晶体光学性质的观测分析.docx
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晶体光学性质的观测分析
中山大学实验报告：
晶体光学性质的观测分析
理工学院光学工程系05级光信2班05323057号参加人实验人：
李洁芸
日期：
2007.10.15.温度：
气压：
[引言]
在晶体中，除立方晶系晶体外，都表现出光学各向异性（双折射现象）。
当光经过各向异性晶体时，光的性质会随着晶体的取向不同而发生改变，并表现出各种有趣的光学现象．利用晶体的各向异性，可以制成光学偏振器，应用分析器，电光调制器等．观测和研究晶体的光学性质，对我们充分认识晶体的光学性质有十分重要的意义。
[实验目的]1.熟悉单轴晶体光学性质，晶体的消光现象，干涉色级序；
2.了解偏光显微镜原理并掌握其使用方法；
3.观察晶体的类别，轴向和光性正负等过程，估计晶片的光程差
[实验仪器]透射偏光显微种类很多，但基本原理都大同小异。
图11为本实验所用的XP-201型透射偏光显微镜的构造图，主要结构包括：
1.光源：
卤素灯12V/20W,亮度可调节。
2．起偏镜：
用于产生偏振光，可转动调节方向。
3．聚光镜：
位于物台下面，有一组透镜组成，可以把来自下偏光镜的平行光聚敛成锥形偏光，聚光镜连有手柄，可根据需要旋入或旋出光路。
4．旋转载物台：
用于放置观察样品，可360度旋转。
5．物镜：
由四个放大倍数分别我为4x,10x,40x,60x的物镜，物镜的前镜片与样品之间的距离称为工作距离，图11XP-201型透射偏光显微镜
物镜的工作距离随着放大倍数的增加而减小，所以用高倍物镜时要特别小心，应先将物镜调至最低，然后逐步升高对焦。
6．补偿器插口：
补偿器插口用于插入各种补偿器，通常仪器带有
，
及石英楔子等补偿器。
7．检偏镜：
摆动式，可移出光路，进行单偏光观察。
8．勃氏镜：
位于目镜与上偏光镜之间，为一小凸透镜，与目镜联合组成一望远镜，勃氏镜可左右移动，分别移入、移出光路。
9．目镜：
目镜中装有十字丝和刻度尺。
[实验基本原理]
（一）晶体的双折射和光率体
折射率与光的传播方向和光矢振动方向有关的晶体称为各向异性晶体。
除立方晶系的晶体外，所有的晶体都是各向异性晶体。
当光通过各向异性晶体时，会产生双折射现象，并表现出偏振性质。
当光沿各向异性晶体传播时，总存在一个或两个方向不发生双折射现象，此方向称为晶体的光轴，按晶体的光轴分，各向异性晶体又可分为单轴晶和双轴晶，单轴晶只有一个光轴；而双轴晶则有两个光轴。
其中，折射率不随入射光方向而变的称为寻常光或o光（折射率为no），折射率随入射光方向而变的称为非寻常光或e光（折射率为ne）。
o光和e光都是偏振光，并且它们的振动方向互相垂直。
o光的振动方向垂直于包含光轴和o光波法线所组成的平面，e光的振动方向则平行于包含光轴和e光波法线所组成的平面。
折射率椭球（或光率体）是描述晶体光学性质最常用的晶体光学示性曲面，它是以主折射率为主值的椭球。
在主轴坐标系，折射率椭球可以表示为:
（1）1.立方晶系（高级晶族）
（2）
2．单轴晶（中级晶族）图1立方体系晶体光率体
（3）
（a）正单轴晶（b）负单轴晶
图2单轴晶光率体图图3单轴晶光率体的三种中心截面
单轴晶光率体的光轴（
