XRF技术培训.pdf

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中国电子技术标准化研究所中国赛西实验室中国电子技术标准化研究所中国赛西实验室中国电子技术标准化研究所中国赛西实验室中国电子技术标准化研究所中国赛西实验室汪牛2011.0512一.XRF基础知识介绍第部分中国赛西实验室二.EDXRF基本结构和工作原理第一部分三.EDXRF主要的技术指标和验证四.运用于RoHS筛选检测的谱图分析四.运用于RoHS筛选检测的谱图分析五.XRF分析技术的风险评估与高级应用第二部分七EDXRF分析仪器的日常维护与保养六.IEC62321标准解读XRF部分（第6章）七.EDXRF分析仪器的日常维护与保养八.职业资格鉴定常识介绍第三部分3中国赛西实验室1X射线的定义一.XRF基础知识介绍1.X射线的定义X射线是由高能的粒子（射线）轰击原子所产生的一种波长较短的电磁辐射具有波粒象性其能量范围在短的电磁辐射，具有波粒二象性，其能量范围在0.1100KeV。

4中国赛西实验室2.量子力学基础波粒二象性X射线的波动性有：

以光速直线传播、反射、折射、衍射、偏振和相干散射；射、偏振和相干散射；其微粒性有：

光电吸收、非相干散射及产生闪光等。

波长色散型X荧光光谱仪（WDXRF）波XRF能量色散型X荧光光谱仪（EDXRF）粒能量散荧光光谱仪（）粒5中国赛西实验室3.基本公式量论将射线看成种量或光成的粒流量子理论将X射线看成是一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为：

（11）（1-1）式中E为X射线光子的能量（KeV）h为普朗克常数为振E=h=h式中，E为X射线光子的能量（KeV）；h为普朗克常数；为振动频率；c为光速；为波长（nm）；代入（1-1）式可得：

（1-2）E=1.241eV=1.6022X10-19Jh=6.6262X10-34Jsc=2.99792X1010cm/s6中国赛西实验室受激元素辐射出的能量与该特定元素的轨道能级差直接相关，与原子序数的二次幂成正比：

（1-3）1=k（Z-）2此即Moseley定律Moseley定律。

其中k,均为特性常数，随K,L,M等谱系而定；Z为原子序数系而定；Z为原子序数。

将（1-3）式代入（1-2）中，可得：

（1-4）E=1.24k（Z-）E=1.24k（Z-）22E=1.24k（Z-）E=1.24k（Z-）227中国赛西实验室4.特征X射线的产生4.1XRF分析的物理学基础物质是由分子组成，分子由原子组成，原子由原子核和核外电子组成电子组成。

一束高能粒子（射线）在与原子的相互作用下，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能时，可以将该轨道的电子逐出，形成空穴；此时原子处于非稳定的状态，在极短的时间内，出，形成空穴；此时原子处于非稳定的状态，在极短的时间内，轨道的外层电子向空穴跃迁，使原子恢复至稳定状态。

间那么，在外层电子跃迁的过程中，两个壳层之间的能量差就以特征的X射线形式溢出原子。

8中国赛西实验室4.2特征X荧光的产生

（1）：

K线系9中国赛西实验室4.2特征X荧光的产生

（2）：

L线系俄歇电子俄歇电子10中国赛西实验室4.3特征X荧光的分析技术基础特征X荧光谱线的能量元素种类定性分析特征X荧光谱线的能量元素种类定性分析特征X荧光谱线的强度元素含量定量分析11中国赛西实验室4.4特征X射线的谱线线系特征荧光X射线谱系的命名是指位于某壳层的电子被激特征荧光X射线谱系的命名是指位于某壳层的电子被激发称为某系激发，产生的特征荧光X射线辐射称为某系谱线。

