对NandFlash操作,这样的串行(SerialAccess)访问的周期都是20/30/50ns,都是纳秒(ns)级的,此处假设是50ns,当你已经发了对应的读或写的命令之后,接下来只是需要NandFlash部去自己操作,将数据读取除了或写入进去到部的数据寄存器中而已,此处,如果可以把片选取消,CE#是低电平有效,取消片选就是拉高电平,这样会在下一个外部命令发送过来之前,即微秒量级的时间里面,即2us-50ns≈2us,这段时间的取消片选,可以降低很少的系统功耗,但是多次的操作,就可以在很大程度上降低整体的功耗了。

总结起来简单解释就是:

由于某些外部应用的频率比较低,而NandFlash部操作速度比较快,所以具体读写操作的大部分时间里面,都是在等待外部命令的输入,同时却选中芯片,产生了多余的功耗,此“不关心片选”技术,就是在NandFlash的部的相对快速的操作(读或写)完成之后,就取消片选,以节省系统功耗。

待下次外部命令/数据/地址输入来的时候,再选中芯片,即可正常继续操作了。

这样,整体上,就可以大大降低系统功耗了。

注:

NandFlash的片选与否,功耗差别会有很大。

如果数据没有记错的话,我之前遇到我们系统里面的nandflash的片选,大概有5个mA的电流输出呢,要知道,整个系统优化之后的待机功耗,也才10个mA左右的。

【带EDC的拷回操作以及Sector的定义(Copy-BackOperationwithEDC&SectorDefinitionforEDC)】

Copy-Back功能,简单的说就是,将一个页的数据,拷贝到另一个页。

如果没有Copy-Back功能,那么正常的做法就是,先要将那个页的数据拷贝出来放到存的数据buffer中,读出来之后,再

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