），必须与晶体中的主对称轴（唯一的高次轴）一致。
的单轴晶称为正光性单轴晶，它的光率体是沿光轴方向拉长了的旋转椭球（图2（a）），
的单轴晶称为负光性单轴晶，它的光率体是沿光轴方向压扁了的旋转椭球（图2（b））。
由于光速v=c/n，折射率越大，其光速越慢，所以在晶体中，折射率最大的方向成为晶体慢轴方向，而折射率最小的方向成为晶体快轴方向。
图3给出了单轴晶光率体中三种中心截面。
圆截面：
垂直光轴的圆，半径为
。
主截面：
包含光轴的椭圆截面，它的一个半径为
，与光轴垂直，另一个半径为
，与光轴平行。
由图可见：
o光的振动方向必垂直于主截面，e光的振动方向则平行于主截面。
任意截面：
是一个椭圆，截面法线N与光轴成θ角。
3．双轴晶（低级晶族）
（4）
在低级晶族光率体中，可以找到两个圆截面，即存在两个光轴。
双轴晶的光学性质比较复杂，这里不作详细讨论，以下分析讨论都是单轴晶情况。
（二）正交偏光干涉
在偏光显微镜中，当上下偏光镜的振动面互相垂直时，称为正交偏光镜。
如在正交偏光镜间不放任和介质或放入各相同晶体时，光线无法通过正交偏光镜，所以视阈是黑暗的；当在正交偏光镜间放入各相异晶体时，由于晶体双折射效应和晶片厚度、晶轴取向的不同而产生不同的干涉现象。
图4 正交偏光镜间的干涉现象
如图4，在正交偏光镜中加入一晶片，其中ＰＰ表示起偏镜的振动方向，ＡＡ表示检偏镜的振动方向，ＯＯ表示晶片光轴方向。
透过起偏镜的偏振光振幅为
，光线到达厚度为
的晶片后，分解成振幅分别为
和
的
光和
光：
再经过检偏镜后，
光和
光振幅分别变为：
各向异性晶体的双折射率：
光透过厚度为
的晶片时，必产生光程差：
相位差：
。
由此可见，经过正交偏振片和晶片后产生的两束光满足相干条件：
①频率相同 ②相位差恒定 ③有相同方向的偏振分量．必然产生干涉。
根据平面波迭加原理，两束光的合成光波振幅：
（5）
合成光强：
（6）
由式（6）可看出：
正交偏光干涉光强分布状况与晶片的轴向α，厚度d，双折射率Δn及入射波长λ有关。
1．单色光干涉
对于单色光，当
时，
，即当晶片的轴向与两正交偏光镜其中之一的偏振方向一致时，合成光强为零，视野全暗，此现象称为消光现象。
此时，晶片的位置称为消光位置。
当
时，
，即当晶片的轴向处于两个偏光镜的偏振方向中间时，合成光强最大，视阈最亮。
很显然，如转动晶片360度，会出现四暗、四明现象。
当晶片的双折射率Δn不变，厚度变化，这相当于石英锲子的情况。
石英锲子是一个磨成一端薄一端厚的石英晶片，长边平行于no，短边平行于ne，双折射率Δn=0.009。
当正交偏光镜中插入的是石英锲子，由于石英锲子厚度不同，其不同厚度出的光程差
也不相同，所以当石英锲子由薄至厚插入时，就会观察到有规律的明暗相间的干涉条纹。
如图5所示。
（a）石英楔子（b）石英楔子干涉条纹
图5正交偏光下石英楔子干涉
2．白光干涉
用白光照明时，由于白光是由红橙黄绿蓝靛紫七色组成，且各色光波长范围不同，所以对于某一个d值，不同色的光不可能同时达到相消或相长，干涉条纹也就不再是明暗不同的条纹，而只能是由光强不为零的各种单色光混合组合而成的，称为干涉色。
当晶片的双折射率
不变，厚度变化，如石英锲子情况，其折射率随光波变化很小，可看作基本不变。