发称为某系激发，产生的特征荧光X射线辐射称为某系谱线。

理论上，电子在轨道中的运动遵守量子理论，分别由：

主量子数n（1,2,3）、角量子数l（0,1,n-1）、磁量子数m（1,0,-1）和自旋量子数ms（1/2）决定。

四种量子数的结合原则必须符合鲍里不相容原理。

12中国赛西实验室实际的物理过程十分复杂，例如L层有三个支能级，其中LI能级稳定，不产生跃迁，电子会曾LII、LIII向K层跃迁，又分别产生K1和K2。

在这里，我们从便于理解的角度简单的认为：

L层向K层跃迁产生的K线系的谱线命名为KM层向K层跃迁产跃迁，产生的K线系的谱线命名为K，M层向K层跃迁，产生的K线系谱线命名为K。

L线系等以此类推。

生的K线系谱线命名为K。

L线系等以此类推。

13中国赛西实验室14中国赛西实验室5.EDXRF分析应用技术的特点比对（测量）分析统计分析比对（测量）分析+统计分析基体效应对测试结果有严重的影响ab特征谱线存在重叠和相互干扰的情况，多数情况下，直接采信结有险c采信XRF的分析结果是有风险的分析XRF的检测结果采用科学的方法至关重要，甚至超出d仪器的本身EDXRF经典的分析方法包括：

基本参数法（FP）、经验系数法、理论系数法e（）15中国赛西实验室6.比对（测量）分析任何一台XRF分析仪器都需要事先标定（计算）工作曲线，用以确定荧光强度与元素含量之间的关系。

a曲线，用以确定荧光强度与元素含量之间的关系。

当用于标定（计算）工作曲线的标准样品，越接近b待测试样品时，所得到的结果就越准确。

系统偏差的形成原因c系统偏差的形成原因。

c为了得到更为准确的检测结果用户能够具备建立标准工作曲线为了得到更为准确的检测结果用户能够具备建立标准工作曲线为了得到更为准确的检测结果，用户能够具备建立标准工作曲线的能力和拥有开放的工作平台，非常的重要。

为了得到更为准确的检测结果，用户能够具备建立标准工作曲线的能力和拥有开放的工作平台，非常的重要。

16中国赛西实验室7.统计分析X荧光射线光子的发射和探测均符合定的统计学分布X荧光射线光子的发射和探测均符合一定的统计学分布。

任何台XRF测量的数据都会有统计误差用（标准偏ab任何一台XRF测量的数据都会有统计误差，用（标准偏差）来表示。

b对具体的XRF分析仪器来说，其值越小，说明仪器的品质越好c品质越好。

针对不同的样品元素以及不同元素的含量范围值d针对不同的样品、元素以及不同元素的含量范围，值也不同。

d17中国赛西实验室1EDXRF的基本结构介绍二.EDXRF的基本结构与工作原理1.EDXRF的基本结构介绍源级射线发生系统（高压电源、X光管等）探测器系统光路系统探测器系统、光路系统数据处理系统（MCA、计算机及分析软件等）辐射防护及其他辅助系统辐射防护及其他辅助系统18中国赛西实验室2.高压电源高电的作2.1高压电源的作用为X光管提供高压，并形成电场，对灯丝溢出的电子进行加速对灯丝溢出的电子进行加速。

22主要的技术指标2.2主要的技术指标高压极性、功率、管压、管流、管压管流的稳定性及温度系数管压管流的稳定性及温度系数纹波系数等高精度与高稳定性的高压电源是获得高精度分析的必要条件。

19中国赛西实验室3.X光管的基本介绍31X光管的结构与原理3.1X光管的结构与原理当电流流经灯丝时，热电子逸出在灯丝区域形成电子雾，部分电子被高压电场加速形成电子束并高速撞击阳极靶部分电子被高压电场加速形成电子束，并高速撞击阳极靶，从而产生连续的X射线（韧致辐射）以及靶材的特征谱。

阳极铜灯丝电流栅极电子束铍窗99%的能量转换为热能，99%的能量转换为热能，仅有1%的能量转换成X阴极灯丝韧致辐射阳极靶射线。

20韧致辐射中国赛西实验室3.2X光管的分类功率上分为大功率（1kW以上）中小功率功率上分为：

大功率（1kW以上）、中小功率极性上分为正高压负高压ab极性上分为：

正高压、负高压冷却方式上风冷油冷水冷bc冷却方式上：

风冷、油冷、水冷结构上分为有窗（铍窗）无窗（玻璃医用牙科）cd结构上分为：

有窗（铍窗）、无窗（玻璃、医用牙科）阳极靶结构：

反射靶和透射靶等de阳极靶结构：

反射靶和透射靶等e21中国赛西实验室3.3X光管的实例图22中国赛西实验室3.4X光管的失效模式灯丝烧断真空破坏真空破坏靶材损失靶材损失23中国赛西实验室4.探测器41主要技术指标与作用4.1主要技术指标与作用能量分辨率（ev）技术指标能量分辨率（ev）峰背比技术指标计数率探测效率（能量响应）探测效率（能量响应）作用：