当正交偏光镜中插入的是石英锲子，随着石英锲子厚度得变化其颜色发生有规律的变化，就是干涉色级序，大约每560nm光程差划分一个干涉色级序，通常可分为四个级序，光程差越大则干涉色级序越高。
每个干涉色级序中，颜色的一次明显改变称为一个色序，各色序之间颜色是连续变化的。
对于同一石英锲子，波长越短，其明暗条纹间距亦越短。
3．光程差补偿原理
如果在正交偏光镜间放两块晶片，设光线通过晶片1和晶片2的光程差分别为Δ1和Δ2，当两晶片同名轴（快慢轴）平行时，如图6a所示，则通过两晶片的总光程差Δ=Δ1+Δ2，其干涉色比原来两晶片单独放入时的干涉色都高；当两晶片异名轴平行时，如图6b所示，则通过两晶片的总光程差Δ=Δ1+Δ2，其干涉色比其中之一单独放入时的干涉色低。
若两晶片的光程差相等，则Δ=Δ1-Δ2=0，此时两晶片的光程差互相补偿，视阈全暗。
上述光程差叠加和补偿的规律称为补色法则
（a）同名轴平行（b）异名轴平行
图6单轴晶体光性正负的测定
若将晶片2换成石英锲子，且慢慢推入石英锲子，使Δ2逐渐增加。
此时，如果晶片1与石英锲子同名轴平行，总光程差Δ是递增的，导致干涉色逐渐升高；如果晶片1与石英锲子异名轴平行，总光程差Δ是递减的，导致干涉色逐渐降低。
当两个晶片相叠时，如果一个晶片的快慢轴方向已知，可根据补色法则，利用干涉色升降情况，确定出另一晶片的快慢轴方向，并可通过查干涉色表估算出另一晶片的光程差。
（三）锥光干涉
对于晶体的轴性、光性符号、光性方位、光轴角等根本问题，则要通过锥光观测才能最后下结论。
在正交偏光镜的条件下，在广路中加入聚光镜和勃氏镜便构成了锥光装置。
追光装置加入聚光镜可是平行入射的偏振光高度聚敛，形成锥形偏光；加入勃氏镜可以得到放大了的清晰、完整的干涉图，如不加勃氏镜，必须拔出目镜，才能看到物镜焦平面上小得多的干涉图。
通过锥光装置在视阈中显现的干涉图称为锥光干涉图，它不是晶片本身的像，而是锥形偏光通过镜片后到达上偏光镜所发生的干涉效应的总和。
下面根据光轴在晶体切片中方位的不同分几种情况讨论。
（a）立体图（b）俯视图
图7单轴晶体垂直光轴切片锥光干涉图
1．垂直光轴切片的晶体干涉
图7给出了光源为单色光时垂直光轴切片晶体锥光干涉图，它是由一个黑十字和亮暗相间的同心圆环组成。
当光源为白光时，则同心圆环变为干涉彩环。
图中十字交点为光轴的露点，近光轴处黑臂较细，远离光轴处黑臂较粗。
自光轴露点向外，等色环由疏变密，干涉色级由低到高，旋转载物台，干涉色不发生变化。
具有高双折射率的晶体所形成的干涉环，要比低双折射率晶体的多。
对于同一种晶体，厚的晶片所形成的干涉环，要比薄的晶片多。
此外，所使用物镜的数值孔径越高，则所观察到的干涉环也越多。
在锥光干涉中，光锥中有一系列的光通过晶片，而每一条光在晶片中都有两个互相垂直的振动方向，其折射率分别为ne和no。
由图7可知，越到视阈边缘，光线方向对光轴倾斜的越厉害，双折射率就越大，对应的光率体切面之形状也就越加长而扁。
包含在PP（或AA）面内的光与光轴组成的面是PP（或AA）面，即主截面，非常光是在PP（或AA）面内振动，而常光则在垂直PP（或AA）面内振动。
但由于来自下偏光镜的光都是在PP面内振动的线偏光，所以包含在PP面内的光会全部从非常光的振动面内通过，而包含在AA面内的光则会全部从常光的振动面内通过，因此通过PP和AA面内的光在通过晶片后，其偏振方向不会发生改变，都平行于下偏光镜的偏振方向，与上偏光镜的偏振方向垂直，无法通过上偏光镜，因而在视阈中平行PP和AA方向就产生一个黑十字消光影。
只有位于PP和AA面内的光才是绝对消光，而光锥中位于PP和AA面附近的光，它们都会有极小一部分通过上偏光镜而互相干涉，但由于人的眼睛感觉不到，所以此时用人眼观察仍然是暗的，所以十字消光影是两条有一定宽度的黑臂。
转动载物台，消光影的位置不发生变动，这是因为不论载物台怎样转动，光锥中总是有部分光位于PP和AA面内或其附近，因此消光影总是存在的，并且消光影始终与下偏光镜和上偏光镜的振动面平行。
在单色光中产生的光轴干涉图除了黑十字消光影外，还有互相交替的亮环与暗环。
这主要是因为当光上升到晶片上时，原来平行PP方向的振动在晶片中要分解为两互相垂直的振动，由图7可知，非常光总是在入射光与光轴组成的主截面内振动，而常光则在与之垂直的面内振动。
当入射光与光轴斜交越大时，光在晶片中走过的距离越长，双折射率越大，所以从光锥的轴越向外去，光程差就越大。
与光轴成某一角度的光线组成一个光锥，而同一光锥内的每一条光线均与光轴成相同的角度，通过晶片后产生相同的光程差Δ。
如果Δ=（n+1/2）λ，光程差是光波长的奇数倍，就会出现干涉相长，观察到一个亮环。
仔细观察会发现在同一亮环上亮度是不均匀的，这是由于在同一环上光的振动方向是变化的，如图7所示越靠近消光影处，与PP（或AA）夹角越小，因此亮度越暗，而在每一象限的
位置，亮环的亮度最大。
如用白色光源，仍可观察到黑十字状消光影，所不同的是原来交替出现的亮环与暗环，变成了交替出现的彩环。
靠近视阈的中央是一级灰色，然后是一级黄环，红环，二级紫环，蓝环等，越向视阈的边缘，干涉色的级数越高，等色曲线的数目越多，密度越大。
在实际晶体光学检测中，我们可以利用垂直光轴切片的锥光干涉图来检测和判断晶体光性正负。
在垂直光轴切片的锥光干涉图上，o光和e光的振动方向如图8所示。
此时插入试板，观察干涉图中四个象限内干涉色序的升降，根据消光原理判断ne是快轴还是慢轴，从而确定代测样品的光性正负。
另一种判定的方法是：
插入试板，观察四个象限干涉彩环的移动方向，或哪两个对称象限在靠近黑十字交点附近出现黑点，例如，插入石英锲子，如果一、三象限干涉色序升高，二、四象限干涉色序降低，或者一、三象限干涉彩环向内收缩，二、四象限干涉彩环向外扩张，或者二、四象限在靠近黑十字交点附近出现黑点，而一、三象限在对应位置上没有黑点，则待测样品为正光性；反之，待测样品为负光性。
（a）正光性（b）负光性
图8单轴晶体光性正负的测定
2．平行光轴切片的晶体干涉
（a）
位置（b）
位置
图9单轴晶体平行光轴切片锥光干涉图
对于平行光轴的切片，当光轴与上偏光镜（或下偏光镜）振动方向平行时，视域中出现模糊粗大的黑十字，只有在四象限中接近边缘有小部分明亮，此时稍微转动载物台，黑十字立即分裂成一对双曲线，并迅速沿光轴方向离开视域，因其变化迅速，又称为瞬变干涉图。
自二相对的象限离开视域就是包含光轴的象限。
继续转动载物台，当光轴与上下偏光镜振动方向成
角，视域最亮，出现对称的双曲干涉带，其干涉色是由光程差所决定的，因而不同的样品其干涉图不尽相同。
对于双折射率较高的晶体，当处于
位置时，视域中出现干涉色，在两两相对的象限中，干涉色由视域中心向边缘逐渐升高，据此可以判断光轴的位置。