将X射线光子的能量转换成易于计算的电信号。

24中国赛西实验室4.2探测器的类型依据其用途不同X射线探测器分别有用于波长及能量色依据其用途不同，X射线探测器分别有用于波长及能量色散型仪器的探测器。

如：

气体探测器正比计数器a闪烁探测器光电倍增管b半导体探测器Si（Li）/Si-PIN/SDD/Ge探测器c其他类型探测器d25（）（）半导体探测半导体探测Si（Li）探测器也叫硅锂漂移探测器；是在P型硅表面SiSi（LiLi）半导体探测半导体探测器：

器：

Si（Li）探测器，也叫硅锂漂移探测器；是在P型硅表面蒸发一层金属锂并扩散形成PN结，然后在反向电压和适当温度下使锂离子在硅原子之间漂移入硅中从而与硅中的P型度下使锂离子在硅原子之间漂移入硅中，从而与硅中的P型杂质实现补偿而形成高阻的本征层（探测器的灵敏区）。

硅（锂）探测器的特点是灵敏层厚度可以做得相当大（毫（锂）探测器的特点是灵敏层厚度可以做得相当大（3-10毫米），探测效率高，但是必须在液氮冷却下才能工作和长期保存（因为在室温下锂离子的扩散已经不能忽略不计，锂离子扩散的结果必然导致在制备硅（锂）探测器时达到的精密补偿被破坏，而在液氮温度下锂离子的扩散可以忽略不计）。

26Si-PINSi-PIN半导体探测器：

半导体探测器：

PIN是半导体器件的许多种结构之一，是由一层P型半导体和一层N型半导体以及它们中间的一层I层组成的结构。

Si-PIN探测器是用Si生产的具有PIN结构的用于探测射线的探测器件。

Si-PIN探测器的原理和制备过程与Si（Li）探测器截然不同，Si-PIN探测器灵敏区的所有表面都有高质量的二氧化硅保护层，同时Si-PIN探测器中也没有锂离子，更没有锂离子扩散的问题，因而Si-PIN探测器在室温下没有变坏的问题。

Si-PIN探测器中的PIN与“针”字没有任何关系，不赞成把Si-PIN翻译成“硅针”。

27Si-PIN半导体探测器示例：

Si-PIN半导体探测器示例：

28中国赛西实验室4.3能量分辨率能量分辨率：

锰（Mn）的K谱线的半高宽FWHM或55Fe的放射源FWHM的值越小FWHM的值越小，能量分辨率越高；那么荧光光谱仪分辨相邻谱线的分辨相邻谱线的能力就越好。

29中国赛西实验室4.4峰背比和计数率峰背比（峰本比）：

峰位数与平均本底背景数的值般情其值峰位计数与平均本底（背景）计数的比值。

一般情况，其比值在几千比一，且数值越大越好。

计数率：

计数率：

在一定的分辨率的指标下，探测器的最高计数率，且数据越高越好。

如实际应用中Si-PIN探测器的计数率一般取5000cps左右。

30中国赛西实验室4.5探测效率（能量响应）铍窗厚度探测器厚度与探测器效率的关系曲线31铍窗厚度、探测器厚度与探测器效率的关系曲线中国赛西实验室5.光路系统介绍光路系统滤光片准直器优良的结构设计和合理的有针对性的搭配滤光片与准准直器优良的结构设计和合理的有针对性的搭配滤光片与准直器配置，在检测中起到事半功倍的效果。

其作用就是：

可以显具提高被测元素的谱峰的峰背比，提高强度，使检测结果更有准确性和可靠性。

32中国赛西实验室5.1滤光片的作用33中国赛西实验室5.2准直器的作用34中国赛西实验室6.多道脉冲处理（MCA）系统61MCA系统的结构示意图6.1MCA系统的结构示意图高性能的MCA系统同样是获得高精度分析的必要条件。

35中国赛西实验室6.2MCA的实例图片36中国赛西实验室6.3MCA系统工作过程的介绍主放大器将前置放大器微弱和低信噪比的信号进行放大整形过滤或抑制极高和极低频信a进行放大、整形、过滤或抑制极高和极低频信号，改善能量分辨率。