对于双折射率较低的晶体，当处于
位置时，视域中呈现一片白色或一片灰色，上述干涉色升高和降低现象不明显，此时如插入一石膏试板，现象会清楚很多。
3．斜交光轴切片的晶体干涉
在实际晶体分析中，恰巧与光轴垂直或平行的切面极为少见，大部分切面和光轴成各种角度的斜交，斜交程度可从正交偏光镜间切面的干涉色加以估计。
如果切面的干涉色很低，表示切面与光轴接近垂直，如果切面的干涉色很高，则说明切面与光轴接近平行。
假如切面的干涉色不很高也不很低，则切面和光轴斜交为45度左右。
斜交光轴的切面在聚敛偏光镜间，干涉图的形态往往是不对称的，黑十字的交点即光轴点不在视域中心，但仍在视域之内，转动载物台，光轴露点也随之转动，方向与载物台的转动方向相同，随着光轴露点移动，消光影的位置也跟着转移。
但不论怎样转移，消光影的两臂仍保持与下偏光镜或上偏光镜的振动面相平行。
当载物台旋转360度，光轴绕显微镜轴旋转，在空间画出一个锥体，而光轴在视野中的出露点画出一个圆。
当切面与光轴斜交角度角较小时，光轴露出可能不在视野之内，此时，适当旋转载物台，可观察到一条黑色条带。
如果切面与光轴斜交角越来越小，消光影的黑臂就变弯曲起来，最后当切面与光轴平行时，就变为瞬变干涉图了。
（四）晶体旋光性、埃利旋
当一束线偏振光通过某些物质后，光的振动方向会随着物质中的传播距离增加而逐渐发生旋转，这种现象称为旋光现象。
旋光有左右旋之分，旋光物质也有左旋物质和右旋物质之分。
对于旋光物质而言，振动面旋转的角度
与通过旋光物质厚度d成正比，即
（7）
其中，比例系数
称为该旋光物质的旋光率。
如果将相当厚度的右旋与左旋石英晶片叠置在一起，在聚敛光中可以看到特殊旋转干涉图，其四臂或是右旋或是左旋，主要决定于是哪一晶片放在下面。
如图10（a），右旋石英置于左旋石英之下，会观察到右旋，而图10（b）是左旋置于右旋石英之下，会观察到左旋。
以上图形称为埃利旋。
利用埃利旋可以在晶片中识别有左旋和右旋两种石英单体所构成的双晶。
图10埃利旋
菲涅耳对物质的旋光性做出了合理解释：
他认为任一线偏光都可看作由两个振幅相等、沿同一方向传播的左旋和右旋圆偏振光组合而成。
如组成线偏振光的左旋与右旋圆偏光的折射率分别用
和
，光波长用
，通过晶体厚度用d表示，在两圆偏光自晶片透出的瞬间，二者各具一定周相，二等分其周相差，就得到离开晶片后的平面偏光的振动方向，此振动方向比原来进入晶片前时的振动方向转动了一个角度
：
（8）
由上式可以看出：
当
时，
=0不存在旋光；当
，
为右旋；当
，
为左旋。
[实验内容]
实验给出两组样品：
第一组样品的每个晶片都标明了晶体材料及其切割面与光轴的大致关系（垂直切、平行切、斜切），对第一组样品的观测可使同学们对晶体的相关光学性质有一些基本了解和认识；第二组样品都是未知镜片，可供进一步实际练习和晶体鉴定之用。
1.仔细阅读说明书，了解偏光显微镜的结构及使用方法。
2.校正仪器中心，即调节物镜光轴与物台中心重合。
选用低倍物镜，在玻璃片上选一小黑点，并将小黑点转至十字丝中心，调节物镜中心调节螺丝，使物镜在中心移至载物台中心，反复调节直至小黑点不再转动为止。
3.调整偏光片正交。
调节下偏光镜对准0°，固定之。
调节上偏光镜于0°，再仔细微调使视域变得最暗，此时上下偏光片正交。