号改善能量分辨率多道分析器则将放大的脉冲信号转换为数字信b号形式，并存入多道数字处理器相应的道址。

道址：

对应了光子的能量。

37中国赛西实验室主要的性能参数有：

c道数（A/D位数）、积分线性、微分线性、采样速率（转换时间）、稳定性及分辨率等。

总的测量时间=活时间+死时间d38中国赛西实验室6.4分析仪器的信息流程荧光光子能量元素种类探测器电信号放大器电脉冲幅度脉冲幅度数字信号MCA道址谱图道址荧光光子数量元素含量探测器电信号数目脉冲幅度数目道址计数对应道址的谱峰强度39中国赛西实验室7.能量分辨率与计数率（成形时间）的关系40中国赛西实验室三.EDXRF主要的技术指标和验证1.精密度（标准偏差）典型的基体材料中特定元素至少连续测量7次的典型的基体材料中特定元素，至少连续测量7次的标准偏差41中国赛西实验室2.准确度（系统偏差）典型基体材料中特定元素，至少测量7次的平均值与真值之间的差与真值之间的差3检出限（LOD）3.检出限（LOD）特定基体的空白标样，至少测量7次结果的3倍特定基体的空白标样，至少测量次结果的3倍42中国赛西实验室4.精密度、准确度和检出限的物理意义XRFvalue33Truth-value1000ppm33XRFvalueLOD0ppmMaxdeviation对EDXRF分析仪器的性能评价，要综合评判梯度样品的精密度、准确度和检出限。

43样品的精密度、准确度和检出限。

中国赛西实验室5.安全性辐射安全防护系统51辐射安全防护的三原则5.1辐射安全防护的三原则：

辐射实践的正当化辐射防护的最优化个人计量当量限值辐射安全的检测仪器能量响应经典可靠的辐射防护结构迷宫结构公众级安全标准不高于本底44工信部电子信息产品污染控制技术促进中心工信部电子信息产品污染控制技术促进中心RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范解解读读（更新更新）读读更新更新评价规范45RoHS筛选用EDXRF仪器性能的判别：

常见的典型错误-单样品测试，只看准确度；正确的方法-按照性能评价规范要求，综合评判梯度样品的精密度、准确度及检出限；46中国赛西实验室四.运用于RoHS筛选检测的谱图分析谱的主构成1.EDXRF谱图的主要构成样品的荧光特征谱线样品元素特征a样品的荧光特征谱线样品元素特征背景谱线（散射峰）样品基体特征ab主要元素的逃逸峰、倍峰及和峰等等c散射瑞利散射不变质散射散射康普顿散射变质散射47中国赛西实验室2.X射线的散射2.X射线的散射瑞利（Rayleigh）散射不变质散射a瑞利散射又称弹性散射或相干散射。

即入射X射线光子与靶元素的内层电子碰撞后，光子的能量不变方向发生改变不变，方向发生改变。

48中国赛西实验室康普顿（Compton）散射变质散射b康普顿散射又称非弹性散射或不相干散射。

Compton发现X射线被较轻物质（石墨石蜡等）散Compton发现X射线被较轻物质（石墨、石蜡等）散射后光的成分中，除了有波长与原波长相同的散射外，还有波长较长的成分。

这种现象称为康普顿散射或康普顿效应。

Compton散射与Rayleigh散射比随散射体的原子序数的增加而降低。

Compton散射与Rayleigh散射比随散射体的原子序数的增加而降低。

49中国赛西实验室3.基体效应50中国赛西实验室4.常见的谱图分析术语逃逸峰设分析目标元素的特征能量为E探测器组成a设，分析目标元素的特征能量为Ex，探测器组成元素受激发的能量为Ek,逃逸峰的能量为Ee，则有：

Ee=Ex-Ek（Ek的大小取决于探测的类型，如Si半导体探测器，其（Ek的大小取决于探测的类型，如Si半导体探测器，其值等于1.74KeV）51中国赛西实验室和峰与倍峰b和峰与倍峰均是由光子的堆积效应引起，即在探测器的有效分析时间内可能有两个或两个以上的光子同时进入探有效分析时间内，可能有两个或两个以上的光子同时进入探测器，而被探测器将这些同时进入光子的能量之和认为成某一个光子的能量。

倍峰是和峰的种特殊形式倍峰是和峰的一种特殊形式。

52中国赛西实验室5.谱线的相对强度与关系荧光产额曲线荧光产额曲线a53中国赛西实验室强度关系的粗略比bK、L、M线系的能量关系：

EMELEK54中国赛西实验室6.常见的经典谱图聚合物-EC680K55中国赛西实验室金属-铜（Cu）56中国赛西实验室7.元素的位置关系57RoHS筛选有害元素常用能量列表元素线系能量（KeV）线系能量（KeV）元素线系能量（KeV）线系能量（KeV）Cl（氯）K2.6-Cr（铬）K54-Cr（铬）K5.4Br（溴）K11.9-Hg（汞）L10.0L11.8Pb（铅）L10.5L12.6Cd（镉）K23.1-58中国赛西实验室1对于测试样品的风险五.XRF分析技术的风险评估与高级应用1.对于测试样品的风险均质拆分a应用EDXRF进行筛检测时，被测样品必须是均质材料。

对非均质的样品不可直接进行测试，且得到的结果是不可信的可信的。

样品厚度b样品的厚度要达到“无限”厚度。

59中国赛西实验室2.XRF分析仪器异常检测的风险性能校正在实际的检测中，仪器的工作状态和性能必须要进行定a在实际的检测中，仪器的工作状态和性能必须要进行定期的校正。

包括能量位、分辨率、精密度、准确度和检出限等等。

工作曲线和计算曲线的选择b针对不同材质的样品，务必要选择合适的工作曲线方确可进行测试。

并对分析元素的分析谱线要正确选择，特别注意Pb的L和L之间的选择。

60中国赛西实验室3.几种常见的风险物料高溴（Br）含量样品中的铅（Pb）a铁（Fe）基或高铁含量样品中的铅（Pb）b高铋（Bi）含量样品中的铅（Pb）焊锡中的镉含cd焊锡（Sn）中的镉（Cd）含量其他的特殊情况de其他的特殊情况e61中国赛西实验室4.风险评估及处理方案由于XRF分析技术的特点和局限性，任何没有经过适用性验证的工作曲线和特殊复杂材料，直接进行检测并采信其性验证的工作曲线和特殊复杂材料，直接进行检测并采信其检测结果都具有风险。

那么，在利用XRF检测过程中，就必须制定完善的检测系统。

有必要规定可能发生风险物料的检测分析流程。

并能系统。

有必要规定可能发生风险物料的检测分析流程。

并能采用特殊的XRF分析手段或精确的化学检测分析，予以验证。

62中国赛西实验室5.高级应用技巧51工厂标准物质体系和工作曲线的建立5.1工厂标准物质体系和工作曲线的建立IEC62321:

“如同所有的标定当标定样品越接近被测样品时“如同所有的XRF标定，当标定样品越接近被测样品时，可预期的准确度越高。

”没有任何一家XRF厂家可以得到足够的标准物质来满足所有用户的检测需求。

因此，可行的解决方案是：

用户依据所有用户的检测需求。

因此，可行的解决方案是：

用户依据自己企业物料的生产特点，建立自己的标准物质体系，从而有针对性的建立工作曲线和允收标准，以达到最为可靠的分析结果。

析结果63EDXRF用于RoHS检EDXRF用于RoHS检测的标准操作流程（草案）64中国赛西实验室5.2EDXRF用于RoHS筛选检测技术评估做筛选检手化学自准确EDXRF做为筛选检测手段与化学分析相比，自然不是最准确的方法，但可以快速、无损、低成本的对多数物料进行检测，a并能做到合格与异常（超标）的判定。

EDXRF分析仪也有科学严谨的技术指标体系不能因是筛bEDXRF分析仪也有科学严谨的技术指标体系，不能因是筛选，就没有严格的定量概念；只要设备性能优良，使用方b法得当，同样可以得到准确可靠的检测结果。

EDXRF分析仪器随着技术的发展其局限性也会得到突破cEDXRF分析仪器随着技术的发展，其局限性也会得到突破。

EDXRF是最环保的分析手段。

cd65中国赛西实验室1检测方法流程图六.IEC62321标准解读XRF部分1.检测方法流程图66中国赛西实验室2.IEC62321XRF章节内容67IEC62321（XRF）（XRF）68中国赛西实验室3.附录D（资料性）X荧光光谱仪（XRF）筛选的实际应用：