将A、B、C样品分别置于载物台中心，缓缓转动载物台一周，分别观测得一下数据，如表1。
表1晶体性质测量数据表
样品
全消光出现的角度
A
42.0°
132.5°
222.1°
312.2°
B
20.0°
110.5°
200.0°
290.5°
C
无明暗变化
在载物台放上样品A和B时，转动载物台一周,可观察到光强明暗等间隔出现，总共四明四暗，每隔
转换一次。
放上样品C时，无论如何转动载物台，光场总是暗的。
（1）放上样品Ａ时，可观察到明亮的黄光，缓慢转动载物台一周，可观察到四明四暗的现象。
由于上下偏光片正交，消光位置就是晶片光轴与其中一个偏光镜的检偏方向平行的位置，有四个这样的消光位置，从表1中可看出，每两个相邻消光位置的角度间隔分别约为90.5°、89.6°、90.1°、89.8°，消光位置角度间距与90°存在一定误差，主要来源于对消光位置判断的主观性，由此我们判断样品A为各向异性晶体。
转动载物台一周，也有四个光强最大位置，这是因为根据正交偏光干涉光强分布公式（6）
，可见轴向
时，当晶片的轴处于两个偏光镜的偏振方向中间时，合成光强最大，所以有四个明亮的位置，明暗位置相差45°。
（2）放上样品B时，也可以观察到明亮的黄光，缓慢转动载物台一周，可观察到四明四暗的现象。
与样品A一样，记录下四次全消光的位置，从表1可以看出，每两个相邻消光位置间的间隔约为90.5°、89.5°、90.0°、90.0°，间隔约为90°，误差来源与样品A分析相同，我们可以判断样品B也是各向异性晶体。
（3）放上样品C，视域全暗，缓慢转动载物台，视域无明暗变化。
光通过各向同性晶体时，光强没有不同方向的相位变化，不能产生正交偏光干涉，因此视域全暗，与实验现象相符。
由此我们判断晶体样品C是各向同性晶体。
4．用一级红插片判断慢光方向并估计光程差
保持上下偏光镜正交。
在载物台上放上A晶片和B晶片，为了比较两者快慢轴的角度，将两者的外框固定于同一位置，固定外框的长边使与载舞台的上的固定架平行，分别调到它们的消光位置，由表1可知A样品为42°，B样品为20.0°。
插入一级红插片，转动载物台，每45°记录一次颜色，干涉色变化如下：
A晶片:
棕色（-3°）紫红（42°）蓝绿（87°）
B晶片:
蓝绿（-25°）紫红（20°）棕色（65°）
由实验原理可知，当放置晶体转动到消光位置时，总光程差等于一级红插片的干涉厚度。
当转动载物台，总光程差有时大于此厚度，有时小于此厚度。
当光轴与一级红插片的同名轴平行时，总光程差最大，干涉级数最高。
由于一级红插片的光程差在第一级序的红光附近（观测到为紫红色），随着晶体的转动，总光程差总是在一级红附近上下转换，故可根据观测到的颜色与干涉色序表对照，得到干涉级数最大的位置，由此判断出晶体的慢轴方向。
干涉色序表如下：
表2干涉色级序表
第一级序
第二级序
第三级序
暗灰色
灰白色
浅黄色
棕色
紫红色
蓝色
蓝绿色
绿色
黄色
紫红色
蓝绿色
绿色
黄色
橙色
红色
由观测到的颜色变化可以判断：
1）放置A晶片时，载物台逆时针转至-3°和177°时，干涉为棕色，其波长为378.7nm；载物台顺时针转至87°和267°时，干涉为蓝绿色，其波长为761.4nm。
2）放置B晶片时，载物台逆时针转至60.6°和240.6°时，干涉级数最高，此时晶体的慢轴平行于一级红插片的慢轴。