D.1序言D.2基体影响和干扰影响D.3结果分析D.4有关XRF分析方法IIS2的结果概要69中国赛西实验室4.D2表及说明70中国赛西实验室D2表的说明：

该表被收列于IEC62321的资料性附录中；a表格中的数据来源于对IIS的分析结果；b在很多的应用条件下，本表并不适合；c在被试验验证的情况下，表中数据可以被修改d71中国赛西实验室5.IEC62321中反复强调的两点所有结论的试验对比验证所有过程的文档记录72中国赛西实验室1主要部件维护的注意事项七.EDXRF仪器的日常维护与保养1.主要部件维护的注意事项1.1X光管的老化在开启X荧光光谱仪器时需要对X光管进行老化避在开启X荧光光谱仪器时，需要对X光管进行老化，避免因为电压或电流瞬间升高致使光管损坏。

1.2探测器的制冷无论是电制冷或是液氮制冷的探测器都需要低温才无论是电制冷或是液氮制冷的探测器，都需要低温才能获得最佳的分辨率。

因特别注意液氮制冷的仪器，要及时添加液氮保持探测器低温避免温度升高致使探测器损坏添加液氮，保持探测器低温，避免温度升高致使探测器损坏或使使用寿命减短。

73中国赛西实验室2.日常维护的注意事项按仪器的说明要求配置实验室的环境（温湿度）和电源条件；仪器要避免强烈的震动和碰撞；ab仪器要避免强烈的震动和碰撞；仪器的使用或存放地点应远离化学试剂（蒸气）；c仪器的使用或存放地点应保持清洁，防止灰尘带来的静电；在测量液体或粉末状样品时应注意不能将样品洒落至仪de在测量液体或粉末状样品时，应注意不能将样品洒落至仪器内部；e不要自行拆解XRF分析仪器。

fEDXRF分析仪工作状态判断74分析仪工作状态判断谱图！

中国赛西实验室八.职业资格鉴定常识介绍职业技能鉴定的本质：

职业技能鉴定的本质：

是一种考试，具有考试的共性特征：

通过一定的手段对人的心理素质社会行为表现以及专业技能水平等方面按照定参a理素质、社会行为表现以及专业技能水平等方面，按照一定参照系统进行检测、评估考察或甄别，以便对人的各项表现作出比较性的评判或结论。

比较性的评判或结论职业精神的基本要素：

职业精神的基本要素：

职业理想、职业态度、职业责任、职业技能、职业纪律、职业良心职业信誉职业作风b良心、职业信誉、职业作风其中，职业责任包括职业团体责任和从业者个体责任两方面。

75中国赛西实验室质量质量检验检验：

c质量质量检验检验：

产品质量产生和形成过程中的重要一环，是企业建立正常的生产秩序、降低成本、提高经济效益、确保产品质量的至关重要c的技术生产管理活动，因此也是企业生存、发展中不可缺少的职业活动。

产品质量法规产品质量法规:

d产品质量法规产品质量法规:

调整产品的生产者、储运者、销售者、消费者以及政府等有关部门等法律主体之间关于产品质量权利、义务、责任关系的法d部门等律体关产质权利务责任关系律规范的总称。

76中国赛西实验室检验检验工作的依据工作的依据:

e检验检验工作的依据工作的依据:

国家有关质量的法律、法规和规章；e标准，包括：

国家标准、行业标准和企业标准；技术文件，包括设计文件（含图样）、工艺文件（含图样）；企业质量体系文件企业质量体系文件；合同、技术协议以及检验员的个人判断。

合同技术协议以及检验员的个人判断77中国赛西实验室计量计量法规法规f计量计量法规法规：

-调整计量关系的法律、法规、规章的总称。

其目的是保障国家的计量单位制度的统一和量值的准确可靠f的计量单位制度的统一和量值的准确可靠。

-计量法规定，国务院计量行政部门负责建立各种计量基准器具，作为统一全国量值的最高依据。

计量检定：

计量检定：

g分为强制检定和非强制检定。

78中国赛西实验室中华人民共和国标准化法是中国公民法人和其他组织从事标准化活动的基本准则。

h国家标准可分为:

国家标准（代号：

GB）,推荐性国家标准（代号：

GB/T）指导性技术文件（代号：

GB/Z）i代号：

GB/T），指导性技术文件（代号：

GB/Z）。

行业标准:

行业标准:

j由行业标准归口部门审批、编号、发布的，并且没有国家标准又需要在行业内统一的标准。

产品标准:

产品标准:

对一种或一类产品的品种规格和质量要求所做的统一规定，是在定时期和定范围内具有约束力的产品技术准则是产品k在一定时期和一定范围内具有约束力的产品技术准则，是产品生产、试验验收、使用、维护、洽谈贸易、签订合同和质量仲裁的依据。

79裁的依据。

中国赛西实验室80