载物台转至65°和245°时，干涉为棕色，其波长为378.7nm；载物台顺时针转至335°和155°时，干涉为蓝绿色，其波长为761.4nm。
由此可判断出晶体的慢轴方向和慢轴方向。
红插片插入的方向与载物台0刻度成135°夹角，固同样放置时，A片与一级红插片慢轴的夹角为42°-45°=-5°,B片与一级红插片慢轴的夹角为20°+45°=65°。
图11各晶片慢轴示意图
补色法则指出，当两晶片同名轴平行时，通过两晶片的总光程差为
，其干涉色比原来两晶片单独放入时的干涉色都高。
当两晶片异名轴平行时，则通过两晶片的总光程差
，其干涉色比其中之一单独放入时的干涉色低。
这种方法测量的晶体光程差具有较大的误差，主要原因是判断干涉级时用肉眼判断干涉颜色，精确度低且主观性大。
5．晶片慢光振动方向的确定
保持上下偏光镜正交，将A晶片置于载物台中心，转动载物台使全消光，此时
光和
光的振动方向就和上下偏光镜成
角。
然后在试片孔中缓慢插入石英楔子。
观察到干涉色的变化如下：
白→浅橙→红橙→蓝绿→黄绿→橙→粉红→蓝绿→绿→蓝→紫红→橙黄→浅黄→灰白
查干涉色序表可知，A晶片干涉色序逐渐降低，故A晶片的慢光振动方向与石英楔子的慢光方向相垂直。
同理对B晶片可观察到干涉色的变化如下：
灰白→浅黄→红橙→蓝→蓝绿→黄绿→紫红→蓝绿→绿→黄→橙红→粉红→浅绿→浅橙→紫红
查干涉色序表可知，B晶片干涉色序逐渐升高，故B晶片的慢光振动方向与石英楔子的慢光方向相平行。
6．锥光干涉观测及光性正负鉴定
将晶片放在载物台中心，推入勃氏镜，仔细观察晶片的锥光干涉图，再插入石英楔子，观察图像变化，能观察到以下现象：
（1）KDP：
插入石英楔子前，能观察到干涉图由一个黑十字和以黑十字中心为圆心的同心干涉彩环组成。
干涉图如图12所示：
图12KDP、KNSBN晶体样品锥光干涉示意图
图中黑十字近光轴处黑臂较细，远离光轴处黑臂较粗。
视域被黑十字分为四个象限。
自中心向外，等色环由疏变密，视域中央为灰白色，向外依次出现黄环、橙红环、紫环、蓝环、浅绿环等。
转动载物台，干涉图的形象不变。
缓慢插入石英楔子，可以观察到一、三象限干涉彩环向外扩张，二、四象限干涉彩环向内收缩。
（2）KNSBN：
KNSBN样品的干涉图案与KDP样品类似，图象亦如图13所示。
插入石英楔子前，能观察到干涉图由一个黑十字和以黑十字中心为圆心的同心干涉彩环组成。
黑十字近光轴处黑臂较细，远离光轴处黑臂较粗。
视域被黑十字分为四个象限。
自中心向外，等色环由疏变密，视域中央为灰白色，向外依次出现黄环、橙红环、紫环、蓝环、浅绿环等，不过环的半径与KDP稍有不同。
转动载物台，干涉图的形象不变。
缓慢插入石英楔子，可以观察到一、三象限干涉彩环向外扩张，二、四象限干涉彩环向内收缩。
石英：
插入石英楔子前，把载物台转动到适当方向，可以看到颜色稍暗的彩色同心圆环，由里向外的颜色依次为黄、橙、紫红、紫、蓝、绿。
增大视场范围，可以勉强见到模糊粗大的黑十字，四个象限中接近边缘的地方比较明亮，干涉图如图14所示：
图13 石英晶体样品锥光干涉示意图
转动载物台，黑十字立即分裂成一对双曲线，沿相对
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